專利名稱：模擬插拔動(dòng)作的測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種在與電子裝置物理連接后、在該物理連接不斷開的情況下模擬插拔動(dòng)作的測試裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的電子裝置一般都設(shè)置有USB (Universal Serial BUS)接口，以方便與外圍其他設(shè)備，如U盤進(jìn)行連接以共享數(shù)據(jù)。當(dāng)該些電子裝置生產(chǎn)完成后，需要對(duì)設(shè)置的USB接口的讀寫性能進(jìn)行測試。目前一般的測試方法為:以具有USB接口的小型設(shè)備，如U盤為測試治具，人工進(jìn)行插拔作業(yè)，且在每次將測試治具插入電子裝置的USB接口，使得電子裝置與測試治具通過USB接口物理連接后判斷當(dāng)前的電連接是否正常、能否對(duì)測試治具進(jìn)行正確的讀寫操作及讀寫的速率是否合格等，一次測試完成后人工拔出測試治具并再次插入至USB接口，周而復(fù)始地進(jìn)行一定次數(shù)地測試。由于整個(gè)插拔測試都需要人工手動(dòng)進(jìn)行插拔作業(yè)，故測試效率十分低下，測試成本十分高昂，且一定次數(shù)的插拔無論對(duì)電子設(shè)備還是對(duì)測試治具都有很大的損傷。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種用于模擬插拔動(dòng)作的測試裝置及其測試方法，以克服上述缺陷，解決業(yè)界亟待解決的問題。該測試裝置用于通過第一 USB接口與電子裝置的第二 USB接口物理連接后，在該接口之間的物理連接不斷開的情況下模擬該測試裝置相對(duì)于該電子裝置進(jìn)行多次插拔動(dòng)作。該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用于在第一 USB接口與第二 USB接口物理連接后偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。該處理單元包括識(shí)別設(shè)置模塊，該識(shí)別設(shè)置模塊用于在該偵測模塊偵測到測試裝置與電子裝置電連接后，每間隔一預(yù)定時(shí)間刷新設(shè)置該測試裝置的識(shí)別符，使得該識(shí)別符循環(huán)地處于可被識(shí)別狀態(tài)和不可被識(shí)別狀態(tài)，使該測試裝置循環(huán)地被電子裝置識(shí)別并驅(qū)動(dòng)以及不被該電子裝置識(shí)別。一種測試方法，用于在測試裝置通過第一 USB接口與電子裝置的第二 USB接口物理連接后，在該接口之間的物理連接不斷開的情況下模擬該測試裝置相對(duì)于該電子裝置進(jìn)行多次插拔動(dòng)作。該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用于在第一 USB接口與第二 USB接口物理連接后偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。該方法包括處理單元執(zhí)行的步驟:在偵測到測試裝置與電子裝置電連接后，每間隔一預(yù)定時(shí)間刷新設(shè)置該測試裝置的識(shí)別符，使得該識(shí)別符循環(huán)地處于可被識(shí)別狀態(tài)和不可被識(shí)別狀態(tài)，使該測試裝置循環(huán)地被電子裝置識(shí)別并驅(qū)動(dòng)以及不被該電子裝置識(shí)別。通過本發(fā)明的用于模擬插拔動(dòng)作的測試裝置及其測試方法，能夠在測試裝置與電子裝置的物理連接不斷開的情況下方便地模擬測試裝置相對(duì)于電子裝置進(jìn)行多次地插拔動(dòng)作，減少了真實(shí)插拔動(dòng)作對(duì)電子裝置的損害。


圖1為本發(fā)明一實(shí)施方式中模擬插拔動(dòng)作的測試裝置連接電子裝置的示意圖。圖2為本發(fā)明一實(shí)施方式中測試方法的流程圖。主要元件符號(hào)說明
權(quán)利要求
1.一種模擬插拔動(dòng)作的測試裝置，用于通過第一 USB接口與電子裝置的第二 USB接口物理連接后，在該接口之間的物理連接不斷開的情況下模擬該測試裝置相對(duì)于該電子裝置進(jìn)行多次地插拔動(dòng)作，該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用于在第一USB接口與第二 USB接口物理連接后偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接，其特征在于，該處理單元包括識(shí)別設(shè)置模塊，該識(shí)別設(shè)置模塊用于在該偵測模塊偵測到測試裝置與電子裝置電連接后，每間隔一預(yù)定時(shí)間刷新設(shè)置該測試裝置的識(shí)別符，使得該識(shí)別符循環(huán)地處于可被識(shí)別狀態(tài)和不可被識(shí)別狀態(tài)，使該測試裝置循環(huán)地被電子裝置識(shí)別并驅(qū)動(dòng)以及不被該電子裝置識(shí)別。
2.按權(quán)利要求1所述的模擬插拔動(dòng)作的測試裝置，其特征在于，該處理單元還包括讀寫測試模塊、記錄模塊和分析模塊，該讀寫測試模塊用于每次在該測試裝置被識(shí)別并驅(qū)動(dòng)后對(duì)該電子裝置進(jìn)行讀寫測試，該記錄模塊用于對(duì)讀寫測試模塊每次的讀寫測試結(jié)果進(jìn)行記錄，并判斷該讀寫測試結(jié)果的數(shù)目是否等于一預(yù)設(shè)次數(shù)，該分析模塊用于在該記錄模塊判斷讀寫測試結(jié)果等于該預(yù)設(shè)次數(shù)時(shí)，根據(jù)該記錄的讀寫測試結(jié)果判斷電子裝置的該第二USB接口的讀寫性能是否合格。
