專利名稱：Flex二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有技術(shù)中FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)主要包括上位控制電腦、系統(tǒng)電源、模擬總線背板、數(shù)字總線背板、專用插槽、模擬測(cè)試選件、數(shù)字測(cè)試選件以及測(cè)試卡接口，如圖1所示。上位控制電腦和系統(tǒng)電源分別與模擬總線背板和數(shù)字總線背板連接，模擬總線背板和數(shù)字總線背板都設(shè)有專用插槽，分別對(duì)應(yīng)插接模擬測(cè)試選件和數(shù)字測(cè)試選件，每個(gè)模擬測(cè)試選件通過線纜(Cable)和測(cè)試卡接口連接，每個(gè)數(shù)字測(cè)試選件直接通過數(shù)字總線背板和測(cè)試卡接口連接。上位控制電腦作為主控部分，負(fù)責(zé)運(yùn)行和控制整個(gè)FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)。所述模擬測(cè)試選件模組和數(shù)字測(cè)試選件模組包括多個(gè)測(cè)試選件，每個(gè)測(cè)試選件負(fù)責(zé)完成不同的功能，如:電壓測(cè)試、電流測(cè)試、頻率測(cè)試、數(shù)字測(cè)試等。所有的模擬測(cè)試選件統(tǒng)一插在模擬總線背板上，所有的數(shù)字測(cè)試選件統(tǒng)一插在數(shù)字總線背板上，分別與上位機(jī)電腦通訊。測(cè)試信號(hào)通過測(cè)試卡接口輸出到外部目標(biāo)器件，或輸入到測(cè)試頭內(nèi)部的各個(gè)測(cè)試選件中進(jìn)行處理。上位控制電腦根據(jù)各個(gè)測(cè)試選件測(cè)得的數(shù)據(jù)，分析目標(biāo)器件的各個(gè)測(cè)試參數(shù)是否符合測(cè)試程序預(yù)設(shè)的要求，判斷目標(biāo)器件是否合格，并將測(cè)試結(jié)果通過GPIB或TTL、RS232等接口與外部的探針臺(tái)(Prober)或 機(jī)械手(Handler)通訊,實(shí)現(xiàn)目標(biāo)器件的測(cè)試分選。現(xiàn)有技術(shù)存在以下問題:1.數(shù)字測(cè)試選件采用線纜(Cable)方式與測(cè)試卡接口連接，容易產(chǎn)生信號(hào)衰減、引入干擾等，無法實(shí)現(xiàn)高速的數(shù)字測(cè)試。2.由于不同的線纜接口是不一樣的，所以也會(huì)造成外部測(cè)試卡接口的不統(tǒng)一。3.測(cè)試選件采用自定義總線結(jié)構(gòu)與通用總線背板連接，每個(gè)測(cè)試選件固定在特定的通用總線背板槽位中，不具有系統(tǒng)的靈活擴(kuò)展性與靈活配置性。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，使得整個(gè)系統(tǒng)的數(shù)模總線相互隔離，互不影響，從而提高測(cè)試的效率和精度。為解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型的實(shí)施方式提供了一種FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，包含:上位控制電腦、系統(tǒng)電源、模擬總線背板、數(shù)字總線背板、模擬測(cè)試選件模組及數(shù)字測(cè)試選件模組；其中，所述模擬總線背板上設(shè)有模擬通用接口插槽，所述模擬測(cè)試選件模組通過所述模擬通用接口插槽與所述模擬總線背板連接；[0013]所述數(shù)字總線背板上設(shè)有數(shù)字通用接口插槽，所述數(shù)字測(cè)試選件模組通過所述數(shù)字通用接口插槽與所述數(shù)字總線背板連接；所述上位控制電腦和所述系統(tǒng)電源均與所述模擬總線背板和所述數(shù)字總線背板連接。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述模擬測(cè)試選件模組包括多個(gè)模擬測(cè)試選件，其中每一個(gè)模擬測(cè)試選件上均設(shè)有與所述模擬通用接口插槽相配套的總線接口 ；所述數(shù)字測(cè)試選件模組包括多個(gè)數(shù)字測(cè)試選件；其中每一個(gè)數(shù)字測(cè)試選件均設(shè)有與所述數(shù)字通用接口插槽相配套的總線接口。作為進(jìn)一步改進(jìn)，還包含:器件接口板；所述器件接口板具有被測(cè)設(shè)備DUT接口；所述模擬測(cè)試選件或/和所述數(shù)字測(cè)試選件通過所述器件接口板上的DUT接口與目標(biāo)器件連接。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述上位控制電腦通過PCI總線、接口板與所述模擬總線背板和所述數(shù)字總線背板連接。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述上位控制電腦通過PCI總線、通用總線接口與外部的探針臺(tái)或機(jī)械手通訊。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述模擬總線背板和所述模擬測(cè)試選件模組放置于模擬機(jī)箱內(nèi)，所述數(shù)字總線背板和所述數(shù)字測(cè)試選件模組放置于數(shù)字機(jī)箱內(nèi)。數(shù)字機(jī)箱獨(dú)立于模擬機(jī)箱外，可以方便移動(dòng)，并可以很容易的實(shí)現(xiàn)Docking測(cè)試。
