專利名稱：用于測試rfid器件的方法和系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
0001本發(fā)明一般涉及用于測試射頻識別(RFID)設(shè)備的方法和系 統(tǒng)。特別涉及一種用于測試RFID器件的新穎的方法和系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
0002在許多情況下，以高效且無線的形式檢索有關(guān)所關(guān)心物體信 息的能力是非常重要的。例如，許多當(dāng)前制造和分配方法要求用于檢索與 庫存物體相關(guān)信息的無線技術(shù)，其中檢索技術(shù)可被用于，例如，從庫存物 體的制造時刻一直到銷售給消費者的時刻跟蹤該庫存物體的位置。用于檢 索有關(guān)物體的信息的一項眾所周知的無線技術(shù)包括將該物體連接到射頻識 別(RFID)設(shè)備，該設(shè)備存儲了該物體相關(guān)信息的并將這些信息無線傳輸 到一個電子閱讀器以響應(yīng)無線詢問。存儲在RFID器件上的信息的類型包 括，例如，唯一識別號，有效期，"誕生"日，制造信息，運輸狀態(tài)，價 格信息等。
0003
一個眾所周知的RFID器件類型包括天線和安置在天線上的 集成電路(IC)芯片，IC芯片已被編程以儲存所需信息。當(dāng)接收到詢問信 號時，IC芯片將所述已編程信息轉(zhuǎn)換成對應(yīng)的電磁信號，該信號通過天線 以無線射頻波傳播。
0004典型地，多個上面所描述類型的RFID器件被制造在公共的 載體連結(jié)板上，RFID器件的天線安置在載體連結(jié)板上，IC芯片安置在他 們各自的天線上。單個RFID器件和它的下層部分載體連結(jié)板的組合在本 領(lǐng)域通常被稱作RFID嵌體。RFID嵌體的互連連結(jié)板被制造者制成巻狀以 便運輸和消費者的進(jìn)一步處理(消費者經(jīng)常叫做"轉(zhuǎn)換者")。例如，轉(zhuǎn) 換者從連結(jié)板中切割單個RFID嵌體并且之后使用塑料扣件或者其它附著 裝置將單個RFID嵌體附著到相應(yīng)的所關(guān)心的物體。替代性地，巻，U造者 可進(jìn)一步處理RFID嵌體的連結(jié)板以產(chǎn)生一個粘性RFID標(biāo)簽連結(jié)板(參 見，例如，USSN 10/961,590，在此其被并入本文作為參考)，這樣轉(zhuǎn)換者
可以將這個樣子的標(biāo)簽分配到物體上，或者轉(zhuǎn)換者可在將標(biāo)簽分配到所關(guān) 心物體上之前在標(biāo)簽上打印文字、圖像或其它符號來定制標(biāo)簽。
0005應(yīng)該意識到，如果有人希望能夠檢索與所需物體相關(guān)的信息， 則不應(yīng)該將有缺陷的RFID器件應(yīng)用到物體。不幸的是，目前估計有缺陷
的RFID器件大約占所生產(chǎn)的全部RFID器件的1-20%那么高，因此出現(xiàn)有 缺陷的RFID器件是不可忽略的現(xiàn)象。因此，通常在RFID器件被應(yīng)用到 物體之前測試RFID器件的性能。這種測試是由巻制造者在將巻運到轉(zhuǎn)換 者之前執(zhí)行，制造者應(yīng)使用合適的印制標(biāo)號(比如黑點)將有缺陷的嵌體 或者標(biāo)簽標(biāo)出來。這種測試也可在分配之前由轉(zhuǎn)換者執(zhí)行，這是因為在制 造者測試之后，缺陷可能在巻運輸或者巻操作中發(fā)生。由于隨后階段的成 本和生產(chǎn)量，通常希望在供應(yīng)鏈中能盡可能早地識別缺陷嵌體。
0006目前，RFID器件的測試的典型實施是通過一個或者兩個不 同的測試技術(shù)，也就是短距離測試和長距離測試。這兩種測試技術(shù)反映了 存在于天線周圍區(qū)域電磁物理性質(zhì)的不同。在一天線的周圍有三個普遍接 受的區(qū)域，也就是(i)反應(yīng)近場(天線影響區(qū)域從零距離到大約IKi/2d (在 915MHz， 52rnm) ) , (ii)輻射近場區(qū)域(此處R>g/2且R<2DA2/g，此處 D是天線孔徑最大尺寸)，和(iii)輻射遠(yuǎn)場區(qū)域(此處R>2DA2/g)。短距 離測試包括反應(yīng)近場內(nèi)的測試，長距離測試包括輻射近場或者輻射遠(yuǎn)場內(nèi) 的測試。總之，長距離測試對現(xiàn)實生活應(yīng)用可能更真實，其中RFID器件 可能被應(yīng)用到一個物體并然后在輻射近場或者遠(yuǎn)場區(qū)域內(nèi)被詢問。長距離 測試的一個問題是，因為共同載體連結(jié)板上RFID器件彼此之間很接近， 測試器發(fā)射的詢問信號常常引起多個鄰近RFID器件的響應(yīng)，許多這種響 應(yīng)都會同時被測試器探測到。因為當(dāng)前沒有方法使響應(yīng)RFID器件的響應(yīng) 與響應(yīng)RFID器件的物理位置相關(guān)聯(lián)(因為RFID器件的唯一標(biāo)識符常常 不遵循特別的順序并且事實上是隨機的)，即使閱讀器知道存在有缺陷的 設(shè)備，仍然沒有方法知道響應(yīng)設(shè)備中的哪個是檢測到的有缺陷的設(shè)備。
0007前述問題的一個解決方法是在連結(jié)板上放置一個有孔的金屬 罩，這樣在詢問信號范圍內(nèi)所有的設(shè)備除了定位在孔徑內(nèi)的設(shè)備外，其它 設(shè)備都被屏蔽而不接受詢問信號。這種方法的一個例子在2000年8月15 曰授權(quán)的發(fā)明者為Beaiwillier等人的美國專利號6，104，291中公開，其在
此被并入本文作為參考。這種方法的一個缺點是屏蔽自身，代表遠(yuǎn)離"場 內(nèi)"設(shè)備被常常暴露的操作條件，可能影響正被測試的設(shè)備的性能特性。
0008短距離測試的例子在國際公開號No. WO2004/072892 A2中 揭示，其于2004年8月24日公開，在此將其并入本文作為參考。在這種 類型的短距離測試中，詢問器電容耦合到將要測試的特定設(shè)備。
0009雖然短距離測試大體上克服了多個設(shè)備被一個詢問同時激活 的問題，但RFID器件在近場反應(yīng)區(qū)域的行為與在近場和遠(yuǎn)場輻射區(qū)域所 期望的不同，因此，不加另外分析而確定測試結(jié)果對現(xiàn)實生活應(yīng)用有效是 不可信的。
0010其它文件可能會有用，如下所示，在此被并入本文作為參考: 美國專利號6,784,789，發(fā)明者Eroglu等人.，授權(quán)于2004年8月31日；美 國專利號6，721，912，發(fā)明者Burger等人.，授權(quán)于2004年4月13日；美國 專利號6,487,681，發(fā)明者Tuttle等人.，授權(quán)于2002年11月26日；美國 專利號6,412,086，發(fā)明者Friedman等人.，授權(quán)于2002年6月25日；美 國專利號6,275,043，發(fā)明者M(jìn)他lberger等人.,授權(quán)于2001年8月14日； 美國專利號6,259,353，發(fā)明者Berger等人.，授權(quán)于2001年7月10日；美 國專利號6,236,223，發(fā)明者Bmdy等人.，授權(quán)于2001年5月22日；美國 專利號6，058，497，發(fā)明者Tuttle，授權(quán)于2000年5月2日；和美國專利號 5,983,363，發(fā)明者Tuttle，授權(quán)于1999年11月9日。

