專利名稱：鏈接控制卡測試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種鏈接控制卡測試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
隨著信息技術(shù)的發(fā)展，磁盤陣列被越來越多地使用到企業(yè)的各種應(yīng)用系統(tǒng)中。它開始只是簡單地作為某臺主機或服務(wù)器的附加外置存儲設(shè)備，主要用于擴展單臺主機或服務(wù)器的永久存儲空間，一般通過SCSI(Small ComputerSystem Interface，小型計算機系統(tǒng)接口)或其他接口與主機直接相連；后來隨著光纖通道Fibre Channel技術(shù)的發(fā)展，磁盤陣列通過光纖通道接口接入到SAN(Storage Area Network，存儲區(qū)域網(wǎng))中，為多臺主機提供共享的存儲空間。光纖磁盤陣列指該磁盤陣列采用光纖通道技術(shù)，其對外即對主機使用光纖通道接口連接方式，其內(nèi)部采用光纖通道技術(shù)來連接其內(nèi)部的各個磁盤。
現(xiàn)有機架型光纖通道存儲設(shè)備通常由兩片鏈接控制卡、中間板、磁盤陣列、及電源組成，在光纖通道存儲設(shè)備的實際生產(chǎn)測試流程中，主機通過HBA(Host Bus Adaptor，主機總線適配器)發(fā)送測試命令以及光纖通道信號給磁盤陣列，通過這種方式來完成磁盤陣列讀寫測試，記錄測試結(jié)果，從而驗證鏈接控制卡的部分功能，但該測試方法需要大量的光纖通道接口磁盤，磁盤的的價格很高，在長期測試中需要經(jīng)常更換，且磁盤也容易在受到震動時損壞。
同時，運用上述的方法較單一，其無法測試鏈接控制卡的另一功能鏈接控制卡在其工作電壓浮動最大(電壓極限)時是否工作可靠，該卡的標準工作電壓為5V、2.5V，在其工作電壓偏離標準電壓上下浮動時鏈接控制卡有可能工作不可靠，則經(jīng)該鏈接控制卡傳輸?shù)墓饫w通道信號會失真，無法確保光纖通道信號可靠性傳輸，則該產(chǎn)品不能滿足客戶的測試要求。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種鏈接控制卡測試系統(tǒng)及方法，用于測試鏈接控制卡工作的可靠性。
一種鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其包括一帶有主機總線適配器的主機、一測試裝置陣列及一中間板，中間板的一端與一鏈接控制卡相連，其另一端與測試裝置陣列相連，主機與測試裝置陣列連接以發(fā)送測試命令及接收測試結(jié)果，同時主機與鏈接控制卡連接以發(fā)送光纖通道信號，所述測試裝置陣列由若干個測試裝置組成，各測試裝置進一步包括一微控制器，其內(nèi)部存儲一固件；一與所述微控器連接的接口連接器，用于接收光纖通道信號；一與所述接口連接器連接的光纖通道集線器，用于對接收到的光纖通道信號進行測試；一與所述微控制器連接的電壓極限控制單元，用于控制所述鏈接控制卡的工作電壓極限；一與所述微控制器連接的地址設(shè)定單元；一第一串口，通過該第一串口將測試結(jié)果傳出。
一種鏈接控制卡測試方法，其包括以下步驟S1對測試裝置陣列進行地址設(shè)定，所述測試裝置陣列由若干測試裝置順序串接而成，各測試裝置進一步包括一微控制器，其內(nèi)部存儲一固件；一接口連接器，與所述微控器連接，用于接收光纖通道信號；一通過與所述接口連接器相連接的光纖通道集線器，其內(nèi)部設(shè)有寄存器，用于對接收到的光纖通道信號進行測試；一與所述微控制器連接的電壓極限控制單元，用于控制鏈接控制卡的工作電壓極限；一與所述微控制器連接的地址設(shè)定單元；一第一串口，通過該第一串口將測試數(shù)據(jù)傳出；S2測試裝置陣列在上電時均偵測步驟S1所設(shè)定的地址，并將該等地址保存在對應(yīng)測試裝置的微控制器中；S3一主機通過一串口發(fā)送一測試命令，該命令中包含一預(yù)設(shè)置地址、一設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式命令及一測試信號完整性命令；S4各測試裝置的第一串口接收到上述測試命令，偵測該命令中的地址與步驟S2中所保存的地址是否一致，若一致，則該測試裝置設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式，若不一致，則將測試命令傳至下一個測試裝置；S5各測試裝置設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式后，各測試裝置的光纖通道集線器對接收到的光纖通道信號進行信號完整性測試；S6在測試結(jié)束時，各測試裝置將測試結(jié)果傳給主機。
