本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，特別涉及一種圓心的計(jì)算方法及計(jì)算裝置。

背景技術(shù)：

隨著時(shí)代的進(jìn)步，消費(fèi)者對手機(jī)等終端的功能、外觀的要求也越來越高。以手機(jī)拍照為例，現(xiàn)在手機(jī)上的相機(jī)正逐漸向數(shù)碼相機(jī)發(fā)展，所以很多手機(jī)電池蓋上的攝像頭孔都會(huì)設(shè)計(jì)成凸臺(tái)。而為了保證攝像孔內(nèi)側(cè)與凸臺(tái)邊緣的同心度，在加工攝像孔前，需先找出沖壓預(yù)留孔的圓心，再根據(jù)找到的圓心加工攝像頭。而本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，當(dāng)前的沖壓技術(shù)很難保證沖壓成型的孔的真圓度。而沖壓預(yù)留孔的真圓度無法保證的話，探針找出來的沖壓預(yù)留孔的圓心就可能偏位(如圖1所示，其中標(biāo)號(hào)1為標(biāo)準(zhǔn)的圓心，標(biāo)號(hào)2為找出來的圓心)，這就會(huì)導(dǎo)致最終加工出來的孔與凸臺(tái)邊緣所在的圓不同心，從而致使加工出來的臺(tái)面出現(xiàn)大小邊的情況。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明實(shí)施方式的目的在于提供一種圓心的計(jì)算方法及計(jì)算裝置，使得可以更準(zhǔn)確地找到?jīng)_壓預(yù)留孔的圓心，從而提高產(chǎn)品尺寸良率。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種圓心的計(jì)算方法，包括：在設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取4*n個(gè)均勻分布的點(diǎn)；n為大于1的自然數(shù)；根據(jù)選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取4*n個(gè)點(diǎn)；從沖壓預(yù)留孔的4*n個(gè)點(diǎn)中任意選取一點(diǎn)作為參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)；其中，第一中點(diǎn)為所述4*n個(gè)點(diǎn)中與所述參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)；從與參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)中任取一點(diǎn)作為新的參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)；其中，第二中點(diǎn)為4*n個(gè)點(diǎn)中與新的參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)；根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)；其中，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系，與計(jì)算計(jì)算第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及第二中點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系對應(yīng)。

本發(fā)明的實(shí)施方式還提供了一種圓心的計(jì)算裝置，包括第一選取模塊、第二選取模塊、第一計(jì)算模塊、第二計(jì)算模塊及第三計(jì)算模塊；第一選取模塊用于在設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取4*n個(gè)均勻分布的點(diǎn)；n為大于1的自然數(shù)；第二選取模塊用于根據(jù)選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取4*n個(gè)點(diǎn)；第一計(jì)算模塊用于從沖壓預(yù)留孔的4*n個(gè)點(diǎn)中任意選取一點(diǎn)作為參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)；其中，第一中點(diǎn)為所述4*n個(gè)點(diǎn)中與所述參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)；第二計(jì)算模塊用于從與所述參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)中任取一點(diǎn)作為新的參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)；其中，第二中點(diǎn)為4*n個(gè)點(diǎn)中與所述新的參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)；第三計(jì)算模塊用于根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)；其中，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系，與計(jì)算計(jì)算第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及第二中點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系對應(yīng)。

本發(fā)明實(shí)施方式相對于現(xiàn)有技術(shù)而言，先從理論設(shè)計(jì)的圓孔上(即標(biāo)準(zhǔn)的圓孔上)選取多個(gè)均勻分布的點(diǎn)；再根據(jù)選取的點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔上內(nèi)壁選取對應(yīng)的點(diǎn)；然后根據(jù)內(nèi)壁上選取的點(diǎn)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心。在計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心時(shí)，綜合內(nèi)壁不同位置上點(diǎn)的坐標(biāo)，對沖壓預(yù)留孔的形狀因素的考慮更加全面，對沖壓預(yù)留孔的真實(shí)形狀的還原度更高，使得計(jì)算出的沖壓預(yù)留孔的圓心更加準(zhǔn)確，有利于提高產(chǎn)品尺寸良率。

