一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，包括以下步驟：(1)封蓋前，將嵌入式程序和初始標(biāo)定參數(shù)燒寫到慣性測(cè)量單元Flash中；(2)完成篩選試驗(yàn)階段和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)后，慣性測(cè)量單元升級(jí)零位溫度補(bǔ)償系數(shù)和標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)；(3)完成常溫標(biāo)定試驗(yàn)后，慣性測(cè)量單元升級(jí)常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)、交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)；(4)完成精度驗(yàn)證試驗(yàn)；本發(fā)明解決慣性測(cè)量單元傳統(tǒng)生產(chǎn)過程中，需要多次修改嵌入式程序的問題，在整個(gè)生產(chǎn)過程中，只需要對(duì)慣性測(cè)量單元燒寫一次嵌入式程序，然后，根據(jù)生產(chǎn)情況升級(jí)相應(yīng)的參數(shù)，無需修改嵌入式程序頭文件，減少人工錯(cuò)誤，安全可靠，適用于大批量慣性測(cè)量單元的生產(chǎn)。
【專利說明】一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，特別是一種使 慣性測(cè)量單元的嵌入式程序和產(chǎn)品參數(shù)分離的方法，屬于慣性測(cè)量單元【技術(shù)領(lǐng)域】。

【背景技術(shù)】
[0002] -種由微傳感器（微機(jī)械陀螺和加速度計(jì)）、微處理器（ARM或DSP)和電路集成的 慣性測(cè)量單元，能實(shí)時(shí)提供載體的角速度與線加速度，目前在戰(zhàn)術(shù)武器控制和戰(zhàn)略武器遙 測(cè)等領(lǐng)域中已獲得廣泛應(yīng)用。
[0003] 慣性測(cè)量單元在整個(gè)生成過程中需要進(jìn)行篩選試驗(yàn)、溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo)定試 驗(yàn)、精度驗(yàn)證試驗(yàn)，交付用戶后或者返廠時(shí)進(jìn)行二次標(biāo)定試驗(yàn)等大量試驗(yàn)，試驗(yàn)狀態(tài)不一樣 導(dǎo)致產(chǎn)品需要的參數(shù)也不一樣。通常情況下，完成試驗(yàn)后，得到相應(yīng)的參數(shù)，生成相應(yīng)的嵌 入式程序，再將嵌入式程序的二進(jìn)制文件燒寫到慣性測(cè)量單元中。
[0004] 因此，慣性測(cè)量單元在生產(chǎn)過程或交付后參數(shù)升級(jí)在實(shí)際應(yīng)用中存在的難點(diǎn)：（1) 在參數(shù)升級(jí)時(shí)，如何避免修改嵌入式程序，減少手動(dòng)修改軟件時(shí)帶來的錯(cuò)誤風(fēng)險(xiǎn)；（2)如何 設(shè)計(jì)嵌入式程序和參數(shù)升級(jí)流程，使參數(shù)升級(jí)安全可靠，適用于大批量生產(chǎn)。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，提供一種適用于慣性測(cè)量單元全生 產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，該方法解決傳統(tǒng)方法中參數(shù)升級(jí)時(shí)需要修改嵌入式程序的問題， 能夠有效防止更改軟件引入錯(cuò)誤風(fēng)險(xiǎn)，簡(jiǎn)單便捷，安全可靠，適用于慣性測(cè)量單元的大批量 生產(chǎn)。
[0006] 本發(fā)明的上述目的主要是通過如下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn)的：
[0007] -種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，通過慣性測(cè)量單元、上位 機(jī)和數(shù)據(jù)庫組成的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，其中慣性測(cè)量單元包括Flash，F(xiàn)lash包括程序存儲(chǔ)模塊和參 數(shù)存儲(chǔ)模塊，具體實(shí)現(xiàn)過程如下：
[0008] 步驟（一）、在慣性測(cè)量單元封蓋前，上位機(jī)將嵌入式程序燒寫到慣性測(cè)量單元 Flash中的程序存儲(chǔ)模塊中；同時(shí)上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取初始狀態(tài)下的產(chǎn)品狀態(tài)字S。、濾 波器參數(shù)、零位溫度補(bǔ)償系數(shù)4、標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)KI、常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)隊(duì)、交叉耦 合補(bǔ)償系數(shù)凡、相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R%和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)燒寫到慣性測(cè)量單元 Flash的參數(shù)存儲(chǔ)模塊中；之后對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行封蓋；
[0009] 步驟（二）、對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行篩選試驗(yàn)和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的零位 溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\，將所述零位溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫 度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中覆蓋&和Κ?；，修改產(chǎn)品狀態(tài)字\為Si ;之后上位機(jī)從數(shù)據(jù) 庫中讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)，生成二進(jìn)制文件；
