專利名稱：嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置及方法。
背景技術(shù)：
提高和保證產(chǎn)品質(zhì)量，是企業(yè)活動中的重要內(nèi)容。為了提高和保證產(chǎn)品質(zhì)量，企業(yè)必須 對產(chǎn)品實施測試以獲得產(chǎn)品及其制造過程的質(zhì)量信息，按照這些信息對產(chǎn)品的制造過程實施 控制——進行修正和補償活動，使廢次品與返修品率降到最低程度，最終保證產(chǎn)品質(zhì)量形成 過程的穩(wěn)定性及其產(chǎn)出產(chǎn)品的一致性。
眾所周知，在對嵌入式系統(tǒng)進行測試時，要獲得測試結(jié)果，并將其顯示出來通常通過一 臺個人計算機(Personal Computer)與嵌入式系統(tǒng)測試機臺相連，在個人計算機與嵌入式系 統(tǒng)測試機臺之間進行通訊，將所測試的結(jié)果在個人計算機上顯示出來，即通過個人計算機充 當(dāng)人機介面。由于個人計算機不僅檢測時間過長(僅啟動個人計算機就需要一定時間)且用 于購買個人計算機的成本也相對過高，架設(shè)機臺的空間需求亦較大，如此既費時又耗資，測 試成本增加。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，其可以將測試結(jié)果轉(zhuǎn)化成 通用輸出輸入芯片上對應(yīng)的狀態(tài)信息，并將對應(yīng)的狀態(tài)信息顯示出來，用戶可以通過顯示出 來的狀態(tài)信息得出測試的結(jié)果，結(jié)構(gòu)簡單方便。
鑒于以上內(nèi)容，還有必要提供一種利用上述輔助裝置輔助嵌入式系統(tǒng)測試的方法，其可 以將測試結(jié)果轉(zhuǎn)化成通用輸出輸入芯片上對應(yīng)的狀態(tài)信息，并將對應(yīng)的狀態(tài)信息顯示出來， 用戶可以通過顯示出來的狀態(tài)信息得出測試的結(jié)果，方法簡單方便。
一種嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，該輔助裝置與嵌入式系統(tǒng)測試機臺相連，該嵌入式系 統(tǒng)測試機臺用于測試各種嵌入式系統(tǒng)的功能，所述輔助裝置包括依次連接的寫入裝置、通用 輸入輸出芯片、信號轉(zhuǎn)換裝置及串行總線接口，所述通用輸入輸出芯片還連接有顯示裝置， 其中所述寫入裝置用于將測試參數(shù)寫入通用輸入輸出芯片中；所述通用輸入輸出芯片用于 保存上述測試參數(shù)；所述串行總線接口用于連接輔助裝置與嵌入式系統(tǒng)測試機臺；所述信號 轉(zhuǎn)換裝置用于根據(jù)串行總線接口的不同類型將嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出的讀取信號及測試結(jié) 果轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上的格式；所述通用輸入輸出芯片還用于保存測試結(jié)果；所述顯示裝置用于即時顯示通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)及測試結(jié)果。
一種利用權(quán)利要求所述的輔助裝置輔助嵌入式系統(tǒng)測試的方法，該方法包括如下步驟 寫入裝置將測試參數(shù)寫入通用輸入輸出芯片中；嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出讀取通用輸入輸出 芯片上測試參數(shù)的讀取信號；根據(jù)與嵌入式系統(tǒng)測試機臺連接的串行總線接口的類型判斷是 否需要進行信號轉(zhuǎn)換；當(dāng)不需要進行信號轉(zhuǎn)換時，所述嵌入式系統(tǒng)測試機臺讀取通用輸入輸 出芯片上的測試參數(shù)，開始測試，然后將嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果通過串行總線接口 寫入通用輸入輸出芯片；當(dāng)需要進行信號轉(zhuǎn)換時，信號轉(zhuǎn)換裝置將所述的讀取信號轉(zhuǎn)換成通 用輸入輸出芯片上的格式以讀取通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)，嵌入式系統(tǒng)測試機臺開始 測試，然后信號轉(zhuǎn)換裝置將嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上的格 式，并將其寫入通用輸入輸出芯片上；顯示裝置將通用輸入輸出芯片上的測試結(jié)果即時顯示 出來。
