專利名稱:軟件測(cè)試方法和軟件測(cè)試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的一般性概念涉及一種軟件測(cè)試方法及設(shè)備，更具體地，涉及一種詢問用戶關(guān)于測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的信息的軟件測(cè)試方法及設(shè)備。
背景技術(shù)：
隨著軟件逐漸變得復(fù)雜和不斷改變，對(duì)軟件驗(yàn)證的需求也變得復(fù)雜和困難。
通常，軟件測(cè)試主要分為軟件單元的單元測(cè)試、多個(gè)軟件單元的集成的集成測(cè)試、以及整個(gè)系統(tǒng)的系統(tǒng)測(cè)試。軟件測(cè)試在測(cè)試程序中采用取代了多個(gè)變量的仿真形式來測(cè)試軟件功能。
例如，單元測(cè)試確定測(cè)試目標(biāo)的最小模塊，將確定的最小模塊從剩余的代碼中分離，以及測(cè)試分離的最小模塊是否正如所期望的那樣操作。
集成測(cè)試是邏輯上從單元測(cè)試中擴(kuò)展出來的測(cè)試方法。最簡單的類型的集成測(cè)試是通過將已經(jīng)進(jìn)行了單元測(cè)試的兩個(gè)單元集成于一個(gè)組件中，以及測(cè)試這兩個(gè)單元之間的接口來實(shí)現(xiàn)的。即，集成測(cè)試是檢測(cè)在兩個(gè)單元耦合時(shí)可能出現(xiàn)的問題的測(cè)試方法。
系統(tǒng)測(cè)試是在完成各個(gè)軟件程序測(cè)試之后執(zhí)行的整個(gè)系統(tǒng)測(cè)試方法。例如，系統(tǒng)測(cè)試甚至可以包括用戶直接使用的系統(tǒng)部分的測(cè)試、以及程序測(cè)試。
可以以全手動(dòng)方式來操作軟件測(cè)試，其中，用戶通過選擇測(cè)試軟件類型，以及通過定義用于測(cè)試的附加變量、子函數(shù)等，來形成測(cè)試用例。
然而，全手動(dòng)方式對(duì)于形成逐一測(cè)試用例等來說，具有大量耗時(shí)和費(fèi)力的不便。
另一方面，還可以以全自動(dòng)方式來操作軟件測(cè)試，其中，測(cè)試軟件搜索用于測(cè)試的變量和其它必需值，以及自動(dòng)地測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
然而，在全自動(dòng)方式中，執(zhí)行測(cè)試軟件并不容易。當(dāng)在以全自動(dòng)方式執(zhí)行測(cè)試軟件中存在差錯(cuò)時(shí)，會(huì)執(zhí)行錯(cuò)誤的測(cè)試、或不會(huì)執(zhí)行測(cè)試。此外，當(dāng)使用用于單元測(cè)試的測(cè)試軟件時(shí)，全自動(dòng)方式具有重新構(gòu)造測(cè)試軟件以滿足用于集成測(cè)試的集成環(huán)境的不便。
此外，可以以半自動(dòng)方式來操作軟件測(cè)試，其中，用于單元測(cè)試的函數(shù)、以及用于集成測(cè)試的函數(shù)和變量是在頭文件中由用戶定義的，以及生成搜索和定義變量的輸出函數(shù)、以及基于頭文件的函數(shù)，以自動(dòng)地制作數(shù)據(jù)用例，以及執(zhí)行測(cè)試。
然而，半自動(dòng)方式具有以下不便用戶必須在軟件單元中搜索變量和函數(shù)，以在頭文件中進(jìn)行定義。

發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的一般性概念提供了一種軟件測(cè)試方法及設(shè)備，通過所述方法及設(shè)備，用戶改變測(cè)試軟件，以適合基于輸入信息的測(cè)試，其中，通過詢問用戶關(guān)于測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的信息得到所述輸入信息。
將在以下的描述中部分地提出本發(fā)明的一般性概念的附加方案和/或優(yōu)點(diǎn)和使用，以及部分地，將從該描述中顯而易見，或者可以通過對(duì)本發(fā)明一般性概念的實(shí)踐來獲知。
通過提供一種軟件測(cè)試方法來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明一般性概念的上述和/或其它方案和使用，所述軟件測(cè)試方法包括，操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式；輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；讀取測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息；顯示詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕；根據(jù)通過信息選擇屏幕輸入的關(guān)于標(biāo)記信息的信息和測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息；以及輸出測(cè)試信息來測(cè)試所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
