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      數(shù)據(jù)交互系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):9523492閱讀:669來(lái)源:國(guó)知局
      數(shù)據(jù)交互系統(tǒng)的制作方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及工業(yè)數(shù)據(jù)交互領(lǐng)域,特別是涉及一種晶硅組件生產(chǎn)流水線中數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)交互系統(tǒng)。
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著工業(yè)4.0、互聯(lián)網(wǎng)與大數(shù)據(jù)應(yīng)用的普及,在晶硅太陽(yáng)能組件制造行業(yè),生產(chǎn)流水線自動(dòng)化程度越來(lái)越高,自動(dòng)化站點(diǎn)的使用比例呈逐步上升的趨勢(shì)。
      [0003]晶硅組件生產(chǎn)流水線通常包括流水線前端生產(chǎn)機(jī)臺(tái)與后端MES管理信息系統(tǒng)。傳統(tǒng)的晶硅組件生產(chǎn)流水線通常只有部分機(jī)臺(tái)具備自動(dòng)化生產(chǎn)的功能,各個(gè)機(jī)臺(tái)之間互不關(guān)聯(lián),機(jī)臺(tái)生產(chǎn)數(shù)據(jù)與后端MES管理信息系統(tǒng)無(wú)法實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互,如果某個(gè)機(jī)臺(tái)發(fā)生了生產(chǎn)異常,則無(wú)法準(zhǔn)確判斷出生產(chǎn)異常的機(jī)臺(tái),無(wú)法實(shí)現(xiàn)整個(gè)流水線生產(chǎn)數(shù)據(jù)的全制程預(yù)警和追溯。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0004]基于此,有必要提供一種數(shù)據(jù)交互系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)數(shù)據(jù)與客戶MES系統(tǒng)實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)交互,實(shí)現(xiàn)流水線生產(chǎn)數(shù)據(jù)的全制程預(yù)警和追溯。
      [0005]一種數(shù)據(jù)交互系統(tǒng),包括太陽(yáng)能組件層壓機(jī)和客戶MES系統(tǒng),還包括IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂,所述IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂分別與所述客戶MES系統(tǒng)通信連接;
      [0006]其中,太陽(yáng)能組件經(jīng)太陽(yáng)能組件層壓機(jī)加工后,所述IV測(cè)試儀檢測(cè)加工后的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù),所述電性能參數(shù)經(jīng)客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)無(wú)異常后,所述EL測(cè)試儀檢測(cè)所述太陽(yáng)能組件的參數(shù)是否有缺陷參數(shù),所述客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)太陽(yáng)能組件沒(méi)有缺陷參數(shù)后,所述客戶MES系統(tǒng)將所述IV測(cè)試儀檢測(cè)的電性能參數(shù)和所述EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)傳遞至所述機(jī)械臂,所述機(jī)械臂根據(jù)所述IV測(cè)試儀檢測(cè)的電性能參數(shù)和所述EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)對(duì)所述太陽(yáng)能組件進(jìn)行分檔。
      [0007]以上所述數(shù)據(jù)交互系統(tǒng),采用總線控制使客戶MES系統(tǒng)分別與IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂通信,使避免單點(diǎn)通信故障導(dǎo)致整體通信故障;太陽(yáng)能組件經(jīng)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)后,客戶MES系統(tǒng)將IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)傳遞至機(jī)械臂,從而對(duì)太陽(yáng)能組件進(jìn)行分檔,整個(gè)過(guò)程中,客戶MES系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)獲取IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀中存儲(chǔ)的太陽(yáng)能組件數(shù)據(jù),相當(dāng)于可以實(shí)時(shí)獲取流水線生產(chǎn)的數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)流水線生產(chǎn)數(shù)據(jù)的全制程存儲(chǔ)和追溯;太陽(yáng)能組件經(jīng)客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)后方可通過(guò)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀,可及時(shí)對(duì)次品的太陽(yáng)能組件進(jìn)行預(yù)警;機(jī)械臂可以根據(jù)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)確認(rèn)太陽(yáng)能組件,精確進(jìn)行分檔,極大地降低了成本并提高了分檔的準(zhǔn)確性。
