專利名稱：輸入裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及可以根據(jù)電極間的靜電場變化來檢測操作體接近的位置的輸入裝置，特別是涉及具有對作為用于檢測靜電場變化量的基準的基準值進行更新的功能的輸入裝置。
背景技術(shù)：
在下述專利文獻1中，公開了多根X電極和Y電極排列成矩陣狀的靜電電容方式的坐標輸入裝置。
在該坐標輸入裝置中，在玻璃基板的一個面上排列有多根X電極，在另一個面上排列有多根Y電極，X電極和Y電極通過玻璃基板配置成矩陣狀，在各X電極和各Y電極間形成有規(guī)定的靜電電容。
通過控制部，使各X電極成為可與發(fā)送電路連接的狀態(tài)，使各Y電極也成為導通狀態(tài)，在各X電極和各Y電極上施加規(guī)定的電位。在該狀態(tài)下，當手指等接觸在坐標輸入裝置上時，X電極和Y電極之間的靜電場變化，從各Y電極輸出與該靜電場變化對應(yīng)的電壓變化。從各Y電極輸出的電壓變化通過A/D變換單元等讀取到控制部。設(shè)置在控制部的電壓檢測單元，根據(jù)從A/D變換單元輸出的數(shù)據(jù)，確定接近的X電極和Y電極的靜電場變化的部位，可以檢測出手指等接觸的部位的位置信息。
專利文獻1(日本)特開平8-137607號公報上述靜電電容方式的輸入裝置檢測導電體即手指接近了電極時的靜電場的變化，為了高靈敏度地檢測手指接近的情況，需要檢測電極間靜電電容的微小變化。但是，電極間的靜電電容隨著輸入裝置的周圍環(huán)境的變化及雜散電容的變化等而微小地變化，所以由于該環(huán)境變化，會產(chǎn)生將與實際用手指操作的部位的坐標位置不同的位置被識別為操作部位的錯誤工作。
因此，在靜電電容方式的輸入裝置中一般設(shè)置有校正功能。該校正功能在例如判斷為手指接近了輸入裝置的某個部位，并判斷為在其后手指離開時，采取對作為檢測值的比較判斷的基準的基準值進行更新等的措施。
但是，手指離開時更新基準值的校正手段不能應(yīng)對如下的錯誤工作盡管手指未接近輸入裝置的某個部位，這時得到手指接近這樣的檢測輸出。這種錯誤工作的原因各種各樣，其原因之一舉出基于急劇的溫度變化的基板伸縮、或由溫度變化或外力作用產(chǎn)生的基板變形。當基板伸縮或變形時，形成在基板上的電極間的距離局部變化，位于該部分的電極間的靜電電容發(fā)生物理變化。若在該狀態(tài)下對電極賦予電位，則檢測出局部的靜電電容的變化，而且檢測值的變化持續(xù)一定時間。這時，電子電路錯誤識別為用手指等操作了輸入裝置的規(guī)定部位，持續(xù)錯誤的坐標上的檢測輸出。
特別是，在溫度變化急劇的環(huán)境下使用的電子設(shè)備、及形成有電極的基板的線膨脹系數(shù)大時，容易產(chǎn)生上述的錯誤工作。例如，當由樹脂板形成了基板的輸入裝置被用于便攜用設(shè)備時，便攜用設(shè)備從具有空調(diào)的室內(nèi)向高溫的外部移動時等，很容易發(fā)生盡管未用手指操作但持續(xù)錯誤的檢測輸出的錯誤工作。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為解決上述現(xiàn)有問題而提出的，其目的在于提供一種輸入裝置，在未操作時產(chǎn)生了錯誤工作時等，可以校正該錯誤工作。
本發(fā)明的輸入裝置，其特征在于，包括輸入部，具有交叉配置且相互被絕緣的多個電極；驅(qū)動器，選擇電極賦予電位；及控制部，得到基于電極間的靜電場的變化的檢測值，并根據(jù)其檢測值和基準值之差，判斷是否成為檢測上述輸入部的某個坐標位置的檢測狀態(tài)；在上述控制部中，在檢測出相同坐標位置的上述檢測狀態(tài)持續(xù)時，并判斷為此時的檢測值和上述基準值之差是預(yù)先確定的更新檢測寬度以下或小于更新檢測寬度時，更新上述基準值。
