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      紅外紫外光譜聯(lián)用儀的制作方法

      文檔序號(hào):10461605閱讀:611來(lái)源:國(guó)知局
      紅外紫外光譜聯(lián)用儀的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型屬于檢測(cè)儀器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種紅外紫外光譜聯(lián)用儀。
      【背景技術(shù)】
      [0002]光譜儀,又稱(chēng)分光儀,廣泛為認(rèn)知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線(xiàn)不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫,一個(gè)色散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域,并在選定的波長(zhǎng)上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。
      [0003]光譜儀是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線(xiàn)的科學(xué)儀器,由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成,利用光譜儀可測(cè)量物體表面反射的光線(xiàn)。陽(yáng)光中的七色光是肉眼能分的部分(可見(jiàn)光),但若通過(guò)光譜儀將陽(yáng)光分解,按波長(zhǎng)排列,可見(jiàn)光只占光譜中很小的范圍,其余都是肉眼無(wú)法分辨的光譜,如紅外線(xiàn)、微波、紫外線(xiàn)、X射線(xiàn)等等。通過(guò)光譜儀對(duì)光信息的抓取、以照相底片顯影,或電腦化自動(dòng)顯示數(shù)值儀器顯示和分析,從而測(cè)知物品中含有何種元素。這種技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于空氣污染、水污染、食品衛(wèi)生、金屬工業(yè)等的檢測(cè)中。
      [0004]目前實(shí)際應(yīng)用的光譜聯(lián)用儀,檢測(cè)槽位于儀器的一側(cè),另一側(cè)為集成控制部分,兩側(cè)的重量不均衡,放置時(shí)容易使儀器產(chǎn)生傾斜。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本實(shí)用新型提供一種紅外紫外光譜聯(lián)用儀,以解決上述【背景技術(shù)】中提出的容易產(chǎn)生傾斜的問(wèn)題。
      [0006]本實(shí)用新型所解決的技術(shù)問(wèn)題采用以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn):
      [0007]—種紅外紫外光譜聯(lián)用儀,其特征在于:包括外殼,所述外殼一側(cè)設(shè)有檢測(cè)槽,所述外殼內(nèi)設(shè)有控制倉(cāng),所述控制倉(cāng)內(nèi)設(shè)有集成電路板,所述控制倉(cāng)內(nèi)頂部設(shè)有第一上擋板、第二上擋板,底部設(shè)有第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢?,所述集成電路板頂端位于第一上擋板、第二上擋板之間,底端位于第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢逯g,所述集成電路板兩側(cè)分別設(shè)有第一水平擋板、第二水平擋板,所述外殼的下面設(shè)有上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái),所述上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間設(shè)有第一限位柱、第二限位柱,所述第一限位柱外面套有第一壓縮彈簧,所述第二限位柱外面套有第二壓縮彈簧,所述第一壓縮彈簧、第二壓縮彈簧位于上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間,所述第一限位柱頂部設(shè)有第一緊固螺栓,所述第二限位柱頂部設(shè)有第二緊固螺栓,所述下支撐臺(tái)下底面設(shè)有第一支撐柱、第二支撐柱,所述第一支撐柱底部設(shè)有第一定位槽,所述第二支撐柱底部設(shè)有第二定位槽,所述第一支撐柱下方設(shè)有第三支撐柱,所述第二支撐柱下方設(shè)有第四支撐柱,所述第三支撐柱頂部設(shè)有第三定位槽,所述第四支撐柱頂部設(shè)有第四定位槽,所述第一支撐柱、第三支撐柱之間設(shè)有第一連接柱,所述第一連接柱頂端位于第一定位槽內(nèi),底端位于第三定位槽內(nèi),所述第二支撐柱、第四支撐柱之間設(shè)有第二連接柱,所述第二連接柱頂端位于第二定位槽內(nèi),底端位于第四定位槽內(nèi)。
      [0008]本實(shí)用新型的有益效果為:
      [0009]本技術(shù)方案在光譜聯(lián)用儀的低下設(shè)置一個(gè)調(diào)節(jié)底座,通過(guò)兩側(cè)的壓縮彈簧可以對(duì)光譜聯(lián)用儀進(jìn)行水平位置的調(diào)整,并通過(guò)緊固螺栓進(jìn)行固定,在調(diào)節(jié)底座的下面設(shè)有可以伸縮的調(diào)節(jié)支柱,可以對(duì)光譜聯(lián)用儀的高度進(jìn)行調(diào)整,整體結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單可靠,操作方便,另外電路板采用豎直設(shè)置,可以方便電路板通過(guò)殼體側(cè)面散熱,擋板的設(shè)置主要起加固作用,增加整體結(jié)構(gòu)穩(wěn)固性。
      【附圖說(shuō)明】
      [0010]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0011 ]圖中:1-外殼,2-檢測(cè)槽,3-集成電路板,4-第一上擋板,5-第二上擋板,6-第一下?lián)醢澹?-第二下?lián)醢澹?-第一水平擋板,9-第二水平擋板,10-上支撐臺(tái),11-下支撐臺(tái),12-第一限位柱,13-第二限位柱,14-第一壓縮彈簧,15-第二壓縮彈簧,16-第一緊固螺栓,17-第二緊固螺栓,18-第一支撐柱,19-第二支撐柱,20-第一定位槽,21-第二定位槽,22-第三支撐柱,23-第四支撐柱,24-第三定位槽,25-第四定位槽,26-第一連接柱,27-第二連接柱,28-控制倉(cāng)。
