一種基于圖像定位的pcb板級(jí)emi測(cè)試裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊分別與電腦相連；二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊；圖像采集模板包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī)；攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上；絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連；二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上方的待測(cè)PCB的磁場(chǎng)探頭；磁場(chǎng)探頭與頻譜分析儀相連，本實(shí)用新型的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其測(cè)試效率高，同時(shí)提供相對(duì)于封閉的空間和可靠的測(cè)試環(huán)境，也能對(duì)測(cè)試結(jié)果通過圖像定位直觀地體現(xiàn)，這樣有助于開發(fā)人員快速找到PCB問題的來源，運(yùn)用圖像精確地定位，進(jìn)而能針對(duì)問題分析解決措施，縮短設(shè)計(jì)周期，降低產(chǎn)品設(shè)計(jì)費(fèi)用。
【專利說明】
一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試裝置，尤其涉及一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]傳統(tǒng)的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置是直接利用磁場(chǎng)探頭連接到頻譜儀，手動(dòng)對(duì)PCB進(jìn)行EMI檢測(cè)，這樣的測(cè)試方式存在著諸多問題，首先，測(cè)試效率很低，每次測(cè)試時(shí)都需要重新設(shè)置頻譜儀，不僅效率低而且容易出錯(cuò)，測(cè)試前期的準(zhǔn)備時(shí)間就相對(duì)較長(zhǎng);其次，數(shù)據(jù)無法保存，傳統(tǒng)的測(cè)試方法是觀察頻譜儀數(shù)據(jù)的變化，但是無法保存，也無法對(duì)測(cè)試結(jié)果有一個(gè)直觀的體現(xiàn);最后，傳統(tǒng)測(cè)試是在開放的空間，而不是相對(duì)封閉的空間，周圍電磁環(huán)境的影響會(huì)使測(cè)試的結(jié)果受到干擾，測(cè)試結(jié)果不一定可靠。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型目的是為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足而提供一種測(cè)試效率和精度高，測(cè)試環(huán)境可靠，且能保存測(cè)試結(jié)果的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置。
[0004]為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，包括頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)、圖像采集模塊、電腦和磁場(chǎng)探頭;所述頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊分別與電腦相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊;所述圖像采集模板包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī);所述攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上;所述絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上方的待測(cè)PCB的磁場(chǎng)探頭;所述磁場(chǎng)探頭與頻譜分析儀相連。
[0005]優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)裝置包括兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)、傳送帶和泡沫;所述傳送帶通過兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)蛇型移動(dòng)的設(shè)置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部;所述傳送帶上設(shè)有泡沫;所述磁場(chǎng)探頭固定在泡沫上表面。
[0006]優(yōu)選的，所述頻譜分析儀通過LAN網(wǎng)線與電腦相連。
[0007]優(yōu)選的，所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊通過USB接口與電腦相連。
[0008]由于上述技術(shù)方案的運(yùn)用，本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有下列優(yōu)點(diǎn):
[0009]本實(shí)用新型方案的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其測(cè)試效率高，同時(shí)提供相對(duì)于封閉的空間和可靠的測(cè)試環(huán)境，也能對(duì)測(cè)試結(jié)果通過圖像定位直觀地體現(xiàn)，這樣不僅有助于開發(fā)人員快速地找到PCB問題的來源，運(yùn)用圖像精確地定位，進(jìn)而能針對(duì)問題分析解決措施，進(jìn)而大大縮短設(shè)計(jì)周期，降低了產(chǎn)品設(shè)計(jì)的費(fèi)用。
【附圖說明】
[0010]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型技術(shù)方案作進(jìn)一步說明:
[0011]附圖1為本實(shí)用新型的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]其中:1、頻譜分析儀;2、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)；3、圖像采集模塊;4、電腦;5、泡沫;6、待測(cè)PCB0
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
