本發(fā)明涉及復(fù)位電路領(lǐng)域，尤其涉及一種復(fù)位控制電路及復(fù)位方法。

背景技術(shù)：

1、在需要對系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)位時往往需要讓系統(tǒng)下電后重新上電，在實際情況下，讓系統(tǒng)上下電的過程往往比較難以實現(xiàn)；

2、對于有專用復(fù)位引腳的系統(tǒng)來說，只需要簡單的將該引腳置為有效電平狀態(tài)就可實現(xiàn)對系統(tǒng)的復(fù)位，但這需要將該引腳引出到終端設(shè)備，方便終端設(shè)備在需要復(fù)位時對其進(jìn)行操作，這對于引腳緊張的芯片系統(tǒng)來說需要增加芯片成本。

3、綜上，現(xiàn)有技術(shù)中如果實現(xiàn)復(fù)位的控制需要改進(jìn)系統(tǒng)的芯片系統(tǒng)，額外增加芯片才能實現(xiàn)。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、鑒于上述問題，提出了本發(fā)明以便提供克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的一種復(fù)位控制電路及復(fù)位方法。

2、根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種復(fù)位控制電路，所述控制電路包括：復(fù)位終端、復(fù)位控制器、串行數(shù)據(jù)線sda和串行時鐘線scl；

3、所述復(fù)位控制器包括可控開關(guān)、復(fù)位檢測電路、第五串聯(lián)電阻r5、第三電阻r3和第四電阻r4；

4、所述可控開關(guān)的活動端與復(fù)位電路連接，固定端與電源連接；

5、所述活動端與所述固定端接觸，所述可控開關(guān)閉合；

6、所述第五串聯(lián)電阻r5的一端與所述活動端連接，另一端與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接；

7、所述復(fù)位檢測電路與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接；

8、所述第三電阻r3的一端與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接，另一端接地；

9、所述第四電阻r4一端與所述串行時鐘線scl連接，另一端接地。

10、可選的，所述復(fù)位終端具體包括：nmos管、第六電阻r6和第二電阻r2；

11、所述nmos管的源極接地，漏極與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接，柵極與復(fù)位控制信號連接；

12、所述第六電阻r6的一端與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接，另一端與供電系統(tǒng)連接；

13、所述第二電阻r2的一端與所述供電系統(tǒng)連接，另一端與所述串行時鐘線scl連接。

14、可選的，所述第五串聯(lián)電阻r5的阻值為10k歐姆。

15、可選的，所述復(fù)位檢測電路輸出復(fù)位信號至所述控制器，用于所述控制器的復(fù)位。

16、本發(fā)明還提供了一種復(fù)位方法，應(yīng)用于上述所述的一種復(fù)位控制電路，所述復(fù)位方法包括：

17、確定所述串行數(shù)據(jù)線sda引腳為高電平；

18、斷開所述可控開關(guān)，所有計時停止并清零；

19、確定所述串行數(shù)據(jù)線sda引腳為低電平；

20、所述復(fù)位檢測電路對所述串行數(shù)據(jù)線sda引腳的低電平狀態(tài)開始計時，獲得低電平狀態(tài)時間；

21、確定所述可控開關(guān)閉合，所述可控開關(guān)閉合時間計時；

22、確定所述可控開關(guān)閉合時間超過閉合時間閾值t，斷開所述可控開關(guān)。

23、確定所述可控開關(guān)打開，確定所述低電平狀態(tài)時間等于3t/4，閉合可控開關(guān)，其中t為計時周期；

24、確定所述低電平狀態(tài)時間大于3t/4，確定所述低電平狀態(tài)時間大于等于t，產(chǎn)生復(fù)位信號。

25、可選的，所述閉合時間閾值t為30ms。

26、可選的，所述產(chǎn)生復(fù)位信號之后還包括：觸發(fā)控制器復(fù)位。

27、可選的，所述計時周期t為2秒。

28、可選的，所述串行數(shù)據(jù)線sda引腳為高電平具體為：終端斷電或者是所述串行數(shù)據(jù)線sda與終端斷開，復(fù)位檢測電路將斷開可控開關(guān)，計時停止并清零。

