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      細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法

      文檔序號(hào):6638209閱讀:200來源:國(guó)知局
      細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法
      【專利摘要】一種細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法,包括:以鍵值對(duì)的形式描述細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析所得出的指定內(nèi)存地址與其污染屬性的映射關(guān)系;并且直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中,其中所述兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)由作為第一級(jí)的高速內(nèi)存和作為第二級(jí)的大容量外存組成;從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中讀取期望獲取的鍵值對(duì),其中首先在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)進(jìn)行查找期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì)則讀取期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中未發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì),則在第二級(jí)存儲(chǔ)的鍵值對(duì)查找并讀取期望獲取的鍵值對(duì),同時(shí)將讀取出的期望獲取的鍵值對(duì)存儲(chǔ)至第一級(jí)的內(nèi)存中。
      【專利說明】細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001] 本發(fā)明涉及細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析領(lǐng)域,更具體地說,本發(fā)明涉及一種細(xì)顆粒度污點(diǎn) 分析中的污染屬性操作方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002] 污點(diǎn)分析是目前安全領(lǐng)域中應(yīng)用最為廣泛的分析技術(shù),在漏洞發(fā)掘、惡意軟件分 析、測(cè)試用例生成等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其基本思想是通過跟蹤外部輸入的數(shù)據(jù)在程序 中的傳播過程,和最終執(zhí)行的情況來分析是否存在安全漏洞和存在什么類別的漏洞,它不 需要任何特殊的攻擊性的測(cè)試數(shù)據(jù),而以一種溯源式的方式判斷外部傳遞數(shù)據(jù)對(duì)跳轉(zhuǎn)地 址、返回地址、函數(shù)指針的影響
      [0003] 細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析是污點(diǎn)分析技術(shù)的一種。指在污點(diǎn)標(biāo)記過程中把輸入數(shù)據(jù)的每 一個(gè)字節(jié)都進(jìn)行獨(dú)立編號(hào)和標(biāo)記,從而可以獨(dú)立地跟蹤輸入數(shù)據(jù)的每個(gè)字節(jié)在程序運(yùn)行過 程中的傳播過程和狀態(tài)信息。
      [0004] 由于細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析對(duì)于目標(biāo)軟件的輸入數(shù)據(jù)的每一個(gè)字節(jié)都進(jìn)行唯一的標(biāo) 記,因此引入如下問題:
      [0005] 1、程序運(yùn)行時(shí)使用的每個(gè)內(nèi)存單元都可能依賴于多個(gè)污點(diǎn)數(shù)據(jù),記錄每個(gè)內(nèi)存單 元(或寄存器)與污染屬性的映射關(guān)系對(duì)存儲(chǔ)空間需求很大;
      [0006] 2、程序運(yùn)行時(shí)每一條指令的執(zhí)行都可能導(dǎo)致污點(diǎn)由一個(gè)內(nèi)存地址傳播至另一個(gè) 內(nèi)存地址,傳播過程需要對(duì)內(nèi)存地址的污染屬性進(jìn)行合并、刪除等運(yùn)算操作,由于每條指令 的執(zhí)行都可能需要進(jìn)行計(jì)算,所以這一過程對(duì)計(jì)算性能有很高的要求。
      [0007] 目前,每個(gè)內(nèi)存單元的污染屬性通常是采用整數(shù)集合的形式進(jìn)行描述和存儲(chǔ),整 數(shù)集合中的每個(gè)數(shù)對(duì)應(yīng)于輸入數(shù)據(jù)中的一個(gè)字節(jié)的編號(hào);污點(diǎn)傳播過程中的污染屬性運(yùn) 算,實(shí)際是以整數(shù)集合合并的方式來實(shí)現(xiàn)。
      [0008] 細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析的污染屬性存儲(chǔ)的實(shí)際就是程序運(yùn)行時(shí)內(nèi)存地址(或寄存器, 下文同)與污點(diǎn)屬性的映射關(guān)系,記為加吋}。
