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      一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)的制作方法

      文檔序號(hào):6425357閱讀:219來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及觸摸點(diǎn)跟蹤定位的技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,以及一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)。
      背景技術(shù)
      觸摸跟蹤定位技術(shù)是通過(guò)跟蹤觸摸屏上的觸摸點(diǎn)的位置變化,通過(guò)觸摸點(diǎn)的移動(dòng)軌跡來(lái)判斷用戶想要執(zhí)行的操作。因此,準(zhǔn)確地捕捉到觸摸點(diǎn)的移動(dòng)軌跡就非常重要。現(xiàn)有的觸摸跟蹤定位技術(shù)中,以固定的檢測(cè)周期檢測(cè)觸摸點(diǎn)的位置坐標(biāo),將屏幕上觸摸點(diǎn)移動(dòng)時(shí)檢測(cè)到的有序的坐標(biāo)點(diǎn)相連,可得到一條曲線。若此五個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)因檢測(cè)采樣誤差、信號(hào)抖動(dòng)又或者因?yàn)槠渌驅(qū)е聶z測(cè)定位的觸摸點(diǎn)坐標(biāo)與實(shí)際觸摸點(diǎn)的位置坐標(biāo)發(fā)生較大誤差,則觸摸點(diǎn)形成的曲線將出現(xiàn)較大的拐角,顯得不甚流暢。例如操作人員想要執(zhí)行繪圖操作,在觸摸屏上畫出圓滑的曲線軌跡,而通過(guò)現(xiàn)有的觸摸跟蹤定位技術(shù),檢測(cè)上述觸摸操作,獲得的多個(gè)有序、連續(xù)的觸摸點(diǎn),并將該多個(gè)觸摸點(diǎn)連接成圓滑的繪圖曲線。而一旦在觸摸跟蹤定位過(guò)程中,對(duì)其中一個(gè)觸摸點(diǎn)的定位因?yàn)樯鲜龈鞣N原因出現(xiàn)較大誤差,則所述繪圖曲線將出現(xiàn)較大的拐角,繪像不夠圓滑流暢,這違反了操作人員的本意,帶來(lái)不好的用戶體驗(yàn)。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種能夠?qū)τ|摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)行校正的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法。一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,包括以下步驟獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn);計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn);獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn);計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn);根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo);將所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)。其中,所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。即在獲得五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)之后,既可以對(duì)時(shí)間上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正,也可以對(duì)時(shí)間上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。 與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中,獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo),根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布,利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法,對(duì)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正,對(duì)其中的觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位,能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題還在于提供一種能夠?qū)τ|摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)行校正的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)。一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng),包括用于獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置;用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置; 以及,用于根據(jù)所述校正裝置的校正坐標(biāo),對(duì)第四個(gè)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置;其中,所述校正裝置包括用于獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置;用于計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置;用于獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置;用于計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置;用于根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。其中,所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。即在獲得五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)之后,既可以對(duì)時(shí)間上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正,也可以對(duì)時(shí)間上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)中,所述檢測(cè)裝置獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);所述校正裝置根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布, 利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法,對(duì)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正;所述定位裝置對(duì)其中的觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位,能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。