      [0008]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述機(jī)械臂包括PLC控制器,所述客戶MES系統(tǒng)通過(guò)與所述PLC控制器連接實(shí)現(xiàn)與所述機(jī)械臂通信連接。
      [0009]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述太陽(yáng)能組件設(shè)置有電子標(biāo)簽,所述電子標(biāo)簽記錄有所述太陽(yáng)能組件與所述太陽(yáng)能組件層壓機(jī)的關(guān)聯(lián)信息,所述太陽(yáng)能組件層壓機(jī)、IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀均設(shè)置有可讀取所述電子標(biāo)簽的掃描設(shè)備。
      [0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述IV測(cè)試儀檢測(cè)加工后的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù)時(shí),先由掃描設(shè)備讀取所述電子標(biāo)簽中的信息,所述IV測(cè)試儀根據(jù)所述掃描設(shè)備讀取的信息檢測(cè)對(duì)應(yīng)的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù),并將電性能參數(shù)和IV曲線存儲(chǔ)至所述IV測(cè)試儀的SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中,所述客戶MES系統(tǒng)實(shí)時(shí)從所述SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中提取電性能參數(shù),所述客戶MES系統(tǒng)將電性能參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,當(dāng)超出設(shè)定的偏差值時(shí),所述客戶MES系統(tǒng)報(bào)警提示對(duì)應(yīng)太陽(yáng)能組件異常,否則,確認(rèn)對(duì)應(yīng)太陽(yáng)能組件無(wú)異常。
      [0011]在其中一個(gè)實(shí)施例中,當(dāng)所述客戶MES系統(tǒng)報(bào)警提示對(duì)應(yīng)太陽(yáng)能組件異常時(shí),所述客戶MES系統(tǒng)自動(dòng)阻止所述太陽(yáng)能組件流向下一工序的太陽(yáng)能組件層壓機(jī)。
      [0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述IV測(cè)試儀與所述客戶MES系統(tǒng)通過(guò)RS232串口連接,所述客戶MES系統(tǒng)通過(guò)與所述RS232串口對(duì)應(yīng)的接口程序?qū)崟r(shí)從所述SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中提取電性能參數(shù)。
      [0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述EL測(cè)試儀的操作界面配置有外觀不良信息,所述EL測(cè)試儀檢測(cè)所述太陽(yáng)能組件的參數(shù)是否有缺陷參數(shù)時(shí),所述EL測(cè)試儀將所述太陽(yáng)能組件與配置的外觀不良信息直接進(jìn)入頂升檢查,所述客戶MES系統(tǒng)根據(jù)頂升檢查的結(jié)果確認(rèn)所述太陽(yáng)能組件的參數(shù)是否有缺陷參數(shù)。
      [0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中,當(dāng)所述客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)所述太陽(yáng)能組件的參數(shù)有缺陷參數(shù)時(shí),所述客戶MES系統(tǒng)自動(dòng)阻止所述太陽(yáng)能組件流向下一工序的太陽(yáng)能組件層壓機(jī)。
      [0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述電子標(biāo)簽為RFID標(biāo)簽。
      [0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述電性能參數(shù)包括所述太陽(yáng)能組件的功率、電壓和電流。
      【附圖說(shuō)明】
      [0017]圖1為一實(shí)施例的數(shù)據(jù)交互系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖;
      [0018]圖2為另一實(shí)施例的數(shù)據(jù)交互系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0019]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明,并不用于限定本發(fā)明。
      [0020]如圖1所示,一實(shí)施例的數(shù)據(jù)交互系統(tǒng)包括太陽(yáng)能組件層壓機(jī)和客戶MES系統(tǒng),還包括IV測(cè)試儀(太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀)、EL測(cè)試儀(太陽(yáng)能電池組件缺陷檢測(cè)儀)和機(jī)械臂,IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂分別與客戶MES系統(tǒng)通信連接;
