技術(shù)編號(hào)：10920621
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。傳統(tǒng)的PCB板級(jí)EMI測(cè)試裝置是直接利用磁場(chǎng)探頭連接到頻譜儀，手動(dòng)對(duì)PCB進(jìn)行EMI檢測(cè)，這樣的測(cè)試方式存在著諸多問(wèn)題，首先，測(cè)試效率很低，每次測(cè)試時(shí)都需要重新設(shè)置頻譜儀，不僅效率低而且容易出錯(cuò)，測(cè)試前期的準(zhǔn)備時(shí)間就相對(duì)較長(zhǎng);其次，數(shù)據(jù)無(wú)法保存，傳統(tǒng)的測(cè)試方法是觀察頻譜儀數(shù)據(jù)的變化，但是無(wú)法保存，也無(wú)法對(duì)測(cè)試結(jié)果有一個(gè)直觀的體現(xiàn);最后，傳統(tǒng)測(cè)試是在開(kāi)放的空間，而不是相對(duì)封閉的空間，周?chē)姶怒h(huán)境的影響會(huì)使測(cè)試的結(jié)果受到干擾，測(cè)試結(jié)果不一定可靠。實(shí)用新型內(nèi)容本...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。