      圖1是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法的流程圖;圖2是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的示意圖;圖3是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第一參考點(diǎn)A的示意圖;圖4是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第一校正點(diǎn)B的示意圖;圖5是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第二參考點(diǎn)C的示意圖;圖6是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取第二校正點(diǎn)D的示意圖;圖7是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中獲取校正坐標(biāo)E的示意圖;圖8是經(jīng)過(guò)本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理后五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)連接而成的曲線的示意圖;圖9是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施例方式請(qǐng)參閱圖1,圖1是本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法的流程圖。所述觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法包括以下步驟步驟S101,獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);本步驟可以通過(guò)各種形式的觸摸屏,或者觸摸控制裝置檢測(cè)用戶的觸摸操作產(chǎn)生的觸摸點(diǎn)。獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo),可以按照檢測(cè)時(shí)間的先后順序依次獲取,也可以是在已經(jīng)檢測(cè)到的多個(gè)觸摸點(diǎn)中選取其中五個(gè),根據(jù)這五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)進(jìn)行下面步驟的坐標(biāo)校正運(yùn)算。
      如圖2所示,獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)1至5的檢測(cè)坐標(biāo)。其中,所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。亦即,以下步驟中所述的第一至第五個(gè)觸摸點(diǎn)可以是從先到后依次檢測(cè)到的五個(gè)觸摸點(diǎn),也可以是順序與檢測(cè)時(shí)間順序相反的五個(gè)觸摸點(diǎn)。這樣就既可以對(duì)時(shí)間軸上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正,也可以對(duì)時(shí)間軸上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。

      步驟S102,獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn);通過(guò)所述觸摸點(diǎn)1與觸摸點(diǎn)2的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算所述觸摸點(diǎn)1和觸摸點(diǎn)2的中點(diǎn) A的坐標(biāo),所述中點(diǎn)A即為第一參考點(diǎn)。如圖3所示。步驟S103,計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn);在本步驟中,根據(jù)所述中點(diǎn)A的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo),作所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的連線,并延長(zhǎng)至點(diǎn)B,如圖4所示,其中所述點(diǎn)B與所述觸摸點(diǎn)3的距離等于所述第一預(yù)設(shè)值。第一校正點(diǎn)B的意義為根據(jù)前三點(diǎn)做出的趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)。優(yōu)選地,所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四且大于零。當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí),所述點(diǎn)B更加靠近所述觸摸點(diǎn)3,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)3 ;當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四時(shí),所述點(diǎn)B遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3。因此,可根據(jù)具體的要求,在零至所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四之間選取所述第一預(yù)設(shè)值,取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第一校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式,所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的距離的三分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果,假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布比較均勻時(shí), 點(diǎn)B作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn),和所述觸摸點(diǎn)3的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)A與觸摸點(diǎn)3的連線長(zhǎng)度的三分二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的距離的三分之二。步驟S104,獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn);通過(guò)所述觸摸點(diǎn)2與觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算所述觸摸點(diǎn)2和觸摸點(diǎn)3的中點(diǎn) C的坐標(biāo),所述中點(diǎn)C即為第二參考點(diǎn)。如圖5所示。步驟S105,計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn);在本步驟中,根據(jù)所述中點(diǎn)C的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)5的檢測(cè)坐標(biāo),作所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的連線,在所述連線上與所述第觸摸點(diǎn)5的距離等于所述第二預(yù)設(shè)值處取點(diǎn)D作為所述第二校正點(diǎn)。如圖6所示。點(diǎn)D意義為根據(jù)觸摸點(diǎn)2、3、5做出的轉(zhuǎn)折插值點(diǎn)。優(yōu)選地,所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四且大于零。當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí),所述第二校正點(diǎn)D更加靠近所述觸摸點(diǎn)5,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)5 ;當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四時(shí),所述點(diǎn)D遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5。因此,可根據(jù)具體的要求,在零至所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四之間選取所述第二預(yù)設(shè)值,取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第二校正點(diǎn)。