      [0009] 以整數(shù)集合描述污點(diǎn)屬性進(jìn)行存儲(chǔ)和運(yùn)算,在空間和時(shí)間性能上都有很大的開 銷。典型的實(shí)驗(yàn)過程表明,1千萬條指令的執(zhí)行軌跡大小約I. 5GB,對(duì)小規(guī)模程序進(jìn)行動(dòng)態(tài) 污點(diǎn)分析產(chǎn)生的映射數(shù)據(jù)量即可達(dá)到10GB。使用SQL關(guān)系數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)海量的內(nèi)存地址與污 點(diǎn)屬性的映射關(guān)系效率并不理想。
      [0010] 非專利文獻(xiàn)1(王鐵磊,面向二進(jìn)制程序的漏洞挖掘關(guān)鍵技術(shù)研究,2011)提出以 規(guī)約有序二元決策圖(roBDD)取代整數(shù)集合進(jìn)行細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析,即以roBDD的形式記 錄{n^t}映射關(guān)系中的t的值,該方法可以在減少污染屬性的存儲(chǔ)空間需求的同時(shí),提升細(xì) 顆粒度污點(diǎn)傳播的運(yùn)行速度。但使用了roBDD取代整數(shù)集合,在內(nèi)存空間有限的情況下,細(xì) 顆粒度污點(diǎn)分析仍可能會(huì)遇到存儲(chǔ)空間和計(jì)算資源的性能瓶頸。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0011] 本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在上述缺陷,提供一種兩層存儲(chǔ) 結(jié)構(gòu)進(jìn)行細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析污染屬性的存儲(chǔ),供分析例程高速讀取和寫入細(xì)顆粒度污點(diǎn)分 析過程中產(chǎn)生的海量?jī)?nèi)存地址與污點(diǎn)屬性之間的映射關(guān)系。
      [0012] 為了實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的,根據(jù)本發(fā)明,提供了一種細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬 性操作方法,包括:以鍵值對(duì)的形式描述細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析所得出的指定內(nèi)存地址與其污 染屬性的映射關(guān)系;直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中,其中所述兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)由 作為第一級(jí)的高速內(nèi)存和作為第二級(jí)的大容量外存組成;以及從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中讀取期 望獲取的鍵值對(duì),其中首先在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)進(jìn)行查找期望獲取的鍵值對(duì), 如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì)則讀取期望獲取的鍵值對(duì), 如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中未發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì),則在第二級(jí)存儲(chǔ)的鍵值 對(duì)查找并讀取期望獲取的鍵值對(duì),同時(shí)將讀取出的期望獲取的鍵值對(duì)存儲(chǔ)至第一級(jí)的內(nèi)存 中。
      [0013] 優(yōu)選地,污染屬性操作方法還包括:從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中刪除待刪除鍵值對(duì)。
      [0014] 優(yōu)選地,在每個(gè)鍵值對(duì)中,鍵用于存儲(chǔ)內(nèi)存地址,值用于存儲(chǔ)該內(nèi)存地址的當(dāng)前的 污染屬性。
      [0015] 優(yōu)選地,在第一級(jí)的內(nèi)存中使用B+樹結(jié)構(gòu)對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ)。
      [0016] 優(yōu)選地,在第二級(jí)的外存中使用Hash表對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ)。
      [0017] 優(yōu)選地,在直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中時(shí),在第一級(jí)和第二級(jí)上同 時(shí)進(jìn)行所述鍵值對(duì)的存儲(chǔ)。
      [0018] 優(yōu)選地,在第一級(jí)的內(nèi)存的存儲(chǔ)容量達(dá)到上限時(shí),通過LRU策略淘汰出舊的數(shù)據(jù)。
      [0019] 通過在本發(fā)明提出的兩級(jí)存儲(chǔ)方法,直接以鍵值對(duì)形式存儲(chǔ)細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析過 程中產(chǎn)生的海量?jī)?nèi)存地址與污點(diǎn)屬性之間的映射關(guān)系,在第一級(jí)內(nèi)存空間充足的情況下, 可達(dá)到最高的讀寫性能;而在內(nèi)存空間有限的情況下,也可借助大容量的第二級(jí)存儲(chǔ)存儲(chǔ) 更多的數(shù)據(jù),同時(shí)將讀寫性能的下降盡可能減少。并且,這些過程都在內(nèi)部實(shí)現(xiàn),外部細(xì)顆 粒度污點(diǎn)分析例程調(diào)用完全不需要知道內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的細(xì)節(jié)。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0020] 結(jié)合附圖,并通過參考下面的詳細(xì)描述,將會(huì)更容易地對(duì)本發(fā)明有更完整的理解 并且更容易地理解其伴隨的優(yōu)點(diǎn)和特征,其中:
