專利名稱：電阻式多點(diǎn)觸控裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種電阻式觸控裝置與方法，特別是涉及一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置與 方法。
背景技術(shù)：
美國專利公開號US2007/0198926中，揭示了一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置，包含一上 電極層與一下電極層，上、下電極層分別包含多數(shù)條不同方向的平行排列導(dǎo)線，并且上下層 間分布絕緣粒子(spacer)，藉以將上、下電極層隔開。因此當(dāng)上電極層受到下壓時，部份 上電極層的導(dǎo)線會與下電極的導(dǎo)線接觸，其中所有下電極層導(dǎo)線接地。上電極層的導(dǎo)線是 循序被驅(qū)動，并且在任一條上電極層導(dǎo)線被驅(qū)動時，所有下電極層導(dǎo)線皆會被循序感測一 次，藉此可感測所有上、下電極層導(dǎo)線相交的相迭點(diǎn)。因此被驅(qū)動的上電極層導(dǎo)線與被感測 的下電極層導(dǎo)線因下壓而接觸時，電流會由被驅(qū)動的電極層導(dǎo)線流向被感測的下電極層導(dǎo) 線，藉由感測下電極層導(dǎo)線的訊號，便可以感測到哪些相迭點(diǎn)被觸碰。如圖1所示，當(dāng)手指觸壓時可能同時造成一群相迭點(diǎn)同時被觸碰，在感測的過程 中會造成在后被感測的下電極層導(dǎo)線的訊號變小，因此必須針對不同位置的相迭點(diǎn)給予不 同的比較值，才能在訊號較小時仍可分辨是否被觸碰。然而這樣的解決辦法還是可能因?yàn)?在前被觸碰的相迭點(diǎn)數(shù)過多而不準(zhǔn)確，顯然地，各相迭點(diǎn)的比較值的建立、儲存都需要花上 許多成本，但卻又無法保證準(zhǔn)確度。此外，當(dāng)觸控解析度要求比較高時，就必須增加導(dǎo)線的 密度，相對地感測的頻率就必須降低。由此可見，上述現(xiàn)有的電阻式多點(diǎn)觸控裝置在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、制造方法與使用上，顯然 仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決上述存在的問題，相關(guān)廠商莫不費(fèi) 盡心思來謀求解決之道，但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成，而一般產(chǎn)品及方法 又沒有適切的結(jié)構(gòu)及方法能夠解決上述問題，此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如 何能創(chuàng)設(shè)一種新的電阻式多觸點(diǎn)感測裝置的方法，實(shí)屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一，亦成為當(dāng) 前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于，克服現(xiàn)有的電阻式多點(diǎn)觸控裝置存在的缺陷，而提供一 種新的電阻式多觸點(diǎn)感測裝置的方法，所要解決的技術(shù)問題是使其可改進(jìn)習(xí)知電阻式感測 裝置因多點(diǎn)觸控偵測所產(chǎn)生觸碰判讀的問題。本發(fā)明的另一目的在于，克服現(xiàn)有的電阻式多點(diǎn)觸控裝置存在的缺陷，而提供一 種新的電阻式多觸點(diǎn)感測裝置及方法，所要解決的技術(shù)問題是本發(fā)明的驅(qū)動與感測方式不 會因?yàn)樵谇暗慕佑|點(diǎn)過多而造成在后感測的接觸點(diǎn)訊號變得微弱，亦不需針對不同的感測 區(qū)給予不同的判斷標(biāo)準(zhǔn)。此外，本發(fā)明不僅能感測出哪些相迭區(qū)被觸壓，更可判斷出接觸點(diǎn) 位于相迭區(qū)內(nèi)的位置，亦即本發(fā)明可以用較少的導(dǎo)電條得到更高的解析度。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其包含多數(shù)條導(dǎo)電條，包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，該些第 一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo)電條相接 觸形成相應(yīng)于各觸碰物的至少一接觸點(diǎn)；一第一驅(qū)動單元與一第一感測單元，該第一驅(qū)動 單元選擇性地分別提供一高電位于該些導(dǎo)電條，并且該第一感測單元感測被該第一驅(qū)動單 元提供該高電位的導(dǎo)電條，以感測出多數(shù)條被觸壓的導(dǎo)電條，該些被觸壓導(dǎo)電條相迭之的 相迭區(qū)為該可能被觸壓相迭區(qū)，當(dāng)被該第一驅(qū)動單元提供一高電位的導(dǎo)電條為該第一導(dǎo)電 條時，該第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有第二導(dǎo)電條，并且當(dāng)被該第一驅(qū)動單元提供該 高電位的導(dǎo)電條為該第二導(dǎo)電條時，該第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有第一導(dǎo)電條；一 第二驅(qū)動單元與一第二感測單元，在該第二驅(qū)動單元選擇性地分別提供該高電位與該低電 位于相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)該的第一、第二導(dǎo)電條時，該第二感測單元感測被該第二 驅(qū)動單元提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)；及一第三驅(qū)動單元與 一第三感測單元，該第三驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的該些導(dǎo)電條，當(dāng)相迭 于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被該第三驅(qū)動單元驅(qū)動時，該第三感測單元感測該 對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該第三驅(qū)動單元提供該高電位 與該低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第一、第二感測單元是感測一提升電阻一端 之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該第一、第二驅(qū)動單元是通過該提升電阻提供該高電位。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第三感測單元是感測被感測導(dǎo)電條一端或兩 端之電位°前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動單元、該第三驅(qū)動 單元提供之高電位分別為不同電位，并且該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動單元、該第三驅(qū)動單 元提供之低電位分別為不同電位。