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      一種電路板測試接口的開合裝置的制造方法

      文檔序號:9105557閱讀:294來源:國知局
      一種電路板測試接口的開合裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本實用新型涉及電路板測試接口裝置領(lǐng)域,特別是涉及一種電路板測試接口的開合裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]電路板生產(chǎn)后,為檢測電路板上元器件的工作狀況,電路板的質(zhì)量情況等,需要對電路板進行綜合測試,電路板通常都會留有測試接口,比如塑料制鋼琴蓋式測試接口,通過人工將測試線,包括柔性測試線插入測試接口與測試儀器設(shè)備對電路板進行綜合測試。但目前人力成本較高,且人工測試耗時長、效率低。
      【實用新型內(nèi)容】
      [0003]本實用新型主要解決的技術(shù)問題是提供一種電路板測試接口的開合裝置,能夠自動完成電路板的測試接口的連接,提高了工作效率、降低成本,且使用方便、體積小。
      [0004]為解決上述技術(shù)問題,本實用新型采用的一個技術(shù)方案是:提供一種電路板測試接口的開合裝置,包括:機架、開合蓋、升降機構(gòu)、推桿、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu);所述開合蓋一端可轉(zhuǎn)動的設(shè)置在所述機架上,機架上對應(yīng)開合蓋另一端的位置設(shè)有兩個鎖扣;所述機架上放有電路板,電路板上設(shè)有測試接口,測試接口對應(yīng)開合蓋;所述升降機構(gòu)、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu)均固定在所述機架上;所述推桿一端固定在所述升降機構(gòu)上,推桿另一端伸向所述開合蓋,所述推桿與水平方向呈一定角度設(shè)置;所述升降機構(gòu)帶動推桿做伸縮運動,推桿打開關(guān)閉所述開合蓋;所述插拔機構(gòu)設(shè)置在測試接口處,插板機構(gòu)插拔測試線;所述壓合機構(gòu)設(shè)置在開合蓋上方,壓合機構(gòu)壓合所述開合蓋。
      [0005]優(yōu)選的是,所述推桿靠近開合蓋的一端設(shè)有彎鉤,彎鉤打開推動所述開合蓋;所述壓合機構(gòu)的下端設(shè)有彈性壓頭,彈性壓頭壓下所述開合蓋。
      [0006]優(yōu)選的是,所述彎鉤為彈性材料,彎鉤厚度小于鎖扣高度,彎鉤寬度小于兩鎖扣之間的距離。
      [0007]優(yōu)選的是,所述升降機構(gòu)、推桿、插拔機構(gòu)及壓合機構(gòu)均做直線往復(fù)運動,通過氣缸或絲杠實現(xiàn)。
      [0008]本實用新型的有益效果是:本實用新型能夠自動完成電路板的測試接口的連接,提高了工作效率,降低了成本。
      【附圖說明】
      [0009]圖1是本實用新型一種電路板測試接口的開合裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0010]附圖中各部件的標記如下:1、機架;2、電路板;3、開合蓋;4、升降機構(gòu);5、推桿;6、壓合機構(gòu);7、插拔機構(gòu)。
      【具體實施方式】
      [0011]下面結(jié)合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細闡述,以使本實用新型的優(yōu)點和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對本實用新型的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
      [0012]請參閱圖1,本實用新型實施例包括:
      [0013]—種電路板測試接口的開合裝置,包括:機架1、開合蓋3、升降機構(gòu)4、推桿5、壓合機構(gòu)6和插拔機構(gòu)7 ;所述開合蓋3 —端可轉(zhuǎn)動的設(shè)置在所述機架I上,機架I上對應(yīng)開合蓋3另一端的位置設(shè)有兩個鎖扣。所述機架I上放有電路板2,電路板2上設(shè)有測試接口,測試接口對應(yīng)開合蓋3 ;所述升降機構(gòu)4、壓合機構(gòu)6和插拔機構(gòu)7均固定在所述機架I上;所述推桿5 —端固定在所述升降機構(gòu)4上,推桿5另一端伸向所述開合蓋3,所述推桿5與水平方向的夾角為α。所述升降機構(gòu)4帶動推桿5做伸縮運動,推桿5打開關(guān)閉所述開合蓋3 ;所述推桿5靠近開合蓋3的一端設(shè)有彎鉤,彎鉤打開推動所述開合蓋3。所述彎鉤為彈性材料,彎鉤厚度小于鎖扣高度,彎鉤寬度小于兩鎖扣之間的距離。所述插拔機構(gòu)7設(shè)置在測試接口處,插拔機構(gòu)7插拔測試線。所述壓合機構(gòu)6設(shè)置在開合蓋3上方,壓合機構(gòu)6壓合所述開合蓋3 ;所述壓合機構(gòu)6的下端設(shè)有彈性壓頭,彈性壓頭壓下所述開合蓋3。所述升降機構(gòu)4、推桿5、插拔機構(gòu)7及壓合機構(gòu)6均做直線往復(fù)運動,通過氣缸實現(xiàn)。
