一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及一種消費型卡片生產(chǎn)設(shè)備，特別涉及一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]為確保IC卡卡片非接功能正常，卡片生產(chǎn)廠商需要抽調(diào)大量的人員及時間在非接觸功能的檢驗上面，因此在IC卡非接手工電測方面耗費大量的檢測工時，此前每萬張卡片手工非接電測耗時約為5-6工時，按一家中小型發(fā)卡中心每年發(fā)卡1000萬張估算，僅電測工序就耗費工時超5000小時。這種方式效率非常低下，浪費太多的人力物力，這種問題亟待解決。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]有鑒于此，本實用新型實施例提供一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，可以有效提尚不良卡的檢測效率。
[0004]本實用新型實施例是這樣實現(xiàn)的，一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，包括:刷卡器，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號；
[0005]延時繼電器控制器，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器；
[0006]制卡設(shè)備控制器，用于接收所述高頻信號后，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作；
[0007]所述制卡設(shè)備控制器包括:
[0008]高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；
[0009]光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。
[0010]進(jìn)一步地，所述裝置還包括計數(shù)器，與所述延時繼電器控制器相連，當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號后，延時繼電器將所述高頻信號發(fā)送到計數(shù)器。
[0011 ] 進(jìn)一步地，所述延時繼電器包括一延時時間調(diào)整控制，用于控制延時時間。
[0012]進(jìn)一步地，所述裝置還包括一報警裝置，用于當(dāng)待檢測到非接觸卡芯片不良時發(fā)出報警信號。
[0013]采用上述技術(shù)方案，具有如下有益效果:減少、取締這一工耗問題，從生產(chǎn)根源出發(fā)，利用光電感應(yīng)開關(guān)以及非接刷卡技術(shù)相結(jié)合，自動控制卡片生產(chǎn)設(shè)備判別并剔除非接觸不良類型卡片。
【附圖說明】
[0014]通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細(xì)描述，本申請的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯:
[0015]圖1示出了本申請?zhí)峁┑挠糜跈z測非接觸卡芯片不良的裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0016]圖2示出了本申請?zhí)峁┑挠糜跈z測非接觸卡芯片不良的裝置的另外一實施例的結(jié)構(gòu)框圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖和實施例對本申請作進(jìn)一步的詳細(xì)說明?？梢岳斫獾氖?，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋相關(guān)實用新型，而非對該實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與有關(guān)實用新型相關(guān)的部分。
[0018]需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實施例來詳細(xì)說明本申請。
[0019]如圖1所示，一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置10，包括:刷卡器101，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號；
[0020]延時繼電器控制器102，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器；
[0021]制卡設(shè)備控制器103，用于接收所述高頻信號后，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作。
[0022]刷卡器負(fù)責(zé)檢測IC卡芯片是否良品，如是良品會反饋高頻信號，不良品則無感應(yīng)，無高頻信號返回。上述刷卡器為非接刷卡器，將非接刷卡器安裝于生產(chǎn)設(shè)備最易損傷IC天線的模塊位置。
[0023]打開檢測設(shè)備，制卡設(shè)備控制器自動開啟攔截功能。制卡設(shè)備控制器進(jìn)一步包括高頻信號接收板和光電感應(yīng)開關(guān)，其中高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；其中光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。
[0024]當(dāng)有效的非接觸IC卡片經(jīng)過刷卡器時，刷卡器會給檢測設(shè)備一個“PASS”信號讓光電感應(yīng)開關(guān)自動開啟過卡通道，以達(dá)到正常生產(chǎn)目通過。反之，當(dāng)無效的非接觸卡片經(jīng)過刷卡器時，刷卡器則不會給檢測設(shè)備任何信號，然后就被隨時待命的光電開關(guān)攔截下來，被成功剔除。
[0025]本實用新型還提供另外一實施例，所述裝置還包括計數(shù)器，與所述延時繼電器控制器相連，當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號后，延時繼電器將所述高頻信號發(fā)送到計數(shù)器。當(dāng)成功識別有效卡片時，檢測設(shè)備能實時準(zhǔn)確地累加計數(shù)，讓卡片生產(chǎn)更加直觀更加明了。也可以方便產(chǎn)品生產(chǎn)完的核對操作，防止不良品流出。