發(fā)明內(nèi)容
0011根據(jù)各種可能的示例性實施例，本發(fā)明提供了一種用于測試 RFID器件的新穎的方法和系統(tǒng)，尤其是用于測試安置在連結(jié)板或者其他 公共載體上的多個RFID器件，這克服了至少上面提到的和用于測試RFID 器件的現(xiàn)有方法和系統(tǒng)有關(guān)的一些缺陷。
0012本發(fā)明至少部分基于下列發(fā)現(xiàn)，在那些實例中，其中RFID 器件互相被充分靠近地定位以至于當(dāng)所關(guān)心的RFID器件被長距離測試器 詢問時相鄰的一個或多個RFID器件會同時響應(yīng)， 一個人可通過將短距離
測試器定位離開長距離測試器一已知間隔，使用短距離測試器讀/寫所關(guān)心 RFID器件的唯一標(biāo)識符并然后使用所關(guān)心的RFID器件的唯一標(biāo)識符確定
所關(guān)心的RFID器件的長距離測試結(jié)果，從而確定所關(guān)心的RFID器件的 長距離測試結(jié)果。
0013因此，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種用于測試緊密地 間隔排列在一起的多個RFID器件中至少一個的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括(a) 短距離測試器，其用于讀取/寫入定位在短距離測試位置的RFID器件的唯 一標(biāo)識符；(b)長距離測試器，其用于測試定位在長距離測試器位置的 RFID器件，所述長距離測試位置間隔離開所述短距離測試位置一預(yù)先確 定的距離；(c)將RFID器件從所述短距離測試位置和所述長距離測試位 置中的一個移動到另一個的裝置；以及(d)用于區(qū)別定位在長距離測試位 置的RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它同時被探測到的RFID器 件的結(jié)果。
0014根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試緊密地間隔 排列在一起的多個RFID器件中至少一個的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括(a)短距 離測試器，其用于讀取/寫入定位在短距離測試位置的RFID器件的唯一標(biāo) 識符；(b)長距離測試器，用于測試定位在長距離測試器位置的RFID器 件，所述長距離測試位置間隔離開所述短距離測試位置一預(yù)先確定的距離； (c)將RFID器件從所述短距離測試位置移動到所述長距離測試位置的裝 置；以及(d)用于促使長距離測試器只詢問定位在長距離測試位置的RFID 器件。
0015仍根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試多個RFID 器件中至少一個的方法，RFID器件沿公共載體長度方向間隔排列，每個 RFID器件具有唯一標(biāo)識符，所述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)， 所述測試系統(tǒng)包括讀取定位于短距離測試位置的RFID器件的唯一標(biāo)識符 的短距離觀(H式器，用于測試定位于長距離測試位置的RFID器件的長距離 測試器，所述短距離測試位置和所述長距離測試位置被間隔離開一己知距 離，以及一個連接到短距離測試器和長距離測試器中每個的計算機；(b) 定位公共載體以使所述第一RFID器件被定位在短距離測試位置；(c)當(dāng) 第一 RFID器件被定位在短距離測試位置時，使用短距離測試器讀取第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符；(d)將第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符的特性 (identity)傳送到計算機；(e)定位公共載體以使第一 RFID器件被定位
在長距離測試位置；(f)當(dāng)?shù)谝?RFID器件被定位在長距離測試位置時， 使用長距離測試器測試第一RFID器件的性能；(g)將長距離測試器讀取
的所有結(jié)果傳送到計算機；以及(h)基于第一RFID器件的唯一標(biāo)識符， 使用計算機區(qū)別第一 RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它同時探測 到的RFID器件的結(jié)果。
0016仍根據(jù)本發(fā)明的另 一個方面，提供了 一種用于測試多個RFID 器件中的至少一個的方法，RFID器件沿公共載體長度方向間隔排列，所 述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括讀取定位于 短距離測試位置的RFID器件的唯一標(biāo)識符的短距離測試器，用于測試定 位于長距離測試位置的RFID器件的長距離測試器，所述短距離測試位置 和所述長距離測試位置被間隔離開一已知距離，以及連接到短距離測試器 和長距離測試器中每個的計算機；(b)定位公共載體以使第一RFID器件 被定位在短距離測試位置；(c)當(dāng)?shù)谝?RFID器件被定位在短距離測試位 置時，使用短距離測試器讀取/寫入第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符；(d) 將第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符的特性傳送到計算機；(e)定位公共載體 以使第一 RFID器件被定位在長距離測試位置；(f)當(dāng)?shù)谝?RFID器件被 定位在長距離測試位置時，使用長距離測試器測試第一 RFID器件的性能， 所述長距離測試器只詢問第一 RFID器件；(g)將長距離測試器讀取的所 有結(jié)果傳送到計算機。
0017仍根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試多個RFID 器件中的至少一個的方法，RFID器件沿公共載體長度方向間隔排列，所 述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括用于將唯一 標(biāo)識符寫到定位于短距離測試位置的RFID器件的短距離測試器，用于測 試定位于長距離測試位置的RFID器件的長距離測試器，以及連接到所述 短距離測試器和所述長距離測試器中每個的計算機，所述短距離測試位置 和所述長距離測試位置被間隔離開一已知距離；(b)定位公共載體以使第 一 RFID器件被定位在短距離測試位置；(c)當(dāng)?shù)谝?RFID器件被定位在 短距離測試位置時，使用短距離測試器將唯一標(biāo)識符寫到第一 RFID器件 上，計算機已知第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符的特性；(d)定位公共載體 以使第一RFID器件被定位在長距離測試位置；(e)當(dāng)?shù)谝?RFID器件被