本發(fā)明的輸入裝置的相同坐標位置的檢測值不變化而持續(xù)規(guī)定時間，而且基于此時的靜電場變化的檢測值的變動寬度小時，更新作為檢測值的比較基準的基準值。持續(xù)相同坐標位置的檢測狀態(tài)、且檢測值的變化寬度小的情況下上述檢測狀態(tài)持續(xù)規(guī)定時間的現(xiàn)象，實際上很少在用手指操作了輸入部時發(fā)生。從而，這樣的檢測狀態(tài)持續(xù)時，通過更新基準值，可以防止盡管手指未操作但規(guī)定坐標位置的檢測輸出持續(xù)的錯誤工作。
本發(fā)明，例如將上述基準值更新為與上述檢測值相同的值。
通過使基準值與錯誤工作時的檢測值一致，在更新基準值后，可以高靈敏度且準確地檢測出是否用手指等操作。但是，本發(fā)明并不限定將基準值更新為與此時的檢測值準確地一致，也可以將基準值更新為接近上述檢測值的值，或者預(yù)先確定更新的變化量，總是使基準值僅變化一定值，將基準值更新為接近此時的檢測值的值。
本發(fā)明的控制部預(yù)先保存規(guī)定檢測寬度的值，當判斷為上述檢測值和上述基準值之差是上述規(guī)定檢測寬度以上或超過了上述規(guī)定檢測寬度時，判斷為已成為上述檢測狀態(tài)。
另外，在本發(fā)明中，至少在成為上述檢測狀態(tài)時，控制部在每個規(guī)定的監(jiān)視時間監(jiān)視上述檢測值，并在判斷為檢測出相同坐標位置的檢測狀態(tài)僅持續(xù)規(guī)定數(shù)量的監(jiān)視時間時，將檢測值和基準值之差與上述更新檢測寬度的值進行比較。
但是，也可以不預(yù)先確定監(jiān)視時間的重復(fù)次數(shù)，而是預(yù)先確定判斷時間，在相同檢測值僅持續(xù)了該判斷時間時，將檢測值和基準值之差與更新檢測寬度的值進行比較，其結(jié)果可以更新基準值。
另外，在本發(fā)明中，控制部在判斷檢測值和基準值之差超過上述更新檢測寬度或者是上述更新檢測寬度以上時，判斷為操作體在接近上述輸入部，并根據(jù)上述檢測值生成坐標數(shù)據(jù)。
另外，在本發(fā)明中，上述基準值與賦予電位的各電極的每一個對應(yīng)而設(shè)定。
例如，本發(fā)明在上述輸入部中，包括相互被絕緣且垂直的多個X電極及多個Y電極、位于相鄰的上述X電極之間或相鄰的上述Y電極之間的檢測電極、對上述X電極依次選擇進行賦予電位的X驅(qū)動器、及對上述Y電極依次進行選擇賦予電位的Y驅(qū)動器；在檢測部中，對被賦予電位的X電極和檢測電極的電位差、或被賦予電位的Y電極和檢測電極的電位差進行檢測。
但是，本發(fā)明的輸入部，也可以沒有上述檢測電極，在基板的一個面設(shè)有X電極，在另一個面設(shè)有Y電極，檢測對X電極賦予電位時的X電極和Y電極之間的靜電場的變化，還檢測對Y電極賦予電位時的Y電極和X電極之間的靜電場的變化?；蛘撸部梢詸z測X電極和接地電極之間的靜電場的變化，以及檢測Y電極和接地電極之間靜電場的變化。
本發(fā)明，對于在上述輸入部中、在由樹脂板形成的基板的一個面形成有上述X電極、在另一個面形成有上述Y電極、在一個面或另一個面形成有上述檢測電極的裝置特別有效。
通過用樹脂片形成輸入部的基板，可以構(gòu)成薄型且輕量的輸入裝置，即使因溫度變化而使樹脂片的基板伸縮、或因外力而變形時，也可以防止其后的錯誤工作。
本發(fā)明的輸入裝置，在不用手指等操作的狀態(tài)下可以進行檢測基準的校正。因此，可以防止因環(huán)境變化等原因造成的、盡管未操作但持續(xù)規(guī)定的操作輸出等的錯誤工作。


圖1是具有本發(fā)明實施方式的輸入裝置的電子設(shè)備的電路框圖。
圖2是放大上述實施方式中的輸入裝置的輸入部的說明圖。
圖3是說明校正工作的流程圖。
圖4是概念地說明校正工作的線圖。
圖5是檢測工作的工作原理的說明圖。
具體實施例方式