作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述模擬總線背板、所述數(shù)字總線背板、所述模擬測(cè)試選件模組、所述數(shù)字測(cè)試選件模組、所述器件接口板集成在所述測(cè)試頭內(nèi)。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述測(cè)試頭安裝在所述數(shù)字機(jī)箱內(nèi)；所述上位控制電腦通過所述數(shù)字機(jī)箱與所述測(cè)試頭通訊。作為進(jìn)一步改進(jìn)，所述系統(tǒng)電源通過所述數(shù)字機(jī)箱與所述測(cè)試頭連接。與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn):1、通過模擬總線背板和數(shù)字總線背板分別連接模擬測(cè)試選件模組和數(shù)字測(cè)試選件模組，使得整個(gè)系統(tǒng)的數(shù)?？偩€相互隔離，互不影響，從而提高測(cè)試的效率和精度。2、拋棄數(shù)字測(cè)試選件模組通過線纜與測(cè)試卡接口連接的方式，有效縮短數(shù)字測(cè)試選件與目標(biāo)器件之間的信號(hào)傳輸距離。3、整個(gè)系統(tǒng)采用數(shù)模總線分開設(shè)計(jì)，所有的模擬測(cè)試選件都插在模擬總線背板上，所有的數(shù)字測(cè)試選件都插在數(shù)字總線背板上，并分別和上位機(jī)相連，互不影響。4、整個(gè)系統(tǒng)采用通用總線設(shè)計(jì)，所有的模擬測(cè)試選件可以在模擬總線背板的總線插槽中任意插放，所有的數(shù)字測(cè)試選件可以在數(shù)字總線背板的總線插槽中任意插放。5、每個(gè)數(shù)字測(cè)試選件上的探針連接器和數(shù)字測(cè)試選件的數(shù)字總線接口同方向設(shè)計(jì)，這樣可以將數(shù)字總線背板與器件接口板結(jié)合為一體。6、測(cè)試頭為可移動(dòng)，便于與外部的探針臺(tái)(PiOber)或機(jī)械手(Handler)進(jìn)行連接。

[0033]圖1是與現(xiàn)有技術(shù)中集成電路測(cè)試系統(tǒng)的連接示意圖；圖2是根據(jù)本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施方式的FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)的連接示意圖；圖3是根據(jù)本實(shí)用新型的一較佳實(shí)施方式的FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)不意圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本實(shí)用新型實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請(qǐng)而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)各權(quán)利要求所要求保護(hù)的技術(shù)方案。本實(shí)用新型的實(shí)施方式涉及一種FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，如圖2和圖3所示，包括:上位控制電腦U、系統(tǒng)電源12、模擬總線背板13A、數(shù)字總線背板13D、模擬通用接口插槽14A、數(shù)字通用接口插槽14D、模擬測(cè)試選件模組15A、數(shù)字測(cè)試選件模組15D、器件接口板16 (DIB)以及被測(cè)設(shè)備(DUT)接口 17。其中，模擬總線背板13A上設(shè)有模擬通用接口插槽14A，模擬測(cè)試選件模組15A通過模擬通用接口插槽14A與模擬總線背板13A連接；數(shù)字總線背板13D上設(shè)有數(shù)字通用接口插槽14D，數(shù)字測(cè)試選件模組I 通過數(shù)字通用接口插槽14D與數(shù)字總線背板13D連接；上位控制電腦和系統(tǒng)電 源均與模擬總線背板和數(shù)字總線背板連接。也就是說，上位控制電腦11和系統(tǒng)電源12分別連接到模擬總線背板13A和數(shù)字總線背板13D上。上位控制電腦11用于控制整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)的工作，根據(jù)模擬測(cè)試選件模組15A和數(shù)字測(cè)試選件模組I 測(cè)量的數(shù)據(jù)，分析目標(biāo)器件的各個(gè)測(cè)試參數(shù)是否符合預(yù)設(shè)的要求，判斷目標(biāo)器件是否合格，并將測(cè)試結(jié)果與外部的探針臺(tái)(Prober)或機(jī)械手(Handler)通訊，實(shí)現(xiàn)目標(biāo)器件18的測(cè)試分選。