29、可選的，所述可控開關(guān)閉合時間超過閉合時間閾值t之后具體包括：在所述可控開關(guān)閉合期間，復(fù)位檢測電路對所述串行數(shù)據(jù)線sda?引腳進(jìn)行實時檢測，在經(jīng)過所述閉合時間閾值t后，斷開所述可控開關(guān)。

30、本發(fā)明提供的一種復(fù)位控制電路及復(fù)位方法，所述控制電路包括：復(fù)位終端、復(fù)位控制器、串行數(shù)據(jù)線sda和串行時鐘線scl；所述復(fù)位控制器包括可控開關(guān)、復(fù)位檢測電路、第五串聯(lián)電阻r5、第三電阻r3和第四電阻r4；所述可控開關(guān)的活動端與復(fù)位電路連接，固定端與電源連接；所述活動端與所述固定端接觸，所述可控開關(guān)閉合；所述第五串聯(lián)電阻r5的一端與所述活動端連接，另一端與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接；所述復(fù)位檢測電路與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接；所述第三電阻r3的一端與所述串行數(shù)據(jù)線sda連接，另一端接地；所述第四電阻r4一端與所述串行時鐘線scl連接，另一端接地。直接復(fù)位檢測電路產(chǎn)生復(fù)位控制器信號復(fù)位控制器。

31、上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉本發(fā)明的具體實施方式。

技術(shù)特征：

1.一種復(fù)位控制電路，其特征在于，所述控制電路包括：復(fù)位終端、復(fù)位控制器、串行數(shù)據(jù)線sda和串行時鐘線scl；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)位控制電路，其特征在于，所述復(fù)位終端具體包括：nmos管、第六電阻r6和第二電阻r2；

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)位控制電路，其特征在于，所述第五串聯(lián)電阻r5的阻值為10k歐姆。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)位控制電路，其特征在于，所述復(fù)位檢測電路輸出復(fù)位信號至所述控制器，用于所述控制器的復(fù)位。

5.一種復(fù)位方法，其特征在于，應(yīng)用于上述權(quán)利要求1-2所述的一種復(fù)位控制電路，所述復(fù)位方法包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種復(fù)位方法，其特征在于，所述閉合時間閾值t為30ms。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種復(fù)位方法，其特征在于，所述產(chǎn)生復(fù)位信號之后還包括：觸發(fā)控制器復(fù)位。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種復(fù)位方法，其特征在于，所述計時周期t為2秒。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種復(fù)位方法，其特征在于，所述串行數(shù)據(jù)線sda引腳為高電平具體為：終端斷電或者是所述串行數(shù)據(jù)線sda與終端斷開，復(fù)位檢測電路將斷開可控開關(guān)，計時停止并清零。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種復(fù)位方法，其特征在于，所述可控開關(guān)閉合時間超過閉合時間閾值t之后具體包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供的一種復(fù)位控制電路及復(fù)位方法，所述控制電路包括：復(fù)位終端、復(fù)位控制器、串行數(shù)據(jù)線SDA和串行時鐘線SCL；復(fù)位控制器包括可控開關(guān)、復(fù)位檢測電路、第五串聯(lián)電阻R5、第三電阻R3和第四電阻R4；可控開關(guān)的活動端與復(fù)位電路連接，固定端與電源連接；活動端與所述固定端接觸，可控開關(guān)閉合；第五串聯(lián)電阻R5的一端與所述活動端連接，另一端與串行數(shù)據(jù)線SDA連接；復(fù)位檢測電路與所述串行數(shù)據(jù)線SDA連接；第三電阻R3的一端與串行數(shù)據(jù)線SDA連接，另一端接地；第四電阻R4一端與串行時鐘線SCL連接，另一端接地。直接復(fù)位檢測電路產(chǎn)生復(fù)位控制器信號復(fù)位控制器。

技術(shù)研發(fā)人員：李紹東,謝洪,陳光輝
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東華芯智源科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/5