軟件測(cè)試方法還可以包括，如果輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，則顯示選擇測(cè)試類型的類型選擇屏幕，其中，測(cè)試信息的生成還包括基于測(cè)試類型來生成測(cè)試信息。
信息選擇屏幕的顯示可以包括顯示詢問關(guān)于變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一個(gè)的信息的屏幕。
變量信息可以包括變量數(shù)據(jù)類型、關(guān)于是否建立了變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一個(gè)。
測(cè)試用例信息可以包括測(cè)試用例類型和數(shù)據(jù)。
測(cè)試用例類型可以包括固定用例、默認(rèn)用例和用戶用例中的至少一個(gè)。
測(cè)試信息可以包括作為與測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的參考的測(cè)試用例和測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
測(cè)試類型可以包括單元測(cè)試和集成測(cè)試之一。
測(cè)試信息的生成可以包括基于通過信息選擇屏幕和類型選擇屏幕中的至少一個(gè)的信息，顯示測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的變量信息、定義信息、子函數(shù)信息、標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息、以及測(cè)試用例類型中的至少一個(gè)。
還可以通過提供一種軟件測(cè)試設(shè)備，來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的一般性概念的上述和/或其它方案和使用，所述軟件測(cè)試設(shè)備包括，顯示部分，用于顯示圖像；接口屏幕生成部分，用于生成在顯示部分上顯示的屏幕；存儲(chǔ)部分，用于存儲(chǔ)具有標(biāo)記信息的測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；用戶選擇部分，用于選擇測(cè)試模式來開始軟件測(cè)試；以及控制器，用于在選擇測(cè)試模式時(shí)，控制接口屏幕生成部分生成詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕，以及基于通過信息選擇屏幕輸入的信息來生成測(cè)試信息。
控制器可以在輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)時(shí)，控制接口屏幕生成部分來生成選擇測(cè)試類型的類型選擇屏幕，以及基于通過類型選擇屏幕輸入的測(cè)試類型，來生成測(cè)試信息。
信息選擇屏幕可以包括詢問關(guān)于變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一個(gè)的信息的屏幕。
變量信息可以包括變量數(shù)據(jù)類型、關(guān)于是否建立了變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一個(gè)。
測(cè)試用例信息可以包括具有固定用例、默認(rèn)用例和用戶用例中的至少一個(gè)的測(cè)試類型。
控制器可以生成測(cè)試信息，所述測(cè)試信息具有作為目標(biāo)函數(shù)測(cè)試項(xiàng)的參考的測(cè)試用例和測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
測(cè)試類型可以包括單元測(cè)試和集成測(cè)試之一。
控制器可以包括控制接口屏幕生成部分的顯示控制器，以及生成測(cè)試信息的測(cè)試信息生成部分。