進(jìn)一步地，根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算所述沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)，具體包括：將第一中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第一橫坐標(biāo)及第一縱坐標(biāo)；將第二中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第二橫坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)；將第一橫坐標(biāo)及第二橫坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)，將第一縱坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。提供一種計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心的坐標(biāo)的方法。

進(jìn)一步地，根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算所述沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)，具體包括：在以與所述參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為橫軸，以所述參考點(diǎn)及與所述參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為縱軸時(shí)，將第一中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值，作為所述沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)；將第二中點(diǎn)的縱坐標(biāo)的平均值，作為所述沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。提供另一種計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心的坐標(biāo)的方法。

進(jìn)一步地，根據(jù)選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取4*n個(gè)點(diǎn)，具體包括：在沖壓預(yù)留孔中探測所述4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)對應(yīng)的位置；若探測到的位置在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上，則從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)；若探測到的位置不在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上，則在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取與探測到的位置距離最近的點(diǎn)。

進(jìn)一步地，最近的點(diǎn)為與探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的直線距離最近的點(diǎn)；或者，最近的點(diǎn)為與探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的橫坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)；或者，最近的點(diǎn)為與探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的縱坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)。

附圖說明

圖1是示出了現(xiàn)有技術(shù)中找出的圓心的位置與標(biāo)準(zhǔn)的圓心的位置的示意圖；

圖2是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的圓心的計(jì)算方法的流程圖；

圖3是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的n＝2時(shí)，選出的4*n個(gè)點(diǎn)的示意圖；

圖4是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的用探針在沖壓預(yù)留孔中探測4*n個(gè)點(diǎn)的示意圖；

圖5是根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施方式的第一中點(diǎn)與第二中點(diǎn)的示意圖；

圖6是根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施方式的圓心的計(jì)算裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖7是根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施方式的第三計(jì)算模塊的結(jié)構(gòu)框圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明的各實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)的闡述。然而，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，在本發(fā)明各實(shí)施方式中，為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術(shù)細(xì)節(jié)。但是，即使沒有這些技術(shù)細(xì)節(jié)和基于以下各實(shí)施方式的種種變化和修改，也可以實(shí)現(xiàn)本申請所要求保護(hù)的技術(shù)方案。

本發(fā)明的第一實(shí)施方式涉及一種圓心的計(jì)算方法。具體流程如圖2所示。

步驟201：在設(shè)計(jì)的圓孔上選取4*n個(gè)均勻分布的點(diǎn)。

可在理論設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選出4*n個(gè)將標(biāo)準(zhǔn)圓孔平均分成4*n份的點(diǎn)并記錄下該選取4*n的點(diǎn)的坐標(biāo)。本實(shí)施方式中，優(yōu)選該n為大于1的自然數(shù)。如圖3所示，圖3示出了n等于2時(shí)，從理論設(shè)計(jì)出的標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選出4*n個(gè)點(diǎn)的情形。

步驟202：根據(jù)選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取4*n個(gè)點(diǎn)。

具體地，如圖4所示，本步驟可用探針在沖壓預(yù)留孔中逐個(gè)找出該4*n個(gè)點(diǎn)(即步驟201中選出的4*n個(gè)點(diǎn))的坐標(biāo)對應(yīng)的位置。若探針探測到某個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)在沖壓預(yù)留孔上的對應(yīng)位置位于沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上，則從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取該探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)。若探針探測到某個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)在沖壓預(yù)留孔上的對應(yīng)位置不在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上，則在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取與該探測到的位置距離最近的點(diǎn)。

值得一提的是，該距離最近的點(diǎn)可以是沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上與該探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的直線距離最近的點(diǎn)，也可以是沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上與該探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的橫坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)，或者，也可以是沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上與該探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的縱坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)。

另外，需要說明的是，本實(shí)施方式中，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選出的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)(即步驟201中選出的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo))所采用的坐標(biāo)系，與計(jì)算沖壓預(yù)留孔上各點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系對應(yīng)，即兩個(gè)坐標(biāo)系的參考點(diǎn)及坐標(biāo)軸的方向均一致。