定{立在長距離測試位置時，使用長距離測試器測試第一RFID器件的性能;
(f)將長距離測試器讀取的所有結(jié)果傳送到計算機；以及(g)基于第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符，使用計算機區(qū)別第一 RFID器件的長距離測試的 結(jié)果和任何其它同時探測到的RFID器件的結(jié)果。
0018仍根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種用于測試多個RFID 器件的方法，RFID器件沿公共載體長度方向被均勻地間隔排列，每個RFID 器件都具有唯一標(biāo)識符，所述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)，所 述測試系統(tǒng)包括讀取定位于短距離測試位置的RFID器件的唯一標(biāo)識符的 短距離測試器，用于測試定位于長距離測試位置的RFID器件的長距離測 試器，以及連接到所述短距離測試器和所述長距離測試器中每個的計算機， 短距離測試位置和長距離測試位置以公共載體上一個或多個RFID器件的 位置分隔幵；(b)定位公共載體以使第一RFID器件被定位在短距離測試 位置；(c)當(dāng)?shù)谝籖FID器件被定位在短距離測試位置時，使用短距離測 試器讀取第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符；(d)將第一 RFID器件的唯一標(biāo) 識符的特性傳送到計算機；(e)重新定位公共載體以使第二RFID器件被 定位在短距離測試位置，在公共載體上第二 RFID器件被連續(xù)地定位于第 一 RFID器件之后；(f)當(dāng)?shù)诙?RFID器件被定位在短距離測試位置時， 使用短距離測試器讀取第二 RFID器件的唯一標(biāo)識符；(g)將第二 RFID 器件的唯一標(biāo)識符傳送到計算機；(h)根據(jù)需要對位于第二 RFID器件之 后的一個或多個RFID器件重復(fù)步驟(e)到(g)，直到第一 RFID器件 被定位于長距離測試器位置；(i)當(dāng)?shù)谝籖FID器件被定位于長距離測試 位置時，使用長距離測試器測試第一RFID器件的性能；(j)將長距離測 試器讀取的所有結(jié)果傳送到計算機，且第一 RFID器件位于長距離測試位 置；以及(k)基于第一 RFID器件的唯一標(biāo)識符，使用計算機區(qū)別第一 RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它探測到的RFID器件的結(jié)果。
0019對本說明書和權(quán)利要求書來說，當(dāng)以給定方向定位或觀察所 述發(fā)明時，各種相關(guān)術(shù)語如"頂"、"底"、"之上"和"之下"都被用 于描述本發(fā)明。將要知道的是，通過改變發(fā)明的定向，某些相關(guān)術(shù)語因此 可能需要被調(diào)整。
0020另外的物體，以及本發(fā)明的特征、優(yōu)勢和一些方面，將在以
下描述被部分闡述，并且部分在描述中將容易理解，或者可以從發(fā)明的實 施中學(xué)懂。在描述中，為附圖做一些引用，所述引用構(gòu)成附圖一部分，并 且其中以實施本發(fā)明的特定實施例說明的方式顯示。這些實施例給出足夠 詳細(xì)的描述，使本領(lǐng)域技術(shù)人員可以實施本發(fā)明，將要理解的是，在不偏 離本發(fā)明主旨的情況下，可以利用其他實施例，并且可以有結(jié)構(gòu)上的改變。 因此，下面的詳細(xì)描述并不作為限制，本發(fā)明的范圍由權(quán)利要求最好地限 定。


0021附圖，在此處合并并組成了本說明書的一部分，與本說明一 起說明了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，用于解釋本發(fā)明的原理。在附圖中，同樣 的引用號表示同樣的部分-
0022圖1 (a)和1 (b)分別是是根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)構(gòu)建的系統(tǒng)的 第一實施例的片斷的示意俯視圖和示意側(cè)視圖，所述系統(tǒng)用于測試安置在 公共載體上的多個RFID器件(圖1 (a)中一些隱藏的元件用虛線示出)；
0023圖2 (a)和2 (b)分別是是根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)構(gòu)建的系統(tǒng)的 第二實施例的片斷的示意俯視圖和示意側(cè)視圖，所述系統(tǒng)用于測試安置在 公共載體上的多個RFID器件(圖2 (a)中一些隱藏的元件用虛線示出)；
0024圖3是纟艮據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)構(gòu)建的系統(tǒng)的第三實施例的控制軟 件的示意圖，所述系統(tǒng)用于測試安置在公共載體上的多個RFID器件；和
0025圖4是根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)構(gòu)建的系統(tǒng)的第四實施例的控制軟 件的示意圖，所述系統(tǒng)用于測試安置在公共載體上的多個RFID器件。
具體實施例方式
0026現(xiàn)在參照圖1 (a)和1 (b)，分別顯示的是用于測試安置在 公共載體上的多個RFID器件的系統(tǒng)的第一實施例的片斷的示意俯視圖和 示意側(cè)視圖，所述系統(tǒng)是根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)而構(gòu)建的并通常由引用號11 表示。為促進(jìn)對系統(tǒng)ll的結(jié)構(gòu)和操作的理解，系統(tǒng)ll被顯示為用于測試 被間隔開并可拆卸地安置在公共載體15上的多個RFID標(biāo)簽13-1到13-25。 在所示的具體實施例中，標(biāo)簽13和載體15是以巻狀形式出現(xiàn)的并且從釋
放盤(unwindred) 14-1被引導(dǎo)到收巻盤(take-upreel) 14-2，然而應(yīng)該意 識到標(biāo)簽13和載體15可以片狀形式替代出現(xiàn)。RFID標(biāo)簽13-1到13-25 分別包括IC芯片17-1到17-25 (IC芯片17-1到17-25在圖1 (a)虛線中 示出)，每個IC芯片17通常都由芯片制造者編程且具有唯一的標(biāo)識符， 所述標(biāo)識符通常采用64位或者96位數(shù)據(jù)的形式。對本發(fā)明來說，可以假 定預(yù)編程的標(biāo)識符不遵循芯片17-1到17-25之中的任何特定順序，也就是， 芯片17-1到17-25相對于它們的標(biāo)識符在位置上實際上是隨機化的。