      [0021] 圖1示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性 操作方法的流程圖。
      [0022] 圖2示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析的污染屬性存 儲(chǔ)架構(gòu)。
      [0023] 圖3示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的污染屬性存儲(chǔ)架構(gòu)的第一級(jí)。
      [0024] 圖4示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的污染屬性存儲(chǔ)架構(gòu)的第二級(jí)。
      [0025] 圖5示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性 操作方法的具體實(shí)例。
      [0026] 需要說明的是,附圖用于說明本發(fā)明,而非限制本發(fā)明。注意,表示結(jié)構(gòu)的附圖可 能并非按比例繪制。并且,附圖中,相同或者類似的元件標(biāo)有相同或者類似的標(biāo)號(hào)。

      【具體實(shí)施方式】
      [0027] 為了使本發(fā)明的內(nèi)容更加清楚和易懂,下面結(jié)合具體實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明的內(nèi) 容進(jìn)行詳細(xì)描述。
      [0028] 本發(fā)明針對(duì)細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析污染屬性的數(shù)據(jù)特征,提出一種存儲(chǔ)方法,該方法 采用圖2所示的兩個(gè)級(jí)別的鍵值對(duì)(key/value)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)系統(tǒng),其中每一條鍵值對(duì)數(shù)據(jù),對(duì) 應(yīng)一個(gè)內(nèi)存地址和其污點(diǎn)屬性的映射關(guān)系,即"鍵"用于存儲(chǔ)內(nèi)存地址,"值"用于存儲(chǔ)該內(nèi) 存地址當(dāng)前的污染屬性。鍵值對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)既沒有關(guān)系數(shù)據(jù)庫(kù)表的概念,也不存在數(shù)據(jù)類型, 屬于NOSQL數(shù)據(jù)庫(kù)的范疇。
      [0029] 圖1示意性地示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性 操作方法的流程圖。
      [0030] 如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法 包括:
      [0031] 第一步驟Sl:以鍵值對(duì)的形式描述細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析所得出的指定內(nèi)存地址與 其污染屬性的映射關(guān)系,其中在每個(gè)鍵值對(duì)中,鍵用于存儲(chǔ)內(nèi)存地址,值用于存儲(chǔ)該內(nèi)存地 址的當(dāng)前的污染屬性;
      [0032] 第二步驟S2 :直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中,其中所述兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng) 由作為第一級(jí)的高速內(nèi)存和作為第二級(jí)的大容量外存組成;以及
      [0033] 第三步驟S3 :從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中讀取期望獲取的鍵值對(duì),其中首先在第一級(jí)的內(nèi) 存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)進(jìn)行查找期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中發(fā) 現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì)則讀取期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中未 發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對(duì),則在第二級(jí)存儲(chǔ)的鍵值對(duì)查找并讀取期望獲取的鍵值對(duì),同時(shí)將 讀取出的期望獲取的鍵值對(duì)存儲(chǔ)至第一級(jí)的內(nèi)存中。