還可以通過提供一種計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的一般性概念的上述和/或其它方案和使用，所述計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)執(zhí)行計(jì)算機(jī)可讀代碼，來實(shí)現(xiàn)軟件測(cè)試方法，所述方法包括，操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式；輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；讀取測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息；顯示詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕；根據(jù)通過信息選擇屏幕輸入的關(guān)于標(biāo)記信息的信息和測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息；以及輸出測(cè)試信息來測(cè)試所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
還可以通過提供一種軟件測(cè)試方法，來實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的一般性概念的上述和/或其它方案和使用，所述方法包括，生成接收測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的接口屏幕；根據(jù)測(cè)試目標(biāo)函數(shù)輸入來確定標(biāo)記信息；根據(jù)所選擇的標(biāo)記信息來生成測(cè)試信息；以及根據(jù)生成的測(cè)試信息來測(cè)試軟件。
測(cè)試的軟件可以是由用戶獨(dú)立測(cè)試的軟件的形成單元。
所述方法還包括，在確定標(biāo)記信息之前，輸入軟件語言類型，其中，可以根據(jù)測(cè)試目標(biāo)函數(shù)輸入和軟件語言類型輸入，來執(zhí)行標(biāo)記信息的確定。
所述方法還可以包括，在確定標(biāo)記信息之前，輸入軟件測(cè)試類型，其中，可以根據(jù)輸入的測(cè)試目標(biāo)函數(shù)和輸入的軟件測(cè)試的類型，來執(zhí)行標(biāo)記信息的確定。
結(jié)合附圖，本發(fā)明的上述和/或其它方案和優(yōu)點(diǎn)將變得顯而易見，以及更易于從以下對(duì)實(shí)施例的描述中得以理解，其中圖1是示出了根據(jù)本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例的軟件測(cè)試設(shè)備的控制框圖。
圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例的軟件測(cè)試方法的流程圖。
具體實(shí)施方式現(xiàn)在將詳細(xì)參考本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例，其示例在附圖中示出，其中，在整個(gè)說明書中，相同的參考數(shù)字指示相同的元件。為了解釋本發(fā)明的一般性概念，以下通過參照附圖對(duì)實(shí)施例進(jìn)行描述。
如圖1中所示，根據(jù)本發(fā)明一般性概念的軟件測(cè)試設(shè)備100可以包括，顯示部分70、接口屏幕生成部分50、存儲(chǔ)部分40、用戶選擇部分10、以及控制它們的控制器30。軟件測(cè)試設(shè)備100還可以包括也由控制器30控制的測(cè)試部分90。
根據(jù)該實(shí)施例，顯示部分70從接口屏幕生成部分50中接收接口屏幕的輸出信號(hào)并顯示圖像。顯示部分70可以包括在其上形成圖像的顯示模塊(未示出)，以及處理圖像信號(hào)并在顯示模塊上顯示圖像的模塊驅(qū)動(dòng)部分(未示出)。
顯示模塊可以包括不同類型的顯示模塊，如，CRT(陰極射線管)、DLP(數(shù)字光處理)、PDP(等離子顯示面板)等。例如，當(dāng)顯示模塊是DLP時(shí)，模塊驅(qū)動(dòng)部分還可以包括光引擎(optical engine)。當(dāng)顯示模塊是LCD時(shí)，模塊驅(qū)動(dòng)部分還可以包括將輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)信號(hào)和柵極信號(hào)的印刷電路板。同樣，根據(jù)不同類型的顯示模塊，每個(gè)顯示部分70可以具有與模塊驅(qū)動(dòng)部分相對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)。
根據(jù)控制器30的控制(將在以下描述)，接口屏幕生成部分50生成屏幕，并在顯示部分70上顯示該屏幕。接口屏幕生成部分50在信號(hào)處理部分(未示出)輸出接口屏幕，以及將自信號(hào)處理部分輸入的接口屏幕與獨(dú)立的圖像信號(hào)混合。信號(hào)處理部分可以通過在顯示部分70的預(yù)定位置處顯示接口屏幕，以在顯示部分70上輸出接口屏幕。
可以將用戶選擇部分10實(shí)現(xiàn)為不同類型的用戶選擇部分，如，多個(gè)輸入按鍵、按鈕、鼠標(biāo)、鍵盤、觸控板等，使得用戶可以輸入或選擇預(yù)定功能。此外，如果在顯示部分70中生成具有預(yù)定菜單的接口屏幕，則用戶可以通過使用用戶選擇部分10，來對(duì)接口屏幕的預(yù)定菜單進(jìn)行選擇、使用等操作。根據(jù)本發(fā)明的一般性概念，用戶還可以通過使用用戶選擇部分10來選擇測(cè)試模式，以開始軟件測(cè)試。例如，用戶選擇部分10可以包括選擇測(cè)試模式的附加按鍵，或者可以通過接口屏幕等來選擇測(cè)試模式。
