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      慢盤檢測方法和裝置制造方法

      文檔序號:6539600閱讀:226來源:國知局
      慢盤檢測方法和裝置制造方法
      【專利摘要】本發(fā)明實施例提供一種慢盤檢測方法和裝置。本發(fā)明慢盤檢測方法,包括:在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值;在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      【專利說明】慢盤檢測方法和裝置
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本發(fā)明實施例涉及計算機技術(shù),尤其涉及一種慢盤檢測方法和裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]硬盤由于磁頭退化或者其它機械、環(huán)境問題,會導(dǎo)致硬盤輸入輸出(10,Input/Output)響應(yīng)時間變長,成為慢盤。
      [0003]在存儲陣列系統(tǒng)中,用戶數(shù)據(jù)并行存儲到一系列硬盤中,如果某一個硬盤很慢,會導(dǎo)致整體的讀寫操作變慢,嚴(yán)重的情況下,會導(dǎo)致業(yè)務(wù)中斷。因此,需要對存儲陣列中的各盤進(jìn)行實時檢測確定慢盤,以便及時對慢盤進(jìn)行隔離或備份。目前,通過將硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較來確定慢盤事件,并且當(dāng)統(tǒng)計周期內(nèi)某個硬盤的慢盤事件次數(shù)超過一定次數(shù)時將該硬盤判定為慢盤的方法來檢測慢盤。其中,采用將存儲陣列中所有硬盤的IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限來確定存儲陣列系統(tǒng)中的慢盤事件。
      [0004]但是,現(xiàn)有技術(shù)時常將正常的硬盤判斷為慢盤,誤判率較高。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0005]本發(fā)明實施例提供一種慢盤檢測方法和裝置。
      [0006]本發(fā)明實施例提供一種慢盤檢測方法,包括:
      [0007]在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值;
      [0008]在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0009]本發(fā)明實施例提供一種慢盤檢測裝置,包括:
      [0010]檢測模塊,用于在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件;
      [0011]判斷門限獲得模塊,用于每次檢測過程中,將各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限;
      [0012]確定模塊,用于在所述檢測周期結(jié)束時,從所述檢測模塊獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0013]本發(fā)明實施例提供一種慢盤檢測方法和裝置,通過將存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限,解決現(xiàn)有技術(shù)中存儲陣列各硬盤工作負(fù)荷差異較大,使用將存儲陣列中全部硬盤的IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限時,慢盤誤判率較高的問題,降低慢盤誤判率。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0014]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0015]圖1為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例一的流程圖;
      [0016]圖2為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例二的流程圖;
      [0017]圖3為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例三的流程圖;
      [0018]圖4為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0019]圖5為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0020]圖6為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例四的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實施方式】
      [0021]為使本發(fā)明實施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
      [0022]圖1為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例一的流程圖,如圖1所示,本實施例的方法可以包括:
      [0023]步驟101、在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值;
      [0024]其中,m小于等于存儲陣列中硬盤的總數(shù);
      [0025]現(xiàn)有技術(shù)中,慢盤事件判斷門限為存儲陣列中全部硬盤的IO響應(yīng)時間的平均值,本發(fā)明中,慢盤事件判斷門限為存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值;目前,越來越多的存儲陣列采用資源池-邏輯單元號(POOL-LogicalUnit Number,POOL-LUN)的方式,LUN數(shù)據(jù)分布到了更多的硬盤上,POOL內(nèi)每個硬盤的工作負(fù)荷的差異可能會比較大,采用將存儲陣列中全部硬盤的IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限,容易造成慢盤事件判斷門限被工作負(fù)荷較小的硬盤拉低,導(dǎo)致出現(xiàn)某塊硬盤或者幾塊硬盤同時被確定為慢盤的問題,造成慢盤的誤判率過高;通過本發(fā)明中將存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限的方法,則避免了慢盤事件判斷門限由于工作負(fù)荷較小的硬盤而被拉低的問題,降低慢盤誤判率。
      [0026]步驟102、在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0027]其中,預(yù)設(shè)門限可以根據(jù)用戶輸入確定;
