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      一種顆粒檢測光度計(jì)模塊的制作方法

      文檔序號:10854219閱讀:261來源:國知局
      一種顆粒檢測光度計(jì)模塊的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,包括激光散射檢測單元、溫濕度傳感器、溫度調(diào)節(jié)裝置、控制芯片,所述控制芯片與溫濕度傳感器、激光散射檢測單元、溫度調(diào)節(jié)裝置連接,所述激光散射檢測單元包括光源、與所述光源呈90°的半導(dǎo)體光探測器,本實(shí)用新型用于顆粒物檢測儀器中,通過控制芯片與溫濕度傳感器和溫度調(diào)節(jié)裝置,保證激光散射檢測單元測量時(shí)處于合適的溫度,并能通過控制芯片設(shè)置閾值范圍,且利用濕度補(bǔ)償保證激光散射檢測單元的測量結(jié)果更加精確,本裝置中,光源與探測器成90°,光的損失少,因此測量精度比較高。
      【專利說明】
      一種顆粒檢測光度計(jì)模塊
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001]本實(shí)用新型主要涉及大氣環(huán)境科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種顆粒檢測光度計(jì)模塊。
      【背景技術(shù)】
      [0002]顆粒物或塵(Particulate Matter ,Dust),是指燃料和其他物質(zhì)在燃燒、合成、分解以及各種物質(zhì)在機(jī)械處理中所產(chǎn)生的懸浮于排放氣體中的固體和液體顆粒狀物質(zhì),城市中的細(xì)顆粒物絕大來自燃燒和工業(yè)生產(chǎn)等人為污染,顆粒物污染已經(jīng)逐步成為影響環(huán)境空氣質(zhì)量的重要污染源之一,近年來,有關(guān)大氣顆粒物粒徑、化學(xué)組分、濃度等方面的研究進(jìn)展迅速,由于空氣中顆粒物的粒徑分布范圍較寬,可以從幾個(gè)納米到幾十個(gè)微米。
      [0003]顆粒檢測光度計(jì)利用激光二極管發(fā)出的光,通過特定的光路照射一定的測量體積,經(jīng)測試可知,溫度、濕度都會影響到顆粒檢測光度計(jì)的測量數(shù)據(jù),光度計(jì)的原理是光源照射顆粒物之后被光探測模塊接收,現(xiàn)有技術(shù)中光源和光探測模塊之間的角度為180°,光的損失比較大,造成測量精度不高。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0004]本實(shí)用新型提供一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,消除了檢測單元信號對溫度的依賴,且避免了受熱時(shí)影響測量值,保證其測量值的精確性,為了達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:本實(shí)用新型包括激光散射檢測單元、溫濕度傳感器、溫度調(diào)節(jié)裝置、控制芯片,所述控制芯片與溫濕度傳感器、激光散射檢測單元、溫度調(diào)節(jié)裝置連接,所述激光散射檢測單元包括光源、與所述光源呈90°的半導(dǎo)體光探測器。
      [0005]優(yōu)選的,所述溫度調(diào)節(jié)裝置采用電加熱裝置,所述溫度調(diào)節(jié)裝置包括有:可加熱鋁塊、加熱電阻、過熱保護(hù)器。
      [0006]優(yōu)選的,所述加熱電阻與可加熱鋁塊連接,所述加熱電阻還與過熱保護(hù)器連接。
      [0007]優(yōu)選的,所述光源采用激光二極管。
      [0008]本實(shí)用新型的有益效果:本實(shí)用新型用于顆粒物檢測儀器中,通過控制芯片與溫濕度傳感器和溫度調(diào)節(jié)裝置,保證激光散射檢測單元測量時(shí)處于合適的溫度,并能通過控制芯片設(shè)置閾值范圍,且利用濕度補(bǔ)償保證激光散射檢測單元的測量結(jié)果更加精確,本裝置中,光源與探測器成90°,光的損失少,因此測量精度比較高。
      【附圖說明】
      [0009]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0010]圖2為本實(shí)用新型的電氣系統(tǒng)連接示意圖。
      [0011]圖中,1、激光散射檢測單元;2、光源;3、半導(dǎo)體光探測器;4、溫濕度傳感器;5、溫度調(diào)節(jié)裝置;6、控制芯片;7、控制電纜;8、過熱保護(hù)器;9、通氣孔;10、可加熱鋁塊。
      【具體實(shí)施方式】
