一種開蓋式單邊壓合測試座的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種開蓋式單邊壓合測試座，包括一金屬底座，在金屬底座上設(shè)置有開口，開口固定有孔板以及設(shè)置于孔板上可更換的限位框，在開口的兩側(cè)轉(zhuǎn)動連接有一個壓塊，壓塊通過彈性件連接于開口。本實用新型的測試座采用單邊壓合結(jié)構(gòu)，IC受力均勻，其可有效的保護(hù)產(chǎn)品不變形或易碎，確保IC在測試過程中的一致性及穩(wěn)定性。且本實用新型的結(jié)構(gòu)現(xiàn)采取單邊下壓夾持方式及可更換限位框，實現(xiàn)IC受力均勻，測試穩(wěn)定，滿足多種型號IC均可通用。
【專利說明】
一種開蓋式單邊壓合測試座
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及IC測試裝置領(lǐng)域，尤其涉及一種開蓋式單邊壓合測試座。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有技術(shù)中，IC測試座大多數(shù)采用雙邊下壓夾持結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)復(fù)雜，容易造成IC測試時，受力不均。而且目前市場上的測試座一般只針對尺寸比較大的IC而設(shè)計。針對目前市場上的WLCSP(Wafer Level Chip Scale Packaging，晶圓片級芯片規(guī)模封裝)系列IC，WLCSP器件體積很小，且是玻璃材質(zhì)制成，比如WLCSP16的體積尺寸:1.46mm*l.4mm*
0.4mm，如果采用雙邊下壓制夾持結(jié)構(gòu)的測試座進(jìn)行測試容易造成IC測試時受力不均，導(dǎo)致IC被壓碎且無法滿足自動化要求，而且IC型號測試也單一。
[0003]因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型的目的在于提供一種開蓋式單邊壓合測試座，旨在解決現(xiàn)有的測試座容易造成IC受力不均等問題。
[0005]本實用新型的技術(shù)方案如下:
[0006]—種開蓋式單邊壓合測試座，其中，包括一金屬底座，在所述金屬底座上設(shè)置有開口，所述開口固定有孔板以及設(shè)置于孔板上可更換的限位框，在所述開口的兩側(cè)轉(zhuǎn)動連接有一個壓塊，所述壓塊通過彈性件連接于所述開口。
[0007]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述孔板包括依次疊置的第一孔板、第二孔板和第三孔板。
[0008]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述壓塊通過一第一插芯連接在開口上，所述第一插芯橫向固定于所述開口兩側(cè)之間。
[0009]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，在所述第一插芯的兩側(cè)對稱設(shè)置有兩個扭轉(zhuǎn)彈貪。
[0010]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述壓塊中豎向設(shè)置有兩個彈簧固定銷，所述彈簧固定銷固定于所述金屬底座上。
[0011]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述彈簧固定銷上設(shè)置有伸縮彈簧。
[0012]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述壓塊的末端橫向設(shè)置有一第二插芯，所述壓塊末端的兩端設(shè)置有卡槽，在所述卡槽中設(shè)置有穿過第二插芯的滑輪。
[0013]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通過銷釘固定。
[0014]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述孔板上設(shè)置有探針。
[0015]所述的開蓋式單邊壓合測試座，其中，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通過定位銷定位。
[0016]有益效果:本實用新型的測試座采用單邊壓合結(jié)構(gòu)，IC受力均勻，其可有效的保護(hù)產(chǎn)品不變形或易碎，確保IC在測試過程中的一致性及穩(wěn)定性。且本實用新型的結(jié)構(gòu)現(xiàn)采取單邊下壓夾持方式及可更換限位框，實現(xiàn)IC受力均勻，測試穩(wěn)定，滿足多種型號IC均可通用。
【附圖說明】
[0017]圖1為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例第一視角的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0018]圖2為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例第二視角的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0019]圖3為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例第三視角的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0020]圖4為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0021]圖5為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例的另一剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0022]圖6為本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例的分解示意圖。
【具體實施方式】
