專利名稱：一種背板測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電子設備測試領(lǐng)域，特別涉及一種背板測試方法。
背景技術(shù)：
電子技術(shù)中，將用于連接多個電路板以實現(xiàn)系統(tǒng)功能的基體電路板稱為背板，它 是提供集成、轉(zhuǎn)換功能的印制電路板，是印制電路板制造業(yè)中頗具專業(yè)化性質(zhì)的產(chǎn)品。與一 般的核心功能電路板不同，背板通常不需要具備強大的運算、處理功能，但要求它能夠承載 設不同的功能模塊，因此背板上的電路網(wǎng)絡和連接器件密集，且其電磁兼容性能有特殊的 要求。由于背板上的電路密集而繁雜，為保證產(chǎn)品的質(zhì)量、降低產(chǎn)品的故障率，在生產(chǎn)、維護 過程中進行背板測試是非常必要的檢測手段。背板測試的任務是測試背板上各個端子的網(wǎng) 絡關(guān)系，確定其間的短路、斷路阻抗情況是否處于“正常”狀態(tài)，以查找電路缺陷、判斷產(chǎn)品 質(zhì)量。在現(xiàn)有技術(shù)中，外觀測試法是常用的背板測試手段之一，該方法通過人工目測，從 外觀上判斷電路的開斷以及連接器是否安裝正確；但是，外觀測試法的測試效率低、故障檢 出率低、對測試員工要求較高、工作強度大，對于電路比較復雜的背板更是顯得力不從心， 不適合大批量生產(chǎn)的檢測。因此，依靠計算機設備控制測試儀器進行的自動化測試方法也 被廣泛的應用于生產(chǎn)和維護的背板測試中，其中最常用的就是飛針測試法。飛針測試法是 利用4支獨立控制的探針移動到待測背板的端子上進行測試，其具體測試流程是將1支 探針移動到背板中的某一指定端子上，另3支探針依次其它各端子與該指定端子之間的開 路/短路情況，進而獲知該指定端子的電路網(wǎng)絡狀態(tài)；然后，以背板中另一端子作為新的指 定端子，利用同樣的方法測試其它各端子與新的指定端子之間的電路網(wǎng)絡狀態(tài)……如此依 次進行，直至測試獲知背板中所有端子的電路網(wǎng)絡狀態(tài)，即完成測試。飛針測試法的最大好 處就是，測試由計算機和飛針測試機自動完成，人工干預少；并且針對每一個指定的端子都 采用全面覆蓋測試的方式，測試其與其它所有端子之間的開路/短路關(guān)系，漏檢率低。但同 時，由于飛針測試機僅有4支探針，計算機每發(fā)送一次測試指令最多只能測得指定端子與 其他3個端子之間的電連接關(guān)系，因此測試一個指定端子與其它各個端子之間的電路網(wǎng)絡 狀態(tài)通常需要計算機反復的發(fā)送多次測試指令，測試控制過程復雜，不僅為計算機控制程 序的編寫帶來困難，還在一定程度上影響了計算機的執(zhí)行效率；并且飛針測試法采用針對 每個指定端子均采用全面覆蓋的測試方式，導致整過測試過程存在兩兩端子之間多次重復 測試的情況，背板測試時間比較長，難以滿足大批量測試的需求。

發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，本發(fā)明的目的在于提供一種測試控制過程簡單，測試 效率較高，適合大批量測試的需求的背板測試方法。本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的一種背板測試方法，其特征在于由計算機發(fā)送測試 指令，測試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測背板各個端子上的接口適配器進行測試；具體包括如下步驟a)計算機采集多種型號的背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，用采集的標準電路網(wǎng)絡關(guān) 系表建立標準數(shù)據(jù)庫；b)測試控制模塊控制各個接口適配器進行初始化，將待測背板中各個端子設置為 初始電平；c)計算機指定待測背板中的一個端子為主測試端子，發(fā)送測試指令；d)測試控制模塊接收測試指令，控制接口適配器進行測試；接口適配器將主測試 端子設置為測試電平，并對待測背板中除主測試端子以及已確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子以外 的其它各個端子進行電平測試，將各電平測試結(jié)果一并發(fā)送至測試控制模塊；測試控制模 塊再對電平測試結(jié)果進行解析處理，得到主測試端子與其它端子之間的電路網(wǎng)絡關(guān)系信 息，并將此電路網(wǎng)絡關(guān)系信息傳送至計算機；e)計算機累積存儲所收到的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，并從中分析待測背板中是否存在 