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      金屬探測儀的制作方法

      文檔序號:9163434閱讀:687來源:國知局
      金屬探測儀的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本實(shí)用新型涉及一種金屬探測儀,特別是涉及一種能夠?qū)饘偬綔y儀靈敏度進(jìn)行 數(shù)字化控制的金屬探測儀。
      【背景技術(shù)】
      [0002] 金屬探測儀在野外探測時常常需要調(diào)節(jié)其靈敏度來獲得較好的預(yù)想中的探測效 果。普通金屬探測儀使用傳統(tǒng)電位器配合相應(yīng)電路來實(shí)現(xiàn)靈敏度調(diào)節(jié)。
      [0003] 但使用傳統(tǒng)電位器會存在如下的問題:
      [0004] 1、傳統(tǒng)電位器的質(zhì)量參差不齊,常出現(xiàn)接觸不良,旋轉(zhuǎn)時電器噪聲大等故障。
      [0005] 2、低溫不能工作。金屬探測儀常常需要在野外惡劣環(huán)境下使用,由于傳統(tǒng)電位器 的轉(zhuǎn)軸需要使用潤滑油,而轉(zhuǎn)軸潤滑油在〇°C以下低溫時會慢慢凝固,因此造成轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動力 矩顯著變大,這使得轉(zhuǎn)動轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動手感變差,大大降低電位器壽命,甚至造成轉(zhuǎn)軸斷裂。 在極端低溫下,甚至可能使轉(zhuǎn)軸完全凍死,而無法轉(zhuǎn)動。
      [0006] 3、使用傳統(tǒng)電位器在設(shè)計產(chǎn)品外形時易受到限制,不夠靈活。機(jī)殼的機(jī)械結(jié)構(gòu)也 較為復(fù)雜,增加了加工和產(chǎn)品裝配難度。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0007] 本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中金屬探測儀使用傳統(tǒng)電位 器進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)導(dǎo)致容易出現(xiàn)故障、低溫不能工作、機(jī)械結(jié)構(gòu)復(fù)雜等的缺陷,提供一種金 屬探測儀。
      [0008] 本實(shí)用新型是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的:
      [0009] 本實(shí)用新型提供了一種金屬探測儀,其特點(diǎn)在于,包括單片機(jī)和數(shù)字電位器,所述 數(shù)字電位器具有觸屏面板,所述數(shù)字電位器內(nèi)部還設(shè)有四雙向模擬開關(guān),所述四雙向模擬 開關(guān)具有四個相互獨(dú)立的模擬開關(guān),每個模擬開關(guān)均設(shè)有輸入引腳、輸出引腳和控制引腳, 四個模擬開關(guān)的控制引腳分別與所述單片機(jī)的邏輯接口電連接,所述金屬探測儀的測試端 與其中一個模擬開關(guān)的輸出引腳電連接。
      [0010] 較佳地,所述四雙向模擬開關(guān)的型號為⑶4066。
      [0011] 較佳地,所述觸屏面板上設(shè)有薄膜開關(guān)。
      [0012] 較佳地,四個模擬開關(guān)的控制引腳還分別通過電阻與一電源電連接。
      [0013] 本實(shí)用新型的積極進(jìn)步效果在于:本實(shí)用新型采用四雙向模擬開關(guān)進(jìn)行金屬探測 儀靈敏度的調(diào)節(jié),本實(shí)用新型的數(shù)字電路和邏輯電路質(zhì)量穩(wěn)定、可靠,故障率低,并且使得 金屬探測儀可適應(yīng)低溫的工作環(huán)境,同時使得金屬探測儀的產(chǎn)品外形設(shè)計美觀、靈活,機(jī)械 結(jié)構(gòu)簡單,易于加工和裝配。
      【附圖說明】
      [0014] 圖1為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的金屬探測儀的模塊示意圖。
      [0015] 圖2為本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的金屬探測儀中的四雙向模擬開關(guān)的部分電路結(jié) 構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0016] 下面結(jié)合附圖給出本實(shí)用新型較佳實(shí)施例,以詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。
      [0017] 如圖1-2所示,本實(shí)用新型的金屬探測儀包括單片機(jī)1和數(shù)字電位器2,所述數(shù)字 電位器2具有觸屏面板(圖中未示出),所述數(shù)字電位器內(nèi)部還設(shè)有四雙向模擬開關(guān)21,所 述四雙向模擬開關(guān)21具有四個相互獨(dú)立的模擬開關(guān)(即圖2中的U10:l、U10:2、U10:3、 U10:4),每個模擬開關(guān)均設(shè)有輸入引腳、輸出引腳和控制引腳,四個模擬開關(guān)的控制引腳分 別與所述單片機(jī)1的邏輯接口電連接,所述金屬探測儀的測試端T2則與其中一個模擬開關(guān) 的輸出引腳電連接。