存儲(chǔ)部分40存儲(chǔ)具有標(biāo)記信息的測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。例如，存儲(chǔ)部分40可以由存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的任何結(jié)構(gòu)形成，如硬盤、RAM、ROM等。這里，標(biāo)記信息表示語法上不能再進(jìn)行劃分的基本語言要素。例如，標(biāo)記信息可以包括關(guān)鍵詞、算符、標(biāo)點(diǎn)符號(hào)等。
根據(jù)該實(shí)施例的控制器30控制軟件測(cè)試設(shè)備100的每個(gè)部分，使得可以執(zhí)行每個(gè)部分的功能。
具體地，控制器30可以包括顯示控制器31和測(cè)試信息生成部分35。例如，顯示控制器31可以控制諸如接口屏幕生成部分50、顯示部分70之類的軟件測(cè)試設(shè)備100的每個(gè)部分，使得可以在顯示部分70上顯示預(yù)定圖像。測(cè)試信息生成部分35在目標(biāo)函數(shù)測(cè)試之前生成測(cè)試信息。
如果通過用戶選擇部分10來選擇開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式，則顯示控制器31可以控制接口屏幕生成部分50來生成接口屏幕，以輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)?？蛇x地，在選擇了測(cè)試模式之后，可以通過選擇具有測(cè)試目標(biāo)函數(shù)等的文件，來定義測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
然后，顯示控制器31可以控制接口屏幕生成部分50來生成信息選擇屏幕，用于詢問關(guān)于測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息的信息。顯示控制器31通過信息選擇屏幕，在測(cè)試信息生成部分35上輸出所輸入的標(biāo)記信息。因此，顯示控制器31可以控制測(cè)試信息生成部分35來生成測(cè)試信息。
這里，例如，關(guān)于標(biāo)記信息的信息可以包括關(guān)于變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一個(gè)的信息。因此，信息選擇屏幕可以包括詢問關(guān)于上述標(biāo)記信息的詳細(xì)信息的屏幕。
此時(shí)，變量信息可以包括編碼數(shù)據(jù)類型、關(guān)于是否建立了變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一項(xiàng)。例如，測(cè)試用例信息可以用作要測(cè)試的項(xiàng)目的參考。此外，測(cè)試用例信息可以包括具有固定用例、默認(rèn)用例和用戶用例中的至少一個(gè)的測(cè)試類型。
例如，當(dāng)選擇了固定用例或用戶選擇用例時(shí)，顯示控制器31可以允許用戶輸入測(cè)試用例的數(shù)據(jù)。當(dāng)選擇了固定用例時(shí)，控制器30可以允許一個(gè)數(shù)據(jù)的輸入，以及當(dāng)選擇了用戶用例時(shí)，可以允許多個(gè)數(shù)據(jù)的輸入。
此外，當(dāng)選擇了測(cè)試模式時(shí)，顯示控制器31可以控制接口屏幕生成部分50來生成類型選擇屏幕，以選擇測(cè)試類型。
如果顯示控制器31在測(cè)試信息生成部分35上輸出了輸入測(cè)試類型，則測(cè)試信息生成部分35可以基于所選的測(cè)試類型來生成測(cè)試信息。例如，測(cè)試類型可以包括單元測(cè)試和集成測(cè)試。
可以將根據(jù)本發(fā)明一般性概念的單元指定為軟件的最小要素或模塊，其中，可以通過一個(gè)單元或多個(gè)單元來操作一個(gè)函數(shù)。即，當(dāng)在整個(gè)軟件完成之后僅可以進(jìn)行正常軟件操作的傳統(tǒng)測(cè)試，根據(jù)本發(fā)明一般性概念的單元是可以由用戶獨(dú)立測(cè)試的軟件的形成單元。此外，該單元可以包括至少一個(gè)子單元。根據(jù)本發(fā)明一般性概念的單元不會(huì)限制于特定的大小或特定的功能。
即，單元測(cè)試確定了測(cè)試目標(biāo)的最小模塊，將確定的最小模塊與剩余代碼分離，以及測(cè)試分離的最小模塊是否如所期望的那樣操作。