未確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子；若存在，指定一個未確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子為新的測試端 子，再次發(fā)送測試指令，重復步驟d)；若不存在，則執(zhí)行步驟f)；f)計算機將累積存儲的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息整合處理為待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系 表，并從標準數(shù)據(jù)庫中調(diào)用與待測背板的型號相對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，將待測背板 的電路網(wǎng)絡關(guān)系表與其對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析處理，得出分析結(jié)果。進一步地，建立分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫，將步驟f)所得的分析結(jié)果儲存在分析結(jié)果數(shù)據(jù) 庫中。所述步驟a)中標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表的采集可通過手工錄入的方式獲得，還可通 過測試標準背板的測試數(shù)據(jù)獲得。相比現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明具有下述優(yōu)點(1)采用了避免重復測試的過程控制模式，簡化了測試控制過程；(2)計算機每發(fā)送一次測試指令后便能夠測試得到待測背板中的一個電路網(wǎng)絡的 測試數(shù)據(jù)，進一步縮短了背板測試時間，提高了測試效率，適合大批量測試的需求；(3)本發(fā)明方法成本低，并且可采用“學習”的方式向標準數(shù)據(jù)庫中錄入不同型號 的背板標準信息，可大大減少解決編程的時間和復雜度，使得測試系統(tǒng)具備更好的自適應。


圖1為本發(fā)明方法所采用的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；圖2為H001型背板的電路網(wǎng)絡結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進一步說明如下圖1是本發(fā)明方法所采用的測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。該測試系統(tǒng)包括計算機、測試 控制模塊和接口適配器；測試控制模塊分別與計算機和多個接口適配器連接；多個接口適 配器連接于背板的不同槽位中，每個槽位對應一定數(shù)量的端子，從而由這多個接口適配器 連接到背板的各個端子上。計算機中采集、存儲有背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，并發(fā)送測試 指令，對測試所得的電路網(wǎng)絡關(guān)系表與背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析處理得到分析結(jié)果，并存儲分析結(jié)果數(shù)據(jù)以作備錄；測試控制模塊用于收測試指令，并根據(jù)測試指令 控制接口適配器對待測背板上各個端子的電平信號測試過程，并將各個端子的電平信號測 試結(jié)果解析處理為電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，發(fā)送至計算機進行整合和分析處理；接口適配器用 于測試待測背板上各個端子的電平信號，并發(fā)送至測試控制模塊進行解析處理。所有測試 指令都由作為人機交互界面的計算機發(fā)出，送給測試控制模塊，再由測試控制模塊控制接 口適配器進行測試；接口板適配器獲取所有端子的信號電平狀態(tài)并傳送給測試控制模塊， 測試控制模塊將信息解析處理為待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，并發(fā)回計算機；計算機對 測試所得的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息進行整合處理，得到待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表，并將之與 待測背板相應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析，得出分析結(jié)果。