一種模擬內(nèi)存ecc error發(fā)生裝置的方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種模擬內(nèi)存ECC?ERROR發(fā)生裝置的方法，選取64位數(shù)據(jù)信號中的一位，通過轉(zhuǎn)接卡在硬件上面進(jìn)行開關(guān)切換動(dòng)作----開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路，人為制造信號傳送error，以鑒別主板端是否具有ECC功能。通過本發(fā)明所提供的方法，可以模擬產(chǎn)生ECCerror，檢驗(yàn)主板平臺BIOS對于error的檢出能力。
【專利說明】—種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法。
技術(shù)背景
[0002]ECC是“Error Checking and Correcting”的簡寫，中文名稱是“錯(cuò)誤檢查和糾正”。ECC是一種能夠?qū)崿F(xiàn)“錯(cuò)誤檢查和糾正”的技術(shù)，ECC內(nèi)存就是應(yīng)用了這種技術(shù)的內(nèi)存，一般多應(yīng)用在服務(wù)器及圖形工作站上，這將使整個(gè)電腦系統(tǒng)在工作時(shí)更趨于安全穩(wěn)定。
[0003]內(nèi)存是一種電子器件，在其工作過程中難免會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤，而對于穩(wěn)定性要求高的用戶來說，內(nèi)存錯(cuò)誤可能會(huì)引起致命性的問題。內(nèi)存錯(cuò)誤根據(jù)其原因還可分為硬錯(cuò)誤和軟錯(cuò)誤。硬件錯(cuò)誤是由于硬件的損害或缺陷造成的，因此數(shù)據(jù)總是不正確；軟錯(cuò)誤是隨機(jī)出現(xiàn)的，例如在內(nèi)存附近突然出現(xiàn)電子干擾等因素都可能造成內(nèi)存軟錯(cuò)誤的發(fā)生。
[0004]在內(nèi)存中不帶“奇偶校驗(yàn)”的內(nèi)存中的每個(gè)字節(jié)只有8位，若它的某一位存儲(chǔ)出了錯(cuò)誤，就會(huì)使其中存儲(chǔ)的相應(yīng)數(shù)據(jù)發(fā)生改變而導(dǎo)致應(yīng)用程序發(fā)生錯(cuò)誤。而帶有“奇偶校驗(yàn)”的內(nèi)存在每一字節(jié)(8位)外又額外增加了一位用來進(jìn)行錯(cuò)誤檢測。
[0005]當(dāng)CPU返回讀取存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)時(shí)，它會(huì)再次相加前8位中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)，計(jì)算結(jié)果是否與校驗(yàn)位相一致。當(dāng)CPU發(fā)現(xiàn)二者不同時(shí)就試圖糾正這些錯(cuò)誤，但Parity功能只能檢測出錯(cuò)誤而無法對其進(jìn)行修正，同時(shí)雖然雙位同時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的概率相當(dāng)?shù)?，但奇偶校?yàn)卻無法檢測出雙位錯(cuò)誤。
[0006]當(dāng)數(shù)據(jù)量非常大時(shí)，數(shù)據(jù)出錯(cuò)的幾率也就越大，對于只能檢測單bit錯(cuò)誤的奇偶檢驗(yàn)就顯得力不從心了，基于這樣一種情況，一種新的內(nèi)存技術(shù)應(yīng)允而生了，這就是ECC(錯(cuò)誤檢查和糾正)，這種技術(shù)也是在原來的數(shù)據(jù)位上外加校驗(yàn)位來實(shí)現(xiàn)的。它與Parity不同的是如果數(shù)據(jù)位是8位，則需要增加5位來進(jìn)行ECC錯(cuò)誤檢查和糾正，數(shù)據(jù)位每增加一倍，ECC只增加一位檢驗(yàn)位?？傊趦?nèi)存中ECC能夠容許錯(cuò)誤，并可以將錯(cuò)誤更正，使系統(tǒng)得以持續(xù)正常的操作，不致因錯(cuò)誤而中斷，且ECC具有自動(dòng)更正的能力，可以將Parity無法檢查出來的錯(cuò)誤位查出并將錯(cuò)誤修正。
[0007]ECC錯(cuò)誤類型:
1.硬失效，指內(nèi)存顆粒里確實(shí)有物理Cell失效，而且故障現(xiàn)象較容易復(fù)現(xiàn)。 [0008]測試手段:
ATE設(shè)備?理論上能100%抓到失效故障，但由于設(shè)備測試的Pattern數(shù)量有限，故有些故障可能抓不到；
主板測試?理論上只要主板測試軟件的Pattern庫足夠豐富，此類硬失效故障是可以抓出來；(有些此類故障需要特殊的Pattern才會(huì)測試fail)
2.Soft Failure:
軟失效，指曾經(jīng)發(fā)現(xiàn)有失效，但其失效現(xiàn)象很難復(fù)制，可能需要很長時(shí)間老化測試才能復(fù)制出故障現(xiàn)象。