      [0012]由圖1所示可知,本實(shí)用新型包括激光散射檢測單元1、溫濕度傳感器4、溫度調(diào)節(jié)裝置5、控制芯片6,所述激光散射檢測單元I通過模數(shù)轉(zhuǎn)換電路、放大電路后與控制芯片6連接,所述控制芯片6輸入輸出端與溫濕度傳感器4、溫度調(diào)節(jié)裝置5連接,用于調(diào)節(jié)激光散射檢測單元I內(nèi)的溫度,所述控制芯片6將激光散射檢測單元I檢測的數(shù)據(jù)經(jīng)過濕度補(bǔ)償后,通過控制電纜7發(fā)送到存儲器內(nèi),所述濕度補(bǔ)償可采用濕度補(bǔ)償算法,其計(jì)算公式為:
      [0013]CPhot.corr=CPhot[1-0.005(r.h./%_50)]ο
      [0014]如圖1所示,所述激光散射檢測單元I包括有:絕緣盒體、設(shè)置于所述絕緣盒體內(nèi)的光源2和半導(dǎo)體光探測器3,所述絕緣盒體上還開設(shè)有通氣孔9,所述光源2與半導(dǎo)體光探測器3之間呈90°的分布角度,所述通氣孔9位于90°連接點(diǎn)位置上,此結(jié)構(gòu)的目的為:顆粒物進(jìn)入通氣孔9內(nèi)時(shí),光源2發(fā)射光照射顆粒物后經(jīng)反射被半導(dǎo)體光探測器3接收,可精確檢測出顆粒物的體積數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)傳輸給控制芯片6。
      [0015]優(yōu)選的,所述光源2采用激光二極管。
      [0016]由圖1所示可知,所述溫度調(diào)節(jié)裝置5采用電加熱裝置,所述溫度調(diào)節(jié)裝置5包括有:可加熱鋁塊10、設(shè)置于所述可加熱鋁塊10內(nèi)部的加熱電阻11和過熱保護(hù)器8,所述可加熱鋁塊10包覆在所述絕緣盒體外側(cè),用于調(diào)控激光散射檢測單元I內(nèi)的溫度,使得激光散射檢測單元I測量處于合適的溫度,提高測量精確度。
      [0017]優(yōu)選的,所述加熱電阻11與可加熱鋁塊10連接對其進(jìn)行加熱,所述加熱電阻11通過控制芯片6與溫濕度傳感器4連接,所述加熱電阻11還與過熱保護(hù)器8電連接。
      [0018]優(yōu)選的,所述溫濕度傳感器4設(shè)置于所述可加熱鋁塊10內(nèi)部,實(shí)時(shí)監(jiān)測可加熱鋁塊1的溫度,使可加熱鋁塊1的溫度控制在40 0C。
      [0019]優(yōu)選的,所述絕緣盒體為長方體或圓柱體或球體,也可為棱臺、椎臺,所述可加熱鋁塊1為長方體或圓柱體或球體,也可為棱臺、椎臺。
      [0020]上述實(shí)施例僅例示性說明本專利申請的原理及其功效,而非用于限制本專利申請。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本專利申請的精神及范疇下,對上述實(shí)施例進(jìn)行修飾或改變。因此,舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本專利申請所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應(yīng)由本專利請的權(quán)利要求所涵蓋。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,包括激光散射檢測單元、溫濕度傳感器、溫度調(diào)節(jié)裝置、控制芯片,其特征在于:所述控制芯片與溫濕度傳感器、激光散射檢測單元、溫度調(diào)節(jié)裝置連接,所述激光散射檢測單元包括光源、與所述光源呈90°的半導(dǎo)體光探測器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,其特征在于:所述溫度調(diào)節(jié)裝置采用電加熱裝置,所述溫度調(diào)節(jié)裝置包括有:可加熱鋁塊、加熱電阻、過熱保護(hù)器。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,其特征在于:所述加熱電阻與可加熱鋁塊連接,所述加熱電阻還與過熱保護(hù)器連接。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種顆粒檢測光度計(jì)模塊,其特征在于:所述光源采用激光二極管。
      【文檔編號】G01N15/00GK205538562SQ201521125861
      【公開日】2016年8月31日
      【申請日】2015年12月30日
      【發(fā)明人】鄧楠, 孫雷
      【申請人】康姆德潤達(dá)(無錫)測量技術(shù)有限公司
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