計算機主要包括硬件部分和軟件部分。計算機的硬件部分實現(xiàn)計算機的具體功 能，包括必要的計算機系統(tǒng)電路及存儲設備，在存儲設備中建立標準數(shù)據(jù)庫和分析結(jié)果數(shù) 據(jù)庫，分別作為背板測試的標準數(shù)據(jù)存儲單元和分析結(jié)果數(shù)據(jù)存儲單元。標準數(shù)據(jù)庫中預 先存儲了多種型號背板的相關(guān)參數(shù)及其標準數(shù)據(jù)；背板的相關(guān)參數(shù)包括背板的型號、端子 總數(shù)及端子序號、槽位數(shù)量及槽位序號、各個槽位中對應的端子數(shù)量等參數(shù)信息；背板的標 準數(shù)據(jù)可以是與背板型號相對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表或者標準電路網(wǎng)絡圖等，標準數(shù)據(jù) 中記錄了表征背板上各個端子之間標準電連接關(guān)系的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系信息。計算機的軟 件部分提供人機交互界面，它包括數(shù)據(jù)采集模塊、設置模塊、測試模塊和分析模塊；其中，數(shù) 據(jù)采集模塊負責多種型號背板的標準數(shù)據(jù)及其相關(guān)參數(shù)的采集工作，將采集到的數(shù)據(jù)存儲 到標準數(shù)據(jù)庫中；設置模塊實現(xiàn)參數(shù)設置功能，對待測背板的型號、端子總數(shù)及端子序號、 槽位數(shù)量及槽位序號、各個槽位中對應的端子數(shù)量等參數(shù)進行設置；測試模塊發(fā)送含有設 置參數(shù)的測試指令，并且監(jiān)控整個系統(tǒng)的測試進程；分析模塊接收測試所得的電路網(wǎng)絡關(guān) 系信息，將其整合處理為待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表，并根據(jù)所設置的背板類型從標準數(shù) 據(jù)庫中提取相應型號的背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，對待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表與標準 電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析，然后將分析結(jié)果數(shù)據(jù)發(fā)送至人機交互界面顯示輸出，并將 分析結(jié)果數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)存入分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫中。接口適配器是一個數(shù)字化接口單元，集成有電平測試模塊和端子連接器。其中，電 平測試模塊采用的可編程邏輯器件PLD實現(xiàn)，如XC3S1000型可編程邏輯芯片；端子連接器 即為多端口連接器件，其端口位置與背板槽位中的端子位置相匹配。PLD的部分I/O 口作為 數(shù)據(jù)通信端口通過以太網(wǎng)連接到測試控制模塊，以實現(xiàn)高速的數(shù)據(jù)傳輸；部分I/O 口作為 測試端口，通過端子連接器連接到背板的端子上，每個作為測試端口的I/O 口都是雙向I/O 接口，可以三態(tài)輸出，對端子進行電平測試。待測背板的每個槽位對應連接一個接口適配器 進行測試，各個接口適配器的電平測試模塊可為其所在槽位的各個端子分別編制一個端口 地址，用來識別槽位中不同的端子所對應的電平信號。各個接口適配器通過串行數(shù)據(jù)總線 或以太網(wǎng)與測試控制模塊進行通信連接，保證較高的數(shù)據(jù)傳輸速率，以便各個接口適配器 分別將其電平測試結(jié)果一并發(fā)送至測試控制模塊。測試控制模塊是背板端子測試過程的控制器，主要用于解讀、執(zhí)行計算機指令，以 及對接口適配器回傳的測試信息進行解析處理，可采用可編程邏輯器件PLD實現(xiàn)。測試控 制模塊根據(jù)計算機的設置進行測試準備工作，主要是根據(jù)設置的槽位數(shù)量及槽位序號參數(shù) 為連接于待測背板各個槽位上的接口適配器分別編制一個通道地址，以便根據(jù)通道地址和
