接觸式cpu芯片生產測試方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及接觸式CPU芯片生產測試領域，特別是涉及一種接觸式CPU芯片生產測試方法。
【背景技術】
[0002]隨著芯片設計和工藝的日益發(fā)展，接觸式CPU芯片的功能也越來越強大，隨之而來的高成本，使得后續(xù)測試成本的降低顯得尤為重要。因硅晶圓片測試均采用外部時鐘作為芯片測試的同步信號，而接觸式CPU芯片如果采用外部時鐘作為工作時鐘，將有可能引入干擾和攻擊，這對于芯片的安全性將帶來不可忽視的影響。因此接觸式CPU芯片無論在測試模式還是在應用模式均采用內部時鐘作為芯片的工作頻率；但是這樣將無法實現(xiàn)芯片測試的一致性，大大降低測試效率。如果在生產測試階段即能保證接觸式CPU芯片的安全性，又能實現(xiàn)多芯片同時測試的目的，這將大大節(jié)約測試時間。
[0003]另外，采用外部時鐘可同時對多個芯片進行測試，提高測試效率；故在生產測試中均采用外部時鐘來實現(xiàn)多芯片同測。當接觸式CPU芯片工作頻率采用內部時鐘時，很難實現(xiàn)多芯片同時進行測試。因內部時鐘頻率的差異性，故在生產測試階段ATE (自動測試設備)只能采用一顆顆芯片分別進行測試的方法，大大增加了測試成本。

【發(fā)明內容】

[0004]本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種接觸式CPU芯片生產測試方法，能夠降低測試成本，提高測試效率。
[0005]為解決上述技術問題，本發(fā)明的接觸式CPU芯片生產測試方法是采用如下技術方案實現(xiàn)的:
[0006]接觸式CPU芯片上電后，首先判斷該接觸式CPU芯片處于何種模式；
[0007]如果為非測試模式，則直接進入應用模式，此時接觸式CPU芯片仍采用內部時鐘作為其工作時鐘；
[0008]如果為測試模式，則測試接觸式CPU芯片所有功能；此時接觸式CPU芯片同樣采用內部時鐘作為其工作時鐘，測試后的結果保存在SRAM (靜態(tài)隨機存儲器)中；
[0009]完成功能測試后，再將接觸式CPU芯片的工作頻率切換到外部頻率，并對測試結果數(shù)據(jù)進行比對，如果和預期值一致，則通過，否則為失敗。
[0010]本發(fā)明通過理論分析和實驗驗證，調整接觸式CPU芯片的測試方法，保留接觸式(PU芯片的工作時鐘為內部時鐘，僅在判斷測試結果時采用外部時鐘；同時測試結果保存在SRAM中，下電后即可消失，保證了 SRAM的完整性。這樣，接觸式CPU芯片在使用內部時鐘的情況下，也能實現(xiàn)多芯片同測，能夠保證接觸式CPU芯片生產測試中的一致性，確保接觸性CPU芯片的安全性，有效提高了接觸式CPU芯片測試效率，降低了測試成本。
[0011]采用本發(fā)明的方法，可實現(xiàn)64顆芯片同測或128顆芯片同測，其測試效率分別提高64倍，128倍。
【附圖說明】
[0012]下面結合附圖與【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細的說明:
[0013]附圖是所述接觸式CPU芯片生產測試方法流程圖。
【具體實施方式】
[0014]參見附圖所示，所述接觸式CPU芯片生產測試方法，在接觸式CPU芯片上電后，首先判斷接觸式CPU芯片處于何種模式，如果為非測試模式，則直接進入應用模式，此時接觸式CPU芯片仍采用內部時鐘作為芯片的工作時鐘。否則為測試模式，此階段測試芯片所有功能，此時接觸式CPU芯片同樣采用內部時鐘作為芯片的工作時鐘，測試后的結果保存在SRAM中。完成功能測試后，再將接觸式CPU芯片的工作頻率切換到外部頻率，并對測試結果數(shù)據(jù)進行比對，如果和預期值一致，則通過，否則為失敗。
[0015]本發(fā)明的方法因采用內部時鐘作為測試同步時鐘，實現(xiàn)在生成測試階段多芯片同測的目的，大大提聞測試效率。
[0016]以上通過【具體實施方式】對本發(fā)明進行了詳細的說明，但這些并非構成對本發(fā)明的限制。在不脫離本發(fā)明原理的情況下，本領域的技術人員還可做出許多變形和改進，這些也應視為本發(fā)明的保護范圍。
【主權項】
1.一種接觸式CPU芯片生產測試方法，其特征在于: 接觸式CPU芯片上電后，首先判斷該接觸式CPU芯片處于何種模式； 如果為非測試模式，則直接進入應用模式，此時接觸式CPU芯片仍采用內部時鐘作為其工作時鐘； 如果為測試模式，則測試接觸式CPU芯片所有功能；此時接觸式CPU芯片同樣采用內部時鐘作為其工作時鐘，測試后的結果保存在SRAM中；完成功能測試后，再將接觸式CPU芯片的工作頻率切換到外部頻率，并對測試結果數(shù)據(jù)進行比對，如果和預期值一致，則通過，否則為失敗。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種接觸式CPU芯片生產測試方法，接觸式CPU芯片上電后，首先判斷該接觸式CPU芯片處于何種模式；如果為非測試模式，則直接進入應用模式，此時接觸式CPU芯片仍采用內部時鐘作為其工作時鐘；如果為測試模式，則測試接觸式CPU芯片所有功能；此時接觸式CPU芯片同樣采用內部時鐘作為其工作時鐘，測試后的結果保存在SRAM中；完成功能測試后，再將接觸式CPU芯片的工作頻率切換到外部頻率，并對測試結果數(shù)據(jù)進行比對，如果和預期值一致，則通過，否則為失敗。本發(fā)明能夠降低測試成本，提高測試效率。
【IPC分類】G06F11-26
【公開號】CN104598350
【申請?zhí)枴緾N201310533597
【發(fā)明人】崔麗華
【申請人】上海華虹集成電路有限責任公司
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2013年10月31日