專利名稱：鍵控板測試裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及電器的鍵控板測試裝置，具體用于生產(chǎn)線上鍵控板的大批量檢測。
背景技術：
鍵控板是用戶通過按按鍵向電器中的CPU發(fā)出指令的電路板，如圖1所示，當不同的鍵閉合時，由于與每個鍵串聯(lián)的電阻阻值不同，按鍵閉合的狀態(tài)下與R1分壓后得到的電壓也就不同，CPU根據(jù)檢測到鍵控板a點電壓的高低分辨出哪個鍵被按下。目前，工廠在生產(chǎn)此類鍵控板時，檢測工位使用的設備往往是與鍵控板相配的電器，如圖1所示，電器的CPU通過不斷讀取a點電壓，識別哪個鍵被按下或沒有任何鍵被按下。在有鍵被按下的情況下顯示部件將可以看出反應，根據(jù)反應是否正確判斷鍵控板是否合格。比如電視機的鍵控板用電視機檢驗，通過按每個鍵觀察屏幕的反映判斷鍵控板是否合格?，F(xiàn)有鍵控板測試方法的缺點是1、使用與之相配的電器作為測試設備成本較貴，一種鍵控板對應一種測試設備；2、按鍵控板按鍵時電器的反應速度往往較慢，降低了測試速度；3、電器在按按鍵后顯示的界面往往不適合用于測試，這樣在測試人員疲勞的情況下容易引起誤測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是針對以上問題提出一種價格低廉、測試精確、反映快速的鍵控板測試裝置，降低生產(chǎn)成本，提高測試速度。
本發(fā)明的次一目的是提出一種適合于測試各種鍵控板的通用的測試裝置。
本發(fā)明的又一目的是提出一種以聲音和視覺顯示測試結果的通用的測試裝置。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的一種鍵控板測試裝置包括放大單元1、A/D轉換單元2和信號處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點，輸出端接A/D轉換單元2的輸入端，所述A/D轉換單元2的輸出端接信號處理單元3，所述信號處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點電壓的測試結果記錄或和標準進行比較并判斷。
其中，信號處理單元3包括用于運算的微處理器5和用于存儲標準的存儲器6，所述存儲器6與微處理器5相連。
為適用于各種機型的鍵控板的測試，本發(fā)明還包括用于控制微處理器5進入測試模式或?qū)W習模式的模式控制單元11和學習單元7，所述學習單元7的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點，輸出端與微處理器5相連。
特別的，為了便于識別測試結果，本發(fā)明還包括測試結果提示單元8，用于接收信號處理單元3的處理結果信號并以聲音和視覺顯示。
本發(fā)明的有益效果是本發(fā)明的原理是利用不同鍵被按下時a點的分壓不同，通過設定不同鍵的電壓范圍作為標準，將a點的電壓與標準比較來判斷是否合格。本發(fā)明還設計了聲音提示和視覺提示，對于符合規(guī)格的鍵，測試裝置就會發(fā)出對應的聲音并在顯示屏上顯示，對于不符合規(guī)格的鍵，測試裝置不發(fā)出任何聲音。與現(xiàn)有鍵控板測試方法即依靠人眼去檢測判斷相比，本發(fā)明依靠儀器測試要準確的多，工作效率大大提高，通過聲音和視覺的雙重提示，減少了人為出錯的幾率，減輕了工作人員的勞動強度。本發(fā)明還包含有學習功能，針對于一種新機型的鍵控板，本發(fā)明通過選擇先進入學習模式，測試每個鍵的分壓并保存作為標準，之后再進入測試模式。從而使該測試儀可以適用于各種機型的鍵控板的測試，與現(xiàn)有的機型不兼容的檢測電器相比，操作簡單，成本低。
本發(fā)明的特征及優(yōu)點將通過實施例結合附圖進行詳細說明。


圖1表示鍵控板的現(xiàn)有測試方案；圖2表示本發(fā)明的電路方框圖；圖3表示本發(fā)明的電路圖；圖4表示本發(fā)明的測試模式流程圖；圖5表示本發(fā)明的學習模式流程圖。
具體實施例方式