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第三感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條 為第一導(dǎo)電條時，該第三感測單元依據(jù)感測到之電位感測出一二維座標(biāo)之一第一一維座 標(biāo)，當(dāng)該第三感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時，該第三感測單元依 據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出 的一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其包含多數(shù)條導(dǎo)電條，包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，該些 第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo)電條相 接觸形成相應(yīng)于各觸碰物之至少一接觸點(diǎn)；一第一驅(qū)動單元與一第一感測單元，在該第一 驅(qū)動單元分別提供一高電位與一低電位于相迭于各相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條時，該第 二感測單元感測被該第一驅(qū)動單元提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭 區(qū)；及一第二驅(qū)動單元與一第二感測單元，該第二驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭 區(qū)的各導(dǎo)電條，當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被該第二驅(qū)動單元驅(qū)動時， 該第二感測單元感測該對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該第二 驅(qū)動單元提供該高電位與該低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第一感測單元是感測一提升電阻兩端之電
6流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該第一驅(qū)動單元是通過該提升電阻提供該高電位。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第二感測單元是感測被感測導(dǎo)電條一端或兩 端之電位°前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動單元提供之高電 位分別為不同電位，并且該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動單元提供之低電位分別為不同電位。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第二感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條 為第一導(dǎo)電條時，該第二感測單元依據(jù)感測到之電位感測出一二維座標(biāo)之一第一一維座 標(biāo)，當(dāng)該第三感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時，該第三感測單元依 據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題另外再采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提 出的一種電阻式多點(diǎn)觸控方法，其包含感測一電阻式多點(diǎn)觸控裝置上至少一被觸壓相迭 區(qū)，其中該電阻式多點(diǎn)觸控裝置包含多數(shù)條導(dǎo)電條，該些導(dǎo)電條包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電 條，該些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo) 電條相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物之至少一接觸點(diǎn)；及依據(jù)各被觸壓相迭區(qū)感測該至少一接 觸點(diǎn)。本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可采用以下技術(shù)措施進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該至少一被觸壓相迭區(qū)之感測包含分別提供 該一高電位與一低電位于相迭于各相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條；及當(dāng)相迭于任一相迭區(qū) 的該第一、第二導(dǎo)電條時被分別提供該高電位與該低電位時，感測被提供該高電位的該第 一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該第一導(dǎo)電條的感測是感測一提升電阻一端之 電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該高電位是通過該提升電阻提供。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該至少一接觸點(diǎn)的感測包含分別驅(qū)動相迭于 各被觸壓相迭區(qū)的各導(dǎo)電條，被驅(qū)動的導(dǎo)電條的兩端分別被提供一高電位與一低電位；當(dāng) 相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被驅(qū)動時，感測該對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電 條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該被感測導(dǎo)電條的感測是感測該感測導(dǎo)電條一端或兩端 的電位。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中當(dāng)在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第一導(dǎo)電條 時，依據(jù)感測到之電位感測出一二維座標(biāo)之一第一一維座標(biāo)，當(dāng)在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo) 電條為第二導(dǎo)電條時，依據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中更包含感測該電阻式多點(diǎn)觸控裝置上多數(shù)條被 觸壓導(dǎo)電條，其中該至少一被觸壓相迭區(qū)是依據(jù)該些被觸壓導(dǎo)電條來感測。