專利名稱：檢測(cè)不合理元器件擺放約束的方法與裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種檢測(cè)用戶對(duì)元器件擺放的不合理約束的方法與裝置，尤其是關(guān) 于一種自動(dòng)檢測(cè)集成電路(integrated circuit, IC)設(shè)計(jì)中用戶自定義的不合理的元器件 擺放約束的方法與裝置。
背景技術(shù)：
在IC設(shè)計(jì)中，通常依用戶的需求設(shè)計(jì)工具會(huì)按其默認(rèn)的設(shè)置進(jìn)行操作。以元器件 的擺放為例，較普遍的設(shè)計(jì)方法如圖1所示。首先在一前端設(shè)計(jì)的步驟700中生成一門級(jí)網(wǎng) 表，然后經(jīng)后端設(shè)計(jì)的擺放優(yōu)化步驟701、時(shí)鐘樹建立與優(yōu)化步驟702和連線優(yōu)化步驟703 等后端設(shè)計(jì)流程得到最終的IC設(shè)計(jì)結(jié)果。該設(shè)計(jì)方法簡便快捷，然在很多情況下，用戶認(rèn) 為設(shè)計(jì)工具的默認(rèn)設(shè)計(jì)不能涵蓋一些特別的需要，希望能根據(jù)自己的需求判斷加入一些特 殊的約束以尋求獲得更接近預(yù)期的設(shè)計(jì)結(jié)果。為滿足上述需求，圖2所示是一種可供用戶自定義的IC設(shè)計(jì)方法。在前端設(shè)計(jì)的 步驟710中以默認(rèn)設(shè)置生成一門級(jí)網(wǎng)表；在步驟711中接收用戶自定義的元器件擺放約束， 在步驟712中將其與默認(rèn)設(shè)置生成的門級(jí)網(wǎng)表一并輸入自定義的門級(jí)網(wǎng)表生成裝置，如編 譯器中；由該編譯器生成帶有用戶自定義的元器件擺放約束的門級(jí)網(wǎng)表。接著進(jìn)入后端設(shè) 計(jì)流程，經(jīng)擺放優(yōu)化步驟713、時(shí)鐘樹建立與優(yōu)化步驟714，及連線優(yōu)化步驟715等得到最終 的IC設(shè)計(jì)結(jié)果。通過該可自定義的IC設(shè)計(jì)工具，用戶可加入自定義的元器件擺放約束來 控制設(shè)計(jì)的集成電路中的元器件以一種預(yù)期的排列方式組合在一起放置，希望藉此獲取更 優(yōu)異的設(shè)計(jì)結(jié)果。但實(shí)際上，在很多情況下用戶自定義的元器件擺放約束并不會(huì)全部起到 改善作用，其中甚至可能會(huì)有一部分不合理的約束導(dǎo)致設(shè)計(jì)結(jié)果的惡化。然而，一直以來業(yè) 界的設(shè)計(jì)工具并沒有對(duì)用戶的這部分自定義約束提供甄別功能，用戶只能憑自己的經(jīng)驗(yàn)判 斷是否加入了不合理的約束，并手動(dòng)檢出；因而難以保證理想的設(shè)計(jì)結(jié)果和設(shè)計(jì)效率。鑒于上述原因，現(xiàn)有的IC設(shè)計(jì)方法與裝置仍需進(jìn)一步完善，如何自動(dòng)檢測(cè)出用戶 自定義的不合理的元器件擺放約束具有極大的商業(yè)價(jià)值。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明致力于提供一種自動(dòng)檢測(cè)IC設(shè)計(jì)中用戶自定義的不合理的元器件擺放約 束的方法與裝置，其在滿足用戶自定義需求的同時(shí)，可避免用戶盲目設(shè)置造成的設(shè)計(jì)結(jié)果惡化。本發(fā)明提供一種檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，包含如下步驟產(chǎn)生一基 準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)；產(chǎn)生一自定義集成電路設(shè)計(jì)，其較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)加入了至少一用 戶自定義的元器件擺放約束；將該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)相比較，以 一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義集成電路設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑變差的路 徑；及找出該變差路徑上所有屬于該至少一用戶自定義的元器件擺放約束定義的元器件， 從而找到該至少一用戶自定義的元器件擺放約束中不合理的元器件擺放約束。
在一實(shí)施例中，該產(chǎn)生一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)步驟進(jìn)一步包含由一前期設(shè)計(jì)流程 生成一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；對(duì)該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)一后端設(shè)計(jì)流程得到該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)。 該產(chǎn)生一自定義集成電路設(shè)計(jì)步驟進(jìn)一步包含接收該至少一用戶自定義的元器件擺放約 束；由該至少一用戶自定義的元器件擺放約束與該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表生成一帶有用戶自定義的 元器件擺放約束的門級(jí)網(wǎng)表；對(duì)該帶有用戶自定義的元器件擺放約束的門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)該后 端設(shè)計(jì)流程得到該自定義集成電路設(shè)計(jì)。該后期設(shè)計(jì)流程可以是集成電路設(shè)計(jì)中后端設(shè)計(jì) 步驟中的任意步驟，該任意步驟可以是元器件擺放優(yōu)化步驟及之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、 或時(shí)鐘樹建立和優(yōu)化步驟及之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、或連線優(yōu)化步驟及之前的所有后端 設(shè)計(jì)步驟。