集成測(cè)試是邏輯上從進(jìn)行單元測(cè)試的單元中擴(kuò)展出來的測(cè)試方法。通過將已經(jīng)進(jìn)行了單元測(cè)試的兩個(gè)單元集成于一個(gè)組件中，以及測(cè)試這兩個(gè)單元之間的接口，來實(shí)現(xiàn)最簡單的類型的集成測(cè)試。即，集成測(cè)試是檢測(cè)在兩個(gè)單元耦合時(shí)可能出現(xiàn)的問題的測(cè)試方法。
即，根據(jù)本發(fā)明一般性方法的測(cè)試信息生成部分35可以根據(jù)通過以上描述的信息選擇屏幕與類型選擇屏幕中的至少一個(gè)提供的信息，來生成測(cè)試信息。例如，測(cè)試信息可以包括作為與測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的參考的測(cè)試用例和測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
可以將測(cè)試驅(qū)動(dòng)器定義為，為了測(cè)試測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，通過將單元、子函數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)、定義、變量等組合在一起來構(gòu)造的實(shí)質(zhì)的程序。即，測(cè)試信息生成部分35生成測(cè)試用例來確定測(cè)試項(xiàng)。此外，測(cè)試信息生成部分35可以生成測(cè)試驅(qū)動(dòng)器，來基于測(cè)試用例測(cè)試測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
控制器30可以在測(cè)試部分90上輸出生成的測(cè)試驅(qū)動(dòng)器和生成的測(cè)試用例。然后，測(cè)試部分90可以執(zhí)行測(cè)試驅(qū)動(dòng)器，以根據(jù)每個(gè)測(cè)試用例來測(cè)試測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。測(cè)試部分90可以操作用于測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的測(cè)試，以及存儲(chǔ)與測(cè)試用例中的每個(gè)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試結(jié)果。
可以構(gòu)造執(zhí)行測(cè)試信息生成部分35和測(cè)試部分90中的每個(gè)函數(shù)的軟件。例如，測(cè)試生成部分35和測(cè)試部分90可以包含于軟件、硬件或其組合中。例如，可以將測(cè)試生成部分35和測(cè)試部分90具體化為計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)可讀代碼。
根據(jù)本發(fā)明的一般性概念，軟件測(cè)試100可以根據(jù)圖2中示出的以下方法序列，開始軟件測(cè)試。
參照?qǐng)D1和2，在根據(jù)本發(fā)明一般性概念的軟件測(cè)試方法中，首先，確定是否可以選擇或操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式(操作S11)，然后，如果選擇了開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式，則確定是否可以輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)(操作S13)。如果輸入了測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，則讀取標(biāo)記信息(操作S19)?？刂破?0在顯示部分70上顯示詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕(操作S21)。如果通過信息選擇屏幕輸入了關(guān)于標(biāo)記信息的信息(操作S23)，則控制器30基于輸入信息和測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息(操作S25)。
此時(shí)，如果在操作S13中輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，則控制器30還可以在顯示部分70上顯示詢問測(cè)試類型的類型選擇屏幕(操作S15)。如果通過類型選擇屏幕選擇了測(cè)試類型(操作S17)，則控制器30可以基于通過信息選擇屏幕選擇的信息和通過類型選擇屏幕選擇的測(cè)試類型，來生成測(cè)試信息(操作S25)?？刂破?0可以在測(cè)試部分90上輸出所選的測(cè)試信息，來對(duì)測(cè)試目標(biāo)函數(shù)進(jìn)行測(cè)試(操作S27)。