5各接口適配器編制的端口地址，結(jié)合設置的端子總數(shù)及端子序號、槽位數(shù)量及槽位序號、各 個槽位中對應的端子數(shù)量，通過解析處理得到各個端子在待測背板上的端子序號。在進行 測試準備工作的同時，測試控制模塊控制接口適配器完成初始化，將接口適配器連接的各 端子通過上拉電阻置為初始電平；完成初始化后，測試控制模塊會返回一個準備就緒信號 給計算機，通知計算機可以啟動測試進程。在測試過程中，測試控制模塊接收測試指令，控 制接口適配器進行測試，并對接口適配器發(fā)送來的各個端子的電平測試結(jié)果進行識別解析 處理，識別出每一次測試中哪些端子在同一電路網(wǎng)絡中，進而解析出一條電路網(wǎng)絡關(guān)系信 息，作為待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表的組成元素。測試控制模塊通過串行數(shù)據(jù)總線或以太 網(wǎng)與計算機進行通信連接，接收計算機發(fā)送的測試指令，完成測試控制和測試結(jié)果解析后， 再測試所得的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息發(fā)送給計算機進行整合及對比分析處理。下面以一個簡單的實施例來說明本發(fā)明方法的具體測試過程實施例如圖2所示，待測的H001型背板上只有2個槽位，每個槽位中有6個端子，整個 H001型背板共12個端子，包含5個電路網(wǎng)絡。從圖2中能夠看到，如果按照先從上至下、再 從右至左的順序排列H001型背板的端子序號，其第1和2號端子連接于同一電路網(wǎng)絡，第3 和9號端子連接于同一電路網(wǎng)絡，第4、5、7和8號端子連接于同一電路網(wǎng)絡，第6、10和11 號端子連接于同一電路網(wǎng)絡；第12號端子是孤立端子，其自身構(gòu)成一電路網(wǎng)絡。測試過程按照以下步驟進行首先利用計算機的數(shù)據(jù)采集模塊，采集H001型背板的相關(guān)參數(shù)和標準數(shù)據(jù)。H001 型背板的相關(guān)參數(shù)中，型號即為“H001”;端子總數(shù)12個，按照先從上至下、再從右至左的順 序排列的端子序號分別為第1 12號端子；槽位共2個，從右至左分別為1號槽位和2號 槽位，每個槽位中各6個端子。再根據(jù)H001型背板的電路連接關(guān)系，得到其標準電路網(wǎng)絡 關(guān)系表，形如表1所示表 1 采集到的H001型背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表存儲到標準數(shù)據(jù)庫中。然后，工作人員通過計算機的人機交互界面進行設置，待測的背板型號為H001 型，端子序號按照先從上至下、再從右至左的順序分別為第1 12號端子，共2個槽位，每 個槽位中有6個端子。設置完成后，計算機即將上述設置參數(shù)連同準備測試指令一起發(fā)送給測試控制模塊；測試控制模塊根據(jù)設置參數(shù)編制通道地址，將連接在1號槽位的接口適配器編址 為通道1、連接在2號槽位的接口適配器編址為通道2，而兩個接口適配器各自為其所在槽 位的6個端子分別編制端口地址為端口 1 6，從而，若以“通道-端口”的形式對背板上各 個端子進行編址，HOOl型背板上的第1 12號端子被分別編址為1. 1,1. 2、…、1. 6以及 2. 1,2. 2、…、2. 6 ；同時，測試控制模塊根據(jù)準備測試指令對兩個接口適配器進行初始化，控 制其進入測試準備狀態(tài)，此時，各端子通過上拉電阻都被置為高電平(即初始電平為高電 平)；完成初始化后，測試控制模塊會返回一個準備就緒信號給計算機；計算機收到準備就緒信號，即逐次發(fā)送測試指令，獲取背板上各個端子之間的電 路網(wǎng)絡關(guān)系信息；每次發(fā)送測試指令后，計算機等待獲取該次的測試數(shù)據(jù)，并分析所有已獲 取測試數(shù)據(jù)中已確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子，再發(fā)送下一次測試指令，并在下一次的測試指 令中指示不再對已確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子進行重復測試。具體到本實施例中計算機發(fā) 送第1次測試指令，指示對HOOl型背板的第1號端子進行測試，即進入測試等待狀態(tài)；根據(jù) 第1次測試指令，測試控制模塊以低電平為測試電平，先控制通道1所對應接口適配器的端 口 1(即端子1. 