0027系統(tǒng)11包括用于將標(biāo)簽13巻從釋放盤14-1引導(dǎo)到收巻盤 14-2 (也就是，以箭頭A的方向)的裝置。在本實施例中，所述引導(dǎo)裝置 包括一對巻軸16-1和16-2。釋放盤14-1安裝并連接到巻軸16-1,收巻盤 14-2安裝并連接到巻軸16-2上。巻軸16-1和16-2可以箭頭B的方向轉(zhuǎn)動。 巻軸16-2連接到驅(qū)動巻軸16-2轉(zhuǎn)動的馬達(dá)18上。馬達(dá)18又被連接到計 算機19，計算機19控制馬達(dá)18的操作。在本實施例中，計算機19使馬 達(dá)18以移位方式(indexing fashion)將標(biāo)簽13巻向前推進(jìn)，一次一個標(biāo) 簽位，以使每個標(biāo)簽13在每一個如下指定的測試位置都會被測試。然而應(yīng) 該意識到被測試時標(biāo)簽不需要是靜止的，并且標(biāo)簽13的巻可以連續(xù)的方式 前進(jìn)，也就是，不用移位。還應(yīng)該理解的是，系統(tǒng)ll可包括連接到計算機 19的光學(xué)或其它寄存?zhèn)鞲衅?未示出)以用于同步馬達(dá)18和域下面要討 論到的系統(tǒng)11其他元件的操作。
0028系統(tǒng)11還包括短距離測試器21。短距離測試器21實際上是 常規(guī)的，其相對于載體15被適當(dāng)?shù)囟ㄎ灰砸淮巫x取一個RFID標(biāo)簽13， 由短距離測試器21讀取的特定RFID標(biāo)簽13 (在此例中，標(biāo)簽13-2)被 定位在反應(yīng)近場內(nèi)的短距離測試位置20 (圖1 (a)中虛線所示)。短距離 測試器21未被用于進(jìn)行被詢問RFID標(biāo)簽13的性能測試，而僅用于讀取 它的芯片17的唯一標(biāo)識符。當(dāng)每個芯片17的標(biāo)識符被短距離測試器21 讀取時，該信息被傳送到計算機19，該計算機儲存標(biāo)識符信息并記錄各種 標(biāo)識符被讀取的順序。(如果標(biāo)簽13有缺陷以致它的標(biāo)識符不能被短距離 測試器21讀取，標(biāo)簽13的缺陷情況被計算機19記錄)。在上面的方式中， 載體15上標(biāo)簽13-1到13-25的相對位置由系統(tǒng)11決定。
0029如果芯片17是沒有采用標(biāo)識符預(yù)編程的類型，短距離測試器21優(yōu)選被用于將唯一的標(biāo)識符寫到每個芯片17上。優(yōu)選地，唯一標(biāo)識符 被排序以提供有關(guān)各個芯片的位置信息，但它們不需要這樣做。
0030系統(tǒng)11還包括一個長距離測試器23。長距離測試器23實際 上是常規(guī)的，其被定位在短距離測試器21的下游以測試標(biāo)簽13 (在此例 中，標(biāo)簽13-12)，標(biāo)簽13被定位在輻射近場或遠(yuǎn)場內(nèi)的長距離測試位置 24 (圖l (a)中虛線所示)，長距離測試位置24離開短距離測試位置20 一預(yù)先確定的距離(例如，長距離測試位置24可位于短距離測試位置20 下游十個標(biāo)簽處)。由長距離測試器23進(jìn)行的測試類型可能是簡單的讀/ 非讀測試類型或者可包括更改詢問器信號的功率和/或頻率以確保可以達(dá) 到或保持在所需的性能水平。如果標(biāo)簽13在短距離測試位置20被識別為 不可讀，由長距離測試器23在長距離測試位置24對標(biāo)簽13的性能測試優(yōu) 選被跳過。如果需要，樣本S比如標(biāo)簽13可用于的藥瓶、瓦楞箱(corrugated container)或者其它此類型的物體，可被定位在正好載體15下的長距離測 試位置24，以更加接近地模仿一旦將標(biāo)簽13應(yīng)用在物體和實際應(yīng)用中標(biāo) 簽所經(jīng)歷的情況。被長距離測試器23檢測到的響應(yīng)發(fā)送到計算機19以采 用下面討論的方式分析。
0031需要注意的是，由于系統(tǒng)11不使用屏蔽詢問信號的裝置來只 從定^^在長距離測試位量24的標(biāo)簽13引出響應(yīng)(在此例中，標(biāo)簽13-2)， 一個或多個相鄰的標(biāo)簽13可響應(yīng)詢問，這些響應(yīng)每個均包括響應(yīng)標(biāo)簽13 的標(biāo)識符。然而，盡管長距離測試器23除了檢測來自定位在長距離測試位 置24的標(biāo)簽13的信號之外，還檢測來自一個或多個標(biāo)簽13的信號，在長 距離測試位置24的標(biāo)簽13的響應(yīng)仍然可以被計算機19識別出。這是因為 在短距離測試位置20和長距離測試位置24之間的間隔是己知的，還因為 各種標(biāo)簽13的標(biāo)識符的相對順序是己知的。因此，為識別定位在長距離測 試位置24的標(biāo)簽13的響應(yīng)，計算機19只需要認(rèn)出在n個標(biāo)簽位置之前其 標(biāo)識符由短距離測試器21讀出的響應(yīng)，此處長距離測試位置24和短距離 測試位置20之間由n個標(biāo)簽位置隔開。換句話說，如果短距離測試位置 20和長距離測試位置24之間的間隔為十個標(biāo)簽位置，那么在長距離測試 位置24的標(biāo)簽13的響應(yīng)是其標(biāo)識符由短距離測試器21在十個標(biāo)簽位置之 前讀取的響應(yīng)。這種確定可很容易被計算機19實現(xiàn)。
0032應(yīng)該理解的是，代替長距離測試器23讀取來自響應(yīng)標(biāo)簽13 的所有響應(yīng)并然后使計算機19基于其標(biāo)識符識別所關(guān)心的響應(yīng)，計算機 19可以僅指示長距離測試器23只詢問具有所關(guān)心標(biāo)識符的標(biāo)簽13。
0033還應(yīng)該理解的是，計算機19執(zhí)行的功能可被替代性地實施為 短距離測試器21和長距離測試器23兩者或者其中之一的邏輯功能。
0034系統(tǒng)11還包括一個打印機或者標(biāo)記器31。打印機31可以是 用來在RFID標(biāo)簽上打印記號的常規(guī)的打印機類型，它被定位在長距離測 試器23的下游并被調(diào)整以適合在位于打印位置33 (如圖1 (a)虛線所示) 的標(biāo)簽13 (在此例中，標(biāo)簽13-22)上打印記號，打印位置33離開長距離 測試位置24—預(yù)先確定的距離(例如，打印位置33位于長距離測試位置 24下游十個標(biāo)簽位置處)。打印機31連接到計算機19上并且它的操作由 計算機19控制。在本實施例中，當(dāng)計算機19識別出有缺陷的標(biāo)簽13時， 當(dāng)標(biāo)簽13位于打印位置33時，計算機19指示打印機31將標(biāo)簽13標(biāo)為有 缺陷的。
0035應(yīng)該意識到，系統(tǒng)11可以被改動以包含以預(yù)先確定的標(biāo)簽位 置間隔從長距離測試器23向下游排列的一個或多個額外的長距離測試器。 這些額外的長距離測試器可被用于測試位于一種或多種類型的樣本之上的 標(biāo)簽13，所述樣本與定位在處于長距離測試位置24的標(biāo)簽之下的樣本是 不同的。(例如，第一樣本可能是一個塑料物體，比如藥瓶，第二樣本可 能是瓦楞箱，第三樣本可能是一個金屬物體等等。替代性地，各種樣本可 以是包含不同類型材料的相同物品)。以這種方式，可以在不同的條件下 測試標(biāo)簽的性能特性。