在本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例中，上位控制電腦11通過PCI總線(PCI BUS)、接口板(Interface Board)與模擬總線背板13A和數(shù)字總線背板13D連接。上位控制電腦11通過PCI總線、通用總線接口(GPIB, General-Purpose Interface Bus)與外部的探針臺(tái)或機(jī)械手通訊。系統(tǒng)電源12為整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)供電。模擬測(cè)試選件模組15A包括多個(gè)模擬測(cè)試選件，其中每一個(gè)模擬測(cè)試選件上均設(shè)有與模擬通用接口插槽相配套的總線接口 ；模擬總線背板13A上設(shè)有通用模擬接口插槽14A，通用模擬接口插槽14A是可供模擬測(cè)試選件進(jìn)行任意插槽插放的總線插槽。通過該通用模擬接口插槽14A可與多個(gè)模擬測(cè)試選件進(jìn)行連接。每個(gè)模擬測(cè)試選件通過器件接口板16以及DUT接口 17與目標(biāo)器件18連接。也就是說，本實(shí)用新型的測(cè)試系統(tǒng)還包含:器件接口板，該器件接口板具有DUT接口，模擬測(cè)試選件通過器件接口板上的DUT接口與目標(biāo)器件連接。DUT接口 17是一種允許用戶自定義的信號(hào)接口，其可與被測(cè)目標(biāo)器件接觸，完成測(cè)試系統(tǒng)對(duì)被測(cè)目標(biāo)器件18的信號(hào)施加和目標(biāo)器件18輸出信號(hào)的測(cè)量。同樣地，數(shù)字測(cè)試選件模組MD包括多個(gè)數(shù)字測(cè)試選件，其中每一個(gè)數(shù)字測(cè)試選件均設(shè)有與數(shù)字通用接口插槽相配套的總線接口。數(shù)字總線背板13D上設(shè)有通用數(shù)字接口插槽14D，通用數(shù)字接口插槽14D是可供數(shù)字測(cè)試選件進(jìn)行任意插槽插放的總線插槽。通過該通用數(shù)字接口插槽14D可與多個(gè)數(shù)字測(cè)試選件進(jìn)行連接。每個(gè)數(shù)字測(cè)試選件也通過器件接口板16以及DUT接口 17與目標(biāo)器件18連接。每個(gè)數(shù)字測(cè)試選件直接通過接口與器件接口板16相連，器件接口板16與DUT17連接，有效縮短了數(shù)字測(cè)試選件模組MD與目標(biāo)器件18之間的信號(hào)傳輸距離。在本實(shí)用新型中，模擬測(cè)試選件模組15A和數(shù)字測(cè)試選件模組15D中每個(gè)測(cè)試選件均設(shè)置了與器件接口板16相連的接口以及與通用模擬接口插槽14A和通用數(shù)字接口插槽14D相配套的通用總線接口。每個(gè)模擬或者數(shù)字測(cè)試選件上的連接接口都和其對(duì)應(yīng)的測(cè)試選件的總線接口相同，并將數(shù)字總線背板13D與器件接口板16結(jié)合為一體。此外，值得一提的是，模擬總線背板和模擬測(cè)試選件模組放置于模擬機(jī)箱內(nèi)，數(shù)字總線背板和數(shù)字測(cè)試選件模組放置于數(shù)字機(jī)箱內(nèi)。也就是說，模擬測(cè)試選件和數(shù)字測(cè)試選件分別放置于兩個(gè)獨(dú)立的測(cè)試機(jī)箱內(nèi)，有效的減少了數(shù)字和模擬信號(hào)之間的干擾。在本實(shí)用新型的實(shí)際應(yīng)用中，可將模擬總線背板13A、數(shù)字總線背板13D、通用模擬接口插槽14A、通用數(shù)字接口插槽14D、模擬測(cè)試選件模組15A和數(shù)字測(cè)試選件模組15D、器件接口板16(DIB)以及DUT接口 17均集成到一個(gè)測(cè)試頭內(nèi)，測(cè)試頭可以安裝在數(shù)字機(jī)箱內(nèi)。上位控制電腦11和系統(tǒng)電源12可通過走線與測(cè)試頭通訊連接。上位控制電腦11可控制測(cè)試頭在操控支架的軌道上升降或者旋轉(zhuǎn)，便于與外部的探針臺(tái)或機(jī)械手進(jìn)行銜接。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型提供的FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)具有如下優(yōu)點(diǎn):1、通過模擬總線背板和數(shù)字總線背板分別連接模擬測(cè)試選件模組和數(shù)字測(cè)試選件模組，使得整個(gè)系統(tǒng)的數(shù)?？偩€相互隔離，互不影響，從而提高測(cè)試的效率和精度。2、拋棄數(shù)字 測(cè)試選件模組通過線纜與測(cè)試卡接口連接的方式，有效縮短數(shù)字測(cè)試選件與目標(biāo)器件之間的信號(hào)傳輸距離。3、整個(gè)系統(tǒng)采用數(shù)?？偩€分開設(shè)計(jì)，所有的模擬測(cè)試選件都插在模擬總線背板上，所有的數(shù)字測(cè)試選件都插在數(shù)字總線背板上，并分別和上位機(jī)相連，互不影響。4、整個(gè)系統(tǒng)采用通用總線設(shè)計(jì)，所有的模擬測(cè)試選件可以在模擬總線背板的總線插槽中任意插放，所有的數(shù)字測(cè)試選件可以在數(shù)字總線背板的總線插槽中任意插放。5、每個(gè)數(shù)字測(cè)試選件上的探針連接器和數(shù)字測(cè)試選件的數(shù)字總線接口同方向設(shè)計(jì)，這樣可以將數(shù)字總線背板與器件接口板結(jié)合為一體。6、測(cè)試頭為可移動(dòng)，便于與外部的探針臺(tái)(PiOber)或機(jī)械手(Handler)進(jìn)行連接。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對(duì)其作各種改變，而不偏離本實(shí)用新型的精神和范圍。