[0009]主板測試:此類問題可能是由于客戶端平臺在長時(shí)間老化過程中，由于各種原因(如老化時(shí)某內(nèi)存顆粒局部偶爾溫度升溫)偶爾的一次報(bào)錯(cuò)導(dǎo)致，但很難復(fù)制出失效現(xiàn)象，有時(shí)會(huì)被我們判定為NTF條子。此類故障復(fù)制需要足夠長的測試時(shí)間(有些需要花一兩個(gè)周時(shí)間)老化測試來復(fù)制現(xiàn)象。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0010]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法。
[0011]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法，選取64位數(shù)據(jù)信號中的一位，通過轉(zhuǎn)接卡在硬件上面進(jìn)行開關(guān)切換動(dòng)作，開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路，人為制造信號傳送error，以鑒別主板端是否具有ECC功能。
[0012]對應(yīng)DQ信號與GND信號可以根據(jù)金手指pin序號找到。
[0013]一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生轉(zhuǎn)接卡，所述轉(zhuǎn)接卡上設(shè)置有切換開關(guān)，開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路。
[0014]本發(fā)明的有益效果為:通過本發(fā)明所提供的方法，可以模擬產(chǎn)生ECC eiror，檢驗(yàn)主板平臺BIOS對于error的檢出能力。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為Parity和ECC驗(yàn)證需要增加的數(shù)據(jù)位數(shù)表。
【具體實(shí)施方式】
[0016]下面參照實(shí)施例，通過【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明進(jìn)一步說明:
實(shí)施例1:
一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法，選取64位數(shù)據(jù)信號中的一位，通過轉(zhuǎn)接卡在硬件上面進(jìn)行開關(guān)切換動(dòng)作一一開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路，人為制造信號傳送error，以鑒別主板端是否具有ECC功能。
[0017]例如，由控制器該10發(fā)送的一串信號為10101101在，經(jīng)過人為開關(guān)短路后信號為持續(xù)低電平00000000，這樣主板系統(tǒng)若是具有ECC功能，則會(huì)自動(dòng)進(jìn)行此error識別和糾錯(cuò)，并在PMC中反映出來。若主板不具有ECC功能則系統(tǒng)可能因?yàn)榇碎_關(guān)切換導(dǎo)致死機(jī)或其他故障，并反映在PMC系統(tǒng)中。
[0018]實(shí)施例2:
在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，本實(shí)施例對應(yīng)DQ信號與GND信號可以根據(jù)金手指pin序號找到。
[0019]實(shí)施例3:
一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生轉(zhuǎn)接卡，所述轉(zhuǎn)接卡上設(shè)置有切換開關(guān)，開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路。
【權(quán)利要求】
1.一種模擬內(nèi)存ECC ERROR發(fā)生裝置的方法，其特征在于:選取64位數(shù)據(jù)信號中的一位，通過轉(zhuǎn)接卡在硬件上面進(jìn)行開關(guān)切換動(dòng)作，開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路，人為制造信號傳送error，以鑒別主板端是否具有ECC功能。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種模擬內(nèi)存ECCERROR發(fā)生裝置的方法，其特征在于:根據(jù)金手指Pin序號找到對應(yīng)DQ信號與GND信號短接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種模擬內(nèi)存ECCERROR發(fā)生轉(zhuǎn)接卡，其特征在于:所述轉(zhuǎn)接卡上設(shè)置有切換開關(guān)，開關(guān)兩端分別接DQ信號和GND信號，當(dāng)開關(guān)切換后導(dǎo)致DQ和GND短路。
【文檔編號】G06F12/14GK103984650SQ201410204618
【公開日】2014年8月13日 申請日期:2014年5月15日 優(yōu)先權(quán)日:2014年5月15日
【發(fā)明者】劉勝, 康艷麗 申請人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司