該判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的時(shí)間 余量，其中時(shí)間余量的值越小表示路徑越差。該判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定 義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的實(shí)際長度，其中該實(shí)際長度的值越大表示路徑越差；或是該 基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的電容值，其中該電容值越大表 示路徑越差；或是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的元器件的 數(shù)目，其中數(shù)目越大表示路徑越差。對(duì)應(yīng)本發(fā)明的方法，本發(fā)明還提供一種檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置。該 檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置包含一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成器，產(chǎn)生一基準(zhǔn)集成電 路設(shè)計(jì)；一自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器，產(chǎn)生較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自 定義的元器件擺放約束的一自定義集成電路設(shè)計(jì)；一比較器，與該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成 器與該自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器相連接，并接收該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電 路設(shè)計(jì)；將該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)相比較，以一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自 定義集成電路設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的變差路徑；及一定位器，與該 計(jì)較器相連接并接收該比較器的比較結(jié)果；及找出該變差路徑上所有由該至少一用戶自定 義的元器件擺放約束設(shè)置的元器件，從而找到該至少一用戶自定義的元器件擺放約束中不 合理的元器件擺放約束。在一實(shí)施例中，該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成器進(jìn)一步包含一第一接收器，接收一前 期設(shè)計(jì)流程生成的一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；一基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器，對(duì)該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)一后端設(shè) 計(jì)流程從而得到該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)。該自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器進(jìn)一步包含一第二 接收器，接收該至少一用戶自定義的元器件擺放約束與該前期設(shè)計(jì)流程生成的基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng) 表；一自定義門級(jí)網(wǎng)表生成器，將該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與該至少一用戶自定義的元器件擺放約 束生成一帶有用戶自定義的元器件擺放約束的門級(jí)網(wǎng)表；及一自定義后端設(shè)計(jì)器，與該基 準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器同步；對(duì)該帶有用戶自定義的元器件擺放約束的門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)該后端設(shè)計(jì)流 程得到該自定義集成電路設(shè)計(jì)。本發(fā)明較現(xiàn)有技術(shù)可自動(dòng)檢出用戶自定義的不合理的元器件擺放約束，檢測(cè)結(jié)果 不必依賴用戶的經(jīng)驗(yàn)，因而不會(huì)錯(cuò)檢、漏檢；進(jìn)而使用戶自定義的元器件擺放約束的優(yōu)化作 用最大化，設(shè)計(jì)結(jié)果更符合預(yù)期，設(shè)計(jì)效率高。


圖1是一未加入用戶自定義的元器件擺放約束的IC設(shè)計(jì)方法的流程圖；圖2是一加入用戶自定義的元器件擺放約束的IC設(shè)計(jì)方法的流程圖3是一根據(jù)本發(fā)明的自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的方法 的流程圖；圖4是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理RP約束的方法的流 程圖；圖5是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例獲得的一基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)的示意圖；圖6是根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例獲得的一自定義IC設(shè)計(jì)的示意圖；圖7是根據(jù)本發(fā)明的一自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的裝置 的結(jié)構(gòu)框圖；圖8是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器的結(jié)構(gòu)框圖；圖9是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例的自定義IC設(shè)計(jì)生成器的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式為便于更好的理解本發(fā)明的精神，以下結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例對(duì)其作進(jìn)一步說 明。