      [0034] 具體而言,優(yōu)選地,在第一級(jí)的內(nèi)存中使用B+樹結(jié)構(gòu)對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ),其結(jié)構(gòu) 如圖3所示,為了盡量使計(jì)算在容量有限的一級(jí)存儲(chǔ)上進(jìn)行,在數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上優(yōu)先考慮 降低空間復(fù)雜度,由于B+樹的實(shí)現(xiàn)上每個(gè)記錄頭只需4個(gè)字節(jié),從而最大程度優(yōu)化了空間 復(fù)雜度,降低內(nèi)存使用量,根據(jù)內(nèi)存地址查找其污染屬性的時(shí)間復(fù)雜度O(IogN),N為污點(diǎn) 屬性數(shù)據(jù)的總條數(shù),使用LRU(Least Recent Use)策略刪除最不常用的數(shù)據(jù);
      [0035] 此外,優(yōu)選地,在第二級(jí)的外存中使用Hash表對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ),其結(jié)構(gòu)如圖4 所示,根據(jù)內(nèi)存地址查找其污染屬性的時(shí)間復(fù)雜度〇(1),優(yōu)于第一次存儲(chǔ),但每個(gè)記錄頭需 16個(gè)字節(jié),占用存儲(chǔ)空間相對(duì)第一級(jí)變大。
      [0036] 優(yōu)選地,定義兩級(jí)存儲(chǔ)的使用策略為:在直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng) 中時(shí),在第一級(jí)和第二級(jí)上同時(shí)進(jìn)行所述鍵值對(duì)的存儲(chǔ)(即,鍵值對(duì)被隨機(jī)地存儲(chǔ)在第一 級(jí)或第二級(jí)中);此外優(yōu)選地,在第一級(jí)的內(nèi)存的存儲(chǔ)容量達(dá)到上限時(shí),通過LRU(Least Recently Used近期最少使用算法)策略淘汰出舊的數(shù)據(jù)。
      [0037] 優(yōu)選地,兩級(jí)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)對(duì)外僅提供三種操作:
      [0038] 今寫入:為指定內(nèi)存地址設(shè)置污染屬性的;
      [0039] 今讀?。韩@取指定內(nèi)存地址對(duì)應(yīng)污染屬性的;
      [0040] 今清空:刪除指定內(nèi)存地址的污染屬性。
      [0041] 兩級(jí)存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)對(duì)外部調(diào)用完全透明。外部的細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析例程都 可通過簡(jiǎn)單的外部接口調(diào)用實(shí)現(xiàn)上述三種操作。
      [0042] 【具體實(shí)例】
      [0043] 為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員更好地理解本發(fā)明中的技術(shù)方案,下面將描述本發(fā)明方 案的應(yīng)用實(shí)施例,顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施 例?;诒景l(fā)明中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所獲得的所有其他實(shí)施例,都應(yīng)當(dāng)屬于本 發(fā)明保護(hù)的范圍。
      [0044] 以本發(fā)明構(gòu)建污染屬性存儲(chǔ)系統(tǒng),典型的應(yīng)用實(shí)例見圖5,包括指定內(nèi)存地址污染 屬性的寫入、讀取和清空。
      [0045] +寫入指定內(nèi)存的污染屬性:細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析例程分析過程得到的以整數(shù)集 合描述的內(nèi)存地址與污染屬性的映射關(guān)系,經(jīng)過污染屬性運(yùn)算,污染屬性先轉(zhuǎn)換為roBDD 結(jié)構(gòu)再轉(zhuǎn)換為字符串作為值,再與作為鍵的內(nèi)存地址組成一條鍵值對(duì)數(shù)據(jù),同時(shí)寫入污染 屬性存儲(chǔ)系統(tǒng)的兩個(gè)級(jí)別存儲(chǔ)中。
      [0046] +讀取指定內(nèi)存地址污染屬性:對(duì)于請(qǐng)求的內(nèi)存地址m,污染屬性存儲(chǔ)系統(tǒng)首先 在第一級(jí)存儲(chǔ)中尋找對(duì)應(yīng)的污染屬性值t(字符串形式描述的roBDD結(jié)構(gòu)),若未找到,則在 第二級(jí)存儲(chǔ)中尋找,找到匹配的鍵值對(duì)后,進(jìn)行兩個(gè)操作:1)通過污點(diǎn)屬性預(yù)算將t轉(zhuǎn)換為 整數(shù)集合后返回給細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析例程,2)將該鍵值對(duì)寫入第一級(jí)存儲(chǔ)中供下次使用。
      [0047] +清空指定內(nèi)存的污染屬性:對(duì)于請(qǐng)求的內(nèi)存地址m,污染屬性存儲(chǔ)系統(tǒng)查找到 鍵為m的鍵值對(duì)后,將其刪除。
      [0048] 此外,需要說明的是,除非特別說明或者指出,否則說明書中的術(shù)語"第一"、"第 二"、"第三"等描述僅僅用于區(qū)分說明書中的各個(gè)組件、元素、步驟等,而不是用于表示各個(gè) 組件、元素、步驟之間的邏輯關(guān)系或者順序關(guān)系等。