      [0028]本實施例,通過將存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限,解決現(xiàn)有技術(shù)中存儲陣列各硬盤工作負(fù)荷差異較大,使用將存儲陣列中全部硬盤的IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限時,慢盤誤判率較高的問題,降低慢盤誤判率。
      [0029]圖2為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例二的流程圖,在實施例一的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步的,m根據(jù)每次檢測過程中的各硬盤的慢盤事件次數(shù)進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。本實施例的慢盤檢測方法,具體可以包括如下步驟:
      [0030]步驟201、在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值,m根據(jù)每次檢測過程中的各硬盤的慢盤事件次數(shù)進(jìn)行動態(tài)調(diào)整;
      [0031]其中,m根據(jù)每次檢測過程中的各硬盤的慢盤事件次數(shù)進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,包括:若上一檢測周期預(yù)定時刻不同硬盤的慢盤事件次數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)慢盤事件次數(shù),并且所述不同硬盤的個數(shù)大于等于第一預(yù)設(shè)個數(shù),則根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。
      [0032]可選的,預(yù)定時刻可以為一個,或者,多個,可以為檢測周期中的任意時刻,或者,檢測周期結(jié)束的時刻;
      [0033]以一個預(yù)定時刻為例,若統(tǒng)計周期T內(nèi)某個時刻,如T/2,有k個硬盤(k >第一預(yù)設(shè)個數(shù))的慢盤事件次數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)慢盤事件次數(shù),表示k個硬盤即將被確定為慢盤,但是即將被確定為慢盤的硬盤數(shù)過多,則說明慢盤事件判斷門限過低,因此需要在下一檢測周期對m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,以提高慢盤事件判斷門限,從而避免誤判。
      [0034]其中,m根據(jù)每次檢測過程中的各硬盤的慢盤事件次數(shù)進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,包括:每次檢測過程中,動態(tài)調(diào)整m的大小,直到每次檢測確定出發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù)。
      [0035]具體的,在每次檢測過程中計算慢盤事件判斷門限時,先將預(yù)設(shè)m值減1,再進(jìn)行慢盤事件判斷門限的計算,并使用此慢盤事件門限確定本次檢測出現(xiàn)慢盤事件的硬盤,當(dāng)確定發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)大于第二預(yù)設(shè)個數(shù)時,則將m值再減1,直到每次檢測確定出發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù),并根據(jù)慢盤IO響應(yīng)時間的長短,對應(yīng)不同的慢盤事件累加值,例如對于最慢的慢盤,對應(yīng)慢盤事件累加值為I,對于第二慢盤,對應(yīng)慢盤事件累加值0.5。
      [0036]步驟201中,m也可以為固定值。
      [0037]步驟202、在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0038]步驟202與圖1所示方法實施例中的步驟102的實現(xiàn)原理類似,此處不再贅述。
      [0039]本實施例中,步驟201?步驟202之后,還可以包括:根據(jù)存儲陣列的冗余能力對慢盤事件次數(shù)最大的慢盤進(jìn)行隔離或者備份。[0040]本實施例中,步驟201?步驟202之后,還可以包括:根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力,按照慢盤事件次數(shù)的大小對慢盤依次進(jìn)行隔離或者備份;
      [0041]例如,若當(dāng)檢測周期結(jié)束時,被確定為慢盤的為兩個硬盤,且分別為第一慢盤和第二慢盤,其中第一慢盤為最慢的慢盤,對獨立冗余硬盤陣列(Redundant Array ofIndependent Disks, RAID)中的RAID5而言,其一次可支持隔離一塊硬盤,因此先將第一慢盤進(jìn)行隔離,并利用系統(tǒng)的熱備盤或者未使用硬盤對第二慢盤進(jìn)行備份,待第二慢盤備份完畢后再對第二慢盤進(jìn)行隔離。
      [0042]本實施例,通過動態(tài)調(diào)整m的大小,使得所采用的慢盤事件門限能夠確保確定出的慢盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù),防止同時確定出多于第二預(yù)設(shè)個數(shù)個的慢盤,避免慢盤的誤判;同時,通過設(shè)定不同的慢盤事件累加值,實現(xiàn)即使在多塊慢盤實際發(fā)生的慢盤事件次數(shù)相同時,也能夠區(qū)分出慢盤的等級,并根據(jù)陣列的冗余能力對慢盤事件次數(shù)最大的慢盤進(jìn)行隔離或者備份,或者,根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力,按照慢盤事件次數(shù)的大小對慢盤依次進(jìn)行隔離或者備份,實現(xiàn)根據(jù)慢盤的等級處理相應(yīng)的慢盤,優(yōu)化慢盤處理方法。
      [0043]圖3為本發(fā)明慢盤檢測方法實施例三的流程圖,在實施例一的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步的,慢盤事件判斷門限為上述平均值與一偏移量之和。本實施例的慢盤檢測方法,具體可以包括如下步驟:
      [0044]步驟301、在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值與偏移量之和;
      [0045]可選的,偏移量為平均值乘以偏差比例;偏差比例根據(jù)用戶輸入確定,或者,偏差比例根據(jù)每次檢測過程中的所述平均值動態(tài)調(diào)整。
      [0046]其中,偏差比例根據(jù)每次檢測過程中的平均值動態(tài)調(diào)整,包括:
      [0047]每次檢測過程中,根據(jù)平均值及預(yù)設(shè)的平均值與偏差比例的對應(yīng)關(guān)系,對偏差比例進(jìn)行調(diào)整。
      [0048]可選的,當(dāng)平均值越大時,偏差比例越高,當(dāng)平均值越小時,偏差比例越低,使得對于不同的平均值,偏差的絕對值范圍相差不會太大,從而避免在平均值較大時對慢盤的漏判;