相較現(xiàn)有的測試裝置，由于本發(fā)明在鏈接控制卡的測試流程中，使用測試裝置陣列來替代磁盤陣列，通過對每個測試裝置接口連接器接收到的光纖通道信號進行完整性測試，來間接測試鏈接控制卡在其工作電壓極限時的工作可靠性，該卡在工作正常的情況下確保光纖通道信號可靠性傳輸，采用本發(fā)明的測試裝置，測試過程快速高效，滿足了客戶的測試要求。

圖1是本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)的方框圖。
圖2是本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置的原理框圖。
圖3是本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置的地址設(shè)定單元的電路圖。
圖4是本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置的電壓極限控制單元在本發(fā)明測試系統(tǒng)中的示意圖。
圖5是本發(fā)明鏈接控制卡測試方法流程圖。
具體實施方式下面結(jié)合附圖及具體實施例對本發(fā)明作進一步的詳細說明。
請參考圖1，為本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)的方框圖，該鏈接控制卡測試系統(tǒng)包括一帶有HBA的主機100、一由若干測試裝置1組成的測試裝置陣列200、一中間板30、一第一鏈接控制卡40、一第二鏈接控制卡50、一第一電源60及一第二電源70。所述中間板30的第一端與第一鏈接控制卡40、第二鏈接控制卡50的第一端連接，中間板30的第二端與測試裝置陣列相連接，所述測試裝置陣列由15個測試裝置1順序串接而成。主機100通過一串口與測試裝置陣列相連接，用于發(fā)送測試命令及接收測試結(jié)果，主機100還通過兩根光纖線纜分別連接至第一鏈接控制卡40、第二鏈接控制卡50的第二端，用于發(fā)送光纖通道信號，主機100經(jīng)HBA輸出的兩路標準光纖通道信號分別經(jīng)過第一鏈接控制卡40、第二鏈接控制卡50后，由中間板30將上述光纖通道信號分配給測試裝置陣列。
請一并參考圖2，其為本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置1的原理框圖，在圖2中各測試裝置1包括一微控制器10，該微控制器10采用PIC18F6520芯片，其內(nèi)部存儲一固件(Firmware)，該芯片設(shè)內(nèi)部設(shè)有寄存器，該芯片支持兩個RS232串口、一個I2C總線；一接口連接器SCA2(Single ConnectorAttach 2)11，其與所述微控器10連接，滿足光纖通道硬盤接口SFF-8045規(guī)范，并具熱插拔功能，在圖1中測試裝置陣列200的各測試裝置1均通過該接口連接器11與中間板30的第二端相連接，來接收中間板30分配的光纖通道信號；
一光纖通道集線器12，與所述接口連接器11相連接，用于對接收到的光纖通道信號進行測試，光纖通道集線器12采用BCM8422芯片，該芯片內(nèi)設(shè)有寄存器，同時該芯片具有檢測信號完整性SI(Signal Integrity)，起始相位楨SOF(Start Of Frame)，信號損耗LOS(Loss Of Signal)等功能；一I2C電平轉(zhuǎn)換單元13，其連接于微控制器10與光纖通道集線器12之間，微控制器10與光纖通道集線器12通過I2C總線傳輸數(shù)據(jù)，I2C電平轉(zhuǎn)換單元13用于為I2C總線上傳輸?shù)男盘栠M行電平轉(zhuǎn)換；一與所述微控制器10連接的LED(Light-Emitting Diode，發(fā)光二極管)單元14，用于對測試裝置1的測試狀態(tài)進行顯示，該LED單元14包括一紅燈，測試裝置在對光纖通道信號測試結(jié)束時，若偵測出錯誤，此燈亮起；一與所述微控制器10連接的電壓極限控制單元15，用于控制第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的工作電壓極限，來驗證其工作的可靠性；一與所述微控制器10連接的地址設(shè)定單元16；一第一串口17，其為RS232串口，用于將測試結(jié)果傳出；一第二串口18，其為RS232串口。