[0010] 步驟（三）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所 有數(shù)據(jù)，將步驟（二）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中； toon] 步驟（四）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的常溫標(biāo)定補(bǔ) 償系數(shù)K和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A，將所述常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)&和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)札存 儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中覆蓋隊(duì)和凡，修改產(chǎn)品狀態(tài)字Si為S 2 ;上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)， 生成二進(jìn)制文件；
[0012] 步驟（五）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所 有數(shù)據(jù)，將步驟（四）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中；
[0013] 步驟（六）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行精度驗(yàn)證試驗(yàn)。
[0014] 在上述適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法中，步驟（一）中的嵌入 式程序包括篩選試驗(yàn)、溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo)定試驗(yàn)和精度驗(yàn)證試驗(yàn)對(duì)應(yīng)的程序，不同的程 序?qū)?yīng)不同的產(chǎn)品狀態(tài)字，其中&對(duì)應(yīng)篩選試驗(yàn)和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)，Si對(duì)應(yīng)常溫標(biāo)定試驗(yàn)，s 2 對(duì)應(yīng)精度驗(yàn)證試驗(yàn)，慣性測(cè)量單元上電后，讀取Flash的參數(shù)存儲(chǔ)模塊內(nèi)的產(chǎn)品狀態(tài)字，運(yùn) 行產(chǎn)品狀態(tài)字對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)。
[0015] 在上述適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法中，升級(jí)后的常溫標(biāo)定補(bǔ) 償系數(shù)隊(duì)和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A在規(guī)定的有效期過后，再次進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到修正 后的相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)RK和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)RMi，覆蓋相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R%和相 對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)RM〇,從而提高產(chǎn)品精度。
[0016] 本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是：
[0017] (1)本發(fā)明針對(duì)傳統(tǒng)慣性測(cè)量單元在整個(gè)生成過程中需要進(jìn)行多次參數(shù)升級(jí)，步 驟繁瑣的缺點(diǎn)，創(chuàng)新提出一種新的參數(shù)升級(jí)方法，通過搭建由上位機(jī)、數(shù)據(jù)庫和慣性測(cè)量單 元中的Flash組成的系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)，F(xiàn)lash由程序存儲(chǔ)模塊與參數(shù)存儲(chǔ)模塊組成，通過將嵌入 式程序燒寫到慣性測(cè)量單元Flash中的程序存儲(chǔ)模塊中，后續(xù)僅進(jìn)行參數(shù)升級(jí)，避免修改 嵌入式程序，減少手動(dòng)修改軟件時(shí)帶來的錯(cuò)誤風(fēng)險(xiǎn)，簡(jiǎn)單便捷，安全可靠；
[0018] (2)本發(fā)明相對(duì)于傳統(tǒng)技術(shù)中升級(jí)參數(shù)時(shí)手動(dòng)修改嵌入式程序的頭文件的做法， 本發(fā)明利用上位機(jī)直接讀取數(shù)據(jù)庫中產(chǎn)品參數(shù)，自動(dòng)生成二進(jìn)制參數(shù)文件，與慣性測(cè)量單 元通信，燒寫到慣性測(cè)量單元指定的Flash地址中，使參數(shù)升級(jí)流程安全可靠，同時(shí)，提高 了產(chǎn)品的生產(chǎn)效率，適用于慣性測(cè)量單元的大批量生產(chǎn)；
[0019] (3)本發(fā)明使用的嵌入式程序在上電后讀取Flash的參數(shù)存儲(chǔ)模塊內(nèi)產(chǎn)品狀態(tài) 字，選擇適合于當(dāng)前狀態(tài)的程序模塊分支，使程序適用于篩選試驗(yàn)和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo) 定試驗(yàn)、精度驗(yàn)證試驗(yàn)，避免了多次修改嵌入式程序，操作更加簡(jiǎn)便，易于實(shí)現(xiàn)；