1)為低電平，將除端子1. 1以外的其它端子的電平設置為輸入測試狀態(tài)，讓 接口適配器測試除端子1.1以外的各端子的電平狀態(tài)；兩塊接口適配器將測試所得的各電 平測試結(jié)果一并傳送給測試控制模塊，此次測得只有端子1. 1和1. 2為低電平，其它端子均 為高電平；測試控制模塊獲取上述電平測試結(jié)果后，將端子1. 1 端子2. 6通 過端子序號解 析為HOOl型背板的第1 12號端子，同時通過對電平測試結(jié)果的解析，確定第1、2號端子 在同一電路網(wǎng)絡中，并形成第1條電路網(wǎng)絡關(guān)系信息“電路網(wǎng)絡1# :1、2”，將此測試所得的 電路網(wǎng)絡關(guān)系信息作為第1次測試的測試數(shù)據(jù)傳送至計算機，完成一個測試周期。計算機 獲取第1次測試數(shù)據(jù)后，將其臨時保存下來，并分析獲知除第1、2號端子的電路網(wǎng)絡關(guān)系已 經(jīng)確定以外，其它端子的電路網(wǎng)絡關(guān)系都還未確定，需要繼續(xù)進行測試。因此，計算機再發(fā) 送第2次測試指令，由于第1、2號端子的電路網(wǎng)絡關(guān)系已經(jīng)確定，因此不再對第2號端子進 行重復測試，第2次測試指令直接指示對第3號端子進行測試；根據(jù)第2次測試指令，測試 控制模塊控制端子1. 3為低電平，將除端子1. 1,1. 2和1. 3以外的其它9端子設置為輸入 測試狀態(tài)，測試這9個端子的電平狀態(tài)，此次測得只有端子1. 3和2. 3為低電平，其它端子 均為高電平；測試控制模塊獲取上述電平測試結(jié)果后，通過解析確定第3、9號端子在同一 電路網(wǎng)絡中，并形成第2條電路網(wǎng)絡關(guān)系信息“電路網(wǎng)絡2# :3、9”，將此測試所得的電路網(wǎng) 絡關(guān)系信息作為第2次測試的測試數(shù)據(jù)傳送至計算機；計算機獲取第2次測試數(shù)據(jù)后，再次 將其臨時保存下來，并分析前2次測試數(shù)據(jù)獲知第1、2、3、9號端子的電路網(wǎng)絡關(guān)系已經(jīng)確 定。接著，計算機發(fā)送第3次測試指令……；重復這樣的測試步驟，計算機每發(fā)送一次測試 指令后，都能夠測試得到HOOl型背板中的一個電路網(wǎng)絡的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，因此只需要 進行5個測試周期，計算機即可確定HOOl型背板上的全部12個端子之間的電路網(wǎng)絡關(guān)系。計算機對測試所得的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息進行整合處理，得到背板的測試電路網(wǎng)絡 關(guān)系表，形如表2所示表2 計算機從標準數(shù)據(jù)庫中調(diào)用HOOl型背板所對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，將HOOl 型背板的測試電路網(wǎng)絡關(guān)系表與標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析處理；對比時，計算機 將表2和表1中的網(wǎng)絡關(guān)系數(shù)據(jù)逐一對比，若對比結(jié)果完全相同，即判定所測試的HOOl型 背板正常；若發(fā)現(xiàn)表2與表1中相同的電路網(wǎng)絡中的端子序號有所不同，即可判定所測試 的HOOl型背板上相應電路網(wǎng)絡出現(xiàn)故障；得出對比分析結(jié)果后，將其顯示在人機交互界面 上，并存儲于分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫中以作備錄。操作人員只需瀏覽得出的分析結(jié)果數(shù)據(jù)，即可辨 別所測試的HOOl型背板是否存在短/斷路缺陷以及那些端子存在短/斷路缺陷。從這個簡單的實例可以看到，本發(fā)明方法在測試過程中采用了避免重復測試的過 程控制模式，并且計算機每發(fā)送一次測試指令后便能夠測試得到待測背板中的一個電路網(wǎng) 絡的測試數(shù)據(jù)。也就是說，如果實際測試的待測背板中存在η個電路網(wǎng)絡，計算機只需發(fā)送 η次測試指令即可完成測試，避免了測試一個電路網(wǎng)絡卻需要反復發(fā)送多次測試指令，簡化 了測試控制過程，提高了計算機的執(zhí)行效率；同時，避免了對已測端子的重復測試，進一步 縮短了背板測試時間，提高了測試效率。