相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述的嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置及方法，利用輔助裝置上依次連接 的寫入裝置、GPI0芯片、信號轉(zhuǎn)換裝置及串行總線接口獲取嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果 ，將測試結(jié)果轉(zhuǎn)化成GPIO芯片上對應(yīng)的狀態(tài)信息，并將對應(yīng)的狀態(tài)信息顯示出來，用戶可以 通過顯示出來的狀態(tài)信息得出測試的結(jié)果，結(jié)構(gòu)簡單方便，占用空間小，大大節(jié)約了成本。


圖l是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置較佳實施例的硬件架構(gòu)圖。
圖2是本發(fā)明利用上述輔助裝置輔助嵌入式系統(tǒng)測試的方法方法較佳實施例的流程圖。
具體實施例方式
如圖1所示，是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置較佳實施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。該系統(tǒng)主 要包括輔助裝置1及嵌入式系統(tǒng)測試機臺7。所述輔助裝置1中包含有顯示裝置2、寫入裝置3 、通用輸入輸出(GPI0: General Purpose Input Output)芯片4、信號轉(zhuǎn)換裝置5及串行總 線接口6。在輔助裝置l中，所述寫入裝置3、 GPI0芯片4、信號轉(zhuǎn)換裝置5及串行總線接口6依 次連接。所述輔助裝置1通過串行總線接口6連接到嵌入式系統(tǒng)測試機臺7。所述GPI0芯片4連 接顯示裝置2。
所述的串行總線接口6用于在輔助裝置1與嵌入式系統(tǒng)測試機臺7之間傳送信號，所述的 輔助裝置1上串行總線接口6包括以下幾種通用串行總線接口 (USB: Universal Serial Bus)、內(nèi)部集成電路總線(I2C: Inter —Integrated Circuit)、系統(tǒng)管理總線接口 ( SMBus: System Management Bus)及通用異步接受發(fā)送串行接口 (UART: Universal Asynchronous Receiver Transmitter)，由于上述每種串行總線接口6都有一定的適用范圍，因此在輔助裝置1上安裝有以上各種串行總線接口6以滿足各種測試需要。
所述信號轉(zhuǎn)換裝置5用于當(dāng)嵌入式系統(tǒng)測試機臺7讀取GPI0芯片4上的測試參數(shù)時，根據(jù) 串行總線接口6的不同類型判斷是否需要將嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出的讀取信號轉(zhuǎn)換成GPI0 芯片上的格式以讀取GPI0芯片4上的測試參數(shù)，及當(dāng)嵌入式系統(tǒng)測試機臺7測試完成后，將測 試結(jié)果轉(zhuǎn)換成GPIO芯片上的格式。具體而言，若輔助裝置1與嵌入式系統(tǒng)測試機臺7是通過 USB接口或者UART接口連接，則需要通過信號轉(zhuǎn)換裝置5進行上述信號轉(zhuǎn)換，若輔助裝置l與 嵌入式系統(tǒng)測試機臺7是通過I2C接口或者SMBUS接口連接，則不需要通過信號轉(zhuǎn)換裝置5進行 信號轉(zhuǎn)換。
所述寫入裝置3用于將測試參數(shù)寫入GPIO芯片4中。所述的測試參數(shù)包括測試的具體項目 、測試的初始狀態(tài)。所述的寫入裝置3可以是單片機，還可以是其它任意合適的數(shù)據(jù)處理設(shè) 備，在本較佳實施例中，寫入裝置3使用的是單片機。
所述GPI0芯片4用于保存上述測試參數(shù)及測試結(jié)果，所述測試參數(shù)及測試結(jié)果存放在一 個EEP麗(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory,電擦除可編程只讀 存儲器)中，所述測試參數(shù)及測試結(jié)果通常為一些具體的標(biāo)示符，標(biāo)示符標(biāo)明測試的結(jié)果。 具體而言，例如，"FO"代表測試開始，嵌入式系統(tǒng)測試機臺7讀取到該信息進入測試狀態(tài) ，當(dāng)完成測試之后，將測試結(jié)果通過串行總線接口6及信號轉(zhuǎn)換裝置5寫入GPI0芯片4，若測 試通過，則寫入GPI0芯片4的測試結(jié)果為"FF"以標(biāo)明測試通過，若測試失敗，則寫入GPIO 芯片4的測試結(jié)果信息為"FE"以標(biāo)明測試失敗。