[0023]本實用新型提供一種開蓋式單邊壓合測試座，為使本實用新型的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下對本實用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0024]本實用新型一種開蓋式單邊壓合測試座較佳實施例，如圖1所示，其包括一金屬底座I，在所述金屬底座I上設(shè)置有開口，所述開口固定有孔板以及設(shè)置于孔板上可更換的限位框17，在所述開口的兩側(cè)轉(zhuǎn)動連接有一個壓塊2，所述壓塊2通過彈性件連接于所述開口。
[0025]本實用新型的限位框17用于IC測試時的定位作用，不同外形規(guī)格IC可更換不同限位框17，同一限位框17可通用多種外形尺寸的1C，當(dāng)然前提為同間距1C。本實用新型中，測試座采用單邊結(jié)構(gòu)，其在下壓時，IC受力均勻，可確保IC與測試座充分接觸且處于同一平面，采用彈性件結(jié)構(gòu)，可對壓塊起到一定的緩沖作用，測試過程穩(wěn)定，能有效保護(hù)IC不變形或碎裂，確保產(chǎn)品測試過程中的一致性以及穩(wěn)定性。
[0026]具體來說，結(jié)合圖6所示，所述孔板包括依次疊置的第一孔板3、第二孔板4和第三孔板5。孔板的作用是用來放置1C，所述第一孔板3、第二孔板4和第三孔板5通過銷釘10固定，例如使用高碳鋼材質(zhì)銷釘，銷釘10與金屬底座I連接，確保孔板接觸穩(wěn)定。所述第一孔板
3、第二孔板4和第三孔板5通過定位銷9定位，確保孔板定位準(zhǔn)確。所述孔板上設(shè)置有探針13，在孔板定位好后，IC 14可以與探針13準(zhǔn)確定位，確保二者連接位置統(tǒng)一。
[0027]結(jié)合圖5所示，所述壓塊2通過一第一插芯6連接在開口上，所述第一插芯6橫向固定于所述開口兩側(cè)之間。所述第一插芯6的作用是作為壓塊2的轉(zhuǎn)軸，壓塊2向下或向上轉(zhuǎn)動過程中，其可繞第一插芯6轉(zhuǎn)動。
[0028]進(jìn)一步，在所述第一插芯6的兩側(cè)對稱設(shè)置有兩個扭轉(zhuǎn)彈簧8，如圖2所示。扭轉(zhuǎn)彈簧8可采用JISG4314SUS302材質(zhì)，其最大扭力為14.64N/mm。利用所述扭轉(zhuǎn)彈簧8可提供壓塊2轉(zhuǎn)動過程中的緩沖力。
[0029]所述壓塊2中豎向設(shè)置有兩個彈簧固定銷12。彈簧固定銷12固定在金屬底座I中，壓塊2在轉(zhuǎn)動過程中可在彈簧固定銷12上下活動。
[0030]在所述彈簧固定銷12上設(shè)置有伸縮彈簧16，如圖4所示，利用所述的伸縮彈簧16可進(jìn)一步緩沖壓塊2在上下活動過程中的作用力?？装迮c限位框之間可通過螺絲11固定，例如通過4個M2*6螺絲固定。
[0031]所述壓塊2的末端橫向設(shè)置有一第二插芯7，結(jié)合圖3和圖5所示，所述壓塊2末端的兩端設(shè)置有卡槽，在所述卡槽中設(shè)置有穿過第二插芯7的滑輪15。采用滑輪15部件的設(shè)計，是考慮到自動化部分，機(jī)器運行的時候，可避免機(jī)器與測試座接觸時硬接觸，避免造成碰刮壓傷等。
[0032]在本實用新型中，所述的壓塊2尾部向下延伸設(shè)置有一手柄，利用所述手柄實現(xiàn)自動化及手動操作的便捷。
[0033]綜上所述，本實用新型的測試座采用單邊壓合結(jié)構(gòu)，IC受力均勻，其可有效的保護(hù)產(chǎn)品不變形或易碎，確保IC在測試過程中的一致性及穩(wěn)定性。且本實用新型的結(jié)構(gòu)現(xiàn)采取單邊下壓夾持方式及可更換限位框，實現(xiàn)IC受力均勻，測試穩(wěn)定，滿足多種型號IC均可通用。
[0034]應(yīng)當(dāng)理解的是，本實用新型的應(yīng)用不限于上述的舉例，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本實用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，包括一金屬底座，在所述金屬底座上設(shè)置有開口，所述開口固定有孔板以及設(shè)置于孔板上可更換的限位框，在所述開口的兩側(cè)轉(zhuǎn)動連接有一個壓塊，所述壓塊通過彈性件連接于所述開口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述孔板包括依次疊置的第一孔板、第二孔板和第三孔板。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述壓塊通過一第一插芯連接在開口上，所述第一插芯橫向固定于所述開口兩側(cè)之間。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，在所述第一插芯的兩側(cè)對稱設(shè)置有兩個扭轉(zhuǎn)彈簧。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述壓塊中豎向設(shè)置有兩個彈簧固定銷，所述彈簧固定銷固定于所述金屬底座上。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述彈簧固定銷上設(shè)置有伸縮彈簧。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述壓塊的末端橫向設(shè)置有一第二插芯，所述壓塊末端的兩端設(shè)置有卡槽，在所述卡槽中設(shè)置有穿過第二插芯的滑輪。8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通過銷釘固定。9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述孔板上設(shè)置有探針。10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開蓋式單邊壓合測試座，其特征在于，所述第一孔板、第二孔板和第三孔板通過定位銷定位。
【文檔編號】G01R1/04GK205539061SQ201620099018
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年2月1日
【發(fā)明人】周秋香
【申請人】深圳市浦洛電子科技有限公司