      [0018] 在本實(shí)用新型中,所述四雙向模擬開關(guān)21的型號為⑶4066,在所述觸屏面板上還 設(shè)有薄膜開關(guān),四個模擬開關(guān)的控制引腳還分別通過電阻與一電源(即圖2中的VCC)電連 接。
      [0019] 在本實(shí)用新型中,金屬探測儀通過測試端T2接收信號,測試端T2處的信號越強(qiáng), 靈敏度就越高,因此,通過控制測試端T2處的信號強(qiáng)弱就可以實(shí)現(xiàn)靈敏度控制,本實(shí)用新 型具體通過所述四雙向模擬開關(guān)(CD4066)各路模擬開關(guān)的通斷來控制分壓輸出從而實(shí)現(xiàn) 對靈敏度的控制。
      [0020] 下表是四路模擬開關(guān)通斷時的信號衰減情況(其中0表示關(guān),1表示開):
      [0022] 由上表可以看出信號基本按照指數(shù)曲線衰減,由于信號衰減與實(shí)際靈敏度理論上 也是按照指數(shù)曲線遞減,因此,按照上表即可對靈敏度進(jìn)行調(diào)節(jié)和控制。
      [0023] 用戶在實(shí)際使用本實(shí)用新型的金屬探測儀時,只要通過觸屏面板上的薄膜開關(guān)來 控制單片機(jī)的靈敏度控制的邏輯輸出,就可以簡單實(shí)現(xiàn)靈敏度的調(diào)節(jié)。
      [0024] 由于使用了半導(dǎo)體技術(shù)的電子集成電路,其低溫工作溫度可以達(dá)到-KTC以下。若 選用工業(yè)級的器件其低溫工作溫度還可以達(dá)到-20°C以下,這樣就很好的解決了低溫工作 的問題。
      [0025] 另外集成電路作為一種電子器件,其不含有機(jī)械轉(zhuǎn)動軸。因此其使用和其它元器 件一樣都壽命很長,同時它質(zhì)量穩(wěn)定、可靠,一致性好,故障率低。而傳統(tǒng)電位器的壽命參差 不齊,通常只有500到10000次。
      [0026] 而使用數(shù)字集成電路電路后,省去了電位器的裝配工序??刂泼姘宓臋C(jī)械結(jié)構(gòu)也 較簡單,這樣就節(jié)約了人工工時。
      [0027] 雖然以上描述了本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解, 這些僅是舉例說明,本實(shí)用新型的保護(hù)范圍是由所附權(quán)利要求書限定的。本領(lǐng)域的技術(shù) 人員在不背離本實(shí)用新型的原理和實(shí)質(zhì)的前提下,可以對這些實(shí)施方式做出多種變更或修 改,但這些變更和修改均落入本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1. 一種金屬探測儀,其特征在于,包括單片機(jī)和數(shù)字電位器,所述數(shù)字電位器具有觸屏 面板,所述數(shù)字電位器內(nèi)部還設(shè)有四雙向模擬開關(guān),所述四雙向模擬開關(guān)具有四個相互獨(dú) 立的模擬開關(guān),每個模擬開關(guān)均設(shè)有輸入引腳、輸出引腳和控制引腳,四個模擬開關(guān)的控制 引腳分別與所述單片機(jī)的邏輯接口電連接,所述金屬探測儀的測試端與其中一個模擬開關(guān) 的輸出引腳電連接。2. 如權(quán)利要求1所述的金屬探測儀,其特征在于,所述四雙向模擬開關(guān)的型號為 CD4066。3. 如權(quán)利要求1所述的金屬探測儀,其特征在于,所述觸屏面板上設(shè)有薄膜開關(guān)。4. 如權(quán)利要求1所述的金屬探測儀,其特征在于,四個模擬開關(guān)的控制引腳還分別通 過電阻與一電源電連接。
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種金屬探測儀,包括單片機(jī)和數(shù)字電位器,所述數(shù)字電位器具有觸屏面板,所述數(shù)字電位器內(nèi)部還設(shè)有四雙向模擬開關(guān),所述四雙向模擬開關(guān)具有四個相互獨(dú)立的模擬開關(guān),每個模擬開關(guān)均設(shè)有輸入引腳、輸出引腳和控制引腳,四個模擬開關(guān)的控制引腳分別與所述單片機(jī)的邏輯接口電連接,所述金屬探測儀的測試端與其中一個模擬開關(guān)的輸出引腳電連接。本實(shí)用新型采用四雙向模擬開關(guān)進(jìn)行金屬探測儀靈敏度的調(diào)節(jié),本實(shí)用新型的數(shù)字電路和邏輯電路質(zhì)量穩(wěn)定、可靠,故障率低,并且使得金屬探測儀可適應(yīng)低溫的工作環(huán)境,同時使得金屬探測儀的產(chǎn)品外形設(shè)計美觀、靈活,機(jī)械結(jié)構(gòu)簡單,易于加工和裝配。
      【IPC分類】G01V13/00
      【公開號】CN204832550
      【申請?zhí)枴緾N201520647414
      【發(fā)明人】沈家益
      【申請人】上海廿一世紀(jì)電子設(shè)備有限公司
      【公開日】2015年12月2日
      【申請日】2015年8月25日
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