本發(fā)明提供一種自動(dòng)檢測(cè)IC設(shè)計(jì)中用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的方法與裝置。如圖3所示，在一實(shí)施例中本發(fā)明的自動(dòng)檢測(cè)IC設(shè)計(jì)中用戶自定義的不合理元器 件擺放約束的方法，以路徑(path)的好壞作為評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。首先在步驟10生成一個(gè)基準(zhǔn)IC 設(shè)計(jì)，其元器件擺放約束完全是基于設(shè)計(jì)工具的默認(rèn)設(shè)置。在步驟11生成一個(gè)自定義IC設(shè) 計(jì)，該自定義IC設(shè)計(jì)較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自定義的元器件擺放約束。在步 驟12中將該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與該自定義IC設(shè)計(jì)相比較，根據(jù)一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義IC設(shè) 計(jì)中所有較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)的路徑變差的路徑。接著在步驟13，找出自定義IC設(shè)計(jì) 中變差路徑上所有由該用戶自定義的元器件擺放約束設(shè)置的元器件；如此即可定位找到對(duì) 應(yīng)的用戶自定義的不合理的元器件擺放約束。根據(jù)本發(fā)明的自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的方法，其中路徑 好壞的判斷標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)實(shí)際情況可以有多種選擇。例如，比較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)中 對(duì)應(yīng)路徑上的時(shí)間余量(timing slack)值，其中時(shí)間余量的值越小表示路徑越差。例如， 比較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的實(shí)際長度，其中路徑的長度越大表示路徑 越差。再例如，比較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的電容值，其中電容越大表 示路徑越差。或例如，比較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)中相應(yīng)路徑上的元器件的數(shù)目，元 器件的數(shù)目越大表示路徑越差。具體的，如圖4所示，根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，在一 IC設(shè)計(jì)方法中，用戶可通過設(shè) 置自定義的元器件相關(guān)擺放(RP，relative placement)約束，預(yù)期獲得的IC設(shè)計(jì)中元器件 按該自定義RP約束的排列方式組合放置在一起。首先在步驟20，需要分別建立一個(gè)按系統(tǒng)默認(rèn)設(shè)置進(jìn)行元器件擺放的基準(zhǔn)IC設(shè) 計(jì)和一個(gè)加入了用戶自定義的RP約束的自定義IC設(shè)計(jì)。其中建立該未加入用戶自定義的 RP約束的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)包含在步驟200接收在一前期的前端設(shè)計(jì)流程中依默認(rèn)設(shè)置獲得 的一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；在步驟201對(duì)該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行一后續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程。而建立該 加入了用戶自定義的RP約束的自定義IC設(shè)計(jì)包含在步驟202接收用戶自定義的RP約束與該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表，在步驟203將該由前期設(shè)計(jì)生成的基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與用戶自定義的RP約 束一并輸入相應(yīng)的IC設(shè)計(jì)工具中，如IC編譯器(Compiler)進(jìn)行編譯，從而基于該基準(zhǔn)門 級(jí)網(wǎng)表與用戶自定義的RP約束產(chǎn)生一自定義門級(jí)網(wǎng)表；接著在步驟204對(duì)該自定義門級(jí)網(wǎng) 表進(jìn)行后續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程。當(dāng)然該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與自定義門級(jí)網(wǎng)表所繼續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程必須是相同的，以 保證基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)的可比性。在實(shí)際應(yīng)用中，該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC 設(shè)計(jì)可以是集成電路設(shè)計(jì)中后端設(shè)計(jì)流程中任意一個(gè)相同步驟后的結(jié)果，如可以是經(jīng)過擺 放優(yōu)化步驟之后的設(shè)計(jì)結(jié)果、時(shí)鐘樹建立與優(yōu)化步驟之后的設(shè)計(jì)結(jié)果，及連線優(yōu)化步驟之 后的設(shè)計(jì)結(jié)果；在擺放優(yōu)化步驟中可以在基本的擺放和優(yōu)化之后，也可以是在多次擺放優(yōu) 化之后。