      [0049]例如,平均值小于20ms,則偏差比例為30%,平均值為大于等于20ms小于50ms,則偏差比例為25%,平均值大于等于50ms小于100ms,則偏差比例為20%,平均值大于等于100ms,則偏差比例為15%。
      [0050]步驟302、在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0051]步驟302與圖1所示方法實施例中的步驟102的實現(xiàn)原理類似,此處不再贅述。
      [0052]本實施例,通過動態(tài)調(diào)整偏差比例的大小,使得對于不同的平均值,偏差的絕對值范圍相差不會太大,從而避免在平均值較大時對慢盤的漏判。
      [0053]圖4為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖4所示,本實施例的裝置可以包括:檢測模塊401、判斷門限獲得模塊402和確定模塊403。其中,檢測模塊401,用于在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件;判斷門限獲得模塊402,用于每次檢測過程中,將各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限;確定模塊403,用于在所述檢測周期結(jié)束時,從所述檢測模塊獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      [0054]本實施例的裝置,可以用于執(zhí)行圖1所示方法實施例的技術(shù)方案,其實現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似,此處不再贅述。
      [0055]圖5為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖5所示,本實施例的裝置在圖4所示裝置結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步地,還可以包括:第一動態(tài)調(diào)整模塊404和處理模塊405。其中,第一動態(tài)調(diào)整模塊404用于根據(jù)每次檢測過程中的各硬盤的慢盤事件次數(shù)對m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整;處理模塊405,用于所述確定模塊確定出慢盤時,根據(jù)存儲陣列的冗余能力對慢盤事件次數(shù)最大的慢盤進(jìn)行隔離或者備份,或者,根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力,按照慢盤事件次數(shù)的大小對慢盤依次進(jìn)行隔離或者備份。
      [0056]其中,第一動態(tài)調(diào)整模塊404,具體用于若上一檢測周期預(yù)定時刻不同硬盤的慢盤事件次數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)慢盤事件次數(shù),并且所述不同硬盤的個數(shù)大于等于第一預(yù)設(shè)個數(shù),則根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,和/或,每次檢測過程中,動態(tài)調(diào)整m的大小,直到每次檢測確定出發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù)。
      [0057]本實施例的裝置,可以用于執(zhí)行圖2所示方法實施例的技術(shù)方案,其實現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似,此處不再贅述。
      [0058]慢盤檢測裝置實施例三:
      [0059]本實施例裝置的結(jié)構(gòu)如圖4所示,與慢盤檢測裝置實施例一不同之處在于,實施例一中,判斷門限獲得模塊402,用于每次檢測過程中,將各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限;本實施例中,判斷門限獲得模塊402,用于每次檢測過程中,將各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值與偏移量之和作為慢盤事件判斷門限。
      [0060]本實施例的裝置,可以用于執(zhí)行圖3所示方法實施例的技術(shù)方案,其實現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似,此處不再贅述。
      [0061]圖6為本發(fā)明慢盤檢測裝置實施例四的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖6所示,本實施例的裝置在圖4所示裝置結(jié)構(gòu)及慢盤檢測裝置實施例三的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步地,還可以包括:第二動態(tài)調(diào)整模塊406,該第二動態(tài)調(diào)整模塊406用于根據(jù)每次檢測過程中的所述平均值對偏差比例進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。
      [0062]其中,第二動態(tài)調(diào)整模塊406,具體用于每次檢測過程中,根據(jù)所述平均值及預(yù)設(shè)的平均值與偏差比例的對應(yīng)關(guān)系,對偏差比例進(jìn)行調(diào)整。
      [0063]本實施例的裝置,可以用于執(zhí)行圖3所示方法實施例的技術(shù)方案,其實現(xiàn)原理和技術(shù)效果類似,此處不再贅述。
      [0064]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解:實現(xiàn)上述各方法實施例的全部或部分步驟可以通過程序指令相關(guān)的硬件來完成。前述的程序可以存儲于一計算機可讀取存儲介質(zhì)中。該程序在執(zhí)行時,執(zhí)行包括上述各方法實施例的步驟;而前述的存儲介質(zhì)包括:ROM、RAM、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。
      [0065]最后應(yīng)說明的是:以上各實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案,而非對其限制;盡管參照前述各實施例對本發(fā)明進(jìn)行了詳細(xì)的說明,本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解:其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改,或者對其中部分或者全部技術(shù)特征進(jìn)行等同替換;而這些修改或者替換,并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的范圍。
      【權(quán)利要求】