所述嵌入式系統(tǒng)測試機臺7用于測試各種嵌入式系統(tǒng)(如主板)的功能，并能夠讀取 GPI0芯片4上的測試參數(shù)，并根據(jù)讀取的測試參數(shù)進行測試，當(dāng)完成測試之后，將測試結(jié)果 寫入GPI0芯片4。若測試通過，則寫入GPI0芯片4的測試結(jié)果為"FF"以標(biāo)明測試通過，若測 試失敗，則寫入GPI0芯片4的測試結(jié)果為"FE"以標(biāo)明測試失敗。
所述顯示裝置2與GPI0芯片4相連，用于即時顯示GPI0芯片4上的測試參數(shù)及測試結(jié)果， 例如，測試剛開始時，顯示的是某一個符號(如F0)以標(biāo)明測試開始，測試結(jié)束時顯示其 它符號以標(biāo)明測試是否通過。在本實施例中，所述的顯示裝置2為一塊液晶顯示片，在其它 實施例中，也可以是其它任意合適的顯示裝置。
如圖2所示，是本發(fā)明嵌入式系統(tǒng)測試的輔助方法較佳實施例的流程圖。
步驟SIO，首先，寫入裝置3將測試參數(shù)寫入GPI0芯片4中。所述的測試參數(shù)包括測試的 具體項目、測試的初始狀態(tài)。所述測試參數(shù)通常為一些具體的標(biāo)示符，例如，標(biāo)示符"l" 表示測試內(nèi)存，"F0"表示測試開始，當(dāng)嵌入式系統(tǒng)測試機臺7從GPI0芯片4中讀取到上述測
6試參數(shù)時，則嵌入式系統(tǒng)測試機臺7開始測試內(nèi)存。所述的寫入裝置3可以是單片機，還可以
是其它任意合適的數(shù)據(jù)處理設(shè)備，在本較佳實施例中，寫入裝置3使用的是單片機。 步驟Sll，嵌入式系統(tǒng)測試機臺7發(fā)出讀取GPI0芯片4上測試參數(shù)的讀取信號。 步驟S12，信號轉(zhuǎn)換裝置5根據(jù)與嵌入式系統(tǒng)計臺7連接的串行總線接口6的類型判斷是否
需要進行將所述讀取信號進行轉(zhuǎn)換。具體而言，若輔助裝置1與嵌入式系統(tǒng)測試機臺7是通過
USB接口或者UART接口連接，則需要通過信號轉(zhuǎn)換裝置5將所述讀取信號進行信號轉(zhuǎn)換，若輔
助裝置1與嵌入式系統(tǒng)測試機臺7是通過I2C接口或者SMBUS接口連接，則不需要通過信號轉(zhuǎn)換
裝置5將所述讀取信號進行信號轉(zhuǎn)換。
步驟S13，當(dāng)不需要進行信號轉(zhuǎn)換時，所述讀取信號讀取GPI0芯片4上的測試參數(shù)，嵌入
式系統(tǒng)測試機臺7開始測試。
步驟S14，將嵌入式系統(tǒng)測試機臺7的測試結(jié)果通過串行總線接口6寫入GPI0芯片4。 步驟S15，顯示裝置2將GPI0芯片4上的測試結(jié)果即時顯示出來。具體而言，顯示裝置2顯
示的信息都是與測試結(jié)果信息對應(yīng)的符號信息，例如，若測試通過，則顯示符號"FF"，若
測試沒有通過，則顯示"FE"。
在步驟S12中，當(dāng)需要進行信號轉(zhuǎn)換時，于步驟S16，信號轉(zhuǎn)換裝置5將所述的讀取信號
轉(zhuǎn)換成GPI0芯片4上的格式以讀取GPI0芯片4上的測試參數(shù)，嵌入式系統(tǒng)測試機臺7開始測試
步驟S17，嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果通過信號轉(zhuǎn)換裝置5轉(zhuǎn)換成GPIO芯片4上的格 式，并將其寫入GPI0芯片4上，之后轉(zhuǎn)到步驟S15。
本發(fā)明所述的嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置及方法利用輔助裝置上依次連接的寫入裝置器 、GPIO芯片、信號轉(zhuǎn)換裝置及串行總線接口獲取嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果，將測試結(jié) 果轉(zhuǎn)化成GPIO芯片上對應(yīng)的狀態(tài)信息，并將對應(yīng)的狀態(tài)信息顯示出來功能，用戶可以通過顯 示出來的狀態(tài)信息得出測試的結(jié)果。
最后所應(yīng)說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照以上 較佳實施例對本發(fā)明進行了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對本發(fā)明的技 術(shù)方案進行修改或等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