      作為一種優(yōu)選實(shí)施方式,所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果,假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí),點(diǎn)D作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn),和所述觸摸點(diǎn)5的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)C與觸摸點(diǎn)5的連線長(zhǎng)度的五分之二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn) 5的距離的五分之二。步驟S106,根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E ;如圖7所示。將所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)B和所述第二校正點(diǎn)D在上述步驟中計(jì)算獲得的坐標(biāo),乘以其各自的預(yù)定權(quán)重,例如,所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(x,y)4的預(yù)定權(quán)重設(shè)定為20% ;所述第一校正點(diǎn)B計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X,y)B預(yù)定權(quán)重設(shè)定為40% ;所述第二校正點(diǎn)D計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X,y)D的預(yù)定權(quán)重也設(shè)定為40%。則可以計(jì)算得到第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E等于所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(χ’,y’)4 (χ,,y,)4 = (X,y)4X20% + (χ, y)BX40% + (χ, y)DX40%所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)的預(yù)定權(quán)重并不唯一,本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際需要,可以另外設(shè)定合適的權(quán)重比例。步驟S107,將所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)。將所述觸摸點(diǎn)4重定位到所述點(diǎn)E的校正坐標(biāo)之后,可以獲得由所述五個(gè)觸摸點(diǎn) 1-5連接成的新的曲線,如圖8所示。由圖8可知,經(jīng)過(guò)本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理過(guò)后,所述觸摸點(diǎn)連接成的曲線變得比較平滑,不再出現(xiàn)突兀的拐角。作為一種實(shí)施方式舉例,上述步驟S102至步驟S106的運(yùn)算過(guò)程如果使用計(jì)算機(jī)語(yǔ)言可使用如下代碼完成Coord[3] = ((Coord[2] + (Coord[2]-(Coord[1]+Coord
      )/2)*2/3)((Coord [2]+Coord[1])/2+(Coord[4]-(Coord[2]+Coord[1])/2)*3/5)*2+Coord[3]) /5與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法中,獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo),根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布,利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法,對(duì)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正,對(duì)其中的觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位,能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。對(duì)曲線的形狀改善明顯,而且運(yùn)算量少,對(duì)處理器要求極低。請(qǐng)參閱圖9,圖9本發(fā)明觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。所述觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)包括用于獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置11 ;用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置12 ;以及,用于根據(jù)所述校正裝置計(jì)算的校正坐標(biāo),對(duì)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置 13 ;其中,所述校正裝置12包括用于獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置;用于計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置;用于獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置;用于計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置;以及,
      7用于根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。

      與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)中,所述檢測(cè)裝置11獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);所述校正裝置12根據(jù)所述五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的分布,利用趨勢(shì)預(yù)測(cè)、轉(zhuǎn)折插值的方法,對(duì)觸摸點(diǎn)檢測(cè)定位的誤差進(jìn)行校正;所述定位裝置 13對(duì)其中的觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位,能夠?qū)τ蛇@五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。對(duì)曲線的形狀改善明顯,而且運(yùn)算量少,對(duì)處理器要求極低。所述檢測(cè)裝置11可以通過(guò)連接各種形式的觸摸屏,或者觸摸控制裝置,以檢測(cè)五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn),提供這五個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)進(jìn)行坐標(biāo)校正運(yùn)算。其中,所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。亦即,以下運(yùn)算中所述的第一至第五個(gè)觸摸點(diǎn)可以是從先到后依次檢測(cè)到的五個(gè)觸摸點(diǎn),也可以是順序與檢測(cè)時(shí)間順序相反的五個(gè)觸摸點(diǎn)。因此,本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng)既可以對(duì)時(shí)間軸上第四個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正,也可以對(duì)時(shí)間軸上第二個(gè)檢測(cè)到的觸摸點(diǎn)進(jìn)行校正。所述校正裝置12包括用于獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)的裝置。通過(guò)所述觸摸點(diǎn)1與觸摸點(diǎn)2的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算所述觸摸點(diǎn)1和觸摸點(diǎn)2的中點(diǎn)A的坐標(biāo),所述中點(diǎn)A即為第一參考點(diǎn)。所述校正裝置12還包括用于計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)的裝置。根據(jù)所述中點(diǎn)A的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo),作所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的連線,并延長(zhǎng)至點(diǎn)B,其中所述點(diǎn)B與所述觸摸點(diǎn)3的距離等于所述第一預(yù)設(shè)值。第一校正點(diǎn)B的意義為根據(jù)前三點(diǎn)做出的趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn)。優(yōu)選地,所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四且大于零。