用戶可根據(jù)需要隨意自一后端設(shè)計(jì)流程中選擇設(shè)計(jì)結(jié)果比較。本實(shí)施例中，用戶 是在得到相應(yīng)的基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與自定義門級(jí)網(wǎng)表后，經(jīng)后端設(shè)計(jì)的初始擺放、初始設(shè)計(jì)規(guī) 則檢查(design rule check)優(yōu)化和初始時(shí)鐘樹優(yōu)化三個(gè)步驟后得到相應(yīng)的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì) 與自定義IC設(shè)計(jì)。在步驟21比較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)，找出該自定義IC設(shè)計(jì)中所有比 該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中相應(yīng)路徑變差的路徑。如選取時(shí)間余量為判斷標(biāo)準(zhǔn)，找出其中該自定義IC 設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中相應(yīng)路徑具有更大時(shí)間余量的路徑，這些路徑就是因用戶自 定義的RP約束加入而變得惡化。接著在步驟22找出所有位于該變差的路徑上的是由用戶自定義的RP約束設(shè)置的 元器件，由該元器件找到相應(yīng)的用戶自定義RP約束，其即是不合理的用戶自定義RP約束。圖5與圖6分別是根據(jù)本發(fā)明一實(shí)施例所獲得的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40與自定義IC設(shè) 計(jì)41的示意圖。如圖5所示，該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40包含若干端腳和若干元器件，其中元器件的擺放是 按設(shè)計(jì)工具默認(rèn)設(shè)置確定的。以其中的兩條路徑為例，其中第一路徑50以一端腳500為 起點(diǎn)，依次包含元器件501、502、503，第二路徑51以另一端腳510為起點(diǎn)，依次包含元器件 511、512、513、514。如圖6所示，該自定義IC設(shè)計(jì)41包含與圖5中基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40中同樣的端腳和 元器件，其中部分元器件的擺放是根據(jù)用戶自定義的RP約束設(shè)置的。具體的，用戶自定義 的RP約束設(shè)置了兩個(gè)自定義元器件組52、53 ；—第三路徑55對(duì)應(yīng)基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40中的第 一路徑50，一第四路徑56對(duì)應(yīng)基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)20的第二路徑51 ；而且該第三路徑55中的一 元器件503的位置是由用戶自定義的RP決定的，包含在自定義元器件組53內(nèi)。以時(shí)間余量為判斷標(biāo)準(zhǔn)比較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40與該自定義IC設(shè)計(jì)41中的所有對(duì) 應(yīng)路徑，即比較圖5中的第一路徑50與圖6中的第三路徑55，圖5中的第二路徑51與圖6 中的第四路徑56，可發(fā)現(xiàn)該自定義IC設(shè)計(jì)41中的第三路徑55較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40中的相 應(yīng)路徑——第一路徑50的時(shí)間余量更長，說明該第三路徑55是因加入了用戶自定義的RP 約束而變差的路徑。由于該第三路徑55中的元器件503屬于自定義元器件組53，因此設(shè)置 該自定義元器件組53的用戶自定義RP約束即是造成該第三路徑55變差的不合理的RP約 束ο對(duì)應(yīng)本發(fā)明的方法，本發(fā)明還提供一種自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺 放約束的裝置。
如圖7所示，該檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的裝置6，包含一基準(zhǔn) IC設(shè)計(jì)生成器60、一自定義IC設(shè)計(jì)生成器61、一比較器62，及一定位器63。首先該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器60與一自定義IC設(shè)計(jì)生成器61分別生成一個(gè)基準(zhǔn)IC 設(shè)計(jì)與一自定義IC設(shè)計(jì)。該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)的元器件擺放約束完全是基于設(shè)計(jì)工具的默認(rèn)設(shè) 置，該自定義IC設(shè)計(jì)較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自定義的元器件擺放約束。該比 較器62將該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與該自定義IC設(shè)計(jì)相比較，根據(jù)一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義IC設(shè) 計(jì)中所有較該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)的路徑變差的路徑。接著，由定位器63找出自定義IC設(shè) 計(jì)中變差路徑上所有由該用戶自定義的元器件擺放約束設(shè)置的元器件；如此即可定位找到 用戶自定義的不合理的元器件擺放約束。具體的，根據(jù)本發(fā)明的一實(shí)施例，在一檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約 束的裝置6中，用戶可通過設(shè)置自定義的元器件相關(guān)擺放(RP，relative placement)約束， 預(yù)期獲得的IC設(shè)計(jì)中元器件按該RP約束規(guī)定的排列方式組合放置在一起。