具體到本實施例，采用本發(fā)明方法測試HOOl型背 板，由于HOOl型背板中存在5個電路網(wǎng)絡，計算機僅需要發(fā)送5次測試指令便能完成測試。 若采用現(xiàn)有技術(shù)中的飛針測試法，由于HOOl型背板中存在12個端子，用4根探針進行全面 覆蓋測試，第1次需要測試11個端子，即需要發(fā)送4次測試指令；第2次需要測試10個端 子，也需要發(fā)送4次測試指令；第3次需要測試9個端子，即需要發(fā)送3次測試指令；…… 由此測試所有12個端子，計算機總共需要發(fā)送25次測試指令。把計算機發(fā)送一次測試指 令到接收到此次測試指令的測試數(shù)據(jù)看做一次測試周期，在數(shù)據(jù)量如此小的情況下，并不 會導致數(shù)據(jù)傳輸?shù)难訒r，因此以每次測試周期耗時0. Ols計算，本發(fā)明方法比飛針測試法 的測試時間縮短了 4/5。在實際工業(yè)應用中，需要測試的背板上端子密集程度以及端子數(shù)量遠不止如此， 針對端子數(shù)量巨大、電路網(wǎng)絡密集的背板，采用本方法測試取得的功效更為顯著。例如，本 公司的Μ3050型背板有21790個端子，平均計算每個電路網(wǎng)絡中含有5個端子，電路網(wǎng)絡數(shù) 達4358個。采用本發(fā)明方法測試Μ3050型背板，由于避免了同一電路網(wǎng)絡種各個端子的重 復測試，因此整個測試過程計算機僅需發(fā)送4358次測試指令。雖然前期每個測試周期的數(shù) 據(jù)量較大，但由于采用了多個接口適配器同時采集背板上各個端子的電平信息，并通過串 行數(shù)據(jù)總線或以太網(wǎng)將一個測試周期中的數(shù)據(jù)一并傳輸至測試控制模塊，數(shù)據(jù)傳輸延時并 不會嚴重影響測試進度；同時，測試過程排除了已確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子，使得中、后期測試周期的數(shù)據(jù)量大大減少，避免了數(shù)據(jù)傳輸延時的影響。實際操作中，采用本發(fā)明方法測 試M3050型背板，接口適配器與測試控制模塊之間通過IOOM以太網(wǎng)進行通信連接計算數(shù)據(jù) 傳輸延時在內(nèi)，平均每次測試周期的耗時也不超過0. 05s, 4358次測試周期共耗時4分鐘左 右，測試效率非常高。然而，若采用飛針測試法測試M3050型背板，用4根探針進行全面覆 蓋測試，總共需要經(jīng)歷7900多萬次測試周期，即使每次測試周期耗時0. 01s，也需要測試近 220個小時，這在實際工程中是無法接受的。并且飛針測試機的價格昂貴，與采用飛針測試 法相比，采用本發(fā)明方法的測試成本更低。標準數(shù)據(jù)庫中存儲的不同類型背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，可通過人工手動錄入 的方式，針對不同的背板類型逐一錄入各個端子的在背板中的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，得 到多個類型背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表。雖然人工手動錄入效率較低，但一勞永逸，前期錄 入的數(shù)據(jù)在以后的測試過程中可反復使用，為一種背板測試方法的測試應用提供了數(shù)據(jù)基 礎(chǔ)。基于本發(fā)明方法的特點，背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表還可采用“學習”的方式獲得即利 用本發(fā)明的背板測試方法，測試不同類型的標準背板進行測試據(jù)，以此測試所得的電路網(wǎng) 絡關(guān)系表作為相應型號背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，存儲到標準數(shù)據(jù)庫中備用。由“學習” 方式向標準數(shù)據(jù)庫中錄入標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表的效率就得以大幅度提高，可大大減少解決 編程的時間和復雜度，減輕了操作人員的工作量，使得測試系統(tǒng)具備更好的自適應。