0036還應(yīng)該意識到，雖然如本實施例中所示的標(biāo)簽13-1到13-25 沿載體15以單排排列，標(biāo)簽13還可在載體15上排列成兩行或多行，并且 系統(tǒng)11可被相應(yīng)地改動以在需要時包含許多額外的短距離測試器21、長 距離測試器23和/或打印機31。
0037現(xiàn)在參照圖2 (a)和圖2 (b)，分別顯示的是用于測試安置 在公共載體上的多個RFID器件的系統(tǒng)的第二實施例的片斷的示意俯視圖 和示意側(cè)視圖，所述系統(tǒng)是根據(jù)本發(fā)明的教導(dǎo)而構(gòu)建的并由引用號111表 示。
0038系統(tǒng)111在很多方面與系統(tǒng)11類似，兩個系統(tǒng)之間的主要不 同在于和系統(tǒng)11相比，在系統(tǒng)111中，短距離測試器21和長距離測試器 23的各自的位置是顛倒的。因此，在系統(tǒng)lll中，短距離測試器21以這 樣的方式定位，來測試定位在系統(tǒng)ll的長距離測試位置24處的標(biāo)簽，長 距離測試器23以這樣的方式定位，來測試定位在系統(tǒng)11的短距離測試位 置20處的標(biāo)簽。應(yīng)該意識到，由于系統(tǒng)111中的短距離測試器21和長距 離測試器23位置的顛倒，由長距離測試器23讀取的所有結(jié)果被記錄在計 算機19中，之后，僅分析如下由短距離測試器21獲取的讀數(shù)。
0039如果需要，在計算機19將從短距離測試器21探測的標(biāo)簽的 特性與之前由長距離測試器23獲得的該標(biāo)簽測試結(jié)果相匹配之后，短距離 測試器21然后可被用于將有關(guān)在標(biāo)簽序列內(nèi)該標(biāo)簽的相對定位的位置信 息和/或該標(biāo)簽是否通過了長距離測試器23進(jìn)行的(多個)性能測試的指 示編程入標(biāo)簽(i)的芯片。(應(yīng)該理解不可能將信息寫到無效標(biāo)簽上)。 在位置信息和性能信息被編程到標(biāo)簽中的情況下，標(biāo)簽的下游用戶然后可 使用電子讀取器(例如， 一個短距離測試器， 一個長距離測試器，等等) 讀取這些編程信息，并且跳過在此已被識別為有缺陷的標(biāo)簽。(替代性地， 下游轉(zhuǎn)換器或分配器可以通過常規(guī)的天線和讀取器識別好的標(biāo)簽)?？梢?意識到，通過跳過有缺陷的特別是連續(xù)缺陷的標(biāo)簽，可以節(jié)省相當(dāng)多的時 間。每個標(biāo)簽的位置和性能信息可以單獨寫入該標(biāo)簽，或者兩個或多個標(biāo) 簽的位置和性能信息可以寫入到一些或全部標(biāo)簽中。例如， 一個好的標(biāo)簽 可能包括后面x個標(biāo)簽有缺陷的信息。
0040如果需要，可以由巻(或片)制造者使用公共密鑰基礎(chǔ)設(shè)施， 單向哈希算法或其它合適算法，將位置信息和性能標(biāo)志加密地寫到各自的 標(biāo)簽芯片上，并給轉(zhuǎn)換者單獨提供用于解密加密信息的代碼。如此，可以 阻止偽造并保證供應(yīng)標(biāo)簽的完整性。用于執(zhí)行加密確認(rèn)的軟件可能需要合 并防止巻的復(fù)制的特征，因為預(yù)使用的代碼可能仍有效。
0041可以意識到，使用長距離測試器23向標(biāo)簽13的芯片17寫入 位置和性能信息在系統(tǒng)11中可以同樣實現(xiàn)。這樣的寫入可以根據(jù)需要被加 密或不被加密。
0042在另一個實施例中，代替向標(biāo)簽寫入測試結(jié)果和位置信息，
這些信息自己可以被儲存在與標(biāo)簽巻或標(biāo)簽片物理分隔開的文件中。這樣 的文件將被分離地發(fā)送到標(biāo)簽巻或標(biāo)簽片下游的使用者。使用這樣的文件， 標(biāo)簽巻或標(biāo)簽片的下游使用者可直接跳過壞標(biāo)簽位置而不需測試每個標(biāo) 簽。
0043如圖3和圖4的示意圖所示，本發(fā)明的測試系統(tǒng)包括控制軟 件以提供簡單易懂且可靠的測試程序，以及可以在RFID嵌體性能測試中 達(dá)到增強的準(zhǔn)確率和多樣性的更加先進(jìn)的程序。圖3中的示意圖表200說 明了一個簡單的測試控制系統(tǒng)，其中連續(xù)的嵌體位置由連續(xù)的小正方形 200a、 200b、 200c等示出。嵌體在每個完整的ID捕獲、測試和標(biāo)記循環(huán) 之后向右移動一步。較大正方形包括201，短距離測試器的位置，203，長 距離測試的位置和205，打印機位置。如A處圖例所指示，具有未知ID 的嵌體從左面進(jìn)入系統(tǒng)。短距離測試器嘗試在位置201獲取嵌體的ID;不 能夠由短距離測試器讀取的嵌體在B處被視為不可讀。系統(tǒng)其后不會在長 距離測試位置203嘗試讀取不可讀的嵌體。由短距離測試器成功識別的嵌 體在C處示出直到它們到達(dá)長距離測試器位置203。在位置201被成功識 別的而在位置203長距離測試失敗的嵌體在D處示出，而被識別的通過位 置203的長距離測試的嵌體在E處示出。識別失敗的嵌體D同樣的在位置 205被打印機作記號。
0044用長距離測試結(jié)果將嵌體ID和相應(yīng)嵌體位置相互關(guān)聯(lián)的能 力不僅允許系統(tǒng)區(qū)別RFID器件的長距離測試的個體結(jié)果并將這些測試結(jié) 果與給定(已識別)設(shè)備聯(lián)系起來，還允許更先進(jìn)的測試技術(shù)。例如，系 統(tǒng)可以執(zhí)行涉及一系列嵌體(包括例如，嵌體巻中的嵌體，以及一系列幾 個相鄰嵌體)的測試程序。例如，如果太多連續(xù)的嵌體都識別失敗(這是 可干擾標(biāo)記或標(biāo)簽的打印或應(yīng)用的情況)，系統(tǒng)會將嵌體巻識別為"失敗" (或者要求編輯或移除該巻嵌體的一部分)。
0045圖4是如上面描述的合并了兩個長距離測試器的測試系統(tǒng)的 控制軟件的示意圖300。連續(xù)的嵌體位置由較小正方形300a、 300b、 300c 等的序列示出。嵌體在每個完整的ID捕獲、測試和標(biāo)簽循環(huán)之后向右移 動一步。如A處圖例所示，具有未知ID的嵌體從左面進(jìn)入系統(tǒng)。短距離 測試器嘗試在位置301獲取嵌體的ID;不能夠被短距離測試器讀取的嵌體
在B處被視為不可讀。系統(tǒng)其后不會嘗試讀取不可讀的嵌體。由短距離測 試器成功識別的嵌體在C處示出直到它們到達(dá)長距離測試器位置303。第