圖8、圖9是該自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的RP約束的裝置6的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生 成器60與自定義IC設(shè)計(jì)生成器61的結(jié)構(gòu)框圖，其中該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器60是用于建立 一個(gè)按系統(tǒng)默認(rèn)設(shè)置進(jìn)行元器件擺放的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)，該自定義IC設(shè)計(jì)生成器61是用于建 立一個(gè)加入了用戶自定義的RP約束的自定義IC設(shè)計(jì)。如圖8所示，該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器60包含一第一接收器600與一基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì) 器601，其建立該未加入用戶自定義的RP約束的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)包含該第一接收器600接收 在前期的前端設(shè)計(jì)流程中依默認(rèn)設(shè)置獲得的一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；該基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器601對(duì)該 基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行一后續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程。而如圖9所示，該自定義IC設(shè)計(jì)生成器61包含一第二接收器610與一自定義后 端設(shè)計(jì)器611，其建立該加入了用戶自定義的RP約束的自定義IC設(shè)計(jì)包含該第二接收器 610接收用戶自定義的RP約束與該由前期設(shè)計(jì)生成的基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表，將該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與 用戶自定義的RP約束一并輸入該自定義門級(jí)網(wǎng)表生成器611中，從而由該自定義門級(jí)網(wǎng)表 生成器611基于該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與用戶自定義的RP約束生成一自定義門級(jí)網(wǎng)表；接著由一 自定義后端設(shè)計(jì)器612對(duì)該自定義門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行后續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程。由于該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與自定義門級(jí)網(wǎng)表所繼續(xù)的后端設(shè)計(jì)流程必須是相同的，以 保證產(chǎn)生的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)的可比性。在本實(shí)施例中，基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器60 的基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器601與自定義IC設(shè)計(jì)生成器61的自定義后端設(shè)計(jì)器612之間是通過同 步信號(hào)控制的，以保證該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)僅存在用戶自定義的RP約束這一區(qū) 別。在實(shí)際應(yīng)用中，只需保證該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)40與自定義IC設(shè)計(jì)41所經(jīng)歷的后端設(shè)計(jì)流 程相同即可，可以是后端設(shè)計(jì)流程中任意一個(gè)相同步驟后的結(jié)果，如可以在基本的擺放和 優(yōu)化之后，也可以是在多次擺放優(yōu)化之后。用戶可根據(jù)需要隨意自一后端設(shè)計(jì)流程中選擇 設(shè)計(jì)結(jié)果比較。例如，用戶可以是在得到相應(yīng)的基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與自定義門級(jí)網(wǎng)表后，經(jīng)后端 設(shè)計(jì)的初始擺放、初始設(shè)計(jì)規(guī)則檢查優(yōu)化和初始時(shí)鐘樹優(yōu)化三個(gè)步驟后得到相應(yīng)的基準(zhǔn)IC 設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)。該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)生成器60生成的基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)與自定義IC設(shè)計(jì)生成器所生成的自 定義IC設(shè)計(jì)將輸入比較器62進(jìn)行比較，由比較器以一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義IC設(shè)計(jì)41 中所有比該基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中相應(yīng)路徑變差的路徑。如比較器62可以選取時(shí)間余量為判斷標(biāo)準(zhǔn)，找出該自定義IC設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)IC設(shè)計(jì)中相應(yīng)路徑具有更大時(shí)間余量的路徑，這些 路徑就是因用戶自定義的RP約束加入而變得惡化。接著定位器63根據(jù)比較器62的比較結(jié)果找出所有位于該變差的路徑上由用戶自 定義的RP約束設(shè)置的元器件，再由該元器件找到相應(yīng)的用戶自定義RP約束，其即是不合理 的用戶自定義RP約束。