国产精品1024永久观看,大尺度欧美暖暖视频在线观看,亚洲宅男精品一区在线观看,欧美日韩一区二区三区视频,2021中文字幕在线观看

  • <option id="fbvk0"></option>
    1. <rt id="fbvk0"><tr id="fbvk0"></tr></rt>
      <center id="fbvk0"><optgroup id="fbvk0"></optgroup></center>
      <center id="fbvk0"></center>

      <li id="fbvk0"><abbr id="fbvk0"><dl id="fbvk0"></dl></abbr></li>

      電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀的制作方法

      文檔序號(hào):6617372閱讀:266來源:國(guó)知局
      專利名稱:電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實(shí)用新型涉及一種電子標(biāo)簽測(cè)試儀,特別是一種電子標(biāo)簽讀寫 器輔助測(cè)試儀。
      技術(shù)背景目前,公知的電子標(biāo)簽RFID讀寫器在設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、檢測(cè)時(shí)都是在 露天空曠場(chǎng)地搭建現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用環(huán)境,測(cè)試人員手拿RFID對(duì)RFID讀寫器 進(jìn)行測(cè)試,勞動(dòng)強(qiáng)度大,效率低,同時(shí)也受人為主觀因素、天氣、場(chǎng) 地的環(huán)境影響,還可能由于不同標(biāo)簽的性能差異導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的一致 性差。隨著RFID產(chǎn)業(yè)快速興起,RFID產(chǎn)品日益豐富,正向多元化發(fā) 展,為適應(yīng)RFID市場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、檢測(cè)、維護(hù)等環(huán)節(jié)日益苛刻 的要求,解決市場(chǎng)需求與產(chǎn)品生產(chǎn)周期之間的矛盾,迫切需求一種設(shè) 備,能取代人工測(cè)試以提高測(cè)試效率,杜絕人為主觀判斷出錯(cuò)、排除 環(huán)境不穩(wěn)定帶來的影響,改善產(chǎn)品在測(cè)試中的一致性,保障電子標(biāo)簽 的質(zhì)量。 發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,要解 決的技術(shù)問題是提高電子標(biāo)簽在測(cè)試中的一致性。本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案 一種電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀, 所述輔助測(cè)試儀具有通訊單元,通訊單元為中央處理器,與編碼及控
      制單元連接,編碼及控制單元分別與校準(zhǔn)單元和應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接。本實(shí)用新型的中央處理器釆用C8051F023,中央處理器的54、 55 腳接RS232串口、接數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片,數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片采用 ADM202EA腿。本實(shí)用新型的編碼及控制單元采用APA075,其16、 20、 22、 27、28、 29、 30、 31、 32、 33、 34、 35、 36、 41、 42、 43、 44、 45、 46、 58腳接中央處理器的48、 51、 50、 37、 36、 35、 34、 33、 32、 31、 30、29、 28、 27、 26、 23、 22、 21、 20、 53腳。本實(shí)用新型的校準(zhǔn)單元采用HMC273MS10G,其1、 2、 3、 4、 5腳 接編碼及控制單元的90、 91、 92、 93、 94腳。本實(shí)用新型的應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元采用HMC273MS10G,其1、 2、 3、 4、 5腳接編碼及控制單元99、 98、 97、 96、 95腳。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,采用通訊單元連接編碼及控制單元, 編碼及控制單元分別與校準(zhǔn)單元和應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接,模擬標(biāo)簽 應(yīng)答信號(hào),使電子標(biāo)簽在測(cè)試中的信號(hào)具有一致性,同時(shí)取代人工測(cè) 試,方便實(shí)用。

      圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的電路框圖。圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的通訊單元電路原理圖。圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例的編碼及控制單元電路原理圖。圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例的校準(zhǔn)單元電路原理圖。
      圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元電路原理圖。 圖6是圖1的電路原理圖。
      具體實(shí)施方式
      以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。如圖 1和圖6所示,本實(shí)用新型的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀包括通訊單 元,與通訊單元連接的編碼及控制單元,編碼及控制單元分別與校準(zhǔn) 單元、應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接,應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元通過射頻電纜向待 測(cè)試RFID讀寫器發(fā)出信號(hào),通訊單元與計(jì)算機(jī)連接。如圖2和圖6所示,通訊單元具有主控中央處理器U6 C8051F023, 中央處理器的54、 55腳接RS232串口、接數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片U7,中 央處理器U6的54、 55腳通過RS232串口 J4與計(jì)算機(jī)連接,進(jìn)行人機(jī) 交互通訊,計(jì)算機(jī)將相關(guān)的儀器校準(zhǔn)信息、測(cè)試信息和測(cè)試要求通過 數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片U7 ADM202EARN6的9腳發(fā)到中央處理器U6的54腳 進(jìn)行信息解析。如圖3和圖6所示,編碼及控制單元U1采用APA075, 其16、 20、 22、 27、 28、 29、 30、 31、 32、 33、 34、 35、 36、 41、 42、 43、 44、 45、 46、 58腳接中央處理器U6的48、 51、 50、 37、 36、 35、 34、 33、 32、 31、 30、 29、 28、 27、 26、 23、 22、 21、 20、 53勝卩,如 圖4和圖6所示,校準(zhǔn)單元U10采用HMC273MS10G,其1、 2、 3、 4、 5 腳接編碼及控制單元U1的90、 91、 92、 93、 94腳,中央處理器U6經(jīng) 解析的有效信息經(jīng)過編碼及控制單元U1編碼后控制校準(zhǔn)單元lilO實(shí)現(xiàn) 測(cè)試前的儀器自動(dòng)校準(zhǔn)。如圖5和圖6所示,應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元U8采 用HMC273MS10G,其1、 2、 3、 4、 5腳接編碼及控制單元Ul的99、 98、97、 96、 95腳,6腳接低噪聲放大器U5的1腳,低噪聲放大器U5釆 用RF2381,實(shí)現(xiàn)對(duì)輸入載波進(jìn)行調(diào)制并有一定放大。編碼數(shù)據(jù)經(jīng)過應(yīng) 答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元U8產(chǎn)生模擬的標(biāo)簽應(yīng)答信號(hào)由10腳輸出,經(jīng)射頻電 纜傳輸、環(huán)行器U16、天線至待測(cè)試RFID讀寫器,進(jìn)行各項(xiàng)性能測(cè)試。 本實(shí)用新型的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀模擬IS018000-6B、 ISO-18000-6C協(xié)議的RFID標(biāo)簽應(yīng)答信號(hào),模擬的應(yīng)答信號(hào)占空比從 40% 60%可調(diào)整,傳輸速率兼容30kps 640kps。循環(huán)測(cè)試次數(shù)l 65535次、循環(huán)間隔lms 255ms可設(shè)置,測(cè)試前可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,本 實(shí)用新型的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀自動(dòng)校準(zhǔn),保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。
      權(quán)利要求1.一種電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,其特征在于所述輔助測(cè)試儀具有通訊單元,通訊單元為中央處理器,與編碼及控制單元連接,編碼及控制單元分別與校準(zhǔn)單元和應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,其特征在于所述中央處理器采用C8051F023,中央處理器的54、 55腳接RS232 串口、接數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片,數(shù)據(jù)電平轉(zhuǎn)換芯片采用ADM202EARN6。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,其特征在于 所述編碼及控制單元采用APA075,其16、 20、 22、 27、 28、 29、 30、 31、 32、 33、 34、 35、 36、 41、 42、 43、 44、 45、 46、 58腳 接中央處理器的48、 51、 50、 37、 36、 35、 34、 33、 32、 31、 30、 29、 28、 27、 26、 23、 22、 21、 20、 53腳。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,其特征在于所述校準(zhǔn)單元采用HMC273MS10G,其l、 2、 3、 4、 5腳接編碼及控 制單元的90、 91、 92、 93、 94腳。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,其特征在于 所述應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元采用HMC273MS10G,其1、 2、 3、 4、 5腳接 編碼及控制單元99、 98、 97、 96、 95腳。
      專利摘要本實(shí)用新型公開了一種電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,要解決的技術(shù)問題是提高電子標(biāo)簽在測(cè)試中的一致性。本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案一種電子標(biāo)簽讀寫器輔助測(cè)試儀,所述輔助測(cè)試儀具有通訊單元,通訊單元為中央處理器,與編碼及控制單元連接,編碼及控制單元分別與校準(zhǔn)單元和應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,采用通訊單元連接編碼及控制單元,編碼及控制單元分別與校準(zhǔn)單元和應(yīng)答信號(hào)實(shí)現(xiàn)單元連接,模擬標(biāo)簽應(yīng)答信號(hào),使電子標(biāo)簽在測(cè)試中的信號(hào)具有一致性,同時(shí)取代人工測(cè)試,方便實(shí)用。
      文檔編號(hào)G06K7/00GK201035581SQ20072011801
      公開日2008年3月12日 申請(qǐng)日期2007年1月5日 優(yōu)先權(quán)日2007年1月5日
      發(fā)明者濤 劉, 文藝清, 琳 李, 武岳山 申請(qǐng)人:深圳市遠(yuǎn)望谷信息技術(shù)股份有限公司
      網(wǎng)友詢問留言 已有0條留言
      • 還沒有人留言評(píng)論。精彩留言會(huì)獲得點(diǎn)贊!
      1