當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近零,所述點(diǎn)B更加靠近所述觸摸點(diǎn)3,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)3 ;當(dāng)所述第一預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)A 到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四時(shí),所述點(diǎn)B遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4 坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)3。因此,可根據(jù)具體的要求,在零至所述中點(diǎn)A到觸摸點(diǎn)3的距離的三分之四之間選取所述第一預(yù)設(shè)值,取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第一校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式,所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3的距離的三分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果,假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí),點(diǎn)B作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn),和所述觸摸點(diǎn)3的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)A與觸摸點(diǎn)3的連線長(zhǎng)度的三分二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第一預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)A至所述觸摸點(diǎn)3 的距離的三分之二。所述校正裝置12還包括用于獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)的裝置。通過(guò)所述觸摸點(diǎn)2與觸摸點(diǎn)3的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算所述觸摸點(diǎn)2和觸摸點(diǎn)3的中點(diǎn) C的坐標(biāo),所述中點(diǎn)C即為第二參考點(diǎn)。所述校正裝置12還包括用于計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)的連線上、 與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)的裝置。
      根據(jù)所述中點(diǎn)C的坐標(biāo)和觸摸點(diǎn)5的檢測(cè)坐標(biāo),作所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的連線,在所述連線上與所述第觸摸點(diǎn)5的距離等于所述第二預(yù)設(shè)值處取點(diǎn)D作為所述第二校正點(diǎn)。點(diǎn)D意義為根據(jù)觸摸點(diǎn)2、3、5做出的轉(zhuǎn)折插值點(diǎn)。優(yōu)選地,所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四且大于零。當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近零時(shí),所述第二校正點(diǎn)D更加靠近所述觸摸點(diǎn)5,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也較靠近所述觸摸點(diǎn)5 ;當(dāng)所述第二預(yù)設(shè)值的取值接近所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四時(shí),所述點(diǎn)D遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5,從而最終校正后的觸摸點(diǎn)4的校正坐標(biāo)也遠(yuǎn)離所述觸摸點(diǎn)5。因此,可根據(jù)具體的要求,在零至所述中點(diǎn)C到觸摸點(diǎn)5的距離的五分之四之間選取所述第二預(yù)設(shè)值,取對(duì)應(yīng)的點(diǎn)為所述第二校正點(diǎn)。作為一種優(yōu)選實(shí)施方式,所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn)5的距離的五分之二。根據(jù)模擬試驗(yàn)結(jié)果,假設(shè)檢測(cè)獲取的5個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的分布是比較均勻時(shí),點(diǎn)D作為趨勢(shì)預(yù)測(cè)點(diǎn),和所述觸摸點(diǎn)5的連線的長(zhǎng)度應(yīng)約等于點(diǎn)C與觸摸點(diǎn)5的連線長(zhǎng)度的五分之二。所以在本優(yōu)選實(shí)施方式中設(shè)定所述第二預(yù)設(shè)值為所述中點(diǎn)C至所述觸摸點(diǎn) 5的距離的五分之二。所述校正裝置12還包括用于根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。將所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)B和所述第二校正點(diǎn)D在上述步驟中計(jì)算獲得的坐標(biāo),乘以其各自的預(yù)定權(quán)重,例如,所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(x,y)4的預(yù)定權(quán)重設(shè)定為20% ;所述第一校正點(diǎn)B計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X,y)B預(yù)定權(quán)重設(shè)定為40% ;所述第二校正點(diǎn)D計(jì)算獲得的坐標(biāo)(X,y)D的預(yù)定權(quán)重也設(shè)定為40%。則可以計(jì)算得到第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)E等于所述觸摸點(diǎn)4的檢測(cè)坐標(biāo)(χ’,y’)4 (χ,,y,)4 = (x, y)4X20% + (χ, y)BX40% + (χ, y)DX40%所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo)的預(yù)定權(quán)重并不唯一,本領(lǐng)域的技術(shù)人員根據(jù)實(shí)際需要,可以另外設(shè)定合適的權(quán)重比例。所述校正裝置12還包括用于將所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)的裝置。將所述觸摸點(diǎn)4重定位到所述點(diǎn)E的校正坐標(biāo)之后,可以獲得由所述五個(gè)觸摸點(diǎn) 1-5連接成的新的曲線,經(jīng)過(guò)本發(fā)明的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法處理過(guò)后,所述觸摸點(diǎn)連接成的曲線變得比較平滑,不再出現(xiàn)突兀的拐角。作為一種實(shí)施方式舉例,所述校正裝置12的運(yùn)算過(guò)程如果使用計(jì)算機(jī)語(yǔ)言可使用如下代碼完成Coord[3] = ((Coord[2] + (Coord[2]-(Coord[1]+Coord
      )/2)*2/3)((Coord [2]+Coord[1])/2+(Coord[4]-(Coord[2]+Coord[1])/2)*3/5)*2+Coord[3]) /5以上所述的本發(fā)明實(shí)施方式,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的權(quán)利要求保護(hù)范圍之內(nèi)。
      權(quán)利要求