權(quán)利要求1.一種FLEX 二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包含:上位控制電腦、系統(tǒng)電源、模擬總線背板、數(shù)字總線背板、模擬測(cè)試選件模組及數(shù)字測(cè)試選件模組； 其中，所述模擬總線背板上設(shè)有模擬通用接口插槽，所述模擬測(cè)試選件模組通過所述模擬通用接口插槽與所述模擬總線背板連接； 所述數(shù)字總線背板上設(shè)有數(shù)字通用接口插槽，所述數(shù)字測(cè)試選件模組通過所述數(shù)字通用接口插槽與所述數(shù)字總線背板連接； 所述上位控制電腦和所述系統(tǒng)電源均與所述模擬總線背板和所述數(shù)字總線背板連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述模擬測(cè)試選件模組包括多個(gè)模擬測(cè)試選件，其中每一個(gè)模擬測(cè)試選件上均設(shè)有與所述模擬通用接口插槽相配套的總線接口； 所述數(shù)字測(cè)試選件模組包括多個(gè)數(shù)字測(cè)試選件；其中每一個(gè)數(shù)字測(cè)試選件均設(shè)有與所述數(shù)字通用接口插槽相配套的總線接口。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包含:器件接口板； 所述器件接口板具有被測(cè)設(shè)備DUT接口； 所述模擬測(cè)試選件或/和所述數(shù)字測(cè)試選件通過所述器件接口板上的DUT接口與目標(biāo)器件連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位控制電腦通過PCI總線、接 口板與所述模擬總線背板和所述數(shù)字總線背板連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述上位控制電腦通過PCI總線、通用總線接口與外部的探針臺(tái)或機(jī)械手通訊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述模擬總線背板和所述模擬測(cè)試選件模組放置于模擬機(jī)箱內(nèi)，所述數(shù)字總線背板和所述數(shù)字測(cè)試選件模組放置于數(shù)字機(jī)箱內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述模擬總線背板、所述數(shù)字總線背板、所述模擬測(cè)試選件模組、所述數(shù)字測(cè)試選件模組、所述器件接口板集成在測(cè)試頭內(nèi)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試頭安裝在所述數(shù)字機(jī)箱內(nèi)； 所述上位控制電腦通過所述數(shù)字機(jī)箱與所述測(cè)試頭通訊。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)電源通過所述數(shù)字機(jī)箱與所述測(cè)試頭連接。
專利摘要本實(shí)用新型涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域，公開了一種FLEX二級(jí)總線集成電路測(cè)試系統(tǒng)。本實(shí)用新型包含上位控制電腦、系統(tǒng)電源、模擬總線背板、數(shù)字總線背板、模擬測(cè)試選件模組及數(shù)字測(cè)試選件模組；其中，模擬總線背板上設(shè)有模擬通用接口插槽，模擬測(cè)試選件模組通過模擬通用接口插槽與模擬總線背板連接；數(shù)字總線背板上設(shè)有數(shù)字通用接口插槽，數(shù)字測(cè)試選件模組通過數(shù)字通用接口插槽與數(shù)字總線背板連接；上位控制電腦和系統(tǒng)電源均與模擬總線背板和數(shù)字總線背板連接。通過模擬總線背板和數(shù)字總線背板分別連接模擬測(cè)試選件模組和數(shù)字測(cè)試選件模組，使得整個(gè)系統(tǒng)的數(shù)模總線相互隔離，互不影響，從而提高測(cè)試的效率和精度。
文檔編號(hào)G06F11/267GK203133818SQ201320068748
公開日2013年8月14日 申請(qǐng)日期2013年2月6日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月6日
發(fā)明者毛國梁, 馬劼 申請(qǐng)人:上海宏測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司