      1.一種慢盤檢測方法,其特征在于,包括: 在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件,其中,所述慢盤事件判斷門限為各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值; 在所述檢測周期結(jié)束時,獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述m為固定值,或者, 所述方法,還包括: 根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,包括: 若上一檢測周期預(yù)定時刻不同硬盤的慢盤事件次數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)慢盤事件次數(shù),并且所述不同硬盤的個數(shù)大于等于第一預(yù)設(shè)個數(shù),則根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。
      4.根據(jù)權(quán)利要求 2或3所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整,包括: 每次檢測過程中,動態(tài)調(diào)整所述m的大小,直到每次檢測確定出發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù)。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,還包括: 在所述檢測周期結(jié)束時,根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力對慢盤事件次數(shù)最大的慢盤進(jìn)行隔離或者備份。
      6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,還包括: 根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力,按照慢盤事件次數(shù)的大小對慢盤依次進(jìn)行隔離或者備份。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1~6任一項所述的方法,其特征在于,所述慢盤事件判斷門限為所述平均值與一偏移量之和。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,所述偏移量為所述平均值乘以偏差比例。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,還包括: 根據(jù)每次檢測過程中的所述平均值動態(tài)調(diào)整所述偏差比例。
      10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)每次檢測過程中的所述平均值動態(tài)調(diào)整所述偏差比例,包括: 每次檢測過程中,根據(jù)所述平均值及預(yù)設(shè)的平均值與偏差比例的對應(yīng)關(guān)系,對所述偏差比例進(jìn)行調(diào)整。
      11.一種慢盤檢測裝置,其特征在于,包括: 檢測模塊,用于在檢測周期內(nèi),對存儲陣列中各硬盤是否為慢盤進(jìn)行至少兩次慢盤事件檢測,所述檢測包括:獲取存儲陣列中各硬盤的輸入輸出IO響應(yīng)時間,將各硬盤的IO響應(yīng)時間與慢盤事件判斷門限進(jìn)行比較,確定各硬盤中IO響應(yīng)時間超過所述慢盤事件判斷門限的硬盤出現(xiàn)慢盤事件; 判斷門限獲得模塊,用于每次檢測過程中,將各硬盤的IO響應(yīng)時間從高到低排列的前m個IO響應(yīng)時間的平均值作為慢盤事件判斷門限; 確定模塊,用于在所述檢測周期結(jié)束時,從所述檢測模塊獲得各硬盤出現(xiàn)慢盤事件的次數(shù),確定所述次數(shù)超過預(yù)設(shè)門限的硬盤為慢盤。
      12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置,其特征在于,所述m為固定值,或者, 所述裝置,還包括: 第一動態(tài)調(diào)整模塊,用于根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)打動態(tài)調(diào)整。
      13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置,其特征在于,所述第一動態(tài)調(diào)整模塊,具體用于: 若上一檢測周期預(yù)定時刻不同硬盤的慢盤事件次數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)慢盤事件次數(shù),并且所述不同硬盤的個數(shù)大于等于第一預(yù)設(shè)個數(shù),則根據(jù)每次檢測過程中的所述各硬盤的慢盤事件次數(shù)對所述m進(jìn)行動態(tài)調(diào)整。
      14.根據(jù)權(quán)利要求12或13所述的裝置,其特征在于,所述第一動態(tài)調(diào)整模塊,具體用于: 每次檢測過程中,動態(tài)調(diào)整所述m的大小,直到每次檢測確定出發(fā)生慢盤事件的硬盤個數(shù)小于等于第二預(yù)設(shè)個數(shù)。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其特征在于,還包括: 處理模塊,用于在檢測周期結(jié)束時,根據(jù)存儲陣列的冗余能力對慢盤事件次數(shù)最大的慢盤進(jìn)行隔離或者備份,或者,根據(jù)所述存儲陣列的冗余能力,按照慢盤事件次數(shù)的大小對慢盤依次進(jìn)行隔離或者備份。
      16.根據(jù)權(quán)利要求11~15任一項所述的裝置,其特征在于,所述慢盤事件判斷門限為所述平均值與一偏移量之和。
      17.根據(jù)權(quán)利要求16所述的裝置,其特征在于,所述偏移量為所述平均值乘以偏差比例。
      18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的裝置,其特征在于,還包括: 第二動態(tài)調(diào)整模塊,用于根據(jù)每次檢測過程中的所述平均值動態(tài)調(diào)整所述比例偏差。
      19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的裝置,其特征在于,所述第二動態(tài)調(diào)整模塊,具體用于: 每次檢測過程中,根據(jù)所述平均值及預(yù)設(shè)的平均值與偏差比例的對應(yīng)關(guān)系,對所述偏差比例進(jìn)行調(diào)整。
      【文檔編號】G06F11/16GK103810062SQ201410078998
      【公開日】2014年5月21日 申請日期:2014年3月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月5日
      【發(fā)明者】霍杰 申請人:華為技術(shù)有限公司
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