一長距離測試器在位置303執(zhí)行測試號1，而第二長距離測試器比如使用 不同的測試樣本或材料在位置305執(zhí)行測試號2。遵循兩個長距離測試的 測試結(jié)果并不限制于"通過"(此種情況下，嵌體通過兩個測試為E)和 "失敗"(也就是，兩個測試都失敗為D)，還包括嵌體只通過測試號1 (在F示出)或只通過測試號2 (在G示出)的可能性。(另外，通過測 試號1但沒有經(jīng)歷測試號2的嵌體，同樣提供一個合適的標(biāo)志。)這樣， 測試1和2可被設(shè)計用于識別為各個應(yīng)用范圍或使用環(huán)境是可接收的嵌體， 并且每個測試結(jié)果F和G用于識別為各個應(yīng)用范圍是可接受的嵌體。打印 機可在打印位置307使用合適的嵌體記號方案識別這些各種測試結(jié)果。這 種多樣的長距離測試方案的變化包括例如， 一個或多個強制測試比如評價 基本性能要求，以及一個或多個可選測試比如評價專用性能特性。
0046在此陳述的本發(fā)明的具體實施例僅僅是示例性的，本領(lǐng)域的 技術(shù)人員將能夠?qū)Ρ景l(fā)明進(jìn)行許多改變和修改，而不偏離本發(fā)明的主旨。 所有這些改變和修改都應(yīng)落入如權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種用于測試緊密間隔排列地在一起的多個RFID器件中的至少一個的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括(a)短距離測試器，其用于讀取/寫入定位在短距離測試位置的RFID器件的唯一標(biāo)識符；(b)第一長距離測試器，其用于測試定位在第一長距離測試位置的RFID器件，所述第一長距離測試器位置間隔離開所述短距離測試位置一預(yù)先確定的距離；(c)移動裝置，其用于將RFID器件從所述短距離測試位置和所述第一長距離測位置中的一個移動到另一個；以及(d)區(qū)別裝置，其用于區(qū)別定位在所述第一長距離測試位置的RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它同時探測到的RFID器件的結(jié)果。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述移動裝置是首先將RFID器 件定位在所述短距離測試位置并然后將其定位在所述第一長距離測試位 置。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述移動裝置首先將RHD器件 定位在所述第一長距離測試位置并然后將其定位在所述短距離測試位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其中所述多個RFID器件沿公共載體 的長度方向均勻地間隔排列，并且其中所述短距離測試位置和所述第一長 距離測試位置被間隔幵一距離，所述距離相當(dāng)于所述公共載體上的一個或 多個RFID器件位置。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括連接到所述區(qū)別裝置的用 于在發(fā)現(xiàn)有缺陷的RFID器件上打印記號的裝置。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第一樣本，其被定位在接 近所述第一長距離測試位置來模擬物體，其中所述RFID器件在使用時是與 所述物體關(guān)聯(lián)的。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二長距離測試器，其用 于測試定位在第二長距離測試位置的RFID器件，所述第二長距離測試位置 被間隔離開并且定位在所述短距離測試位置和所述第一長距離測試位置之 間，并且其中所述區(qū)別裝置進(jìn)一步區(qū)別定位在所述第二長距離測試位置的 RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它同時探測到的RFID器件的結(jié) 果。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二樣本，其被定位在接 近所述第二長距離測試位置以模擬物體，其中所述RFID器件在使用時是與 所述物體關(guān)聯(lián)的，所述第二樣本與所述第一樣本是不同的。
9. 一種用于測試緊密地間隔排列在一起的多個RFID器件中至少一個 的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括-(a) 短距離測試器，其用于讀取/寫入定位在短距離測試位置的RFID 器件的唯一標(biāo)識符；(b) 第一長距離測試器，其用于測試定位在第一長距離測試位置的 RFID器件，所述第一長距離測試器位置間隔離開所述短距離測試位置一預(yù) 先確定的距離；(c) 移動裝置，其用于將RFID器件從所述短距離測試位置移動到所 述第一長距離測位置；以及(d) 促使裝置，其用于促使所述第一長距離測試器只詢問定位在所述 第一長距離測試位置的RFID器件。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括用于在發(fā)現(xiàn)有缺陷的 RFDD器件上打印記號的裝置。
11. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述多個RFID器件沿公共載體 的長度方向上均勻地間隔排列，并且其中所述短距離測試位置和所述第一 長距離測試位置被間隔離開一距離，所述距離相當(dāng)于所述公共載體上的一 個或多個RFID器件位置。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中所述移動裝置是以移位方式移 動所述公共載體， 一次一個RFID器件位置。
13. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的系統(tǒng)，其中所述移動裝置是以連續(xù)的方式 移動所述公共載體。
14. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，進(jìn)一步包括樣本，其被定位在接近所 述第一長距離測試位置以模擬物體，其中所述RFID器件在使用時是與所述 物體關(guān)聯(lián)的。
15. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二長距離測試器，其 用于測試定位在第二長距離測試位置的RFID器件，所述第二長距離測試位 置被間隔離開并且定位在所述短距離測試位置和第一長距離測試位置之 間，并且其中所述促使裝置進(jìn)一步促使所述第二長距離測試器只詢問定位 在所述第二長距離測試位置的RFID器件。
16. 根據(jù)權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，進(jìn)一步包括第二樣本，其被定位在 接近所述第二長距離測試位置以模擬物體，其中所述RFID器件在使用時是 與所述物體關(guān)聯(lián)的，所述第二樣本與所述第一樣本是不同的。