如圖1所示為本發(fā)明的電路方框圖，包括放大單元1、A/D轉換單元2和信號處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點，輸出端接A/D轉換單元2的輸入端，所述A/D轉換單元2的輸出端接信號處理單元3，所述信號處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點電壓的測試結果記錄或和標準進行比較并判斷。
所述放大單元1可以是包含有三極管的放大電路，也可以是包含有運算放大器的放大電路。
所述信號處理單元3可以是計算機，也可以是包含單獨一個微處理器5或者包含有一個微處理器5和一個存儲器6。
如圖1所示為本發(fā)明的一種最佳實施方式，放大單元1為包含有運算放大器的放大電路，其輸入端用于連接鍵控板4的測試a點，將a點電壓信號放大后輸出至A/D轉換器2進行模數(shù)轉換，A/D轉換器2的輸出端與微處理器5相連。存儲器6通過I2C總線與微處理器5相連，用于在微處理器5和存儲器6之間進行數(shù)據(jù)的讀和寫，電阻R14和電阻R15分別為存儲器6的SCL腳和SDA腳的上拉電阻。還包括測試結果提示單元8，用于接收微處理器5的處理結果信號并以聲音和視覺顯示，界面的具體形式如同電子琴，識別到第一個鍵則發(fā)出第一個音階“do”的音符，識別到第二個鍵則發(fā)出第二個音階“re”的音符，下面識別到的第三個、第四個......鍵依次發(fā)出“mi”、“fa”、“sol”、“l(fā)a”、“xi”的音符，并顯示在液晶屏上。如果與鍵串聯(lián)的電阻發(fā)生插錯或漏插等故障將不發(fā)出任何聲音，如果所有鍵都測試合格最后發(fā)出鍵控板測試合格的提示聲，并顯示于顯示屏上。待測鍵控板如果所有按鍵都未被按下，則a點輸出5V，每個按鍵都串一個不同阻值的電阻，如果SW1被按下，則a點輸出的電壓是5V經(jīng)R1、R2的分壓，如果SW2被按下，則a點電壓是5V經(jīng)R1、R3的分壓。由于R2、R3、R4、R5、R6、R7、R16的阻值各不相同，因此按下不同的鍵a點電壓都不同，由于A/D轉換器2的輸入電阻不夠高，從鍵控板過來的電壓(a點)必須先進入包含有運算放大器的放大電路中緩沖，再輸給A/D轉換器2，轉換結果通過數(shù)據(jù)線送到微處理器5的數(shù)據(jù)口，微處理器5再根據(jù)接收到的數(shù)據(jù)判斷是否在某個鍵的電壓區(qū)間內(nèi)，并將測試結果從P1.3腳傳輸給測試結果提示單元8，測試結果提示單元8包括有用于驅(qū)動揚聲器發(fā)聲的功放電路和液晶顯示模塊9。如果在SW1鍵的電壓區(qū)間內(nèi)，揚聲器則發(fā)出“do”的音符，如果在SW2的電壓區(qū)間內(nèi)則發(fā)出“re”的音符，依次SW3對應“mi”、SW4對應“fa”、SW5對應“sol”、SW6對應“l(fā)a”、SW7對應“xi”，液晶顯示屏同時顯示識別到的鍵號，如果不在任何區(qū)間內(nèi)則不發(fā)聲。微處理器5不斷地取鍵控板的a點電壓、區(qū)間判斷、發(fā)聲、取電壓、區(qū)間判斷、發(fā)聲的循環(huán)中，這樣鍵控板測試儀就如同電子琴，按下某鍵則發(fā)出對應的音符，松鍵則停止發(fā)聲。如果所有鍵都識別到則發(fā)出合格的提示聲。本實施例還包括一個用于控制微處理器5進入測試模式或?qū)W習模式的模式控制單元11和學習單元7，模式控制單元11包括串聯(lián)在地和5V直流電源之間的開關S1和電阻R16，微處理器5的P3.3腳串聯(lián)開關S1后接地，當開關S1打開時，微處理器5的P3.3腳通過上拉電阻R16接5V直流電源，當開關S1閉合時，微處理器5的P3.3腳接地，開關S1的每一次閉合，就向微處理器5輸入一個下降的脈沖沿，微處理器5每探測到一個下降沿，工作模式就變換一次，即由測試模式變換為學習模式或由學習模式變換為測試模式。