最后說明的是，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案而非限制，盡管參照較 佳實 施例對本發(fā)明進行了詳細說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應當理解，可以對本發(fā)明的技 術(shù)方案進行修改或者等同替換，而不脫離本發(fā)明技術(shù)方案的宗旨和范圍，其均應涵蓋在本 發(fā)明的權(quán)利要求范圍當中。
權(quán)利要求
一種背板測試方法，其特征在于，由計算機發(fā)送測試指令，測試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測背板各個端子上的接口適配器進行測試；具體包括如下步驟a)計算機采集多種型號的背板的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，用采集的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表建立標準數(shù)據(jù)庫；b)測試控制模塊控制各個接口適配器進行初始化，將待測背板中各個端子設置為初始電平；c)計算機指定待測背板中的一個端子為主測試端子，發(fā)送測試指令；d)測試控制模塊接收測試指令，控制接口適配器進行測試；接口適配器將主測試端子設置為測試電平，并對待測背板中除主測試端子以及已確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子以外的其它各個端子進行電平測試，將各電平測試結(jié)果一并發(fā)送至測試控制模塊；測試控制模塊再對電平測試結(jié)果進行解析處理，得到主測試端子與其它端子之間的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，并將此電路網(wǎng)絡關(guān)系信息傳送至計算機；e)計算機累積存儲所收到的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息，并從中分析待測背板中是否存在未確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子；若存在，指定一個未確定電路網(wǎng)絡關(guān)系的端子為新的測試端子，再次發(fā)送測試指令，重復步驟d)；若不存在，則執(zhí)行步驟f)；f)計算機將累積存儲的電路網(wǎng)絡關(guān)系信息整合處理為待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表，并從標準數(shù)據(jù)庫中調(diào)用與待測背板的型號相對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表，將待測背板的電路網(wǎng)絡關(guān)系表與其對應的標準電路網(wǎng)絡關(guān)系表進行對比分析處理，得出分析結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背板測試方法，其特征在于，所述步驟f)之后還包括建立 分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫，將步驟f)所得的分析結(jié)果儲存在分析結(jié)果數(shù)據(jù)庫中。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的背板測試方法，其特征在于所述步驟a)中標準電路網(wǎng) 絡關(guān)系表的采集通過手工錄入的方式獲得。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的背板測試方法，其特征在于所述步驟a)中標準電路網(wǎng) 絡關(guān)系表的采集通過測試標準背板的測試數(shù)據(jù)獲得。
全文摘要
本發(fā)明提供一種背板測試方法，由計算機發(fā)送測試指令，測試控制模塊根據(jù)控制指令，控制連接于待測背板各個端子上的接口適配器進行測試。本發(fā)明方法在測試過程中采用了避免重復測試的過程控制模式，計算機每發(fā)送一次測試指令后便能夠測試得到待測背板中的一個電路網(wǎng)絡的測試數(shù)據(jù)，簡化了測試控制過程，提高了計算機的執(zhí)行效率，同時避免了對已測端子的重復測試，進一步縮短了背板測試時間，提高了測試效率，適合大批量測試的需求。
文檔編號G06F11/22GK101859266SQ20101016234
公開日2010年10月13日 申請日期2010年4月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月30日
發(fā)明者劉國 申請人:和記奧普泰通信技術(shù)有限公司