技術(shù)編號：6638209
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。一種，包括以鍵值對的形式描述細顆粒度污點分析所得出的指定內(nèi)存地址與其污染屬性的映射關(guān)系；并且直接將所述鍵值對存儲于兩級存儲系統(tǒng)中，其中所述兩級存儲系統(tǒng)由作為第一級的高速內(nèi)存和作為第二級的大容量外存組成；從兩級存儲系統(tǒng)中讀取期望獲取的鍵值對，其中首先在第一級的內(nèi)存中存儲的鍵值對進行查找期望獲取的鍵值對，如果在第一級的內(nèi)存中存儲的鍵值對中發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對則讀取期望獲取的鍵值對，如果在第一級的內(nèi)存中存儲的鍵值對中未發(fā)現(xiàn)期望獲取的鍵值對，則在第二級存儲的鍵值對...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。