      【具體實(shí)施方式】
      [0012]—種紅外紫外光譜聯(lián)用儀,包括外殼I,外殼I一側(cè)設(shè)有檢測(cè)槽2,外殼I內(nèi)設(shè)有控制倉(cāng)28,控制倉(cāng)28內(nèi)設(shè)有集成電路板3,控制倉(cāng)28內(nèi)頂部設(shè)有第一上擋板4、第二上擋板5,底部設(shè)有第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢?,集成電路板3頂端位于第一上擋板4、第二上擋板5之間,底端位于第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢?之間,集成電路板3兩側(cè)分別設(shè)有第一水平擋板8、第二水平擋板9,外殼I的下面設(shè)有上支撐臺(tái)10、下支撐臺(tái)11,上支撐臺(tái)10、下支撐臺(tái)11之間設(shè)有第一限位柱12、第二限位柱13,第一限位柱12外面套有第一壓縮彈簧14,第二限位柱13外面套有第二壓縮彈簧15,第一壓縮彈簧14、第二壓縮彈簧15位于上支撐臺(tái)10、下支撐臺(tái)11之間,第一限位柱12頂部設(shè)有第一緊固螺栓16,第二限位柱13頂部設(shè)有第二緊固螺栓17,下支撐臺(tái)11下底面設(shè)有第一支撐柱18、第二支撐柱19,第一支撐柱18底部設(shè)有第一定位槽20,第二支撐柱19底部設(shè)有第二定位槽21,第一支撐柱19下方設(shè)有第三支撐柱22,第二支撐柱19下方設(shè)有第四支撐柱23,第三支撐柱22頂部設(shè)有第三定位槽24,第四支撐柱23頂部設(shè)有第四定位槽25,第一支撐柱18、第三支撐柱22之間設(shè)有第一連接柱26,第一連接柱26頂端位于第一定位槽20內(nèi),底端位于第三定位槽24內(nèi),第二支撐柱19、第四支撐柱23之間設(shè)有第二連接柱27,第二連接柱27頂端位于第二定位槽21內(nèi),底端位于第四定位槽25內(nèi)。
      [0013]以上對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)說(shuō)明,但所述內(nèi)容僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例,不能被認(rèn)為用于限定本實(shí)用新型的實(shí)施范圍,凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)范圍所作的均等變化與改進(jìn)等,均應(yīng)仍歸屬于本實(shí)用新型的專(zhuān)利涵蓋范圍之內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種紅外紫外光譜聯(lián)用儀,其特征在于:包括外殼,所述外殼一側(cè)設(shè)有檢測(cè)槽,所述外殼內(nèi)設(shè)有控制倉(cāng),所述控制倉(cāng)內(nèi)設(shè)有集成電路板,所述控制倉(cāng)內(nèi)頂部設(shè)有第一上擋板、第二上擋板,底部設(shè)有第一下?lián)醢濉⒌诙聯(lián)醢?,所述集成電路板頂端位于第一上擋板、第二上擋板之間,底端位于第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢逯g,所述集成電路板兩側(cè)分別設(shè)有第一水平擋板、第二水平擋板,所述外殼的下面設(shè)有上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái),所述上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間設(shè)有第一限位柱、第二限位柱,所述第一限位柱外面套有第一壓縮彈簧,所述第二限位柱外面套有第二壓縮彈簧,所述第一壓縮彈簧、第二壓縮彈簧位于上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間,所述第一限位柱頂部設(shè)有第一緊固螺栓,所述第二限位柱頂部設(shè)有第二緊固螺栓,所述下支撐臺(tái)下底面設(shè)有第一支撐柱、第二支撐柱,所述第一支撐柱底部設(shè)有第一定位槽,所述第二支撐柱底部設(shè)有第二定位槽,所述第一支撐柱下方設(shè)有第三支撐柱,所述第二支撐柱下方設(shè)有第四支撐柱,所述第三支撐柱頂部設(shè)有第三定位槽,所述第四支撐柱頂部設(shè)有第四定位槽,所述第一支撐柱、第三支撐柱之間設(shè)有第一連接柱,所述第一連接柱頂端位于第一定位槽內(nèi),底端位于第三定位槽內(nèi),所述第二支撐柱、第四支撐柱之間設(shè)有第二連接柱,所述第二連接柱頂端位于第二定位槽內(nèi),底端位于第四定位槽內(nèi)。
      【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型屬于檢測(cè)儀器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種紅外紫外光譜聯(lián)用儀,所述控制倉(cāng)內(nèi)設(shè)有集成電路板,所述控制倉(cāng)內(nèi)頂部設(shè)有第一上擋板、第二上擋板,底部設(shè)有第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢澹黾呻娐钒屙敹宋挥诘谝簧蠐醢?、第二上擋板之間,底端位于第一下?lián)醢?、第二下?lián)醢逯g,所述集成電路板兩側(cè)分別設(shè)有第一水平擋板、第二水平擋板,所述外殼的下面設(shè)有上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái),所述上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間設(shè)有第一限位柱、第二限位柱,所述第一限位柱外面套有第一壓縮彈簧,所述第二限位柱外面套有第二壓縮彈簧,所述第一壓縮彈簧、第二壓縮彈簧位于上支撐臺(tái)、下支撐臺(tái)之間,第一限位柱頂部設(shè)有第一緊固螺栓,第二限位柱頂部設(shè)有第二緊固螺栓。
      【IPC分類(lèi)】G01J3/28
      【公開(kāi)號(hào)】CN205373883
      【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201521125302
      【發(fā)明人】萬(wàn)成富, 趙朋輝, 劉大鵬
      【申請(qǐng)人】天津中世沃克科技發(fā)展有限公司
      【公開(kāi)日】2016年7月6日
      【申請(qǐng)日】2015年12月29日
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