學習單元7為包含有比較器10的電路，比較器10的輸入正端用于連接鍵控板4的測試a點，通過一個限流電阻R9接測試a點，輸入負端通過限流電阻R10接變阻器R8的滑動端，變阻器R8串接在12V標準電壓和地之間，通過變阻器R8分壓，將比較器10的基準電壓設在4.9V。比較器10的輸出端通過電阻R11和R12分壓后輸出至微處理器5。如圖4、5所示，當待測鍵控板有任意鍵被按下，a點都輸出低于4.9V的電壓，比較器10的1腳輸出低電平，反之，沒有鍵被按下則a點輸出5V，比較器10的1腳輸出高電平，經(jīng)電阻R11、R12分壓輸給微處理器5的P3.2腳。在學習狀態(tài)下當微處理器5的P3.2每檢測到一次高電平到低電平的跳變，微處理器5就認為有一個鍵按下，于是通過放大單元、A/D轉換器取a點電壓，再加上容許正負偏差。得到該鍵的電壓區(qū)間，然后通過微處理器5的P3.0、P3.1口保存于存儲器6中。存儲器6為電擦除存儲器，掉電后學習狀態(tài)下保存的電壓區(qū)間數(shù)據(jù)不會丟失。
本發(fā)明提高了測試速度，降低了誤測率，只使用一個鍵控板測試裝置能測試所有型號電視機的鍵控板，大大降低了測試成本。
權利要求
1.一種鍵控板測試裝置，包括放大單元(1)、A/D轉換單元(2)和信號處理單元(3)，其特征在于所述放大單元(1)的輸入端用于連接鍵控板(4)的測試點(a)，輸出端接A/D轉換單元(2)的輸入端，所述A/D轉換單元(2)的輸出端接信號處理單元(3)，所述信號處理單元(3)中有電壓處理程序，用于將測試點(a)的電壓的測試結果記錄或和標準進行比較并判斷。
2.如權利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于所述信號處理單元(3)包括用于運算的微處理器(5)。
3.如權利要求2所述的鍵控板測試裝置，其特征在于所述信號處理單元(3)還包括用于存儲標準的存儲器(6)，所述存儲器(6)與微處理器(5)相連。
4.如權利要求2或3所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括用于控制微處理器(5)進入測試模式或?qū)W習模式的模式控制單元(11)和學習單元(7)，所述學習單元(7)的輸入端用于連接鍵控板(4)的測試點(a)，輸出端與微處理器(5)相連。
5.如權利要求1至3中任一項所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括測試結果提示單元(8)，用于接收信號處理單元(3)的處理結果信號并以聲音和視覺顯示。
6.如權利要求4所述的鍵控板測試裝置，其特征在于還包括測試結果提示單元(8)，用于接收信號處理單元(3)的處理結果信號并以聲音和視覺顯示。
7.如權利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于放大單元(1)為包含有三極管的放大電路。
8.如權利要求1所述的鍵控板測試裝置，其特征在于放大單元(1)為包含有運算放大器的放大電路。
9.如權利要求4所述的鍵控板測試裝置，其特征在于學習單元(7)為包含有比較器的電路，比較器的輸入正端用于響應模式選擇信號，輸入負端接設定基準電壓，輸出端接微處理器(5)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種鍵控板測試裝置，包括放大單元1、A/D轉換單元2和信號處理單元3，所述放大單元1的輸入端用于連接鍵控板4的測試a點，輸出端接A/D轉換單元2的輸入端，所述A/D轉換單元2的輸出端接信號處理單元3，所述信號處理單元3中有電壓處理程序，用于將測試a點電壓的測試結果記錄或和標準進行比較并判斷。本發(fā)明提高了測試速度，降低了誤測率，只使用一個鍵控板測試裝置能測試所有型號電視機的鍵控板，大大降低了測試成本。
文檔編號G06F3/023GK1611958SQ200310110828
公開日2005年5月4日 申請日期2003年10月27日 優(yōu)先權日2003年10月27日
發(fā)明者卓成鈺, 楊軍治, 居興國 申請人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司