圖1是表示本發(fā)明實施方式的輸入裝置及具有該輸入裝置的電子設(shè)備的電路構(gòu)成的電路框圖，圖2是表示上述輸入裝置詳細結(jié)構(gòu)的放大說明圖，圖3是表示校正工作的流程圖，圖4是說明校正工作的線圖，圖5是表示輸入裝置的檢測原理的概要的說明圖。
圖1中所示的電子設(shè)備1具備輸入裝置2、及被賦予對該輸入裝置2進行操作時的檢測輸出的處理部3。電子設(shè)備1例如是便攜用電話、便攜用游戲機、便攜用音響設(shè)備等的各種便攜用設(shè)備，或者是個人計算機等家庭用或業(yè)務(wù)用的電子設(shè)備。
上述輸入裝置2包括用手指等的導電體即操作體操作的輸入部21、對設(shè)置在輸入部21的X電極依次進行選擇賦予電位的X驅(qū)動器22、對設(shè)置在輸入部21的Y電極依次進行選擇賦予電位的Y驅(qū)動器23、對來自設(shè)置在輸入部21的檢測電極的檢測輸出進行檢測的檢測部24、及對X驅(qū)動器22和Y驅(qū)動器23賦予電位的電源電路25。在輸入裝置2中，來自檢測部24的檢測信號在A/D變換部26中從模擬信號變換成數(shù)字信號，提供給數(shù)據(jù)處理部27。
處理部3是進行便攜用等電子設(shè)備1的所有操作處理的部分，具有接收來自設(shè)置在上述輸入裝置2的輸出接口部28的輸出數(shù)據(jù)的輸入接口部31。在處理部3中，將從輸入裝置2提供的絕對坐標數(shù)據(jù)，進行適合于電子設(shè)備1的性能用的處理的數(shù)據(jù)處理部32、以及控制電子設(shè)備1的所有操作的主控制部33。另外，在處理部3中設(shè)有液晶顯示板等的薄型顯示部34。
對輸入部21進行了操作時的操作信號的處理及基準值的更新等工作，由設(shè)置在輸入裝置2的數(shù)據(jù)處理部27進行，該數(shù)據(jù)處理部27相當于本發(fā)明中的控制部。但是，基準值的更新由設(shè)置在處理部3的數(shù)據(jù)處理部32及主控制部33進行，數(shù)據(jù)處理部32及主控制部33也可以具有本發(fā)明的控制部的功能。
在圖2中示出輸入部21的詳細構(gòu)成。在輸入部21設(shè)有規(guī)定面積的基板41。該基板41是有規(guī)定的介電常數(shù)的絕緣材料，在實施方式中，基板41是可撓性的樹脂片基板(樹脂薄膜基板)，樹脂材料是聚酰亞胺或PET(聚對苯二甲酸乙二酯)等有機樹脂材料。但是，在本發(fā)明中，基板也可以是酚基板及玻璃環(huán)氧基板等硬質(zhì)基板。
如圖2中所示，在基板41的一個面(圖中前面?zhèn)鹊拿?上，形成有沿Y方向直線且相互平行地延伸并向X方向按一定間距形成的多個X電極X1、X2、X3、X4、X5、X6。在基板的另一個面(圖中內(nèi)側(cè)的面)上，形成有沿X方向直線且平行地延伸并向Y方向按一定間距形成的多個Y電極Y1、Y2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7、Y8。在上述形成了各X電極的基板41的一個面上設(shè)有多個檢測電極S1。各檢測電極S1沿Y方向直線且相互平行地延伸并向X方向按一定間距形成，各檢測電極S1位于相鄰的X電極之間的中點。多個檢測電極S1相互連接，匯集到共同的輸出線Sa，提供給檢測部24。
X電極和Y電極通過基板41絕緣，X電極和檢測電極S1之間及Y電極和檢測電極S1之間也被絕緣。并且，上述檢測電極S1也可以在基板41的另一面上形成在Y電極之間。
上述X電極和Y電極及檢測電極S1由銀、銅等低電阻的導電性材料形成?；蛘?，也可以用ITO等透明電極材料形成各電極，通過使用該透明電極材料，可以在輸入部21的背部設(shè)置顯示裝置。輸入部21的表面(圖中面前側(cè)的表面)由外罩覆蓋。該外罩由薄的合成樹脂板等非導電性材料形成?；蛘咭部梢詫?gòu)成便攜電話等的便攜用終端裝置等各種電子設(shè)備的合成樹脂制的殼體的一部分，作為上述外罩使用。
