專利名稱：無測試管腳接觸式cpu卡測試方法
技術領域：
本發(fā)明主要應用于各種程序存儲器為電可擦寫存儲器的接觸式CPU卡測試電路中。
背景技術：
隨著數字化社會的到來，生活中越來越多的會用到各種類型的電子產品，ic卡就是一種
與人們日常生活緊密相關的電子產品，其應用場合也相當的多，比如公交卡、SIM卡、銀行 卡、身份證卡等等。那么對于這樣大批量生產的卡類產品在最終交給用戶使用前是需要通過 一系列的測試來保證產品的功能及性能的正確。而作為芯片的設計者首先應該保證的是芯片 硬件功能的正確性。那么就需要有一個這樣的測試手段從工廠加工的芯片中篩選出符合我們 設計要求的產品提供給用戶使用。
而要滿足大規(guī)模生產中對芯片良品的檢出，就應該有一個對整個芯片的功能、性能及可 靠性進行測試的電路來完成這個檢測工作。而隨著產業(yè)的逐步發(fā)展目前對于測試工作不僅僅 是要求可以準確的篩選出良品，更重要的是測試的效率要高、測試的成本要低、測試電路的 安全性要高，不能讓非法用戶通過測試電路來獲取芯片硬件及軟件的信息，防止非法用戶通 過竊取到的這些信息對芯片進行攻擊從而使合法用戶的正當權益收到損害。

發(fā)明內容
本發(fā)明為解決上述問題，實現(xiàn)程序存儲器為電可擦寫存儲器的接觸式CPU卡的功能測試，
采用如下方案-
將功能測試程序由io管腳串行的送入到串行輸入寄存器組中，經過并行寄存器組之后將
滿足程序存儲器擦寫時序的相應信號送給程序存儲器，完成將測試程序下載到程序存儲器中 的功能。
功能測試程序下載完畢之后，再由CPU運行程序存儲器中的測試程序，測試程序在運行 的過程中自動比對程序運行的結果是否正確，并將測試結果通過IO管腳再串行的送出，由測 試機來監(jiān)控10的輸出結果，通過這個結果可以判斷芯片功能測試是否正確。
將測試電路中關鍵信號的一小部分放在了劃片槽，當芯片減薄劃片之后會破壞掉這部分電 路，這樣就可以保證芯片在出廠之后不會再進入到測試模式了，非法用戶就不可能通過測試 電路來探測芯片的硬件結構及軟件內容。
本發(fā)明有如下優(yōu)點1、 通過IC的標準管腳完成對芯片的測試功能，既節(jié)省的芯片的面積又增加了芯片的安 全性。
2、 將功能測試程序下載到程序存儲器中運行，這樣的測試方式與芯片正常運行COS的情 況是一樣的，這樣的測試方式更接近芯片的真實工作狀況。
3、 功能測試程序在運行的過程中自動比對測試的結果，并且通過測試10管腳將測試結 果送出由測試機比對測試結果的正確性。
4、 節(jié)省了芯片的面積，提髙了測試電路的安全性。


圖l總體結構框圖，圖中左方的IO與右方的IO是同一個管腳，是一個雙向開漏的管腳，為
IC卡的標準管腳。 圖2放入劃片槽部分的示意圖
具體實施例方式
圖1是本發(fā)明的總體結構圖，圖中示出了各個模塊的連接關系。下面結合圖1詳細說明 本發(fā)明的一個實施例。
一、 以一個字節(jié)"F5H"為例介紹它是如何被寫入到程序存儲器中的 在芯片的測試模式下使用一個私有傳輸協(xié)議將"F5H"以及"F5H"在測試程序中對應的
地址通過10管腳按位串行送入并寫到串行輸入寄存器組(1)中，當"F5H"寫操作的所有相 關位都寫到(1)中之后，測試電路會產生一個標志信號，在芯片檢測到這個標志信號有效時 會將(1)中的所有數據再對應的寫入到并行寄存器組(2)中。
此時再將(2)中關于"F5H"的擦寫控制信號以及數據和相應地址按照程序存儲器的擦 寫控制時序送入從而完成將"F5H"字節(jié)寫入到程序存儲器(3)中的操作。
二、 測試程序的運行以及比對 依照上述的寫入過程可以將功能測試程序依次的寫入到(3)中的對應地址， 當所有的測試程序寫入完畢之后讓芯片進入到功能測試模式并使芯片正常運行在工作模
式下，CPU從(3)中讀取功能測試程序執(zhí)行，并且自行比對運行結果。產生測試結果。
