應用于igbt模塊中的熔斷器的測試裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電力電子技術領域，特別涉及一種應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置。
【背景技術】
[0002]現(xiàn)有的絕緣棚.雙極型晶體管(InsulatedGate Bipolar Transistor，IGBT)功率模塊通常包含多個IGBT半橋臂模塊，每個IGBT半橋臂模塊由上橋臂和下橋臂組成;上、下橋臂皆由一個IGBT和一個反接的續(xù)流二極管連接而成?，F(xiàn)有技術中測試熔斷器保護IGBT模塊中續(xù)流二極管的單相短路的實驗電路如圖1所示，兩路連接支路分別于兩個IGBT半橋臂模塊的橋臂中點連接，通過外接三相交流電中的兩個相電壓，來完成測試熔斷器保護IGBT模塊中續(xù)流二極管的單相短路的保護能力。
[0003]現(xiàn)有技術存在如下缺陷:首先，整個測試電路中需要兩個并聯(lián)的IGBT半橋臂模塊I，電路結構復雜;其次，該測試電路只能測試單相交流電對IGBT半橋臂模塊I的影響，不能模擬測試現(xiàn)有三相交流電連接IGBT半橋臂模塊時的工作場景。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型的實施例提供一種應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置，通過采用一個IGBT半橋臂模塊檢測熔斷器對續(xù)流二極管的保護能力。
[0005]為達到上述目的，本實用新型的實施例提供了一種應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置，包括:一個IGBT半橋臂模塊、第一連接支路和第二連接支路；以及在所述第一連接支路或所述第二連接支路上設置的熔斷器接入端口；所述IGBT半橋臂模塊的上、下橋臂連接;所述第一連接支路一端與所述IGBT半橋臂模塊的橋臂中點連接、另一端與三相交流電源的A相連接;所述第二連接支路一端與所述IGBT半橋臂模塊的下橋臂連接、另一端與所述三相交流電源的B相連接。
[0006]如上所述的裝置，所述測試裝置還包括:第三連接支路，所述第三連接支路一端與所述IGBT半橋臂模塊的下橋臂連接、另一端與所述三相交流電源的C相連接；當所述第二連接支路上設置有所述熔斷器接入端口時，所述第三連接支路一端通過所述熔斷器接入端口與所述IGBT半橋臂模塊的下橋臂連接。
[0007]如上所述的裝置，所述測試裝置還包括:串聯(lián)單元，所述串聯(lián)單元包括依次串聯(lián)連接的電感、電阻和第一開關裝置;所述第一連接支路及所述第二連接支路上設置有所述串聯(lián)單元，或者，所述第一連接支路、所述第二連接支路及所述第三連接支路上設置有所述串聯(lián)單元，各所述串聯(lián)單元中的所述第一開關裝置的一端與所述三相交流電源連接。
[0008]如上所述的裝置，每一所述串聯(lián)單元包括依次串聯(lián)連接的第二開關裝置、所述電感、所述電阻及所述第一開關裝置。
[0009]如上所述的裝置，所述測試裝置中還包括所述三相交流電源。
[0010]如上所述的裝置，所述第一開關裝置和所述第二開關裝置為觸點開關或單刀開關。
[0011]本實用新型實施例提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置，通過采用一個IGBT半橋臂模塊便可完成測試單相短路的搭建，以檢測熔斷器對續(xù)流二極管的保護能力，既減小了器件體積，便于攜帶，又節(jié)省了成本。
【附圖說明】
[0012]圖1為現(xiàn)有技術中一種測試熔斷器保護IGBT模塊中續(xù)流二極管的單相短路實驗電路；
[0013]圖2為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置一個實施例的結構示意圖；
[0014]圖3為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置另一個實施例的結構示意圖；
[0015]圖4為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置再一個實施例的結構示意圖；
[0016]圖5為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置又一個實施例的結構示意圖。
[0017]附圖標號說明:S1-第一連接支路;S2-第二連接支路；1-1GBT半橋臂模塊;2-熔斷器接入端口；L-電感;R-電阻;Kl-第一開關裝置;K2-第二開關裝置。
【具體實施方式】
[0018]下面結合附圖對本實用新型實施例應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置進行詳細描述。
[0019]實施例一
[0020]圖2為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置一個實施例的結構示意圖，該測試裝置包括一個IGBT半橋臂模塊1、第一連接支路SI和第二連接支路S2以及在第一連接支路SI或第二連接支路S2上設置的供接入熔斷器的熔斷器接入端口 2。
[0021]具體地，第一連接支路SI的一端與IGBT半橋臂模塊I的橋臂中點連接，其另一端與三相交流電源的A相連接;第二連接支路S2的一端與IGBT半橋臂模塊I的下橋臂連接，其另一端與三相交流電源的B相連接;IGBT半橋臂模塊I的上、下橋臂連接，以形成回路。
[0022]下面對測試的原理進行詳細說明:
[0023]按照圖2的方式連接電路后接入熔斷器，如果A、B間線電壓為正向電壓，則電流從A相流出，流經(jīng)方向依次通過第一連接支路S1、熔斷器、IGBT半橋臂模塊I的橋臂中點、IGBT模塊上橋臂的續(xù)流二極管、上橋臂和下橋臂的連線、第二連接支路S2、最后回到B相。如果A、B間線電壓為反相電壓，則電流從B相流出，流經(jīng)方向依次通過第二連接支路S2、IGBT模塊下橋臂的續(xù)流二極管、IGBT半橋臂模塊I的橋臂中點、熔斷器、第一連接支路SI，最后回到A相。
[0024]在測試過程中，可以調節(jié)交流電源相電壓的大小，當相電壓達到續(xù)流二極管的損壞電壓時，熔斷器及時斷開，說明熔斷器的保護能力強，符合要求;如果相電壓到達足夠大，續(xù)流二極管已經(jīng)被損壞，但熔斷器仍然沒有熔斷，說明熔斷器的保護能力弱。
[0025]本實用新型實施例提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置，通過采用一個IGBT半橋臂模塊便可完成測試單相短路的搭建，以檢測熔斷器對續(xù)流二極管的保護能力，既減小了器件體積，便于攜帶，又節(jié)省了成本。
[0026]實施例二
[0027]圖3為本實用新型提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置另一個實施例的結構示意圖。如圖3所示，在圖2的基礎上，該測試裝置還包括第三連接支路S3。
[0028]具體地，第三連接支路S3的一端與IGBT半橋臂模塊I的下橋臂連接，其另一端與三相交流電源的C相連接。
[0029]在本實施例中，第二連接支路S2和第三連接支路S3靠近IGBT半橋臂模塊I的一端設置有一個公共連接點。優(yōu)選地，當?shù)诙B接支路S2上設置有熔斷器接入端口 2時，第三連接支路S3—端通過熔斷器接入端口 2與IGBT半橋臂模塊I的下橋臂連接，如此，即可以使第二連接支路S2和第三連接支路S3共用一個熔斷器。
[0030]本實用新型實施例提供的應用于IGBT模塊中的熔斷器的測試裝置，可以通過三相交流電源的A相和B相對熔斷器進行測試，也可以通過B相和C相或者A相和C相對熔斷器進行測試，完成測試單相短路的搭建；同時三相交流