在圖1中，主機100通過串口與測試裝置陣列200的連接方式如下主機100通過串口與第一個測試裝置1的第一串口17相連，第一個測試裝置1的第二串口18與第二個測試裝置1的第一串口17相連，第二個測試裝置1的第二串口18與第三個測試裝置1的第一串口17相連，依該方法測試裝置陣列中的其他測試裝置1均順序串接，不再重述。
請一并參考圖3，其為本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置1的地址設(shè)定單元的電路圖，各測試裝置1的地址設(shè)定單元16與微控制器10連接，該單元16通過一跳線J0、一跳線J1、一跳線J2、一跳線J3設(shè)置四位地址A0、A1、A2、A3。當(dāng)J0的腳位1和2連接時，A0設(shè)定為“1”；J0的腳位2和3連接時，A0設(shè)定為“0”，所述J2、J3、J4的設(shè)置方法與J1相同，故不再重復(fù)，則地址輸入值依次可選取“0000”、“0001”、“0010”、“0011”、“0100”、“0101”、“0110”、“0111”、“1000”、“1001”、“1010”、“1011”、“1100”、“1101”、“1110”，即各測試裝置可設(shè)定地址范圍為0至14。
請一并參考圖4，其為本發(fā)明鏈接控制卡測試系統(tǒng)中各測試裝置的電壓極限控制單元在本發(fā)明測試系統(tǒng)中的示意圖，通過電壓極限控制來驗證第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的工作電壓在標準、偏高、偏低情況下的工作可靠度，在偏高模式時工作電壓偏離標準的+5％，在偏低模式時工作電壓偏離標準的-5％，如下表2所示。
表2鏈接控制卡三種工作電壓模式下的工作電壓
在圖4中各測試裝置的電壓極限控制單元15與微控制器10連接，該電壓極限控制單元15為微控制器10發(fā)出的四個控制信號，其分別是MARGIN_LO_N_A、MARGIN_HI_N_A、MARGIN_LO_N_B、MARGIN_HI_N_B，其中MARGIN_LO_N_A、MARGIN_HI_N_A是控制第一鏈接控制卡40的電壓極限，MARGIN_LO_N_B、MARGIN_HI_N_B是控制第二鏈接控制卡50的電壓極限，圖4中可將各測試裝置1通過一根線纜(未示出)與中間板30連接，中間板30將上述四個控制信號傳送給第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的電壓控制端，以此實現(xiàn)控制第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的工作電壓。
請一并參考圖5，其為本發(fā)明鏈接控制卡測試方法流程圖，其具體步驟如下S1測試裝置陣列200的15個測試裝置1進行地址設(shè)定，各測試裝置1均對應(yīng)一唯一地址，該唯一地址通過各測試裝置1的地址設(shè)定單元16進行，即第一個測試裝置1設(shè)定的地址是“0000”，第二個測試裝置1設(shè)定的地址是“0001”，其它測試裝置設(shè)定的地址如下表3所示；表3各測試裝置1與其地址的對應(yīng)關(guān)系表
S2測試裝置陣列200在上電時均偵測步驟S1所設(shè)定的地址，并將該等地址保存在對應(yīng)測試裝置的微控制器的寄存器中，如上表3所示，即第一個測試裝置1將地址“0000”保存在其微控制器10的寄存器中，第二個測試裝置1將地址“0001”保存在其微控制器10的寄存器中，第三個測試裝置1將地址“0010”保存在其微控制器10的寄存器中，同理其它測試裝置1均將對應(yīng)的地址保存在其微控制器10的寄存器中；S3主機100通過串口發(fā)送一測試命令，該測試命令包含一設(shè)置第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50工作電壓模式命令、一測試信號完整性命令、一預(yù)設(shè)的光纖通道信號的標準相位數(shù)據(jù)及一預(yù