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該些被觸壓導(dǎo)電條的感測包含分別提供一高電位于該些導(dǎo)電條；當(dāng)被提供該高電位的導(dǎo)電條為該第一導(dǎo)電條 時，提供一低電位于該些第二導(dǎo)電條；當(dāng)被提供該高電位的導(dǎo)電條為該第二導(dǎo)電條時，提供 該低電位于該些第一導(dǎo)電條；感測被提供該高電位的導(dǎo)電條，以感測出該些被觸壓導(dǎo)電條。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中被提供高電位的導(dǎo)電條的感測是感測一提升電 阻一端之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該高電位是通過該提升電阻提供。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該至少一被觸壓感測區(qū)之感測包含分別提供
7該高電位與該低電位于相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條，其中該些被觸 壓導(dǎo)電條相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)；當(dāng)相迭于任一可能被觸壓相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo) 電條時被分別提供該高電位與該低電位時，感測被提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測 出各被觸壓相迭區(qū)。前述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其中該些被觸壓導(dǎo)電條相迭之可能被觸壓相迭區(qū)小 于或等于三個時，該至少一被觸壓相迭區(qū)為該可能被觸壓相迭區(qū)。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比具有明顯的優(yōu)點(diǎn)和有益效果。由以上技術(shù)方案可知，本發(fā) 明的主要技術(shù)內(nèi)容如下本發(fā)明揭露一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置與方法，由多數(shù)條導(dǎo)電條相 迭形成多數(shù)個相迭區(qū)，相迭之導(dǎo)電條間由多數(shù)個絕緣粒子相隔，通過感測出被觸壓的相迭 區(qū)，再依據(jù)被觸壓相迭區(qū)分別感測出位于被觸壓相迭區(qū)上的接觸點(diǎn)。被觸壓相迭區(qū)的感測 可以是先感測被觸壓的導(dǎo)電條，依據(jù)被觸壓的導(dǎo)電條判斷出可能被觸壓相迭區(qū)，再由可能 被觸壓相迭區(qū)感測出被觸壓相迭區(qū)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)及效果是通過感測被觸壓導(dǎo)電條，可以縮小搜尋被觸壓相迭區(qū)的范 圍，并且通過感測被觸壓相迭區(qū)，可以縮小搜尋接觸點(diǎn)的范圍。因此，本發(fā)明的電阻式多點(diǎn) 觸控裝置與方法可以快速地感測出所有的接觸點(diǎn)，各接觸點(diǎn)的位置可以用二維座標(biāo)來表示。由于本發(fā)明采用較寬的導(dǎo)電條，導(dǎo)電條涵蓋的感測范圍大于習(xí)知技術(shù)，因此得到 優(yōu)于先前技術(shù)的解析度。此外，本發(fā)明能同時感測出多個不同觸碰物觸壓的接觸點(diǎn)，可用以追蹤并判斷不 同的手勢。綜上所述，本發(fā)明在技術(shù)上有顯著的進(jìn)步，并具有明顯的積極效果，誠為一新穎、 進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段， 而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠 更明顯易懂，以下特舉較佳實(shí)施例，并配合附圖，詳細(xì)說明如下。


圖1是一習(xí)知電阻式多點(diǎn)觸控裝置的示意圖；圖2是本發(fā)明的一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)流程圖；圖3是本發(fā)明的被觸壓相迭區(qū)驅(qū)動與感測的流程圖；圖4A、圖4B圖與圖4C是本發(fā)明的電阻式多點(diǎn)觸控裝置感測被觸壓相迭區(qū)的結(jié)構(gòu) 示意圖；圖5是本發(fā)明的接觸點(diǎn)感測的流程圖；圖6A、圖6B與圖6C是本發(fā)明的電阻式多點(diǎn)觸控裝置感測接觸點(diǎn)的結(jié)構(gòu)示意圖；圖7是本發(fā)明的被觸壓導(dǎo)電條感測的流程圖；圖8A、圖8B與圖8C是本發(fā)明的電阻式多點(diǎn)觸控裝置感測被觸壓導(dǎo)電條的結(jié)構(gòu)示 意圖；圖9是以尖端觸碰的相迭區(qū)影像示意圖；以及圖10A與圖10B是以單指與雙指觸碰的相迭區(qū)影像示意圖。
Χ1，Χ2，···，Χ8:第一導(dǎo)電條Yl，Υ2，· · ·，Υ8 第二導(dǎo)電條D1，D2，D3: 驅(qū)動單元V1，V2，V3:感測單元P 接觸點(diǎn)Px 第一一維座標(biāo)Py: 第二一維座標(biāo)VH1，VH2，VH3:高電位VLl, VL2, VL3 低電位
具體實(shí)施例方式為更進(jìn)一步闡述本發(fā)明為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效，以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例，對依據(jù)本發(fā)明提出的電阻式多點(diǎn)觸控裝置與方法，其具體實(shí)施方式
、結(jié) 構(gòu)、方法步驟、特征及其功效，詳細(xì)說明如后。本發(fā)明將詳細(xì)描述一些實(shí)施例如下。然而，除了所揭露的實(shí)施例外，本發(fā)明亦可以 廣泛地運(yùn)用在其他的實(shí)施例施行。本發(fā)明的范圍并不受該些實(shí)施例的限定，乃以其后的申 請專利范圍為準(zhǔn)。而為提供更清楚的描述及使熟悉該項(xiàng)技藝者能理解本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容， 圖示內(nèi)各部分并沒有依照其相對的尺寸而繪圖，某些尺寸與其他相關(guān)尺度的比例會被突顯 而顯得夸張，且不相關(guān)的細(xì)節(jié)部分亦未完全繪出，以求圖示的簡潔。本發(fā)明的一具體實(shí)施例是一種電阻_電阻式多點(diǎn)觸控方法，如圖2所示。首先，如 步驟210所示，感測一電阻式多點(diǎn)觸控裝置上至少一被觸壓相迭區(qū)，接下來如步驟220所 示，依據(jù)各被觸壓相迭區(qū)感測至少一接觸點(diǎn)。