[0020] (4)本發(fā)明在標(biāo)定參數(shù)有效期過后，將修正后的標(biāo)定參數(shù)升級(jí)到慣性測(cè)量單元中， 修正產(chǎn)品內(nèi)部的標(biāo)定參數(shù)，獲得更準(zhǔn)確的角速度和加速度輸出。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0021] 圖1為本發(fā)明慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)硬件實(shí)現(xiàn)圖；
[0022] 圖2為本發(fā)明慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)流程圖；
[0023] 圖3為本發(fā)明慣性測(cè)量單元參數(shù)升級(jí)時(shí)嵌入式程序主函數(shù)流程圖；
[0024] 圖4為本發(fā)明某慣性測(cè)量單元的Flash中程序存儲(chǔ)模塊與參數(shù)存儲(chǔ)模塊地址分配 圖；
[0025] 圖5為本發(fā)明慣性測(cè)量單元參數(shù)升級(jí)中上位機(jī)軟件流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0026] 下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述：
[0027] 適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)的方法用于在生產(chǎn)過程中對(duì) 慣性測(cè)量單元進(jìn)行參數(shù)升級(jí)，其目的是可靠、高效地對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行參數(shù)升級(jí)。本發(fā)明 的特點(diǎn)在于：1、采用嵌入式程序和參數(shù)分離的編排方法，在參數(shù)升級(jí)時(shí)避免升級(jí)嵌入式程 序，減少手動(dòng)修改程序時(shí)帶來的錯(cuò)誤風(fēng)險(xiǎn)；2、利用上位機(jī)讀取數(shù)據(jù)庫中產(chǎn)品參數(shù)，自動(dòng)生成 二進(jìn)制參數(shù)文件，與慣性測(cè)量單元通信，燒寫到慣性測(cè)量單元指定的Flash地址中，使參數(shù) 升級(jí)流程安全可靠，適用于批量慣性測(cè)量單元產(chǎn)品生產(chǎn)。
[0028] 如圖1所示為本發(fā)明慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)硬件實(shí)現(xiàn)圖；圖 2所示為本發(fā)明的慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)流程圖，本發(fā)明適用于慣性 測(cè)量單元全生產(chǎn)過程中不開蓋參數(shù)升級(jí)的方法，通過慣性測(cè)量單元、上位機(jī)和數(shù)據(jù)庫組成 的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，其中慣性測(cè)量單元包括Flash，F(xiàn)lash包括程序存儲(chǔ)模塊和參數(shù)存儲(chǔ)模塊，具 體實(shí)現(xiàn)過程如下：
[0029] 步驟（一）、在慣性測(cè)量單元封蓋前，上位機(jī)將嵌入式程序燒寫到慣性測(cè)量單元 Flash中的程序存儲(chǔ)模塊中；上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取初始狀態(tài)下的產(chǎn)品狀態(tài)字S。、濾波器參 數(shù)、零位溫度補(bǔ)償系數(shù)4、標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?；、常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)隊(duì)、交叉耦合補(bǔ)償 系數(shù)凡、相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R%和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)燒寫到慣性測(cè)量單元Flash的 參數(shù)存儲(chǔ)模塊中；之后對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行封蓋。
[0030] 步驟（二）、對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行篩選試驗(yàn)和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的零位 溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\，將所述零位溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫 度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中覆蓋&和Κ?；，修改產(chǎn)品狀態(tài)字\為Si ;上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中 讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)，生成二進(jìn)制文件。存儲(chǔ)參數(shù)包括產(chǎn)品狀態(tài)字Si、濾波器參數(shù)、零位溫度 補(bǔ)償系數(shù)Zi、標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\、常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)隊(duì)、交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)凡、相對(duì) 標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R&和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)RMp
[0031] 步驟（三）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所 有數(shù)據(jù)，將步驟（二）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中。