      [0021]其中,太陽(yáng)能組件經(jīng)太陽(yáng)能組件層壓機(jī)加工后,IV測(cè)試儀檢測(cè)加工后的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù),電性能參數(shù)經(jīng)客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)無(wú)異常后,EL測(cè)試儀檢測(cè)太陽(yáng)能組件的參數(shù)是否有缺陷參數(shù),客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)太陽(yáng)能組件沒(méi)有缺陷參數(shù)后,客戶MES系統(tǒng)將IV測(cè)試儀檢測(cè)的電性能參數(shù)和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)傳遞至機(jī)械臂,機(jī)械臂根據(jù)IV測(cè)試儀檢測(cè)的電性能參數(shù)和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)對(duì)太陽(yáng)能組件進(jìn)行分檔。
      [0022]以上所述數(shù)據(jù)交互系統(tǒng),采用總線控制使客戶MES系統(tǒng)分別與IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂通信,使避免單點(diǎn)通信故障導(dǎo)致整體通信故障;太陽(yáng)能組件經(jīng)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)后,客戶MES系統(tǒng)將IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)傳遞至機(jī)械臂,從而對(duì)太陽(yáng)能組件進(jìn)行分檔,整個(gè)過(guò)程中,客戶MES系統(tǒng)可以實(shí)時(shí)獲取IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀中存儲(chǔ)的太陽(yáng)能組件數(shù)據(jù),相當(dāng)于可以實(shí)時(shí)獲取流水線生產(chǎn)的數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)流水線生產(chǎn)數(shù)據(jù)的全制程存儲(chǔ)和追溯;太陽(yáng)能組件經(jīng)客戶MES系統(tǒng)確認(rèn)后方可通過(guò)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀,可及時(shí)對(duì)次品的太陽(yáng)能組件進(jìn)行預(yù)警;機(jī)械臂可以根據(jù)IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀檢測(cè)的參數(shù)確認(rèn)太陽(yáng)能組件,精確進(jìn)行分檔,極大地降低了成本并提高了分檔的準(zhǔn)確性。
      [0023]IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂與客戶MES系統(tǒng)通信連接可采用總線控制系統(tǒng),通過(guò)以太網(wǎng)分別實(shí)現(xiàn)客戶MES系統(tǒng)與IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂的連接,配置相應(yīng)的以太網(wǎng)Ethernet板卡,設(shè)置專用局域網(wǎng),通過(guò)專用接口服務(wù)器將IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀和機(jī)械臂與客戶MES系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊交互,具體的接口服務(wù)器在圖1中未顯示。
      [0024]太陽(yáng)能組件具有不同的種類,相應(yīng)的功能也不同,在經(jīng)IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀檢測(cè)時(shí)自然也要檢測(cè)不同的參數(shù)。為便于實(shí)現(xiàn),太陽(yáng)能組件設(shè)置有電子標(biāo)簽,電子標(biāo)簽記錄有太陽(yáng)能組件與太陽(yáng)能組件層壓機(jī)的關(guān)聯(lián)信息,太陽(yáng)能組件層壓機(jī)、IV測(cè)試儀和EL測(cè)試儀均設(shè)置有可讀取電子標(biāo)簽的掃描設(shè)備,具體參照?qǐng)D2所示,IV測(cè)試儀、EL測(cè)試儀在掃描后可以根據(jù)不同的太陽(yáng)能組件檢測(cè)對(duì)應(yīng)的參數(shù)。其中,電子標(biāo)簽可以是RFID標(biāo)簽等。
      [0025]具體的,IV測(cè)試儀檢測(cè)加工后的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù)時(shí),先由掃描設(shè)備讀取電子標(biāo)簽中的信息,IV測(cè)試儀根據(jù)掃描設(shè)備讀取的信息檢測(cè)對(duì)應(yīng)的太陽(yáng)能組件的電性能參數(shù),并將電性能參數(shù)和IV曲線存儲(chǔ)至IV測(cè)試儀的SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中,客戶MES系統(tǒng)實(shí)時(shí)從SQL數(shù)據(jù)庫(kù)中提取電性能參數(shù),客戶MES系統(tǒng)將電性能參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行對(duì)比,當(dāng)超出設(shè)定的偏差值時(shí),客戶MES系統(tǒng)報(bào)警提示對(duì)應(yīng)太陽(yáng)能組件異常,否則,確認(rèn)對(duì)應(yīng)太陽(yáng)能組件無(wú)異常。當(dāng)客戶MES
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