3.按權(quán)利要求2所述的模擬插拔動(dòng)作的測試裝置，其特征在于，該讀寫測試模塊用于在每個(gè)預(yù)定時(shí)間內(nèi)將一存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件寫入電子裝置，并將該寫入電子裝置后的測試文件與存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件進(jìn)行對(duì)比，當(dāng)對(duì)比一致時(shí)，確認(rèn)本次的測試結(jié)果為讀寫測試成功，否則確認(rèn)本次的測試結(jié)果為讀寫測試失敗。
4.按權(quán)利要求3所述的模擬插拔動(dòng)作的的測試裝置，其特征在于，該讀寫測試模塊還用于每次在對(duì)電子裝置進(jìn)行讀寫測試時(shí)進(jìn)一步判斷測試文件的傳輸速率，當(dāng)該寫入電子裝置后的測試文件與存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件對(duì)比一致、且傳輸速率大于等于一預(yù)設(shè)值時(shí)，判斷本次的測試結(jié)果為讀寫測試成功，否則判斷本次的測試結(jié)果為讀寫測試失敗。
5.按權(quán)利要求3或4所述的模擬插拔動(dòng)作的測試裝置，其特征在于，當(dāng)該分析模塊確定該讀寫測試成功的次數(shù)占總測試次數(shù)的比例大于等于一設(shè)定值時(shí)，判斷該第二 USB接口的讀寫性能合格。
6.一種測試方法，用于在測試裝置通過第一 USB接口與電子裝置的第二 USB接口物理連接后，在該接口之間的物理連接不斷開的情況下模擬該測試裝置相對(duì)于該電子裝置進(jìn)行多次地插拔動(dòng)作，該測試裝置包括一偵測單元和一處理單元，該偵測單元用于在第一 USB接口與第二 USB接口物理連接后偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接，其特征在于，該方法包括處理單元執(zhí)行的步驟: 在偵測到測試裝置與電子裝置電連接后，每間隔一預(yù)定時(shí)間刷新設(shè)置該測試裝置的識(shí)別符，使得該識(shí)別符循環(huán)地處于可被識(shí)別狀態(tài)和不可被識(shí)別狀態(tài)，使該測試裝置循環(huán)地被電子裝置識(shí)別并驅(qū)動(dòng)以及不被該電子裝置識(shí)別。
7.權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，該測試方法還包括由處理單元執(zhí)行的步驟: 每次在該測試裝置被識(shí)別并驅(qū)動(dòng)后對(duì)該電子裝置進(jìn)行讀寫測試； 對(duì)讀寫測試模塊每次的讀寫測試結(jié)果進(jìn)行記錄； 判斷該讀寫測試結(jié)果的數(shù)目是否等于一預(yù)設(shè)次數(shù)； 在該讀寫測試結(jié)果的數(shù)目等于該預(yù)設(shè)次數(shù)時(shí)，根據(jù)該記錄的讀寫測試結(jié)果判斷電子裝置的第二 USB接口的讀寫性能是否合格。
8.按權(quán)利要求7所述的測試方法，其特征在于，該讀寫測試方法為在每個(gè)預(yù)定時(shí)間內(nèi)將一存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件寫入電子裝置，并將該寫入電子裝置后的測試文件與存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件進(jìn)行對(duì)比，當(dāng)對(duì)比一致時(shí)，確認(rèn)當(dāng)前的測試結(jié)果為讀寫測試成功，否則確認(rèn)本次的測試結(jié)果為讀寫測試失敗。
9.按權(quán)利要求8所述的測試方法，其特征在于，該讀寫測試方法還包括每次在對(duì)電子裝置進(jìn)行讀寫測試時(shí)進(jìn)一步判斷測試文件的傳輸速率，當(dāng)該寫入電子裝置后的測試文件與存儲(chǔ)在測試裝置內(nèi)的測試文件對(duì)比一致、且傳輸速率大于等于一預(yù)設(shè)值時(shí)，判斷本次的測試結(jié)果為讀寫測試成功，否則判斷本次的測試結(jié)果為讀寫測試失敗。
10.按權(quán)利要求8或9所述的測試方法，其特征在于，判斷USB接口的讀寫性能是否合格的方法為:當(dāng)讀寫測試成功的次數(shù)占總測試次數(shù)的比例大于等于一設(shè)定值時(shí)，判斷該第二 USB接口的讀寫性能合格。
全文摘要
一種模擬插拔動(dòng)作的測試裝置，包括偵測單元和處理單元，偵測單元用于在測試裝置與電子裝置的USB口物理連接后偵測該測試裝置是否與電子裝置電連接。處理單元包括識(shí)別設(shè)置模塊，用于在偵測到測試裝置與電子裝置電連接后，每間隔一預(yù)定時(shí)間刷新設(shè)置該測試裝置的識(shí)別符，使得該識(shí)別符循環(huán)地處于可被識(shí)別狀態(tài)和不可被識(shí)別狀態(tài)，使該測試裝置循環(huán)地被電子裝置識(shí)別并驅(qū)動(dòng)以及不被該電子裝置識(shí)別。本發(fā)明還涉及一種相關(guān)的測試方法。通過本發(fā)明的測試裝置及測試方法，能夠在測試裝置與電子裝置的物理連接不斷開的情況下方便地模擬測試裝置相對(duì)于電子裝置進(jìn)行多次地插拔動(dòng)作，減少了真實(shí)插拔動(dòng)作對(duì)電子裝置的損害。
文檔編號(hào)G06F11/267GK103092733SQ20111033780
公開日2013年5月8日 申請(qǐng)日期2011年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月31日
發(fā)明者龔元元, 彭正全, 蔡瓊 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司