[0026]本實用新型還提供另外一實施例，所述裝置還包括一報警裝置，用于當(dāng)待檢測非解除卡芯片不良時發(fā)出報警信號。報警裝置可以是蜂鳴器等可以發(fā)出提醒功能的裝置。
[0027]本實用新型還提供另外一實施例，延時繼電器包括一延時控制器，用于控制延時時間。這里的延時時間就是光電感應(yīng)被屏蔽的時間，即在此時間內(nèi)卡片經(jīng)過光電感應(yīng)，機(jī)器不會暫停，超出此時間卡片在經(jīng)過光電感應(yīng)，則機(jī)器會暫停。由于本產(chǎn)品安裝在機(jī)器的出卡處，不同卡款的卡片經(jīng)過本檢測機(jī)器的時間會有所區(qū)別，所以要用到調(diào)整延時時間來滿足正?？ㄆ茼樌?jīng)過光電感應(yīng)，不良卡片能被及時攔下。
[0028]如圖2所示，為本實用新型提供的另一實施例。
[0029]在工作前需要根據(jù)相應(yīng)卡款調(diào)整光電感應(yīng)延遲時間，延遲時間調(diào)整完畢后，在打IC卡時開啟此機(jī)器。
[0030]其中IC凸字卡延時時間調(diào)整為1.6S，IC UG卡調(diào)整延時時間為2.4S。
[0031]如遇到特殊卡款:這里假定一張卡片經(jīng)過刷卡器到光電感應(yīng)的時間為tl，兩張卡片經(jīng)過刷卡器到光電感應(yīng)的時間為t2，延時時間為t3，則此延時時間的調(diào)整按照tl < t3< t2的原則進(jìn)行調(diào)整。
[0032]其中一號主板為延時繼電器控制板，延時時間可調(diào)整，主要用于調(diào)整不同卡款的光電感應(yīng)延時。
[0033]二號主板為反饋信號接收板，可以接收刷卡器反饋的高頻信號并作出判斷，改變相應(yīng)端口的通斷。
[0034]正常卡片通過刷卡器時，刷卡器工作，反饋高頻信號至一號主板，同時反饋信號至計數(shù)器，計數(shù)器會累計計數(shù)+1，一號主板依據(jù)設(shè)定的延遲時間控制二號主板+_端口電壓，再由二號主板來控制斷開光電開關(guān)的感應(yīng)功能，斷開時間即一號主板設(shè)置的延時時間。此時卡會正常通過檢測機(jī)，不會停留。
[0035]如遇IC異?？ㄆ诮?jīng)過檢測機(jī)刷卡器位置時，刷卡器不會感應(yīng)，此時光電管正常工作，異?？ㄆ?jīng)過光電感應(yīng)時，光電感應(yīng)會反饋信號給制卡設(shè)備，暫停當(dāng)前制卡，由操作員檢查該張卡片是否芯片不良。
[0036]具體操作步驟為:
[0037]—、打開檢測裝置電源開關(guān)。
[0038]二、按“RESET”鍵手動清零刷卡計數(shù)器。
[0039]三、當(dāng)蜂鳴報警器響起時，手動將傳送帶上面的卡片清空。
[0040]四、點擊繼續(xù)按鈕繼續(xù)生產(chǎn)。
[0041]五、手工檢測點繼續(xù)之后出來的5張卡片，檢查是否有非接不良品。(批卡檢測好卡槽最后一張以及點繼續(xù)生產(chǎn)之后的第一張卡片)
[0042]六、如遇點擊繼續(xù)按鈕后有連續(xù)暫停情況。關(guān)閉檢測器電源，待正常過卡一張之后再次打開電源開關(guān)繼續(xù)生產(chǎn)。
[0043]以上描述僅為本申請的較佳實施例以及對所運用技術(shù)原理的說明。本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，本申請中所涉及的實用新型范圍，并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案，同時也應(yīng)涵蓋在不脫離所述實用新型構(gòu)思的情況下，由上述技術(shù)特征或其等同特征進(jìn)行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請中公開的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進(jìn)行互相替換而形成的技術(shù)方案。
【主權(quán)項】
1.一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，其特征在于，包括: 刷卡器，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號； 延時繼電器控制器，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器； 制卡設(shè)備控制器，用于接收所述高頻信號，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作； 所述制卡設(shè)備控制器包括: 高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷； 光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，其特征在于，所述裝置還包括計數(shù)器，與所述延時繼電器控制器相連，當(dāng)刷卡器接收到所述非接觸卡反饋的高頻信號后，延時繼電器將所述高頻信號發(fā)送到計數(shù)器。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，其特征在于，所述延時繼電器包括一延時時間調(diào)整控制，用于控制延時時間。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，其特征在于，所述裝置還包括一報警裝置，用于當(dāng)待檢測到非接觸卡芯片不良時發(fā)出報警信號。
【專利摘要】本實用新型實施例提供一種用于檢測非接觸卡芯片不良的裝置，包括：刷卡器，用于接收非接觸卡反饋的高頻信號；延時繼電器控制器，與所述刷卡器相連，用于接收所述高頻信號并在一段延時后傳遞給制卡設(shè)備控制器；制卡設(shè)備控制器，用于接收所述高頻信號，如果沒有接收到所述高頻信號，則控制制卡設(shè)備暫停工作；所述制卡設(shè)備控制器包括：高頻信號接收板，與所述延時繼電器控制器相連，用于接收所述高頻信號，并控制光電感應(yīng)開關(guān)的通斷；光電感應(yīng)開關(guān)，與所述高頻信號接收板相連，根據(jù)高頻信號板的控制產(chǎn)生反饋信號給制卡設(shè)備。本方案可以有效提高不良卡的檢測效率。
【IPC分類】G01R31/00
【公開號】CN204903663
【申請?zhí)枴緾N201520166240
【發(fā)明人】胡安輝, 周斌, 張琛航, 龔家杰
【申請人】珠海市金邦達(dá)保密卡有限公司
【公開日】2015年12月23日
【申請日】2015年3月23日