步驟203：從沖壓預(yù)留孔的4*n個(gè)點(diǎn)中任意選取一點(diǎn)作為參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)。

該第一中點(diǎn)為該4*n個(gè)點(diǎn)中與參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)。如圖3所示，若以a為參考點(diǎn)，則h、b兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)，g、c兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)，以及f、d兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)就是第一中點(diǎn)。

步驟204：從與參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)中任取一點(diǎn)作為新的參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)。

該第二中點(diǎn)為4*n個(gè)點(diǎn)中與新的參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)。如上例所示，本步驟中可從g、c兩個(gè)點(diǎn)任取一點(diǎn)作為新的參考點(diǎn)。例如，以g作為新的參考點(diǎn)，則h、f兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)，a、e兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)，以及b、d兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)就是第二中點(diǎn)。

步驟205：根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)。

具體地說，本步驟中，可將所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)對應(yīng)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第一橫坐標(biāo)及和第一縱坐標(biāo)；將所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)對應(yīng)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第二橫坐標(biāo)及和第二縱坐標(biāo)；將第一橫坐標(biāo)及第二橫坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)，將第一縱坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。

例如，如圖5所示，在以a為參考點(diǎn)時(shí)，h與b的中點(diǎn)z11，g與c的中點(diǎn)z12，以及f與d的中點(diǎn)z13就是第一中點(diǎn)，此時(shí)，可將z11、z12及z13三個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值作為第一橫坐標(biāo)，將z11、z12及z13三個(gè)點(diǎn)的縱坐標(biāo)的平均值作為第一縱坐標(biāo)。同樣地，以g作為新的參考點(diǎn)時(shí)，h與f的中點(diǎn)z21，a與e的中點(diǎn)z22，以及b與d的中點(diǎn)z23就是第二中點(diǎn)，此時(shí)，可將z21、z22及z233三個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值作為第二橫坐標(biāo)，將z21、z22及z233三個(gè)點(diǎn)的縱坐標(biāo)的平均值作為第二縱坐標(biāo)。最后，再將第一橫坐標(biāo)與第二橫坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)，將第一縱坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。

值得一提的是，圖5中示出的z12、z22處于同一位置，但在實(shí)際應(yīng)用中，由于沖壓預(yù)留孔的圓度不夠(即不是標(biāo)準(zhǔn)的圓)，兩個(gè)點(diǎn)可能并不在同一位置。

根據(jù)本步驟得出圓心的坐標(biāo)后，即可根據(jù)該計(jì)算出的圓心進(jìn)行后期的加工。

本發(fā)明實(shí)施方式，先從理論設(shè)計(jì)的圓孔上(即標(biāo)準(zhǔn)的圓孔上)選取多個(gè)均勻分布的點(diǎn)；再根據(jù)選取的點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔上內(nèi)壁選取對應(yīng)的點(diǎn)；然后根據(jù)內(nèi)壁上選取的點(diǎn)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心。在計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心時(shí)，綜合內(nèi)壁不同位置上點(diǎn)的坐標(biāo)，對沖壓預(yù)留孔的形狀因素的考慮更加全面，對沖壓預(yù)留孔的真實(shí)形狀的還原度更高，使得計(jì)算出的沖壓預(yù)留孔的圓心更加準(zhǔn)確，有利于提高產(chǎn)品尺寸良率。

本發(fā)明的第二實(shí)施方式涉及一種圓心的計(jì)算方法。第二實(shí)施方式是在第一實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做的進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：第二實(shí)施方式中，是以參考點(diǎn)及與參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為一坐標(biāo)軸，以與該參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為另一坐標(biāo)軸，并在此坐標(biāo)系的基礎(chǔ)上來計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心的坐標(biāo)。

例如，以與參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為橫軸，以參考點(diǎn)及與該參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為縱軸，如圖5所示，在以a為參考點(diǎn)時(shí)，g與c所在的直線即為橫軸，a與e所在的直線即為縱軸。此時(shí)，可取三個(gè)第一中點(diǎn)(即z11、z12及z13)的橫坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)，取三個(gè)第二中點(diǎn)(即z21、z22及z233)的縱坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。