)設(shè)置地址，該預(yù)設(shè)置地址為“0000”至“1110”中的任何一個地址；S4第一個測試裝置1的第一串口17接收到上述測試命令，偵測該命令中的地址與步驟S2中第一個測試裝置1所保存的地址是否一致，若一致，則第一個測試裝置1設(shè)置第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50工作電壓模式，若不一致，則將測試命令傳至第二個測試裝置1；則該第二個測試裝置1繼續(xù)偵測該命令中的地址與步驟S2中第二個測試裝置1所保存的地址是否一致，若一致，則第二個測試裝置1設(shè)置第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50工作電壓模式，若不一致，則將測試命令再傳至第三個測試裝置1；依此測試裝置陣列200中的其它測試裝置1均偵測該命令中的地址與步驟S2中所保存的地址是否一致；S5各測試裝置1設(shè)置第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50工作電壓模式后，則各測試裝置1的光纖通道集線器12對接收到的光纖通道信號進行信號完整性測試，其具體如下各測試裝置1的微控制器10將命令中包含的標準相位數(shù)據(jù)寫入光纖通道集線器12的寄存器中，并對光纖通道集線器12設(shè)定一幀模式，然后對接收到的光纖通道信號進行采樣，將該采樣的數(shù)據(jù)與標準相位數(shù)據(jù)做比較，若兩者不相同，則為錯誤，若兩者相同，則為正確；S6在測試結(jié)束時若偵測到錯誤，紅燈亮起，各測試裝置1將測試結(jié)果傳給主機。
在步驟S4中，可在測試裝置陣列200中選取任意一個測試裝置1，通過一根線纜將該測試裝置1與中間板30相連接，中間板30將控制信號傳送給第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的電壓控制端，實現(xiàn)控制第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50的工作電壓。本發(fā)明實施例選取的是第一個測試裝置1與中間板30相連接(圖1未示出)，整個測試過程第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50是在標準、高、低三種工作電壓模式下進行，則第一測試裝置1的電壓極限控制單元15在標準電壓模式下測試，即設(shè)置5V、2.5V電壓來測試；在電壓偏高模式下測試，即設(shè)置5.25V，2.625V電壓來測試；同理在電壓偏低模式下，即設(shè)置4.75V，2.375V電壓來測試。
在步驟S8中，測試結(jié)果是通過該測試裝置1的第一串口17傳給與其相鄰的前一個測試裝置1的第二串口18，該前一個測試裝置1通過其第一串口17再傳給與其相鄰的前一個的測試裝置1的第二串口18，依此最后第一測試裝置1通過其第一串口17將測試結(jié)果傳給主機，主機通過串口讀取該結(jié)果。
在上述本發(fā)明的實施例中，主機100經(jīng)主機總線適配器發(fā)送兩路光纖通道信號，該兩路光纖通道信號分別經(jīng)過第一鏈接控制卡40或第二鏈接控制卡50，由中間板30分配給15個測試裝置1，測試時先測經(jīng)過其中一片鏈接控制卡的一路光纖通道信號，再測經(jīng)過另一片鏈接控制卡的另一路光纖通道信號，設(shè)在測試經(jīng)過第一鏈接控制卡40的一路光纖通道信號時，若主機100讀到15個測試裝置1接口連接器11接收到的光纖通道信號的測試結(jié)果都正確，主機上顯示測試成功，表明第一鏈接控制卡40工作正常，若其中有任何一個測試裝置1的測試結(jié)果不正確，表明第一鏈接控制卡40工作不正常；同理在測試經(jīng)過第二鏈接控制卡50的另一路光纖通道信號時，若主機100讀到15個測試結(jié)果都正確，主機100上顯示測試成功，表明第二鏈接控制卡50工作正常，若其中有任何一個測試裝置1的測試結(jié)果不正確，就表明第二鏈接控制卡50工作不正常。
權(quán)利要求