在輸入部21中，在X電極和檢測電極S1之間形成有規(guī)定的靜電電容，在Y電極和檢測電極S1之間形成有規(guī)定的靜電電容。當作為操作體且是導電體的手指接觸覆蓋輸入部21的上述外罩時，作為導電體的手指接近基板41的某個部位。在該部位，由于在手指和X電極或手指和Y電極之間形成電容，所以在手指接近的部位，X電極和檢測電極S1之間的靜電場、及Y電極和檢測電極S1之間的靜電場產(chǎn)生變化。結(jié)果，在手指接近的部位，X電極和檢測電極S1間的靜電電容下降，并且，Y電極和檢測電極S1間的靜電電容下降。
在輸入裝置2中，通過X驅(qū)動器22依次選擇X電極X1、X2、X3、X4、X5、X6，賦予規(guī)定的電位。此外，通過Y驅(qū)動器23，依次選擇Y電極Y1、Y2、Y3、Y4、Y5、Y6、Y7、Y8，賦予規(guī)定的電位。并且，X電極和Y電極在不同時刻被選擇，不會對某個X電極和某個Y電極同時賦予電位。由X驅(qū)動器22進行的各X電極的選擇的定時和由Y驅(qū)動器23進行的各Y電極的選擇的定時，由數(shù)據(jù)處理部27控制。另外，賦予X電極和Y電極的電位由電源電路25生成。
在選擇了某個X電極時及選擇了某個Y電極時的、檢測電極S1的電位提供給檢測部24，由檢測部24檢測出的檢測輸出由A/D變換器26變換成數(shù)字值，提供給數(shù)據(jù)處理部27。在數(shù)據(jù)處理部27中，利用選擇了哪個X電極的轉(zhuǎn)換定時和從檢測部24得到的檢測輸出，確定手指接近X坐標上的哪個部位，并利用選擇了哪個Y電極的轉(zhuǎn)換定時和從檢測部24得到的檢測輸出，確定手指接近Y坐標上的哪個部位。
圖5表示在數(shù)據(jù)處理部27中用于確定手指接近的部位的檢測原理的概要。
在輸入部21中，對被選擇的X電極施加電位時，未被選擇的X電極設(shè)為接地電位。當對被選擇的X電極加電位時，根據(jù)所選擇的X電極和檢測電極S1之間的電容，被賦予電位的X電極和檢測電極S1之間的電位差按規(guī)定的時間常數(shù)緩緩增加。這時，當作為導電體的手指接近賦予了電位的X電極時，由于在手指和X電極之間形成電容，所以，賦予了電位的X電極和檢測電極S1之間的靜電電容下降，這時，被賦予電位的X電極和檢測電極S1之間的電位差增加的變化變慢。
在圖5(A)中示出向X電極施加電位的時間T0。圖5(B)表示此時的X電極和檢測電極S1的電位差的變化。例如，手指未接近X電極時的電位差的變化為(i)，當手指接近X電極時電位差的變化為(ii)。在數(shù)據(jù)處理部27中，求出對某個X電極賦予電位之后的時刻T1的X電極和檢測電極S1的電位差作為檢測值。
X電極的間隔設(shè)定為比在外罩上接觸手指時的其接觸面積窄。依次對各X電極進行選擇并賦予電位，在數(shù)據(jù)處理部27中，求出圖5(B)所示的時刻T1上的檢測值，將該檢測值與按每個X電極確定的基準值進行比較，再通過將檢測值和基準值之差在相鄰的X電極間進行比較，可以確定(推測)手指接觸的部位的X坐標位置。
上述工作在依次選擇Y電極而賦予電位時也相同。在數(shù)據(jù)處理部27中，以X電極的選擇信息和Y電極的選擇信息為基礎(chǔ)，通過監(jiān)視來自檢測部24的檢測輸出，可以確定(推測)手指接近的位置的X-Y坐標上的操作部位。
如圖5(B)所示，手指未接近時的檢測值的變化(i)、與手指接近X電極時的檢測值的變化(ii)之差極其微小。因此，在數(shù)據(jù)處理部27中，對全部X電極和全部Y電極設(shè)定上述基準值而保存該值。