需要強(qiáng)調(diào)的是，本實(shí)施方式中，計(jì)算第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及第二中點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系，與計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選出的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)(即步驟201中選出的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo))所采用的坐標(biāo)系對應(yīng)，即兩個(gè)坐標(biāo)系的參考點(diǎn)及坐標(biāo)軸的方向均一致。

經(jīng)多次試驗(yàn)，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)，在沖壓出來的孔的真圓度為0.13時(shí)，采用現(xiàn)有技術(shù)計(jì)算出的圓心坐標(biāo)為(-0.07，-0.08)，而采用本實(shí)施方式提供的方法計(jì)算出的圓心坐標(biāo)為(-0.03，-0.02)。顯然，后者更接近標(biāo)準(zhǔn)圓心，因此，本實(shí)施方式的方法更具有合理性，更能準(zhǔn)確地得到孔(如攝像孔)的加工中心，有利于提升產(chǎn)品尺寸穩(wěn)定性。

上面各種方法的步驟劃分，只是為了描述清楚，實(shí)現(xiàn)時(shí)可以合并為一個(gè)步驟或者對某些步驟進(jìn)行拆分，分解為多個(gè)步驟，只要包含相同的邏輯關(guān)系，都在本專利的保護(hù)范圍內(nèi)；對算法中或者流程中添加無關(guān)緊要的修改或者引入無關(guān)緊要的設(shè)計(jì)，但不改變其算法和流程的核心設(shè)計(jì)都在該專利的保護(hù)范圍內(nèi)。

本發(fā)明第三實(shí)施方式涉及一種圓心的計(jì)算裝置。如圖6所示，該圓心的計(jì)算裝置包括：第一選取模塊61、第二選取模塊62、第一計(jì)算模塊63、第二計(jì)算模塊64及第三計(jì)算模塊65。其中，

第一選取模塊61用于在設(shè)計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取4*n個(gè)均勻分布的點(diǎn)；n為大于1的自然數(shù)。

第二選取模塊62用于根據(jù)選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取4*n個(gè)點(diǎn)。

第一計(jì)算模塊63用于從沖壓預(yù)留孔的4*n個(gè)點(diǎn)中任意選取一點(diǎn)作為參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)。其中，第一中點(diǎn)為該4*n個(gè)點(diǎn)中與參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)。

第二計(jì)算模塊64用于從與該參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)中任取一點(diǎn)作為新的參考點(diǎn)，計(jì)算所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)。其中，該第二中點(diǎn)為該4*n個(gè)點(diǎn)中與新的參考點(diǎn)間隔相同點(diǎn)數(shù)的兩個(gè)點(diǎn)的中點(diǎn)。

第三計(jì)算模塊65用于根據(jù)所有的第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及所有的第二中點(diǎn)的坐標(biāo)，計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心坐標(biāo)。

其中，計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取的4*n個(gè)點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系，與計(jì)算計(jì)算第一中點(diǎn)的坐標(biāo)及第二中點(diǎn)的坐標(biāo)所采用的坐標(biāo)系對應(yīng)。

具體地說，本實(shí)施方式中，第二選取模塊62具體包括控制單元621及判斷單元622。其中，控制單元621用于在沖壓預(yù)留孔中探測4*n個(gè)點(diǎn)(即從標(biāo)準(zhǔn)圓孔上選取的4*n個(gè)點(diǎn))的坐標(biāo)對應(yīng)的位置。判斷單元622用于在探測到的位置在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上時(shí)，從沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)。判斷單元622還用于在探測到的位置不在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上時(shí)，在沖壓預(yù)留孔內(nèi)壁上選取與探測到的位置距離最近的點(diǎn)。

該距離最近的點(diǎn)可以為與探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的直線距離最近的點(diǎn)；也可以為探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的橫坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)；或者，為與探測到的位置對應(yīng)的點(diǎn)的縱坐標(biāo)之差最小的點(diǎn)。