權(quán)利要求1一種嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，該輔助裝置與嵌入式系統(tǒng)測試機臺相連，該嵌入式系統(tǒng)測試機臺用于測試各種嵌入式系統(tǒng)的功能，其特征在于，所述輔助裝置包括依次連接的寫入裝置、通用輸入輸出芯片、信號轉(zhuǎn)換裝置及串行總線接口，所述通用輸入輸出芯片還連接有顯示裝置，其中所述寫入裝置用于將測試參數(shù)寫入通用輸入輸出芯片中；所述通用輸入輸出芯片用于保存上述測試參數(shù)；所述串行總線接口用于連接輔助裝置與嵌入式系統(tǒng)測試機臺；所述信號轉(zhuǎn)換裝置用于根據(jù)串行總線接口的不同類型將嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出的讀取信號及測試結(jié)果轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上的格式；所述通用輸入輸出芯片還用于保存測試結(jié)果；及所述顯示裝置用于即時顯示通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)及測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求l所述的嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，其特征在于，所 述串行總線接口是通用串行總線接口、內(nèi)部集成電路總線、系統(tǒng)管理總線接口或通用異步接 受發(fā)送串行接口。
3.如權(quán)利要求l所述的嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，其特征在于，所 述測試參數(shù)包括測試的具體項目。
4. 一種利用權(quán)利要求l所述的輔助裝置輔助嵌入式系統(tǒng)測試的方法， 其特征在于，該方法包括如下步驟寫入裝置將測試參數(shù)寫入通用輸入輸出芯片中；嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出讀取通用輸入輸出芯片上測試參數(shù)的讀取信號； 根據(jù)與嵌入式系統(tǒng)測試機臺連接的串行總線接口的類型判斷是否需要進行信號轉(zhuǎn)換； 當(dāng)不需要進行信號轉(zhuǎn)換時，所述嵌入式系統(tǒng)測試機臺讀取通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)，開始測試，然后將嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果通過串行總線接口寫入通用輸入輸出芯片；當(dāng)需要進行信號轉(zhuǎn)換時，信號轉(zhuǎn)換裝置將所述的讀取信號轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上 的格式以讀取通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)，嵌入式系統(tǒng)測試機臺開始測試，然后信號轉(zhuǎn) 換裝置將嵌入式系統(tǒng)測試機臺的測試結(jié)果轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上的格式，并將其寫入通 用輸入輸出芯片上；及顯示裝置將通用輸入輸出芯片上的測試結(jié)果即時顯示出來。
5.如權(quán)利要求4所述的嵌入式系統(tǒng)測試方法，其特征在于，所述串行 總線接口是通用串行總線接口、內(nèi)部集成電路總線、系統(tǒng)管理總線接口或通用異步接受發(fā)送 串行接口。
6.如權(quán)利要求4所述的嵌入式系統(tǒng)測試的方法，其特征在于，所述測 試參數(shù)包括測試的具體項目。
全文摘要
一種嵌入式系統(tǒng)測試的輔助裝置，所述輔助裝置包括依次連接的寫入裝置、通用輸入輸出芯片、信號轉(zhuǎn)換裝置及串行總線接口，所述通用輸入輸出芯片還連接有顯示裝置，其中所述寫入裝置用于將測試參數(shù)寫入通用輸入輸出芯片中；所述通用輸入輸出芯片用于保存上述測試參數(shù)；所述串行總線接口用于連接輔助裝置與嵌入式系統(tǒng)測試機臺；所述信號轉(zhuǎn)換裝置用于根據(jù)串行總線接口的不同類型將嵌入式系統(tǒng)測試機臺發(fā)出的讀取信號及測試結(jié)果轉(zhuǎn)換成通用輸入輸出芯片上的格式；所述通用輸入輸出芯片還用于保存測試結(jié)果；所述顯示裝置用于即時顯示通用輸入輸出芯片上的測試參數(shù)及測試結(jié)果。另外，本發(fā)明還提供一種利用上述輔助裝置輔助嵌入式系統(tǒng)測試的方法。
文檔編號G06F11/28GK101452415SQ20071020280
公開日2009年6月10日 申請日期2007年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月30日
發(fā)明者歐陽銘修, 范朝宗, 謝忠仁 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司