三、 測試結果的送出
將上述產生的測試結果送入到串行輸出寄存器(4)中，并由雙向管腳10串行的再將測 試結果送出。
下面分別介紹各個模塊-
串行輸入寄存器組(1),主要是由D觸發(fā)器構成的移位寄存器組，其作用就是將從10管 腳按位串行輸入的對程序存儲器(3)寫操作的命令暫時存儲起來，作為并行寄存器組(2) 的輸入端。
并行寄存器組(2)，主要是由D觸發(fā)器構成的寄存器組，與(1)相連接，當通過I0管 腳發(fā)送的寫命令完整的寫入到(1)中之后，(2)會將(1)中所有數據復制過來，并且區(qū)分 出那些是數據位，那些是地址位，那些是擦寫控制信號位，并且將這些對應的信號送往程序 存儲器的相應輸入管腳。
程序存儲器(3)，在接收到(2)的一次輸入后，根據輸入的信號完成一次對程序存儲器 的寫操作。
串行輸出寄存器(4)，主要是由D觸發(fā)器構成的移位寄存器組，其作用就是將功能測試 結果按位移出，并且通過10管腳將(4)的輸出按位送出。 以上電路結構可以完成芯片功能測試任務。
圖2是放入劃片槽部分的電路示意圖，測試電路要達到高安全性，就需要有足夠的措施 來保證非法用戶不能通過測試電路對芯片的硬件及軟件進行攻擊，從而竊取合法用戶資料。
如圖2所示，本發(fā)明采用了可以將測試電路部分一個比較重要的控制信號線連同與這個 信號線相關的一個D觸發(fā)器放到劃片槽中，當芯片測試完畢減薄劃片之后，這個放入劃片槽 的D觸發(fā)器就會被劃掉。很明顯當芯片封卡發(fā)放給用戶以后測試電路就不能再工作了，而且 通過FIB的方式也很難將這個關鍵信號重新連接起來。這樣即時非法用戶了解芯片的測試電 路結構也不可能通過測試電路再對芯片做任何的非法攻擊了。
權利要求
1.無測試管腳接觸式CPU卡測試方法主要是通過IO管腳將芯片的功能測試程序串行送入芯片，再通過測試電路寫入到程序存儲器中，然后CPU執(zhí)行寫入到程序存儲器中的功能測試程序，其特征在于通過IC卡的雙向IO管腳將功能測試程序串行送入到串行輸入寄存器組(1)，將串行送入的數據暫存到(1)中，緊接著再將其寫入到并行寄存器組(2)，在(2)中區(qū)分出對程序存儲器的擦寫控制信號以及地址和數據再并行送往程序存儲器(3)從而將功能測試程序寫入到程序存儲器中，運行(3)中的測試程序并將運行的結果寫入到串行輸出寄存器(4)中，再由雙向的IO管腳將(4)中的測試結果串行的送出，由測試機來監(jiān)控輸出結果的正確性。
2. 根據權利要求1的測試電路，其特征在于將串行送入的測試程序并行的送到并行寄存器組(2)，從而能夠產生滿足程序存儲器(3)的擦寫時序以完成對Flash的擦寫操作。
3. 根據權利要求1的測試電路，其特征在于將測試程序運行的結果可以再通過串行輸出寄存 器(4)由雙向IO管腳送出。
4. 根據權利要求l的測試電路，其特征在于可以將測試電路中的一個關鍵的控制電路部分放 到劃片槽中，當芯片減薄劃片之后就不能再進入到芯片的測試模式了。
全文摘要
本發(fā)明提供一種無測試管腳接觸式CPU卡測試方法，主要應用于程序存儲器是電可擦寫存儲器的CPU卡。通過IC卡的IO管腳將對程序存儲器的擦寫控制信號以及擦寫的地址、數據串行的送入，完成對程序存儲器的擦寫功能。這樣芯片的功能測試程序就可以通過IO串行送入并寫入程序存儲器中，再運行程序存儲器中的功能測試程序就可以完成對芯片的功能測試了。本測試方式中測試管腳復用了IC卡的標準管腳，不會增加單獨的芯片測試管腳，這樣既增加了芯片的安全性又可以減小芯片的面積。
文檔編號G06F11/267GK101169755SQ20061011409
公開日2008年4月30日 申請日期2006年10月27日 優(yōu)先權日2006年10月27日
發(fā)明者張海峰 申請人:北京中電華大電子設計有限責任公司