[0032] 步驟（四）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的常溫標(biāo)定補(bǔ) 償系數(shù)K和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A，將所述常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)&和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)札存 儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中覆蓋隊(duì)和凡，修改產(chǎn)品狀態(tài)字Si為S 2 ;上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)， 生成二進(jìn)制文件。存儲(chǔ)參數(shù)包括產(chǎn)品狀態(tài)字S2、濾波器參數(shù)、零位溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi、標(biāo)度因 數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\、常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)&、交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A、相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R%和 相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)RM〇。
[0033] 步驟（五）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所 有數(shù)據(jù)，將步驟（四）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中。
[0034] 步驟（六）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行精度驗(yàn)證試驗(yàn)。
[0035] 上述步驟（一）中的嵌入式程序包括篩選試驗(yàn)、溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo)定試驗(yàn)和精 度驗(yàn)證試驗(yàn)對(duì)應(yīng)的程序，不同的程序?qū)?yīng)不同的產(chǎn)品狀態(tài)字，其中\(zhòng)對(duì)應(yīng)篩選試驗(yàn)和溫度 補(bǔ)償試驗(yàn)，Si對(duì)應(yīng)常溫標(biāo)定試驗(yàn)，S 2對(duì)應(yīng)精度驗(yàn)證試驗(yàn)，慣性測(cè)量單元上電后，讀取Flash的 參數(shù)存儲(chǔ)模塊內(nèi)的產(chǎn)品狀態(tài)字，運(yùn)行產(chǎn)品狀態(tài)字對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)。嵌入式程序適用于篩選試驗(yàn)、 溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo)定試驗(yàn)、精度驗(yàn)證試驗(yàn)，而無需在上述試驗(yàn)前重新更改嵌入式程序頭 文件、燒寫嵌入式程序的程序。
[0036] 升級(jí)后的常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)&和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A在規(guī)定的有效期過后，再次 進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到修正后的相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)RNi和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)RMp覆 蓋相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R&和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)，從而修正產(chǎn)品標(biāo)定參數(shù)，獲得更準(zhǔn) 確的角速度和加速度輸出。
[0037] 如圖3所示為本發(fā)明全生產(chǎn)過程中參數(shù)升級(jí)時(shí)嵌入式程序主函數(shù)流程圖，慣性測(cè) 量單元上電后，根據(jù)產(chǎn)品狀態(tài)字的判斷，進(jìn)行程序模塊的選擇。本發(fā)明的軟件流程可以避免 升級(jí)軟件，僅升級(jí)參數(shù)即可滿足慣性測(cè)量單元整個(gè)生產(chǎn)過程的需要。過程如下：
[0038] a、慣性測(cè)量單元上電后，讀取Flash中產(chǎn)品狀態(tài)字地址，得到產(chǎn)品所處的生產(chǎn)階 段；
[0039] b、若在篩選試驗(yàn)過程和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)階段，即在常溫標(biāo)定試驗(yàn)階段前，則設(shè)置濾 波器標(biāo)志為1，零位溫度補(bǔ)償標(biāo)志為〇,交付驗(yàn)收標(biāo)志為〇 ;
[0040] C、若在常溫標(biāo)定試驗(yàn)階段，即在精度驗(yàn)證試驗(yàn)階段前，則設(shè)置濾波器標(biāo)志為1，零 位溫度補(bǔ)償標(biāo)志為1，交付驗(yàn)收標(biāo)志為0 ;
[0041] d、若在精度驗(yàn)證試驗(yàn)階段或二次標(biāo)定試驗(yàn)階段，則設(shè)置濾波器標(biāo)志為1，零位溫度 補(bǔ)償標(biāo)志為1，交付驗(yàn)收標(biāo)志為1 ;
[0042] e、讀取相關(guān)參數(shù)，進(jìn)行參數(shù)CRC校驗(yàn)，若CRC校驗(yàn)正確，則根據(jù)產(chǎn)品狀態(tài)字進(jìn)行程 序模塊的調(diào)用；若CRC校驗(yàn)錯(cuò)誤，則報(bào)錯(cuò)。