[0014]如附圖1所示的本實(shí)用新型所述的一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，包括頻譜分析儀1、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2、圖像采集模塊3、電腦4和磁場(chǎng)探頭;所述頻譜分析儀1、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2和圖像采集模塊3分別與電腦4相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊3;所述圖像采集模板3包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī);所述攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上;所述絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2上方的待測(cè)PCB的磁場(chǎng)探頭;所述磁場(chǎng)探頭與頻譜分析儀I相連;所述驅(qū)動(dòng)裝置包括兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)、傳送帶和泡沫5;所述傳送帶通過兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)蛇型移動(dòng)的設(shè)置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2內(nèi)部;所述傳送帶上設(shè)有泡沫5;所述磁場(chǎng)探頭(圖中未示出)固定在泡沫5上表面;所述頻譜分析儀I通過LAN網(wǎng)線與電腦4相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)2和圖像采集模塊3通過USB接口與電腦4相連。
[0015]實(shí)際操作過程如下:將待測(cè)PCB6放置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上，攝像頭開啟，通過電腦控制步進(jìn)電機(jī)開啟，控制攝像頭在絲桿裝置上進(jìn)行上下運(yùn)動(dòng)，對(duì)待測(cè)PCB6進(jìn)行清晰的拍攝，接著利用電腦對(duì)頻譜分析儀的參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，通過電腦發(fā)送信號(hào)給兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)，讓傳送帶進(jìn)行蛇型移動(dòng)，這樣磁性探頭就通過傳送帶對(duì)待測(cè)PCB6進(jìn)行蛇型掃描，并向頻譜儀進(jìn)行讀取數(shù)據(jù)，最后對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)定處理，通過三維圖或者圖像定位算法的方法顯示PCB各個(gè)位置EMI的大小。
[0016]其中采用泡沫讓磁場(chǎng)探頭與傳送帶相連，是因?yàn)榕菽牟馁|(zhì)不會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。
[0017]本實(shí)用新型的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其測(cè)試效率高，同時(shí)提供相對(duì)于封閉的空間和可靠的測(cè)試環(huán)境，也能對(duì)測(cè)試結(jié)果通過圖像定位直觀地體現(xiàn)，這樣不僅有助于開發(fā)人員快速地找到PCB問題的來源，運(yùn)用圖像精確地定位，進(jìn)而能針對(duì)問題分析解決措施，進(jìn)而大大縮短設(shè)計(jì)周期，降低了產(chǎn)品設(shè)計(jì)的費(fèi)用。
[0018]以上僅是本實(shí)用新型的具體應(yīng)用范例，對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不構(gòu)成任何限制。凡采用等同變換或者等效替換而形成的技術(shù)方案，均落在本實(shí)用新型權(quán)利保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其特征在于:包括頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)、圖像采集模塊、電腦和磁場(chǎng)探頭;所述頻譜分析儀、二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊分別與電腦相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上一側(cè)固設(shè)有圖像采集模塊;所述圖像采集模板包括攝像頭、絲桿裝置和步進(jìn)電機(jī);所述攝像頭設(shè)置在絲桿裝置上；所述絲桿裝置與步進(jìn)電機(jī)相連;所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部設(shè)有通過驅(qū)動(dòng)裝置可蛇型掃描位于二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上方的待測(cè)PCB的磁場(chǎng)探頭;所述磁場(chǎng)探頭與頻譜分析儀相連。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其特征在于:所述驅(qū)動(dòng)裝置包括兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)、傳送帶和泡沫;所述傳送帶通過兩個(gè)二維步進(jìn)電機(jī)蛇型移動(dòng)的設(shè)置在二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)內(nèi)部;所述傳送帶上設(shè)有泡沫;所述磁場(chǎng)探頭固定在泡沫上表面。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其特征在于:所述頻譜分析儀通過LAN網(wǎng)線與電腦相連。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于圖像定位的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置，其特征在于:所述二維運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和圖像采集模塊通過USB接口與電腦相連。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK205608105SQ201620249287
【公開日】2016年9月28日
【申請(qǐng)日】2016年3月29日
【發(fā)明人】范靜
【申請(qǐng)人】蘇州市職業(yè)大學(xué)