第三計(jì)算模塊65包括：第一計(jì)算單元651、第二計(jì)算單元652及第三計(jì)算單元653。其中，第一計(jì)算單元651用于將第一中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第一橫坐標(biāo)及第一縱坐標(biāo)。第二計(jì)算單元652用于將第二中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值及縱坐標(biāo)的平均值，分別作為第二橫坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)。第三計(jì)算單元653用于將第一橫坐標(biāo)及第二橫坐標(biāo)的平均值作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)，將第一縱坐標(biāo)及第二縱坐標(biāo)的平均值作為所述沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。

不難發(fā)現(xiàn)，本實(shí)施方式為與第一實(shí)施方式相對應(yīng)的裝置實(shí)施例，本實(shí)施方式可與第一實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第一實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第一實(shí)施方式中。

值得一提的是，本實(shí)施方式中所涉及到的各模塊均為邏輯模塊，在實(shí)際應(yīng)用中，一個(gè)邏輯單元可以是一個(gè)物理單元，也可以是一個(gè)物理單元的一部分，還可以以多個(gè)物理單元的組合實(shí)現(xiàn)。此外，為了突出本發(fā)明的創(chuàng)新部分，本實(shí)施方式中并沒有將與解決本發(fā)明所提出的技術(shù)問題關(guān)系不太密切的單元引入，但這并不表明本實(shí)施方式中不存在其它的單元。

本發(fā)明第四實(shí)施方式涉及一種圓心的計(jì)算裝置。第四實(shí)施方式是在第三實(shí)施方式的基礎(chǔ)上做的進(jìn)一步改進(jìn)，主要改進(jìn)之處在于：第四實(shí)施方式中，是以參考點(diǎn)及與參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為一坐標(biāo)軸，以與該參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為另一坐標(biāo)軸，并在此坐標(biāo)系的基礎(chǔ)上來計(jì)算沖壓預(yù)留孔的圓心的坐標(biāo)。

具體說，本實(shí)施方式中，第三計(jì)算模塊包括橫坐標(biāo)計(jì)算單元71及縱坐標(biāo)計(jì)算單元72(如圖7所示)。其中，

橫坐標(biāo)計(jì)算單元71用于在以與參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為橫軸，以參考點(diǎn)及與該參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為縱軸時(shí)，將第一中點(diǎn)的橫坐標(biāo)的平均值，作為沖壓預(yù)留孔的圓心的橫坐標(biāo)。

縱坐標(biāo)計(jì)算單元用于在以與參考點(diǎn)間隔n-1個(gè)點(diǎn)的兩個(gè)點(diǎn)所在的直線為橫軸，以參考點(diǎn)及與該參考點(diǎn)間隔2*n-1個(gè)點(diǎn)的點(diǎn)所在的直線為縱軸時(shí)，將第二中點(diǎn)的縱坐標(biāo)的平均值，作為沖壓預(yù)留孔的圓心的縱坐標(biāo)。

由于第二實(shí)施方式與本實(shí)施方式相互對應(yīng)，因此本實(shí)施方式可與第二實(shí)施方式互相配合實(shí)施。第二實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)在本實(shí)施方式中依然有效，在第二實(shí)施方式中所能達(dá)到的技術(shù)效果在本實(shí)施方式中也同樣可以實(shí)現(xiàn)，為了減少重復(fù)，這里不再贅述。相應(yīng)地，本實(shí)施方式中提到的相關(guān)技術(shù)細(xì)節(jié)也可應(yīng)用在第二實(shí)施方式中。

本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件來完成，該程序存儲(chǔ)在一個(gè)存儲(chǔ)介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一個(gè)設(shè)備(可以是單片機(jī)，芯片等)或處理器(processor)執(zhí)行本申請各個(gè)實(shí)施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：u盤、移動(dòng)硬盤、只讀存儲(chǔ)器(rom，read-onlymemory)、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。

本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員可以理解，上述各實(shí)施方式是實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的具體實(shí)施例，而在實(shí)際應(yīng)用中，可以在形式上和細(xì)節(jié)上對其作各種改變，而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。