[0043] 如圖4所示為本發(fā)明某慣性測(cè)量單元的Flash中程序存儲(chǔ)模塊與參數(shù)存儲(chǔ)模塊地 址分配圖。零位溫度補(bǔ)償系數(shù)包括加速度計(jì)零位溫度補(bǔ)償系數(shù)和陀螺零位溫度補(bǔ)償系數(shù)， 標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)包括加速度計(jì)標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)和陀螺標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系 數(shù)，常態(tài)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)包括加速度計(jì)常態(tài)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)和陀螺常態(tài)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)，交叉耦 合補(bǔ)償系數(shù)包括加速度計(jì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)和陀螺交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)。其中，產(chǎn)品狀態(tài)字 為lbyte，表示產(chǎn)品所處的生產(chǎn)階段。從0x08002001開始，存放加速度計(jì)的相關(guān)參數(shù)，分別 有加速度計(jì)零位溫度補(bǔ)償系數(shù)、加速度計(jì)標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)、加速度計(jì)常態(tài)標(biāo)定補(bǔ)償 系數(shù)、加速度計(jì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)。從〇x〇800207C開始，存放濾波器參數(shù)。從0x08002133 開始，存放陀螺的相關(guān)參數(shù)，分別有陀螺零位溫度補(bǔ)償系數(shù)、陀螺標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)、 陀螺常態(tài)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)、陀螺交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)。從0x08003000開始，存放二次標(biāo)定補(bǔ)償 參數(shù)，產(chǎn)品參數(shù)有效期過后，更新該塊地址的參數(shù)，即可修正加速度計(jì)和陀螺的輸出，準(zhǔn)確 獲得載體的加速度和角速度值。
[0044] 如圖5所示為本發(fā)明慣性測(cè)量單元參數(shù)升級(jí)上位機(jī)的軟件流程圖。為降低錯(cuò)誤 幾率，減少操作嵌入式程序頭文件，上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取對(duì)應(yīng)產(chǎn)品代號(hào)和編號(hào)的相關(guān)參 數(shù)，根據(jù)產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，自動(dòng)生成相關(guān)參數(shù)二進(jìn)制文件，并按照既定的數(shù)據(jù)包格式，通過 RS422接口傳遞給慣性測(cè)量單元。慣性測(cè)量單元接收數(shù)據(jù)包，并進(jìn)行校驗(yàn)，校驗(yàn)通過后寫入 圖4中Flash的對(duì)應(yīng)地址處。上位機(jī)還具備參數(shù)驗(yàn)證功能，讀取慣性測(cè)量單元Flash內(nèi)參 數(shù)，與數(shù)據(jù)庫中參數(shù)進(jìn)行比對(duì)。通信過程中，上位機(jī)發(fā)給慣性測(cè)量單元三種數(shù)據(jù)包，格式依 次為：
[0045] 1)、升級(jí)請(qǐng)求指令包，共8個(gè)字節(jié)，格式如下：
[0046] <0xl0>〈0x80>〈控制字 >〈0x20X0x00>〈CRC>〈0xl0>〈0x03>
[0047] 其中，控制字為ΟχΟΒ，表示升級(jí)產(chǎn)品標(biāo)定參數(shù)；
[0048] 控制字為OxOC，表示升級(jí)二次標(biāo)定參數(shù)；
[0049] 控制字為OxOE，表示讀取產(chǎn)品標(biāo)定參數(shù)；
[0050] 控制字為0x0F，表示讀取二次標(biāo)定參數(shù)；
[0051] CRC校驗(yàn)公式見公式（1)(下同）。
[0052] CRC = X16+X12+X5+l.................................... (1)
[0053] 2)、二進(jìn)制文件（.bin文件）文件長(zhǎng)度包，共10個(gè)字節(jié)，格式如下：
[0054] 〈0xl0X0x80X0x03X 文件長(zhǎng)度 XCRCX0xl0X0x03>
[0055] 其中，文件長(zhǎng)度是4字節(jié)組成，低字節(jié)在前。
[0056] 3)、二進(jìn)制文件（· bin文件）數(shù)據(jù)包，共1030個(gè)字節(jié)，格式如下：
[0057] 〈0xl0X0x80X0x0DX 文件數(shù)據(jù)共 1024 個(gè)字節(jié) XCRCX0xl0X0x03>
[0058] 其中，文件數(shù)據(jù)由參數(shù)文件組成。