另外，在數(shù)據(jù)處理部27中，預(yù)先保存規(guī)定檢測寬度Δh，當某個電極被選擇，得到圖5(B)的時刻T1的電位差即檢測值時，該檢測值和基準值之差是規(guī)定檢測寬度Δh以下、或小于Δh時，判斷為手指未接近電極，而上述檢測值和基準值之差超過規(guī)定檢測寬度Δh、或成為Δh以上時，判斷為手指在接近，此后，通過比較相鄰電極上的上述檢測值的大小，確定(推測)手指接近的位置的坐標上的位置。
在這種靜電電容型輸入部21中，隨著周圍環(huán)境的變化及雜散電容的變化，實質(zhì)的電極間的電容產(chǎn)生微小變化，所以在數(shù)據(jù)處理部27中，進行更新按每個X電極及每個Y電極設(shè)定的基準值的校正。作為該校正手段之一是用手指進行操作，檢測值和基準值之差超過上述規(guī)定檢測寬度Δh，或者成為Δh以上，進行坐標位置的檢測，然后手指離開，在檢測值和基準值之差小于規(guī)定檢測寬度Δh、或成為Δh以下時，將此時所得到的檢測值的該值作為基準值進行更新?；蛘邔⒒鶞手蹈聻榻咏鲜鰴z測值的值。
通過進行這樣的校正，在下次手指接近時，可以高靈敏度地檢測出檢測值和基準值的差。
但是，盡管手指未接觸外罩但上述檢測值和基準值的差超過上述規(guī)定檢測寬度Δh時，在數(shù)據(jù)處理部27中，識別為與輸入部21的某個部位被手指操作的情況相同的狀態(tài)。其結(jié)果，產(chǎn)生如下的錯誤動作盡管未用手指操作，但顯示部34的顯示圖像被切換，或者，識別為主控制部33進行了某種操作，而開始執(zhí)行規(guī)定的程序處理等。這樣的錯誤工作在識別為手指離開時更新基準值的上述校正中不能應(yīng)對。
盡管手指未接觸外罩卻進行某個部位被操作這樣的數(shù)據(jù)處理的錯誤工作，例如有可能在因急劇的溫度變化而使輸入部21的基板41伸縮或變形、或者在因外力使基板41變形時產(chǎn)生。當基板41伸縮或變形時，X電極和檢測電極S1的距離、及Y電極和檢測電極S1的距離局部地變化，電極間的電容物理地變化，盡管手指未接觸，檢測值卻變動?；蛘撸采w基板41的外罩因熱等而變形，進而大面積的導電體接近輸入部21時，同樣有可能使電極間的靜電電容變化而產(chǎn)生上述錯誤工作。
為此，在數(shù)據(jù)處理部27中進行圖3中所示的校正工作。在圖3中將流程圖的各步驟用“ST”表示。此外，圖4概念表示了該校正工作。
圖3所示的ST1中，監(jiān)視選擇了某個電極時的檢測值、和在該電極上所設(shè)定的基準值之差是否超過規(guī)定檢測寬度Δh、或者成為Δh以上。即，在數(shù)據(jù)處理部27中監(jiān)視某個坐標位置是否成為檢測狀態(tài)。
在ST1中，如果選擇了某個電極時的檢測值與基準值之差超過規(guī)定檢測寬度Δh、或者成為Δh以上，某個坐標位置成為檢測狀態(tài)，則前進到ST2。在ST2中，如圖4(A)所示，對每個規(guī)定的監(jiān)視時間Ta，檢測上述檢測值和基準值的差。圖4(B)將在每個監(jiān)視時間Ta檢測的檢測值表示成脈沖形，這時，用LB1表示對每個電極設(shè)定的基準值。此外，用ΔV1表示檢測值和基準值LB1的差。
在ST3中，對在每個監(jiān)視時間Ta成為檢測狀態(tài)的坐標位置是否變化進行監(jiān)視。當監(jiān)視時間Ta前的檢測時和現(xiàn)在的檢測時檢測出的坐標位置未變化時前進到ST4。此處，如果上次檢測時和現(xiàn)在的檢測時成為檢測狀態(tài)的坐標位置不同，則轉(zhuǎn)到ST7，判斷為實際上手指接觸外罩進行操作，并轉(zhuǎn)到ST8，將操作部位的坐標數(shù)據(jù)通過接口部28和接口部31傳送給處理部3的數(shù)據(jù)處理部32。在處理部3的主控制部33中，根據(jù)上述坐標數(shù)據(jù)，進行用手指操作時的處理工作。