上述的多點(diǎn)觸控裝置包含多數(shù)條導(dǎo)電條這些導(dǎo)電條包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電 條，第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，部份第一、第二導(dǎo)電條 相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物觸壓的至少一接觸點(diǎn)。第一、第二導(dǎo)電條在未被觸碰時保持不接觸，在本發(fā)明的一范例中，第一、第二導(dǎo) 電條間可以用多數(shù)個絕緣粒子(spacer)散布在其間，藉以隔開第一、第二導(dǎo)電條。此外，本 發(fā)明不限制第一、第二導(dǎo)電條彼此上下之間的位置，可以是第一導(dǎo)電條在上，亦可以是第二 導(dǎo)電條在上。在本發(fā)明的一范例中，第一、第二導(dǎo)電條不同軸向排列，以構(gòu)成由多數(shù)個相迭 區(qū)排列而成的一相迭區(qū)陣列。例如第一導(dǎo)電條以水平方向排列，而第二導(dǎo)電條以垂直方向 排列，反之亦然。第一、第二導(dǎo)電條可分別具有預(yù)定的寬度，因此第一、第二導(dǎo)電條相迭處形成相迭 區(qū)。熟知相關(guān)技術(shù)者可推知，上述導(dǎo)電條的寬度并不需要一致，可以各導(dǎo)電條是不同的寬 度，因此相迭區(qū)的面積也可能不同，本發(fā)明包含但不加以限制。此外，熟知相關(guān)技術(shù)者可推知，依據(jù)觸碰物的不同，第一、第二導(dǎo)電條間接觸的相 迭區(qū)的數(shù)量與面積亦可能不同。在本發(fā)明的一較佳范例中，各相迭區(qū)上的觸壓點(diǎn)為單一，亦 即不論在一相迭區(qū)上觸壓的面積大小，此相迭區(qū)上觸壓的范圍視為單一觸壓點(diǎn)。熟知相關(guān) 技術(shù)者亦可以推知，如果相迭區(qū)較大時，亦有可能有兩個以上的接觸點(diǎn)，在此情況下，可以 依據(jù)觸壓的先后順序，分辨出兩個不同接觸點(diǎn)的，本發(fā)明對于單一相迭區(qū)中接觸點(diǎn)的數(shù)量 包含但不限于一個以上。圖3是本發(fā)明的被觸壓相迭區(qū)的感測方法。如步驟310所示，分別提供一高電位與 一低電位于相迭于各相迭區(qū)的第一、第二導(dǎo)電條，并且如步驟320所示，當(dāng)相迭于任一相迭 區(qū)的第一、第二導(dǎo)電條時被分別提供高電位與低電位時，感測被提供高電位的第一導(dǎo)電條，以感測出各個被觸壓相迭區(qū)。例如，循序地驅(qū)動第一導(dǎo)電條，在每一條第一導(dǎo)電條被驅(qū)動的期間，循序地驅(qū)動每 一條第二導(dǎo)電條，如此，便可以逐一感測被驅(qū)動的第一導(dǎo)電條上各相迭區(qū)是否被觸壓，通過 驅(qū)動各第一導(dǎo)電條的過程，感測相迭區(qū)陣列中的每一個相迭區(qū)，進(jìn)而感測出各個被觸壓的 相迭區(qū)。
據(jù)此，在本發(fā)明的一較佳實(shí)施例中，電阻式多點(diǎn)觸控裝置在感測被觸壓相迭區(qū)如 圖4A圖所示，包含一感測單元Vl與一驅(qū)動單元Dl，驅(qū)動單元提供一高電位VHl與一低電 位VL1，其中高電位VHl是提供給第一導(dǎo)電條(XI，\2’ ... ’ X8)之一，另外低電位VLl是提 供給第二導(dǎo)電條(Y1，Y2，...，Y8)之一，感測單元Vl感測被提供高電位VHl的導(dǎo)電條。被提供高電位VHl的第一導(dǎo)電條的感測可以是包含但不限于感測電位、電流或是 邏輯準(zhǔn)位，并且可以是在被提供高電位VHl的第一導(dǎo)電條的一端或兩端來感測。例如，在本 發(fā)明的一范例中，高電位VHl可以是通過一提升電阻Rl提供給第一導(dǎo)電條第一導(dǎo)電條(XI， Χ2，...，Χ8)之一，藉由感測提升電阻Rl —側(cè)(如提升電阻Rl與導(dǎo)電條之間)上的電位、 電流或是邏輯準(zhǔn)位來感測出各個被觸壓的相迭區(qū)。例如，當(dāng)高電位VHl與低電位VLl分別提供給導(dǎo)電條XI、Yl時，感測單元Vl便可 以感測出導(dǎo)電條XI、Yl相迭的相迭區(qū)是否被觸壓。例如，當(dāng)輪到導(dǎo)電條XI、Yl相迭的相迭 區(qū)被量測時，驅(qū)動單元Dl分別提供高電位VHl與低電位VLl給導(dǎo)電條Χ1、Υ1，如圖4Β所示， 若導(dǎo)電條Χ1、Υ1相迭的相迭區(qū)未被觸壓，電流未由導(dǎo)電條Xl流經(jīng)導(dǎo)電條Υ1，因此提升電阻 Rl的訊號不會有明顯變化，感測單元Vl可藉此判斷導(dǎo)電條Χ1、Υ1相迭的相迭區(qū)未被觸壓。 同樣地，當(dāng)輪到導(dǎo)電條Χ8、Υ7相迭的相迭區(qū)被量測時，驅(qū)動單元Dl分別提供高電位VHlJS 電位VLl給導(dǎo)電條Χ8、Υ7。當(dāng)導(dǎo)電條Χ8、Υ7相迭的相迭區(qū)被觸壓時，電流由導(dǎo)電條Χ8流向 導(dǎo)電條Υ7，感測單元Vl通過感測提升電阻Rl的電位改變，可感測出導(dǎo)電條Χ8、Υ7相迭的 相迭區(qū)被觸壓。熟知相關(guān)技藝者可推知，驅(qū)動單元亦可以是分別提供低電位VLl與高電位 VHl給第一導(dǎo)電條(XI，Χ2，…，Χ8)之一與第二導(dǎo)電條(Yl，Υ2，…，Υ8)之一，如圖4C所不。圖5是依據(jù)各被觸壓相迭區(qū)感測至少一接觸點(diǎn)的流程示意圖。如步驟510所示， 分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的各導(dǎo)電條，被驅(qū)動的導(dǎo)電條的兩端分別被提供一高電位 與一低電位。又如步驟520所示，當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被驅(qū)動時， 感測這對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置。對于未被驅(qū)動導(dǎo)電條的感測， 可以同時感測未被驅(qū)動導(dǎo)電條的一端或兩端。換言之，針對每一個被觸壓的相迭區(qū)中，輪替地將相迭于這相迭區(qū)的這對導(dǎo)電條 之一驅(qū)動，并感測這對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動的另一導(dǎo)電條，以感測出接觸點(diǎn)的二維座標(biāo)。例 如，先驅(qū)動這對導(dǎo)電條中的第一導(dǎo)電條，并感測第二導(dǎo)電條，以感測出接觸點(diǎn)在第一導(dǎo)電條 軸向上的位置，作為二維座標(biāo)中的一第一一維座標(biāo)Ρχ。接下來，驅(qū)動這對導(dǎo)電條中的第二導(dǎo) 電條，并感測第一導(dǎo)電條，以感測出接觸點(diǎn)在第二導(dǎo)電條軸向上的位置，作為二維座標(biāo)中的 一第二一維座標(biāo)Py。驅(qū)動第一、第二導(dǎo)電條的先后順序并不限定，待第一、第二導(dǎo)電條都感 測后，可得到接觸點(diǎn)分別在第一、第二導(dǎo)電條軸向上的位置，此位置可用二維座標(biāo)(Px，Py) 來表不。