本發(fā)明的自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理的元器件擺放約束的方法與裝置，在找出 不合理的用戶自定義的元器件擺放約束后，可通知用戶剔除這些不合理的元器件擺放約束 重新生成自定義門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行后續(xù)設(shè)計(jì)，從而得到最優(yōu)化的元器件擺放方案。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明可自動(dòng)檢測(cè)出用戶自定義的不合理的元器件擺放約束， 使得用戶可得到更符合預(yù)期的集成電路設(shè)計(jì)，而不必?fù)?dān)心自定義可能造成的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)惡 化；且較手動(dòng)檢查定位不合理的元器件擺放約束，極大提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確率與效率。本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特點(diǎn)已揭示如上，然而熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員仍可能基 于本發(fā)明的教示及揭示而作種種不背離本發(fā)明精神的替換及修飾。因此，本發(fā)明的保護(hù)范 圍應(yīng)不限于實(shí)施例所揭示的內(nèi)容，而應(yīng)包括各種不背離本發(fā)明的替換及修飾，并為本專利 申請(qǐng)權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于包含如下步驟產(chǎn)生一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)；產(chǎn)生一自定義集成電路設(shè)計(jì)，其較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自定義的元 器件擺放約束；將該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)相比較，以一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義 集成電路設(shè)計(jì)中所有較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑變差的路徑；及找出該變差路徑上所有由該至少一用戶自定義的元器件擺放約束設(shè)置的元器件，從而 找到該至少一用戶自定義的元器件擺放約束中不合理的元器件擺放約束。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該產(chǎn) 生一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)步驟進(jìn)一步包含接收由一前期設(shè)計(jì)流程生成的一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；及對(duì)該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)一后期設(shè)計(jì)流程得到該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該產(chǎn) 生一自定義集成電路設(shè)計(jì)步驟進(jìn)一步包含接收該至少一用戶自定義的元器件擺放約束；接收由該前期設(shè)計(jì)流程生成的該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；基于該至少一用戶自定義的元器件擺放約束與該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表生成一自定義門級(jí)網(wǎng) 表；及對(duì)該自定義門級(jí)網(wǎng)表繼續(xù)該后期設(shè)計(jì)流程得到該自定義集成電路設(shè)計(jì)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3之一所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于 其中該后期設(shè)計(jì)流程可以是集成電路設(shè)計(jì)中后端設(shè)計(jì)步驟中的任意步驟。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該任 意步驟可以是元器件擺放優(yōu)化步驟及其之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、或時(shí)鐘樹建立和優(yōu)化步 驟及其之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、或連線優(yōu)化步驟及其之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該判 斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的時(shí)間余量，其中時(shí)間 余量的值越小表示路徑越差。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該判 斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的實(shí)際長度，其中該實(shí) 際長度的值越大表示路徑越差。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該判 斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的電容值，其中該電 容值越大表示路徑越差。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的方法，其特征在于其中該判 斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的元器件的數(shù)目，其 中數(shù)目越大表示路徑越差。