      [0049] 通過在本發(fā)明提出的兩級(jí)存儲(chǔ)方法,直接以鍵值對(duì)形式存儲(chǔ)細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析過 程中產(chǎn)生的海量?jī)?nèi)存地址與污點(diǎn)屬性之間的映射關(guān)系,在第一級(jí)內(nèi)存空間充足的情況下, 可達(dá)到最高的讀寫性能;而在內(nèi)存空間有限的情況下,也可借助大容量的第二級(jí)存儲(chǔ)存儲(chǔ) 更多的數(shù)據(jù),同時(shí)將讀寫性能的下降盡可能減少。并且,這些過程都在內(nèi)部實(shí)現(xiàn),外部細(xì)顆 粒度污點(diǎn)分析例程調(diào)用完全不需要知道內(nèi)部實(shí)現(xiàn)的細(xì)節(jié)。
      [0050] 可以理解的是,雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例披露如上,然而上述實(shí)施例并非用以 限定本發(fā)明。對(duì)于任何熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言,在不脫離本發(fā)明技術(shù)方案范圍情況下, 都可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案作出許多可能的變動(dòng)和修飾,或修改為等 同變化的等效實(shí)施例。因此,凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì) 以上實(shí)施例所做的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化及修飾,均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案保護(hù)的范圍 內(nèi)。
      【權(quán)利要求】
      1. 一種細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析中的污染屬性操作方法,其特征在于包括: 以鍵值對(duì)的形式描述細(xì)顆粒度污點(diǎn)分析所得出的指定內(nèi)存地址與其污染屬性的映射 關(guān)系; 直接將所述鍵值對(duì)存儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中,其中所述兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)由作為第一級(jí)的高 速內(nèi)存和作為第二級(jí)的大容量外存組成;以及 從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中讀取期望獲取的鍵值對(duì),其中首先在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì) 進(jìn)行查找期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值 對(duì)則讀取期望獲取的鍵值對(duì),如果在第一級(jí)的內(nèi)存中存儲(chǔ)的鍵值對(duì)中未發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵 值對(duì),則在第二級(jí)存儲(chǔ)的鍵值對(duì)查找并讀取期望獲取的鍵值對(duì),同時(shí)將讀取出的期望獲取 的鍵值對(duì)存儲(chǔ)至第一級(jí)的內(nèi)存中。
      2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的污染屬性操作方法,其特征在于還包括:從兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中 刪除待刪除鍵值對(duì)。
      3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的污染屬性操作方法,其特征在于,在每個(gè)鍵值對(duì)中,鍵用 于存儲(chǔ)內(nèi)存地址,值用于存儲(chǔ)該內(nèi)存地址的當(dāng)前的污染屬性。
      4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的污染屬性操作方法,其特征在于,在第一級(jí)的內(nèi)存中使用 B+樹結(jié)構(gòu)對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ)。
      5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的污染屬性操作方法,其特征在于,在第二級(jí)的外存中使用 Hash表對(duì)對(duì)鍵值進(jìn)行存儲(chǔ)。
      6. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的污染屬性操作方法,其特征在于,在直接將所述鍵值對(duì)存 儲(chǔ)于兩級(jí)存儲(chǔ)系統(tǒng)中時(shí),在第一級(jí)和第二級(jí)上同時(shí)進(jìn)行所述鍵值對(duì)的存儲(chǔ)。
      7. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的污染屬性操作方法,其特征在于,在第一級(jí)的內(nèi)存的存儲(chǔ) 容量達(dá)到上限時(shí),通過LRU策略淘汰出舊的數(shù)據(jù)。
      【文檔編號(hào)】G06F21/57GK104361288SQ201410759439
      【公開日】2015年2月18日 申請(qǐng)日期:2014年12月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月11日
      【發(fā)明者】張垚, 董超群, 司品超, 廖軍, 張超容, 黃東海 申請(qǐng)人:無錫江南計(jì)算技術(shù)研究所
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