17. —種用于測試多個RFID器件中至少一個的方法，所述RFID器件 沿公共載體長度方向間隔排列，所述RFID器件中的每個均具有唯一的標(biāo)識 符，所述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括用于讀取定位于短距離測試位 置的RFID器件的唯一標(biāo)識符的短距離測試器，用于測試定位于長距離測試 位置的RFID器件的長距離測試器，所述短距離測試位置和所述長距離測試 ^J置被間隔離開一已知距離，以及連接到所述短距離測試器和所述長距離 測試器中每個的計算機；(b) 定位所述公共載體以使第一RFID器件被定位在所述短距離測試位置；(c) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在短距離測試位置時，使用所述短 距離測試器讀取所述第一 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符；(d) 將所述第一 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符的特性傳送到所述計算機；(e) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述長距離 測試位置；(f) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在所述長距離測試位置時，使用所 述長距離測試器測試所述第一 RFID器件的性能；(g) 將由所述長距離測試器讀取的所有結(jié)果傳送到所述計算機；以及(h) 基于所述第一RFID器件的所述唯一標(biāo)識符，使用所述計算機來 區(qū)別所述第一 RFID器件的長距離測試的結(jié)果和任何其它同時探測到的 RFID器件的結(jié)果。
18. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中步驟(b)到步驟(d)先于步 驟(e)到步驟(g)執(zhí)行。
19. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中步驟(e)到步驟(g)限于步 驟(b)到步驟(d)執(zhí)行。
20. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后 的，將所述第一 RFID器件的所述長距離測試結(jié)果寫到所述第一 RFID器件 上的步驟。
21. 根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其中所述第一 RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
22. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后的，將所述第一 RFID器件的所述長距離測試結(jié)果和與所述第一 RFID器件 相關(guān)的位置信息寫到所述第一 RFID器件上的步驟。
23. 根據(jù)權(quán)利要求22所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
24. —種測試多個RFID器件中的至少一個的方法，所述RFID器件沿 公共載體長度方向間隔排列，所述方法包括以下步驟-(a) 提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括用于將唯一標(biāo)識符寫到定位于 短距離測試位置的RFID器件的短距離測試器，用于測試定位于長距離測試 位置的RFID器件的長距離測試器，以及連接到所述短距離測試器和所述長 距離測試器中每個的計算機，所述短距離測試位置和所述長距離測試位置 被間隔離開一己知距離；(b) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述短距離 測試位置；(c) 當(dāng)所述第一RFID器件被定位在所述短距離測試位置時，使用所 述短距離測試器將唯一標(biāo)識符寫到所述第一 RFID器件上，所述第一 RFID 器件的所述唯一標(biāo)識符的特性對所述計算機而言是己知的；(d) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述長距離 測試位置；(e) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在所述長距離測試位置時，使用所 述長距離測試器測試所述第一 RFID器件的性能；(f) 將所述長距離測試器讀取的所有結(jié)果傳送到所述計算機；以及(g) 基于所述第一RFID器件的所述唯一標(biāo)識符，使用所述計算機區(qū) 別所述第一 RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果和任何其它同時探測到的 RFID器件的結(jié)果。
25. 根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，其中步驟(b)至lj步驟(c)先于步 驟(d)到步驟(f)執(zhí)行。
26. 根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，其中步驟(d)到步驟(f)先于步 驟(b)到步驟(c)執(zhí)行。
27. 根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后 的，將所述第一 RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果寫到所述第一 RFID器 件上的步驟。
28. 根據(jù)權(quán)利要求27所述的方法，其中所述第一 RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
29. 根據(jù)權(quán)利要求24所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后 的，將所述第一 RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果和與所述第一 RFID器 件相關(guān)的位置信息寫到所述第一 RFID器件上的步驟。
30. 根據(jù)權(quán)利要求29所述的方法，其中所述第一 RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