      1.一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于,包括以下步驟 獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)(1)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)(2)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)(A); 計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)(A)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)(B);獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)(2)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)(C); 計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)(C)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5) 的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)(D);根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)(4)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)(B)和所述第二校正點(diǎn)(D) 計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo); 將所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)(4)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)。
      2.如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述第一參考點(diǎn)(A)至所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的距離的三分之四且大于零。
      3.如權(quán)利要求2所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值為所述第一參考點(diǎn)(A)至所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的距離的三分之二。
      4.如權(quán)利要求1所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值的取值范圍為小于所述第二參考點(diǎn)(C)至所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5)的距離的五分之四且大于零。
      5.如權(quán)利要求4所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值為所述第二參考點(diǎn)(C)至所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5)的距離的五分之二。
      6.如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法,其特征在于 所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。
      7.一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng),其特征在于包括 用于獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)的檢測(cè)裝置;用于根據(jù)所述檢測(cè)裝置的檢測(cè)坐標(biāo),計(jì)算觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的校正裝置; 以及,用于根據(jù)所述校正裝置計(jì)算的校正坐標(biāo),對(duì)觸摸點(diǎn)進(jìn)行重定位的定位裝置; 其中,所述校正裝置包括用于獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)(1)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)(2)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn)(A)的裝置; 用于計(jì)算在所述第一參考點(diǎn)(A)至第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的連線的延長(zhǎng)線上、與所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的距離等于第一預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第一校正點(diǎn)(B)的裝置;用于獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)(2)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn)(C)的裝置; 用于計(jì)算在所述第二參考點(diǎn)(C)至第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5)的連線上、與所述第五個(gè)觸摸點(diǎn) (5)的距離等于第二預(yù)設(shè)值的點(diǎn)作為第二校正點(diǎn)(D)的裝置;用于根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)(4)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)(B)和所述第二校正點(diǎn) (D)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo)的裝置。
      8.如權(quán)利要求7所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng),其特征在于所述第一預(yù)設(shè)值為所述第一參考點(diǎn)(A)至所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)(3)的距離的三分之二。
      9.如權(quán)利要求7所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng),其特征在于所述第二預(yù)設(shè)值為所 述第二參考點(diǎn)(C)至所述第五個(gè)觸摸點(diǎn)(5)的距離的五分之二。
      10.如權(quán)利要求7至9中任意一項(xiàng)所述的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正系統(tǒng),其特征在于 所述五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的順序與觸摸點(diǎn)的檢測(cè)時(shí)間順序相同,或者相反。
      全文摘要
      本發(fā)明提供一種觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng),所述方法包括獲取五個(gè)連續(xù)有序的觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo);獲取第一個(gè)觸摸點(diǎn)與第二個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第一參考點(diǎn);根據(jù)所述第一參考點(diǎn)和所述第三個(gè)觸摸點(diǎn)計(jì)算第一校正點(diǎn);獲取第二個(gè)觸摸點(diǎn)和第三個(gè)觸摸點(diǎn)的中點(diǎn)為第二參考點(diǎn);根據(jù)所述第二參考點(diǎn)和第五個(gè)觸摸點(diǎn)計(jì)算第二校正點(diǎn);根據(jù)第四個(gè)觸摸點(diǎn)的檢測(cè)坐標(biāo)、以及所述第一校正點(diǎn)和所述第二校正點(diǎn)計(jì)算獲得的坐標(biāo),按照其各自的預(yù)定權(quán)重計(jì)算第四個(gè)觸摸點(diǎn)的校正坐標(biāo);將所述第四個(gè)觸摸點(diǎn)的坐標(biāo)重定位到所述校正坐標(biāo)。本發(fā)明提供的觸摸點(diǎn)跟蹤定位校正方法及其系統(tǒng)能夠?qū)τ|摸點(diǎn)檢測(cè)定位的明顯誤差進(jìn)行校正,對(duì)由這五個(gè)點(diǎn)連接而成的曲線實(shí)現(xiàn)平滑處理。
      文檔編號(hào)G06F3/041GK102331873SQ20111014561
      公開日2012年1月25日 申請(qǐng)日期2011年6月1日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月1日
      發(fā)明者胡雋鵬, 黃安麒 申請(qǐng)人:廣州視睿電子科技有限公司
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