[0059] 以上所述，僅為本發(fā)明最佳的【具體實(shí)施方式】，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此， 任何熟悉本【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換， 都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0060] 本發(fā)明說明書中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬于本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員的公知技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1. 一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，其特征在于：通過慣性測(cè)量 單元、上位機(jī)和數(shù)據(jù)庫組成的系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)，其中慣性測(cè)量單元包括Flash，F(xiàn)lash包括程序存 儲(chǔ)模塊和參數(shù)存儲(chǔ)模塊，具體實(shí)現(xiàn)過程如下： 步驟（一）、在慣性測(cè)量單元封蓋前，上位機(jī)將嵌入式程序燒寫到慣性測(cè)量單元Flash 中的程序存儲(chǔ)模塊中；同時(shí)上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取初始狀態(tài)下的產(chǎn)品狀態(tài)字S。、濾波器參 數(shù)、零位溫度補(bǔ)償系數(shù)4、標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?；、常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)隊(duì)、交叉耦合補(bǔ)償 系數(shù)凡、相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R%和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)燒寫到慣性測(cè)量單元Flash的 參數(shù)存儲(chǔ)模塊中；之后對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行封蓋； 步驟（二）、對(duì)慣性測(cè)量單元進(jìn)行篩選試驗(yàn)和溫度補(bǔ)償試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的零位溫度 補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ)償系數(shù)Κ?\，將所述零位溫度補(bǔ)償系數(shù)Zi和標(biāo)度因數(shù)溫度補(bǔ) 償系數(shù)Κ?\存儲(chǔ)在數(shù)據(jù)庫中覆蓋&和Κ?；，修改產(chǎn)品狀態(tài)字\為Si ;之后上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中 讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)，生成二進(jìn)制文件； 步驟（三）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所有數(shù) 據(jù)，將步驟（二）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中； 步驟（四）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到升級(jí)所需的常溫標(biāo)定補(bǔ)償系 數(shù)K和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A，將所述常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)&和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A存儲(chǔ)在 數(shù)據(jù)庫中覆蓋隊(duì)和凡，修改產(chǎn)品狀態(tài)字Si為S 2 ;上位機(jī)從數(shù)據(jù)庫中讀取所有存儲(chǔ)參數(shù)，生 成二進(jìn)制文件； 步驟（五）、慣性測(cè)量單元上電，響應(yīng)升級(jí)指令，擦除Flash中參數(shù)存儲(chǔ)模塊中的所有數(shù) 據(jù)，將步驟（四）中生成的二進(jìn)制文件燒寫到參數(shù)存儲(chǔ)模塊中； 步驟（六）、慣性測(cè)量單元上電，進(jìn)行精度驗(yàn)證試驗(yàn)。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，其特 征在于：所述步驟（一）中的嵌入式程序包括篩選試驗(yàn)、溫度補(bǔ)償試驗(yàn)、常溫標(biāo)定試驗(yàn)和精 度驗(yàn)證試驗(yàn)對(duì)應(yīng)的程序，不同的程序?qū)?yīng)不同的產(chǎn)品狀態(tài)字，其中\(zhòng)對(duì)應(yīng)篩選試驗(yàn)和溫度 補(bǔ)償試驗(yàn)，Si對(duì)應(yīng)常溫標(biāo)定試驗(yàn)，S 2對(duì)應(yīng)精度驗(yàn)證試驗(yàn)，慣性測(cè)量單元上電后，讀取Flash的 參數(shù)存儲(chǔ)模塊內(nèi)的產(chǎn)品狀態(tài)字，運(yùn)行產(chǎn)品狀態(tài)字對(duì)應(yīng)的試驗(yàn)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于慣性測(cè)量單元全生產(chǎn)過程參數(shù)升級(jí)的方法，其 特征在于：所述升級(jí)后的常溫標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)K和交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)A在規(guī)定的有效期過 后，再次進(jìn)行常溫標(biāo)定試驗(yàn)，得到修正后的相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)RK和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù) RMi，覆蓋相對(duì)標(biāo)定補(bǔ)償系數(shù)R&和相對(duì)交叉耦合補(bǔ)償系數(shù)，從而提高產(chǎn)品精度。
【文檔編號(hào)】G06F17/30GK104063242SQ201410256782
【公開日】2014年9月24日 申請(qǐng)日期:2014年6月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月10日
【發(fā)明者】張鈺, 劉海濤, 汪守利, 唐珊珊, 白浪, 王磊 申請(qǐng)人:北京遙測(cè)技術(shù)研究所, 航天長(zhǎng)征火箭技術(shù)有限公司