在本發(fā)明的一較佳實(shí)施例中，電阻式多點(diǎn)觸控裝置對于接觸點(diǎn)的感測如圖6A所示。電阻式多點(diǎn)觸控裝置包含多數(shù)條導(dǎo)電條、一感測單元V2與一驅(qū)動單元D2。多數(shù)條導(dǎo)電條為上述第一導(dǎo)電條(XI，X2, ... , X8)與第二導(dǎo)電條(Yl，Y2, ... , Y8)。驅(qū)動單元提供一 高電位VH2與一低電位VL2以驅(qū)動多數(shù)條導(dǎo)電條之一，并且感測單元V2感測與被驅(qū)動導(dǎo)電 條相迭的導(dǎo)電條之一。因此當(dāng)被驅(qū)動導(dǎo)電條與被感測導(dǎo)電條相迭于一被觸壓相迭區(qū)時，感 測單元V2可以感測出接觸點(diǎn)P在被驅(qū)動導(dǎo)電條軸向上的位置。例如，當(dāng)觸壓相迭區(qū)為導(dǎo)電條X8、Y7相迭的相迭區(qū)時，如圖6B所示，驅(qū)動單元先提 供高電位VH2、低電位VL2于導(dǎo)電條Χ8兩端，并且感測導(dǎo)電條Υ7，以感測接觸點(diǎn)P位于導(dǎo)電 條Χ8軸向(第一導(dǎo)電條軸向)的位置Ρχ。同樣地，如圖6C所示，驅(qū)動單元再提供高電位 VH2、低電位VL2于導(dǎo)電條Υ7兩端，并且感測導(dǎo)電條Χ8，以感測接觸點(diǎn)P位于導(dǎo)電條Υ7軸向 (第一導(dǎo)電條軸向)的位置Px。在本發(fā)明的一實(shí)施例中，驅(qū)動單元Dl與感測單元Vl依序分別感測各相迭區(qū)，以感 測出所有被觸壓相迭區(qū)，并且驅(qū)動單元D2與感測單元V2依序分別感測各相迭區(qū)，以感測出 各相迭區(qū)的在一第一導(dǎo)電條軸向二維影像與一第二導(dǎo)電條軸向二維影像，再依據(jù)各被觸壓 相迭區(qū)由第一、第二導(dǎo)電條軸向二維影像中判斷出各接觸點(diǎn)的位置。顯然地，相比于上述先 挑出被觸壓相迭區(qū)，再只針對被觸壓相迭區(qū)感測出各接觸點(diǎn)位置，本實(shí)施例效能較差。在上述說明中，感測單元Vl的感測可以是包含但不限于感測電位、電流或是邏輯 準(zhǔn)位，而感測單元V2感測的是訊號的實(shí)際值，如電壓值、電流值，并且每一相迭區(qū)必須進(jìn)行 兩個維度的感測，因此被觸壓相迭區(qū)的感測遠(yuǎn)快于觸壓點(diǎn)的感測。上述第一導(dǎo)電條(XI，Χ2，. . .，Χ8)與第二導(dǎo)電條(Yl，ΤΖ，...，Υ8)的數(shù)量僅為了 舉例之用，并非用以限制本發(fā)明，第一導(dǎo)電條與第二導(dǎo)電條的數(shù)量可分別依設(shè)計(jì)上的需要 而改變。因此當(dāng)?shù)谝?、第二?dǎo)電條分別具有m、n條時，將會有m*n個相迭區(qū)需要感測，第一、 第二導(dǎo)電條的數(shù)量越多，感測所有相迭區(qū)的時間就會越久。因此，加速所有相迭區(qū)的感測， 才能提升整體的效能。據(jù)此，本發(fā)明的一最佳實(shí)施例如圖7所示。如步驟710所示，感測電阻式多點(diǎn)觸控 裝置上多數(shù)條被觸壓導(dǎo)電條。又如步驟720所示，依據(jù)這些被觸壓導(dǎo)電條判斷出被觸壓導(dǎo) 電條相迭的可能被觸壓相迭區(qū)。再如步驟730所示，依據(jù)可能被觸壓相迭區(qū)感測電阻式多 點(diǎn)觸控裝置上至少一被觸壓相迭區(qū)。更如步驟740所示，依據(jù)各被觸壓相迭區(qū)感測出至少 一接觸點(diǎn)。換言之，可以是先判斷哪些第一導(dǎo)電條與第二導(dǎo)電條被觸壓，依據(jù)被觸壓的第一、 第二導(dǎo)電條可判斷出可能被觸壓相迭區(qū)。相比于上述圖3、圖4A至圖4C針對所有的相迭 區(qū)來感測出被觸壓相迭區(qū)，本具體實(shí)施例只需針對可能被觸壓相迭區(qū)來感測出被觸壓相迭 區(qū)。在本發(fā)明的一較佳范例中，電阻式多點(diǎn)觸控裝置對于被觸壓導(dǎo)電條的感測如圖8A 所示。電阻式多點(diǎn)觸控裝置包含多數(shù)條導(dǎo)電條、一感測單元V3與一驅(qū)動單元D3。多數(shù)條 導(dǎo)電條為上述第一導(dǎo)電條(X1，X2，...，X8)與第二導(dǎo)電條(Y1，Y2，...，Υ8)。驅(qū)動單元D3 分別提供一高電位VH3給這些導(dǎo)電條之一，并且提供與一低電位VL3給與被提供高電位VH3 導(dǎo)電條相迭的所有導(dǎo)電條，以分別感測出被觸壓的導(dǎo)電條。例如，如圖8Β所示，驅(qū)動單元D3依序提供高電位VH3給第一導(dǎo)電條(Χ1，Χ2，...， Χ8)之一，并且提供低電位VL3給與被提供高電位VH3的第一導(dǎo)電條相迭的所有第二導(dǎo)電條化1，￥2，...，￥8)，感測單元￥3感測被提供高電位￥!1 3的第一感測條。例如，第一導(dǎo)電 條XI，X2，...，或X7未被觸壓，因此電流未由被感測的第一導(dǎo)電條XI，Yl,...，或X7流向 任何第二導(dǎo)電條，因此感測單元V3未感測到第一導(dǎo)電條XI，X2，...，或X7被觸壓。當(dāng)?shù)谝?導(dǎo)電條X8被提供高電位VH3時，電流由第一導(dǎo)電條X8流向第二導(dǎo)電條Y7，因此感測單元V 3可以感測出第一導(dǎo)電條X8被觸壓。
同樣地，驅(qū)動單元D3依序提供高電位VH3給第二導(dǎo)電條(Yl，TZ，...，Y8)之一， 并且提供低電位VL3給與被提供高電位VH3的第二導(dǎo)電條相迭的所有第一導(dǎo)電條(XI， X2，. . .，X8)，感測單元V3藉此感測出被觸壓的第二導(dǎo)電條，如第二導(dǎo)電條Y7。被提供高電位VH2的導(dǎo)電條的感測相似于上述被提供高電位VHl的第一導(dǎo)電條的 感測，可以是包含但不限于感測電位、電流或是邏輯準(zhǔn)位，并且可以是在被提供高電位VH3 的第一導(dǎo)電條的一端或兩端來感測。例如，在本發(fā)明的一實(shí)施例中，高電位VH3可以是通過 一提升電阻R2提供給上述導(dǎo)電條之一，藉由感測提升電阻R2 —側(cè)(如提升電阻R2與導(dǎo)電 條之間)上的電位、電流或是邏輯準(zhǔn)位來感測出各被觸壓的導(dǎo)電條。因此，通過被觸壓的多數(shù)條導(dǎo)電條(如導(dǎo)電條X8、Y7)可判斷出這些被觸壓導(dǎo)電條 相迭的至少一可能被觸壓相迭區(qū)。當(dāng)被可能被觸壓相迭區(qū)不大于三個時，可能被觸壓相迭 區(qū)即為被觸壓相迭區(qū)。此外，驅(qū)動單元D3可同時分別提供高電位VH3給多數(shù)條導(dǎo)電條，并且感測單元V3 可同時分別感測被提供高電位VH3的部份或全部導(dǎo)電條，然而被提供高電位VH3的導(dǎo)電條 需同時為第一導(dǎo)電條或同時為第二導(dǎo)電條。上述的導(dǎo)電條是選擇性地被挑選來驅(qū)動或感測，習(xí)知相關(guān)技術(shù)者可推知，導(dǎo)電條 的挑選可包含但不限于通過開關(guān)、多功器、匯流排等切換裝置，本發(fā)明并不加以限制。此外， 上述的高電位VHl、VH2、VH3可以是相同，亦可以不同，同樣地，上述的低電位VL1、VL2、VL3 可以是相同，亦可以不同，本發(fā)明并不加以限制。