31. —種測試多個RFID器件的方法，所述RFID器件沿公共載體的長 度方向均勻地間隔排列，所述RFID器件中的每個均具有唯一標(biāo)識符，所述 方法包括以下步驟(a) 提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括讀取定位于短距離測試位置的 RFID器件的唯一標(biāo)識符的短距離測試器，用于測試定位于長距離測試位置 的RFID器件的長距離測試器，以及連接到所述短距離測試器和所述長距離 測試器中每個的計算機，所述短距離測試位置和所述長距離測試位置以所 述公共載體上一個或多個RFID器件位置間隔開；(b) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述短距離 測試位置；(c) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在所述短距離測試位置時，使用所 述短距離測試器讀取所述第一 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符；(d) 將所述第一 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符的特性傳送到所述計算 機；(e) 重新定位所述公共載體以使第二 RFID器件被定位在所述短距離 測試位置，在所述公共載體上所述第二 RFID器件被連續(xù)地定位到所述第一 RFID器件；(f) 當(dāng)所述第二 RFID器件被定位在所述短距離測試位置時，使用所 述短距離測試器讀取所述第二 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符；(g) 將所述第二 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符傳送到所述計算機；(h) 根據(jù)需要對位于所述第二 RFID器件之后的一個或多個RFID器 件需重復(fù)步驟(e)到(g)，直到所述第一 RFID器件被定位于所述長距離 測試器位置；(i) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位于所述長距離測試位置時，使用所 述長距離測試器測試所述第一 RFID器件的性能；(j)在所述第一 RFID器件位于所述長距離測試位置時，將所述長距 離測試器讀取的所有結(jié)果傳送到所述計算機；以及(k)基于所述第一RFID器件的所述唯一標(biāo)識符，使用所述計算機區(qū) 別所述第一 RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果和任何其它探測到的RFID 器件的結(jié)果。
32. 根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后 的，將所述第一RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果寫到所述第一RFID器 件上的步驟。
33. 根據(jù)權(quán)利要求32所述的方法，其中所述第一 RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
34. 根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，進(jìn)一步包括，在所述區(qū)別步驟之后 的，將所述第一 RFID器件的所述長距離測試的結(jié)果和與所述第一 RFID器 件相關(guān)的位置信息寫到所述第一 RFID器件上的步驟。
35. 根據(jù)權(quán)利要求34所述的方法，其中所述第一RFID器件的所述長 距離測試的寫入結(jié)果被加密。
36. 根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，進(jìn)一步包括步驟將所述第二RFID器件定位在所述長距禽測試位置，當(dāng)所述第二RFID器件位于所述長距離測 試位置時，使用所述長距離測試器測試所述第二RFID器件的性能，將所述 第二 RFID器件在所述長距離測試位置時由所述fe距離測試器讀取的所有 結(jié)果傳送給所述計算機，并且基于所述第二 RFID器件的所述唯一標(biāo)識符， 使用所述計算機區(qū)別所述第二 RFID器件的所述長距離測試結(jié)果和任何其 它探測到的RFID器件。
37. 根據(jù)權(quán)利要求36所述的方法，進(jìn)一步包括將所述第一和第二 RFID 器件的所述長距離測試的結(jié)果以及所述第一和第二 RFID器件的位置信息 存儲在文件中。
38. 根據(jù)權(quán)利要求37所述的方法，其中所述文件被加密。
39. 根據(jù)權(quán)利要求36所述的方法，進(jìn)一步包括將所述第一和第二 RFID 器件的所述長距離測試的結(jié)果以及與所述第一和第二 RFID器件相關(guān)的位 置信息寫到所述第一和第二 RFID器件中至少一個上的步驟。
40.根據(jù)權(quán)利要求39所述的方法，其中所述寫是加密的。
41. 根據(jù)權(quán)利要求31所述的方法，進(jìn)一步包括當(dāng)進(jìn)行所述長距離測試 時將樣本定位在接近所述長距離測試位置的步驟。
42. —種測試多個RFID器件中的至少一個的方法，所述RFID器件 沿公共載體長度方向上間隔排列，所述方法包括以下步驟(a)提供測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括用于讀取定位于短距離測試位 置的RFID器件的唯一標(biāo)識符的短距離測試器，用于測試定位于長距離測試 位置的RFID器件的長距離測試器，所述短距離測試位置和所述長距離測試 位置被間隔離開一已知距離，以及連接到所述短距離測試器和所述長距離 測試器中的每個的計算機；(b) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述短距離 測試位置；(c) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在所述短距離測試位置時，使用所 述短距離測試器為所述第一 RFID器件讀/寫唯一標(biāo)識符；(d) 將所述第一RFID器件的所述唯一標(biāo)識符的特性傳送到所述計算機；(e) 定位所述公共載體以使所述第一 RFID器件被定位在所述長距離 測試位置；(f) 當(dāng)所述第一 RFID器件被定位在所述長距離測試位置時，使用所 述長距離測試器測試所述第一 RFID器件的性能，所述長距離測試器只詢問 所述第一RFID器件；以及(g) 將由所述長距離測試器讀取的所有結(jié)果傳送到所述計算機。
全文摘要
一種用于測試安置在公共載體上的多個RFID器件的方法和系統(tǒng)。在一個具體實施例中，RFID器件沿載體的長度方向均勻地間隔排列，所述系統(tǒng)包括短距離測試器，長距離測試器和計算機，所述短距離測試器連接到計算機并具有短距離測試位置，所述長距離測試器連接到計算機并具有長距離測試位置。長距離測試位置位于短距離測試位置下游，與其間隔一定數(shù)量設(shè)備位置。在使用中，所關(guān)心的RFID器件首先被定位在短距離測試位置，并且短距離測試器讀取RFID器件的唯一標(biāo)識符并將該標(biāo)識符傳送到計算機。然后載體被向前推進(jìn)以使后續(xù)的RFID器件由短距離測試器讀取。當(dāng)所關(guān)心的RFID器件推進(jìn)到所述長距離測試位置時，長距離測試器進(jìn)行性能測試并將任何探測到的結(jié)果發(fā)送給計算機。因為兩個測試位置之間的距離是已知的，計算機知道何時所關(guān)心的RFID器件位于長距離測試位置，并使用標(biāo)識符區(qū)別該設(shè)備的結(jié)果和任何其它設(shè)備的結(jié)果。
文檔編號G06K7/00GK101103361SQ200580046973
公開日2008年1月9日 申請日期2005年12月22日 優(yōu)先權(quán)日2004年12月22日
發(fā)明者B·J·金斯頓, D·J·普利斯頓, I·J·福斯特 申請人:艾利丹尼森公司