1.一種鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于該鏈接控制卡測試系統(tǒng)包括一帶有主機總線適配器的主機、一測試裝置陣列及一中間板，中間板的一端與一鏈接控制卡相連，其另一端與測試裝置陣列相連，主機與測試裝置陣列連接以發(fā)送測試命令及接收測試結(jié)果，同時主機與鏈接控制卡連接以發(fā)送光纖通道信號，所述測試裝置陣列由若干個測試裝置組成，各測試裝置進一步包括一微控制器，其內(nèi)部存儲一固件；一與所述微控器連接的接口連接器，用于接收光纖通道信號；一與所述接口連接器連接的光纖通道集線器，用于對接收到的光纖通道信號進行信號完整性測試；一與所述微控制器連接的電壓極限控制單元，用于控制所述鏈接控制卡的工作電壓極限；一與所述微控制器連接的地址設(shè)定單元；一第一串口，通過該第一串口將測試結(jié)果傳出。
2.如權(quán)利要求1所述的鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于所述各測試裝置還包括一I2C電平轉(zhuǎn)換單元，其連接于微控制器與光纖通道集線器之間，微控制器與光纖通道集線器以I2C總線傳輸數(shù)據(jù)，該I2C電平轉(zhuǎn)換單元用于為I2C總線上傳輸?shù)男盘栠M行電平轉(zhuǎn)換。
3.如權(quán)利要求1所述的鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于所述各測試裝置還包括一第二串口，主機通過一串口與第一個測試裝置的第一串口相連，第一個測試裝置的第二串口與第二個測試裝置的第一串口相連，第二個測試裝置的第二串口與第三個測試裝置的第一串口相連，依此測試陣列中的其它測試裝置均順序串接。
4.如權(quán)利要求1所述的鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其特征在于所述中間板還連接另一鏈接控制卡，主機經(jīng)主機總線適配器輸出兩路標準光纖通道信號，該兩路標準光纖通道信號經(jīng)過兩片鏈接控制卡后，由中間板分配給測試裝置陣列，測試裝置陣列均通過接口連接器接收所述光纖通道信號。
5.一種鏈接控制卡測試方法，其特征在于該鏈接控制卡測試方法包括以下步驟S1對測試裝置陣列進行地址設(shè)定，所述測試裝置陣列由若干測試裝置順序串接而成，各測試裝置進一步包括一微控制器，其內(nèi)部存儲一固件；一接口連接器，與所述微控器連接，用于接收光纖通道信號；一通過與所述接口連接器相連接的光纖通道集線器，其內(nèi)部設(shè)有寄存器，用于對接收到的光纖通道信號進行信號完整性測試；一與所述微控制器連接的電壓極限控制單元，用于控制鏈接控制卡的工作電壓極限；一與所述微控制器連接的地址設(shè)定單元；一第一串口，通過該第一串口將測試數(shù)據(jù)傳出；S2測試裝置陣列在上電時均偵測步驟S1所設(shè)定的地址，并將該等地址保存在對應(yīng)測試裝置的微控制器中；S3一主機通過一串口發(fā)送一測試命令，該命令中包含一預(yù)設(shè)置地址、一設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式命令及一測試信號完整性命令；S4各測試裝置的第一串口接收到上述測試命令，偵測該命令中的地址與步驟S2中所保存的地址是否一致，若一致，則該測試裝置設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式，若不一致，則將測試命令傳至下一個測試裝置；S5各測試裝置設(shè)置鏈接控制卡工作電壓模式后，各測試裝置的光纖通道集線器對接收到的光纖通道信號進行信號完整性測試；S6在測試結(jié)束時，各測試裝置將測試結(jié)果傳給主機。
6.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述測試裝置陣列中各測試裝置還包括一第二串口，所述主機通過串口與第一個測試裝置的第一串口相連，第一個測試裝置的第二串口與第二個測試裝置的第一串口相連，第二個測試裝置的第二串口與第三個測試裝置的第一串口相連，依此測試陣列中的其它測試裝置均順序串接。
7.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S1中測試裝置陣列為15個測試裝置順序串接而成，各測試裝置均對應(yīng)一唯一地址，該唯一地址通過各測試裝置相應(yīng)的地址設(shè)定單元進行設(shè)置，所述各測試裝置通過其地址設(shè)定單元可設(shè)置的地址范圍為0至14；測試裝置陣列順序設(shè)定的地址范圍為0至14；步驟S3中所述預(yù)設(shè)置地址的范圍為0至14。