10.一種檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于包含一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成器，產(chǎn)生一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)；一自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器，產(chǎn)生一自定義集成電路設(shè)計(jì)，其較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自定義的元器件擺放約束；一比較器，與該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成器及該自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器相連接；將 該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)相比較，以一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義集成電 路設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的變差路徑；及一定位器，與該計(jì)較器相連接并接收該比較器的比較結(jié)果，找出該變差路徑上所有由 該至少一用戶自定義的元器件擺放約束設(shè)置的元器件，從而定位找到該至少一用戶自定義 的元器件擺放約束中不合理的元器件擺放約束。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)生成器進(jìn)一步包含一第一接收器，接收一前期設(shè)計(jì)流程生成的一基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；及一基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器，對(duì)該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行一后期設(shè)計(jì)流程從而得到該基準(zhǔn)集成電路 設(shè)計(jì)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 自定義集成電路設(shè)計(jì)生成器進(jìn)一步包含一第二接收器，接收該至少一用戶自定義的元器件擺放約束及該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表；一自定義門級(jí)網(wǎng)表生成器，基于該基準(zhǔn)門級(jí)網(wǎng)表與該至少一用戶自定義的元器件擺放 約束生成一自定義門級(jí)網(wǎng)表；及一自定義后端設(shè)計(jì)器，與該基準(zhǔn)后端設(shè)計(jì)器同步；對(duì)該自定義門級(jí)網(wǎng)表進(jìn)行該后期設(shè) 計(jì)流程得到該自定義集成電路設(shè)計(jì)。
13.根據(jù)權(quán)利要求11或12之一所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在 于其中該后期設(shè)計(jì)流程可以是集成電路設(shè)計(jì)中后端設(shè)計(jì)步驟中的任意步驟。
14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 任意步驟可以是元器件擺放優(yōu)化步驟及之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、或時(shí)鐘樹建立和優(yōu)化步 驟及之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟、或連線優(yōu)化步驟及之前的所有后端設(shè)計(jì)步驟。
15.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的時(shí)間余量，其中時(shí) 間余量的值越小表示路徑越差。
16.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑的實(shí)際長度，其中該 實(shí)際長度的值越大表示路徑越差。
17.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的電容值，其中該 電容值越大表示路徑越差。
18.根據(jù)權(quán)利要求10所述的檢測(cè)不合理的元器件擺放約束的裝置，其特征在于其中該 判斷標(biāo)準(zhǔn)是該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑上的元器件的數(shù)目， 其中元器件的數(shù)目越大表示路徑越差。
全文摘要
本發(fā)明提供一種自動(dòng)檢測(cè)用戶自定義的不合理RP約束的方法與裝置，其中該檢測(cè)方法包含分別產(chǎn)生一基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與一自定義集成電路設(shè)計(jì)，該自定義集成電路設(shè)計(jì)較該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)加入了至少一用戶自定義的元器件擺放約束；將該基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)與該自定義集成電路設(shè)計(jì)相比較，以一判斷標(biāo)準(zhǔn)找出該自定義集成電路設(shè)計(jì)中所有較基準(zhǔn)集成電路設(shè)計(jì)中對(duì)應(yīng)路徑變差的路徑；然后找出該變差路徑上所有屬于該至少一用戶自定義的元器件擺放約束定義的元器件，從而找到該至少一用戶自定義的元器件擺放約束中不合理的元器件擺放約束。本發(fā)明具有檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確、檢測(cè)效率高，設(shè)計(jì)結(jié)果更符合預(yù)期的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G06F17/50GK102054080SQ20091021139
公開日2011年5月11日 申請(qǐng)日期2009年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2009年10月30日
發(fā)明者幸波, 石國語 申請(qǐng)人:新思科技(上海)有限公司