在ST3中，在成為檢測狀態(tài)的坐標位置與上次檢測時相比未變化時，轉(zhuǎn)到ST4，判斷相同坐標位置的檢測狀態(tài)是否超過了N次(是否經(jīng)過了監(jiān)視時間Ta×N的期間)。例如，上述監(jiān)視時間Ta為10ms時，若將N設(shè)定為100，在ST4中判斷相同坐標位置的檢測狀態(tài)是否持續(xù)了1秒鐘。上述N可以是數(shù)十次，也可以是數(shù)百次。
如果判斷為相同坐標位置的檢測狀態(tài)超過了N次檢測次數(shù)時，則轉(zhuǎn)到ST5，判斷超過了N次的時刻的檢測值和基準值LB1的差ΔV1，是否超過了更新檢測寬度ΔH或者是ΔH以上。該更新檢測值寬度ΔH作為符合輸入部21的特性的最佳值，是預(yù)先寫入并保存在數(shù)據(jù)處理部27的值，更新檢測寬度ΔH設(shè)定為比上述規(guī)定檢測寬度Δh略大些的值。
在超過N次檢測次數(shù)的時刻，當判斷為檢測值和基準值LB1的差ΔV1比更新檢測寬度ΔH小時，則轉(zhuǎn)到ST6。在ST6中，在檢測為檢測值和基準值LB1的差超過了規(guī)定檢測寬度值Δh的該電極的基準值LB1，更新為與這時的檢測值一致的基準值LB2。
當將基準值更新為LB2時，由于其后的檢測值和基準值LB2的差大體成為零，所以消除繼續(xù)檢測某個坐標位置的錯誤工作。此后，對于該電極，通過將更新后的基準值LB2用于與檢測值的比較中，如圖4(B)的最右部分所記載那樣，其后實際用手指操作，檢測值和基準值LB2的差ΔV2超過了規(guī)定檢測寬度Δh時，可以判斷為手指在接近該電極附近。
另外，在ST5中，在檢測次數(shù)超過了N次時的檢測值和基準值LB1的差ΔV1超過更新檢測寬度ΔH、或者在ΔH以上時，轉(zhuǎn)到ST7，判斷為實際用手指進行了操作，并進行ST8的處理。
并且，在ST5中檢測次數(shù)超過N次的時刻的檢測值和基準值LB1之差不超過更新檢測寬度ΔH時，將基準值從LB1更新為LB2，與此不同，例如N次的檢測次數(shù)中的規(guī)定次數(shù)以上且檢測值和基準值LB1之差未超過更新基準值ΔH時，也可以將基準值從LB1更新為LB2。
在圖3所示的處理工作中，持續(xù)從輸入部21檢測相同坐標位置的輸出，而且在一定期間其輸出是更新檢測寬度ΔH以內(nèi)或者小于更新檢測寬度ΔH時，判斷為是錯誤工作。實際在使手指接近輸入部21(接觸外罩)進行操作時，持續(xù)完全相同的坐標位置的檢測狀態(tài)、而且檢測值持續(xù)維持較低的值的情況很少。因此，通過進行上述的處理工作，可以防止盡管未用手指操作但檢測并持續(xù)一定坐標狀態(tài)的錯誤工作。
另外，假設(shè)盡管實際用手指操作但因該操作而持續(xù)相同坐標位置的檢測狀態(tài)，而且這時的檢測值和基準值之差小于更新檢測寬度ΔH或者為ΔH以下，盡管用手指操作但基準值被更新為LB2的擔心的情況也極少。為了防止此時的不良情況，檢測值和基準值之差在成為規(guī)定檢測寬度Δh以下、或者小于Δh時(這實際上用手指操作，并在該手指離開時產(chǎn)生)，可以通過兼用使其后的檢測值成為基準值的校正來消除。若兼用該校正，假設(shè)盡管手指接觸但基準值從LB1更新為LB2，在手指離開的時刻，使基準值復(fù)原為最佳的值。
在圖1中所示的電子設(shè)備中，從數(shù)據(jù)處理部27生成絕對坐標數(shù)據(jù)、即用手指操作輸入部21時表示該操作部位的X-Y坐標上的位置的數(shù)據(jù)，提供給處理部3，在處理部3的主控制部33中，根據(jù)絕對坐標數(shù)據(jù)，執(zhí)行規(guī)定的程序，或者使顯示部34進行規(guī)定的工作。在本發(fā)明中，作為控制部的數(shù)據(jù)處理部27或處理部3的數(shù)據(jù)處理部32中，將對輸入部21進行操作所得到的上述絕對坐標數(shù)據(jù)變換成相對坐標數(shù)據(jù)、即表示操作位置移動的方向和其移動距離的數(shù)據(jù)，在主控制部33中，根據(jù)相對坐標數(shù)據(jù)執(zhí)行規(guī)定的程序，并且，使顯示部34進行顯示工作。