8.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述鏈接控制卡的第一端與一中間板的第一端連接，所述測試裝置陣列均通過接口連接器與所述中間板的第二端相連接，主機通過串口與測試裝置陣列相連接，用于發(fā)送測試命令及接收測試結(jié)果，該主機還通過光纖線纜連接至鏈接控制卡的第二端，用于發(fā)送光纖通道信號。
9.如權(quán)利要求8所述的鏈接控制卡的測試方法，其特征在于所述主機帶有一主機總線適配器，經(jīng)該主機總線適配器輸出的標準光纖通道信號經(jīng)過鏈接控制卡后，由中間板將所述光纖通道信號分配給測試裝置陣列，測試裝置陣列均通過接口連接器接收所述光纖通道信號。
10.如權(quán)利要求7、8或9中所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S4中，在所述測試裝置陣列中可選取任意一個測試裝置，通過一根線纜將該測試裝置與中間板相連接，該中間板將若干控制信號傳送給鏈接控制卡的電壓控制端，以此來實現(xiàn)控制鏈接控制卡的工作電壓。
11.如權(quán)利要求10所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S4中鏈接控制卡整個測試過程是在標準、高、低三種工作電壓模式下進行，在標準電壓模式下測試，即設(shè)置5V、2.5V電壓來測試；在電壓偏高模式下測試，即設(shè)置5.25V、2.625V電壓來測試；在電壓偏低模式下，即設(shè)置4.75V、2.375V電壓來測試。
12.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S3中所述測試命令還包含一預(yù)設(shè)的光纖通道信號的標準相位數(shù)據(jù)。
13.如權(quán)利要求12所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S5中光纖通道信號進行信號完整性測試過程為各測試裝置的微控制器將命令中包含的標準相位數(shù)據(jù)寫入光纖通道集線器的寄存器中，并對光纖通道集線器設(shè)定一幀模式，然后對接收到的光纖通道信號進行采樣，將該采樣的數(shù)據(jù)與標準相位數(shù)據(jù)做比較，若兩者不相同，則為錯誤，若兩者相同，則為正確。
14.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡測試方法，其特征在于所述步驟S6中測試結(jié)果是通過該測試裝置的第一串口傳給與其相鄰的前一個測試裝置的第二串口，該前一個測試裝置通過其第一串口再傳給與其相鄰的前一個的測試裝置的第二串口，依此最后第一測試裝置通過其第一串口將測試結(jié)果傳給主機。
15.如權(quán)利要求5所述的鏈接控制卡的測試方法，其特征在于所述步驟S6中主機通過其串口讀取該測試結(jié)果，若主機讀到測試陣列的各測試裝置接口連接器接收到的光纖通道信號的測試結(jié)果都正確，主機上顯示測試成功，表明鏈接控制卡工作正常，若其中有任何一個測試裝置的測試結(jié)果不正確，表明鏈接控制卡工作不正常。
全文摘要
一種鏈接控制卡測試系統(tǒng)，其包括一具主機總線適配器的主機、一測試裝置陣列及一中間板。中間板的一端與一鏈接控制卡相連，其另一端與測試裝置陣列相連，主機與測試裝置陣列連接以發(fā)送測試命令及接收測試結(jié)果，同時主機與鏈接控制卡連接以發(fā)送光纖通道信號。所述測試裝置陣列由若干測試裝置組成，各測試裝置包括一微控制器；一與微控器連接以接收光纖通道信號的接口連接器；一與接口連接器相連以測試接收到的光纖通道信號的光纖通道集線器；一與微控制器連接以控制鏈接控制卡工作電壓的電壓極限控制單元；一與微控制器連接的地址設(shè)定單元；一將測試結(jié)果傳出的第一串口。本發(fā)明還提供鏈接控制卡測試方法。
文檔編號G06F11/267GK1900916SQ20051003614
公開日2007年1月24日 申請日期2005年7月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年7月22日
發(fā)明者吳亢, 張威, 黃均 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司