再者，上述的提升電阻可以是相同，亦可以 不同，本發(fā)明并不加以限制。根據(jù)上述，所有接觸點(diǎn)經(jīng)過感測后可以呈現(xiàn)出如圖9的相迭區(qū)影像。當(dāng)觸碰物具 有尖端時，觸碰物的接觸會使得相迭區(qū)影像呈現(xiàn)出相應(yīng)的接觸點(diǎn)訊號。當(dāng)手指或接觸面積 較大的觸碰物觸碰時，相迭區(qū)影像會呈現(xiàn)相應(yīng)的多數(shù)個接觸點(diǎn)訊號，如圖IOA所示。相應(yīng)于相同接觸物的接觸點(diǎn)會群聚在一起，如圖IOB所示，因此可以分析出各接 觸物相應(yīng)的接觸點(diǎn)。在本發(fā)明另一范例中，亦可以利用各接觸點(diǎn)產(chǎn)生的時間來分析出各接 觸物相應(yīng)的接觸點(diǎn)。通過對相迭區(qū)影像的分析，可依據(jù)各觸碰物的接觸點(diǎn)數(shù)量判斷出接觸物的形態(tài)， 例如可以依據(jù)接觸物相應(yīng)的接觸點(diǎn)數(shù)量的多寡判斷接觸物是筆還是手指。此外，還可以依 據(jù)接觸物相應(yīng)的接觸點(diǎn)數(shù)量來模擬接觸物觸碰時的壓力。此外，藉由連續(xù)不同時間的相迭區(qū)影像的差異分析，更可以追蹤接觸物觸碰時的 移動軌跡，以判斷出特定的手勢。例如，可依據(jù)一對接觸物的觸碰位置軌跡判斷出一手勢， 該對接觸物的觸碰位置軌跡包含相互遠(yuǎn)離、一接觸物朝另一接觸物遠(yuǎn)離、相互靠近、一接 觸物朝另一接觸物靠近、相互旋轉(zhuǎn)、一接觸物繞另一接觸物旋轉(zhuǎn)。在本發(fā)明的一范例中，可依據(jù)相應(yīng)于各接觸物的觸控點(diǎn)數(shù)量判斷各接觸物為一筆 或一手指，亦可分別依據(jù)相應(yīng)于各接觸物的接觸點(diǎn)數(shù)量或分布范圍模擬出各接觸物觸碰的壓力。當(dāng)一接觸物相應(yīng)的接觸點(diǎn)為多數(shù)個時，可依據(jù)相應(yīng)于各接觸物的接觸點(diǎn)的質(zhì)心位置 作為該接觸物的觸碰位置。
據(jù)此，本發(fā)明的另一具體實(shí)施例是一電阻式多點(diǎn)觸控裝置，包含多數(shù)條導(dǎo)電條、一 第一、第二驅(qū)動單元、一第一、第二感測單元。這些導(dǎo)電條包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，這 些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，第一、第二導(dǎo)電條相接 觸形成相應(yīng)于各觸碰物的至少一接觸點(diǎn)。第一驅(qū)動單元與第一感測單元可以是如圖3的步驟310、320或圖4A至圖4C的驅(qū) 動單元Dl與感測單元Vl所述，在第一驅(qū)動單元分別提供一高電位與一低電位于相迭于各 相迭區(qū)的第一、第二導(dǎo)電條時，第二感測單元感測被第一驅(qū)動單元提供高電位的第一導(dǎo)電 條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)。第二驅(qū)動單元與第二感測單元可以是如圖5的步驟510、520或圖6A至圖6C的驅(qū) 動單元D2與感測單元V2所述，第二驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的各導(dǎo)電條， 當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被第二驅(qū)動單元驅(qū)動時，第二感測單元感測 這對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中第二驅(qū)動單元提供高電位與 低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。本具體實(shí)施例的相關(guān)細(xì)節(jié)已揭示前述說明中，在此不再贅述。另外，本發(fā)明的再一具體實(shí)施例是一電阻式多點(diǎn)觸控裝置，包含多數(shù)條導(dǎo)電條、一 第一、第二、第三驅(qū)動單元、一第一、第二、第三感測單元。這些導(dǎo)電條包含多數(shù)條第一、第二 導(dǎo)電條，這些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，第一、第二導(dǎo) 電條相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物的至少一接觸點(diǎn)。第一驅(qū)動單元與第一感測單元可以是如圖7的步驟710至740或圖8A至圖8C的 驅(qū)動單元D3與感測單元V3所述，第一驅(qū)動單元選擇性地分別提供一高電位于上述導(dǎo)電條， 并且第一感測單元感測被第一驅(qū)動單元提供高電位的導(dǎo)電條，以感測出多數(shù)條被觸壓的導(dǎo) 電條。這些被觸壓導(dǎo)電條相迭的各相迭區(qū)為可能被觸壓相迭區(qū)。當(dāng)被第一驅(qū)動單元提供一 高電位的導(dǎo)電條為第一導(dǎo)電條時，第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有第二導(dǎo)電條，并且當(dāng) 被第一驅(qū)動單元提供高電位的導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時，第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有 第一導(dǎo)電條。第二驅(qū)動單元與第二感測單元可以是如圖3的步驟310、320或圖4A至圖4C的驅(qū) 動單元Dl與感測單元Vl所述，在第二驅(qū)動單元選擇性地分別提供高電位與低電位于相迭 于各可能被觸壓相迭區(qū)的第一、第二導(dǎo)電條時，第二感測單元感測被第二驅(qū)動單元提供高 電位的第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)。第三驅(qū)動單元與第三感測單元可以是如圖5的步驟510、520或圖6A至圖6C的驅(qū) 動單元D2與感測單元V2所述，第三驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的導(dǎo)電條時， 當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被第三驅(qū)動單元驅(qū)動時，第三感測單元感測 這對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中第三驅(qū)動單元提供高電位與 低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。本具體實(shí)施例的相關(guān)細(xì)節(jié)已揭示前述說明中，在此不再贅述。