權(quán)利要求
1.一種輸入裝置，其特征在于，包括輸入部，具有交叉配置且相互被絕緣的多個電極；驅(qū)動器，選擇電極賦予電位；及控制部，得到基于電極間的靜電場的變化的檢測值，并根據(jù)其檢測值和基準值之差，判斷是否成為檢測上述輸入部的某個坐標位置的檢測狀態(tài)；在上述控制部中，在檢測出相同坐標位置的上述檢測狀態(tài)持續(xù)時，并判斷為此時的檢測值和上述基準值之差是預(yù)先確定的更新檢測寬度以下或小于更新檢測寬度時，更新上述基準值。
2.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，將上述基準值更新為與上述檢測值相同的值。
3.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，控制部預(yù)先保存規(guī)定檢測寬度的值，在判斷為上述檢測值和上述基準值之差是上述規(guī)定檢測寬度以上或超過了上述規(guī)定檢測寬度時，判斷為已成為上述檢測狀態(tài)。
4.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，至少在成為上述檢測狀態(tài)時，控制部在每個規(guī)定的監(jiān)視時間監(jiān)視上述檢測值，并在判斷為檢測出相同坐標位置的檢測狀態(tài)僅持續(xù)了規(guī)定數(shù)量的監(jiān)視時間時，將檢測值和基準值之差與上述更新檢測寬度的值進行比較。
5.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，控制部在判斷為檢測值和基準值之差超過上述更新檢測寬度或者是上述更新檢測寬度以上時，判斷為操作體在接近上述輸入部，根據(jù)上述檢測值生成坐標數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，上述基準值與賦予電位的各電極的每一個對應(yīng)而設(shè)定。
7.如權(quán)利要求1所述的輸入裝置，其特征在于，在上述輸入部中包括相互被絕緣并垂直的多個X電極及多個Y電極、位于相鄰的上述X電極之間或相鄰的上述Y電極之間的檢測電極、對上述X電極依次進行選擇并賦予電位的X驅(qū)動器、及對上述Y電極依次進行選擇并賦予電位的Y驅(qū)動器，在檢測部中，對被賦予電位的X電極和檢測電極的電位差、或被賦予電位的Y電極和檢測電極的電位差進行檢測。
8.如權(quán)利要求7所述的輸入裝置，其特征在于，在上述輸入部中，在由樹脂板形成的基板的一個面上形成有上述X電極，在另一個面上形成有上述Y電極，在一個面或另一個面上形成有上述檢測電極。
全文摘要
本發(fā)明的目的在于提供一種輸入裝置，在具有多個的電極、通過電極間的靜電電容的變化來檢測坐標位置的靜電電容型的輸入裝置中，可以對盡管未操作但持續(xù)檢測一定的坐標位置這樣的錯誤工作進行校正的輸入裝置。在ST1中檢測規(guī)定的坐標位置，在ST3和ST4中判斷為其檢測狀態(tài)是相同的坐標位置并持續(xù)規(guī)定期間時，轉(zhuǎn)到ST5，在ST5中判斷為檢測值和基準值之差是更新檢測寬度ΔH以內(nèi)時，在ST6中將基準值更新為與現(xiàn)在的檢測值相同的值。這樣，可以解除持續(xù)檢測相同坐標位置的錯誤工作的檢測狀態(tài)，然后可以根據(jù)新的基準值進行高靈敏度的檢測。
文檔編號G06F3/041GK101055507SQ20071009610
公開日2007年10月17日 申請日期2007年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月14日
發(fā)明者村中哲夫 申請人:阿爾卑斯電氣株式會社