      [0014]使用時,將電路板2放置于機架I上,電路板2上的測試接口相對應(yīng)于開合蓋3。升降機構(gòu)4上升帶動推桿5以及設(shè)置在推桿5上的彎鉤伸出;升降機構(gòu)3下降,彎鉤處于待打開的開合蓋3下方的空隙處;然后推桿5帶動彎鉤退回,使彎鉤末端勾起打開開合蓋3 ;升降機構(gòu)4再次上升,推桿5再次退回,升降機構(gòu)再次下降,使得開合蓋3完全打開;插拔機構(gòu)7伸出完成測試線與測試接口的連接;推桿5伸出,彎鉤的圓弧部位推動已打開的開合蓋3完成輔助壓合;壓合機構(gòu)6向下運動帶動彈性壓頭壓下開合蓋3,完全壓合開合蓋3后向上直線退回,并開始測試;測試結(jié)束后,再次進行開合蓋3的打開過程,插拔機構(gòu)7退回,拔出測試線,然后再次進行開合蓋3的壓合過程,最后取出電路板2。
      [0015]本實用新型能夠自動完成電路板的測試接口的連接,提高了工作效率、降低成本,且使用方便、體積小。
      [0016]以上所述僅為本實用新型的實施例,并非因此限制本實用新型的專利范圍,凡是利用本實用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內(nèi)。
      【主權(quán)項】
      1.一種電路板測試接口的開合裝置,其特征在于,包括:機架、開合蓋、升降機構(gòu)、推桿、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu);所述開合蓋一端可轉(zhuǎn)動的設(shè)置在所述機架上,機架上對應(yīng)開合蓋另一端的位置設(shè)有兩個鎖扣;所述機架上放有電路板,電路板上設(shè)有測試接口,測試接口對應(yīng)開合蓋;所述升降機構(gòu)、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu)均固定在所述機架上;所述推桿一端固定在所述升降機構(gòu)上,推桿另一端伸向所述開合蓋,所述推桿與水平方向呈一定角度設(shè)置;所述升降機構(gòu)帶動推桿做伸縮運動,推桿打開關(guān)閉所述開合蓋;所述插拔機構(gòu)設(shè)置在測試接口處,插板機構(gòu)插拔測試線;所述壓合機構(gòu)設(shè)置在開合蓋上方,壓合機構(gòu)壓合所述開合蓋。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路板測試接口的開合裝置,其特征在于:所述推桿靠近開合蓋的一端設(shè)有彎鉤,彎鉤打開推動所述開合蓋;所述壓合機構(gòu)的下端設(shè)有彈性壓頭,彈性壓頭壓下所述開合蓋。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電路板測試接口的開合裝置,其特征在于:所述彎鉤為彈性材料,彎鉤厚度小于鎖扣高度,彎鉤寬度小于兩鎖扣之間的距離。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電路板測試接口的開合裝置,其特征在于:所述升降機構(gòu)、推桿、插拔機構(gòu)及壓合機構(gòu)均做直線往復(fù)運動,通過氣缸或絲杠實現(xiàn)。
      【專利摘要】本實用新型公開了一種電路板測試接口的開合裝置,包括機架、開合蓋、升降機構(gòu)、推桿、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu);開合蓋一端可轉(zhuǎn)動的設(shè)置在機架上,機架上對應(yīng)開合蓋另一端的位置設(shè)有兩個鎖扣;機架上放有電路板,電路板上設(shè)有測試接口,測試接口對應(yīng)開合蓋;升降機構(gòu)、壓合機構(gòu)和插拔機構(gòu)均固定在機架上;推桿一端固定在升降機構(gòu)上,推桿另一端伸向開合蓋,推桿與水平方向呈一定角度設(shè)置;升降機構(gòu)帶動推桿做伸縮運動,推桿打開關(guān)閉開合蓋;插拔機構(gòu)設(shè)置在測試接口處,插板機構(gòu)插拔測試線;壓合機構(gòu)設(shè)置在開合蓋上方,壓合機構(gòu)壓合開合蓋。通過上述方式,本實用新型能夠自動完成電路板的測試接口的連接,提高了工作效率,降低了成本。
      【IPC分類】G01R1/04
      【公開號】CN204758630
      【申請?zhí)枴緾N201520347570
      【發(fā)明人】牛麗, 丁海波, 肖舫
      【申請人】蘇州市職業(yè)大學(xué)
      【公開日】2015年11月11日
      【申請日】2015年5月27日
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