以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，雖 然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然而并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)，當(dāng)可利用上述揭示的方法及技術(shù)內(nèi)容作出些許的更動或修飾為等同變化的等效實(shí)施例，但凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的 技術(shù)實(shí)質(zhì)對以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案 的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于其包含多數(shù)條導(dǎo)電條，包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，該些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo)電條相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物的至少一接觸點(diǎn)；一第一驅(qū)動單元與一第一感測單元，該第一驅(qū)動單元選擇性地分別提供一高電位于該些導(dǎo)電條，并且該第一感測單元感測被該第一驅(qū)動單元提供該高電位的導(dǎo)電條，以感測出多數(shù)條被觸壓的導(dǎo)電條，該些被觸壓導(dǎo)電條相迭之的相迭區(qū)為該可能被觸壓相迭區(qū)，當(dāng)被該第一驅(qū)動單元提供一高電位的導(dǎo)電條為該第一導(dǎo)電條時，該第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有第二導(dǎo)電條，并且當(dāng)被該第一驅(qū)動單元提供該高電位的導(dǎo)電條為該第二導(dǎo)電條時，該第一驅(qū)動單元提供一低電位于所有第一導(dǎo)電條；一第二驅(qū)動單元與一第二感測單元，在該第二驅(qū)動單元選擇性地分別提供該高電位與該低電位于相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)該的第一、第二導(dǎo)電條時，該第二感測單元感測被該第二驅(qū)動單元提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)；及一第三驅(qū)動單元與一第三感測單元，該第三驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的該些導(dǎo)電條，當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被該第三驅(qū)動單元驅(qū)動時，該第三感測單元感測該對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該第三驅(qū)動單元提供該高電位與該低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。
2.如權(quán)利要求1所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第一、第二感測單元是感 測一提升電阻一端之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該第一、第二驅(qū)動單元是通過該提升電阻提供 該高電位。
3.如權(quán)利要求1所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第三感測單元是感測被感 測導(dǎo)電條一端或兩端之電位。
4.如權(quán)利要求1所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū) 動單元、該第三驅(qū)動單元提供之高電位分別為不同電位，并且該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動 單元、該第三驅(qū)動單元提供之低電位分別為不同電位。
5.如權(quán)利要求1所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第三感測單元在該對導(dǎo)電 條中感測之導(dǎo)電條為第一導(dǎo)電條時，該第三感測單元依據(jù)感測到之電位感測出一二維座標(biāo) 之一第一一維座標(biāo)，當(dāng)該第三感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時，該 第三感測單元依據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。
6.一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于其包含多數(shù)條導(dǎo)電條，包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，該些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多數(shù)個相 迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo)電條相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物之至少一 接觸點(diǎn)；一第一驅(qū)動單元與一第一感測單元，在該第一驅(qū)動單元分別提供一高電位與一低電位 于相迭于各相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條時，該第二感測單元感測被該第一驅(qū)動單元提供 該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)；及一第二驅(qū)動單元與一第二感測單元，該第二驅(qū)動單元分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū) 的各導(dǎo)電條，當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被該第二驅(qū)動單元驅(qū)動時，該 第二感測單元感測該對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該第二驅(qū)動單元提供該高電位與該低電位于被驅(qū)動的導(dǎo)電條。
7.如權(quán)利要求6所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第一感測單元是感測一提 升電阻兩端之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該第一驅(qū)動單元是通過該提升電阻提供該高電位。
8.如權(quán)利要求6所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第二感測單元是感測被感 測導(dǎo)電條一端或兩端的電位。
9.如權(quán)利要6所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動 單元提供之高電位分別為不同電位，并且該第一驅(qū)動單元、該第二驅(qū)動單元提供之低電位 分別為不同電位。
10.如權(quán)利要求6所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第二感測單元在該對導(dǎo) 電條中感測之導(dǎo)電條為第一導(dǎo)電條時，該第二感測單元依據(jù)感測到之電位感測出一二維座 標(biāo)之一第一一維座標(biāo)，當(dāng)該第三感測單元在該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時， 該第三感測單元依據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。
11.一種電阻式多點(diǎn)觸控方法，其特征在于其包含感測一電阻式多點(diǎn)觸控裝置上至少一被觸壓相迭區(qū)，其中該電阻式多點(diǎn)觸控裝置包含 多數(shù)條導(dǎo)電條，該些導(dǎo)電條包含多數(shù)條第一、第二導(dǎo)電條，該些第一、第二導(dǎo)電條相迭于多 數(shù)個相迭區(qū)，當(dāng)至少一觸碰物觸壓時，該些第一、第二導(dǎo)電條相接觸形成相應(yīng)于各觸碰物之 至少一接觸點(diǎn)；及依據(jù)各被觸壓相迭區(qū)感測該至少一接觸點(diǎn)。
12.如權(quán)利要求11所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該至少一被觸壓相迭區(qū)之 感測包含分別提供該一高電位與一低電位于相迭于各相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條；及 當(dāng)相迭于任一相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條時被分別提供該高電位與該低電位時，感 測被提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)。
13.如權(quán)利要求12所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該第一導(dǎo)電條的感測是感 測一提升電阻一端之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該高電位是通過該提升電阻提供。
14.如權(quán)利要求11所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該至少一接觸點(diǎn)的感測包含分別驅(qū)動相迭于各被觸壓相迭區(qū)的各導(dǎo)電條，被驅(qū)動的導(dǎo)電條的兩端分別被提供一高 電位與一低電位；當(dāng)相迭于任一被觸壓相迭區(qū)的一對導(dǎo)電條之一被驅(qū)動時，感測該對導(dǎo)電條中未被驅(qū)動 導(dǎo)電條，以感測出各接觸點(diǎn)位置，其中該被感測導(dǎo)電條的感測是感測該感測導(dǎo)電條一端或 兩端的電位。
15.如權(quán)利要求14所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于當(dāng)在該對導(dǎo)電條中感測 之導(dǎo)電條為第一導(dǎo)電條時，依據(jù)感測到之電位感測出一二維座標(biāo)之一第一一維座標(biāo)，當(dāng)在 該對導(dǎo)電條中感測之導(dǎo)電條為第二導(dǎo)電條時，依據(jù)感測到之電位感測出該二維座標(biāo)之一第二一維座標(biāo)。
16.如權(quán)利要求11所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于更包含感測該電阻式多點(diǎn) 觸控裝置上多數(shù)條被觸壓導(dǎo)電條，其中該至少一被觸壓相迭區(qū)是依據(jù)該些被觸壓導(dǎo)電條來 感測。
17.如權(quán)利要求16所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于該些被觸壓導(dǎo)電條的感測 包含分別提供一高電位于該些導(dǎo)電條；當(dāng)被提供該高電位的導(dǎo)電條為該第一導(dǎo)電條時，提供一低電位于該些第二導(dǎo)電條；當(dāng)被提供該高電位的導(dǎo)電條為該第二導(dǎo)電條時，提供該低電位于該些第一導(dǎo)電條；感測被提供該高電位的導(dǎo)電條，以感測出該些被觸壓導(dǎo)電條。
18.如權(quán)利要求17所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于其中被提供高電位的導(dǎo)電 條的感測是感測一提升電阻一端之電流、電位或邏輯準(zhǔn)位，該高電位是通過該提升電阻提 {共。
19.如權(quán)利要求17所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于其中該至少一被觸壓感測 區(qū)之感測包含分別提供該高電位與該低電位于相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條， 其中該些被觸壓導(dǎo)電條相迭于各可能被觸壓相迭區(qū)；當(dāng)相迭于任一可能被觸壓相迭區(qū)的該第一、第二導(dǎo)電條時被分別提供該高電位與該低 電位時，感測被提供該高電位的該第一導(dǎo)電條，以感測出各被觸壓相迭區(qū)。
20.如權(quán)利要求16所述的電阻式多點(diǎn)觸控裝置，其特征在于其中該些被觸壓導(dǎo)電條 相迭之可能被觸壓相迭區(qū)小于或等于三個時，該至少一被觸壓相迭區(qū)為該可能被觸壓相迭 區(qū)。
全文摘要
本發(fā)明揭露一種電阻式多點(diǎn)觸控裝置與方法，由多數(shù)條導(dǎo)電條相迭形成多數(shù)個相迭區(qū)，相迭的導(dǎo)電條間由多數(shù)個絕緣粒子相隔，先通過感測出被觸壓的相迭區(qū)，再依據(jù)被觸壓相迭區(qū)分別感測出位于被觸壓相迭區(qū)上的接觸點(diǎn)。被觸壓相迭區(qū)的感測可以是先感測被觸壓的導(dǎo)電條，依據(jù)被觸壓的導(dǎo)電條判斷出可能被觸壓相迭區(qū)，再由可能被觸壓相迭區(qū)感測出被觸壓相迭區(qū)。本發(fā)明的驅(qū)動與感測方式不會因?yàn)樵谇暗慕佑|點(diǎn)過多而造成在后感測的接觸點(diǎn)訊號變得微弱，亦不需針對不同的感測區(qū)給予不同的判斷標(biāo)準(zhǔn)。此外，本發(fā)明不僅能感測出哪些相迭區(qū)被觸壓，更可判斷出接觸點(diǎn)位于相迭區(qū)內(nèi)的位置，亦即本發(fā)明可以用較少的導(dǎo)電條得到更高的解析度。
文檔編號G06F3/047GK101866253SQ20091013448
公開日2010年10月20日 申請日期2009年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月20日
發(fā)明者葉尚泰, 張欽富 申請人:禾瑞亞科技股份有限公司