以下，將參照?qǐng)D1和2來描述根據(jù)本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例的軟件測(cè)試方法。
根據(jù)本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例，用戶可以操作測(cè)試軟件來開始軟件測(cè)試。如果開始了測(cè)試軟件的操作，則根據(jù)本發(fā)明一般性概念的控制器30可以意識(shí)到，開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式正待操作(操作S11)。
因此，控制器30可以控制界面屏幕生成部分50，使得可以生成輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的屏幕。如果輸入在接口屏幕生成部分50中生成的測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的屏幕在顯示部分70上顯示，則用戶可以輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)(操作S13)。
控制器30還可以控制接口屏幕生成部分50生成輸入代碼語言類型的屏幕、或者輸入測(cè)試類型的類型選擇屏幕，以及在顯示部分70上顯示該屏幕(操作S15)。例如，代碼的語言類型可以包括諸如C語言、C++語言、basic語言之類的各種程序語言。
用戶可以通過顯示于顯示部分70上的類型選擇屏幕，來選擇代碼的語言類型或測(cè)試類型(操作S17)。
控制器30可以讀取輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息(操作S19)?？刂破?0可以控制接口屏幕生成部分50來生成信息選擇屏幕，以詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息。因此，如果在顯示部分70上顯示了信息選擇屏幕(操作S21)，則用戶可以使用用戶選擇部分10，通過信息選擇屏幕來選擇信息(操作S23)。
例如，信息選擇屏幕可以包括詢問信息的屏幕，所述信息關(guān)于與控制器30讀取的標(biāo)記信息中的每個(gè)相對(duì)應(yīng)的變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一項(xiàng)。
即，如果由控制器30讀取的標(biāo)記信息包括變量，則信息選擇屏幕可以包括變量數(shù)據(jù)類型(如，字符、整型(int)、雙精度(double)等)、是否在存儲(chǔ)部分40中建立了通知變量位置的變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一項(xiàng)。
這里，測(cè)試用例信息可以包括測(cè)試用例類型。此時(shí)，如上所述，測(cè)試用例類型可以包括固定用例、默認(rèn)選擇用例和用戶用例。
此外，如果由控制器30讀取的標(biāo)記信息包括函數(shù)，則信息選擇屏幕可以包括選擇該函數(shù)是子函數(shù)或標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)的屏幕。
控制器30可以基于通過信息選擇部分和類型選擇屏幕輸入的信息，來生成測(cè)試信息(操作S25)?？刂破?0可以顯示測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的變量信息、定義信息、子函數(shù)信息、標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息、以及基于通過信息選擇部分和類型選擇屏幕輸入的信息的測(cè)試用例類型中的至少一個(gè)。因此，用戶可以通過檢查所顯示的數(shù)量是否正確，來判斷是否正確地生成了適于他/她目的的測(cè)試信息。
例如，測(cè)試信息可以包括作為測(cè)試項(xiàng)參考的測(cè)試用例和測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
通過在測(cè)試部分90上輸出生成的測(cè)試信息，控制器30可以執(zhí)行軟件測(cè)試。
對(duì)于以上描述的本發(fā)明一般性概念的示例性實(shí)施例，在軟件測(cè)試方法中，可以用對(duì)話形式顯示類型選擇屏幕或信息選擇屏幕。即，可以在顯示部分70上顯示提問“測(cè)試類型是什么？”的屏幕。根據(jù)用戶輸入的測(cè)試類型，可以顯示用于單元測(cè)試或集成測(cè)試類型的適合的信息屏幕。即，可以顯示不同對(duì)話形式的不同屏幕，如，“你使用指針嗎？”，“測(cè)試用例類型是什么？”等。因此，用戶可以通過回答屏幕上顯示的問題(如同他/她在對(duì)話中)開始軟件測(cè)試，從而更加有效地測(cè)試軟件。
對(duì)于以上描述的本發(fā)明一般性概念的示例性實(shí)施例，控制器30或控制器30的測(cè)試信息生成部分35可以具有附加軟件。此外，附加軟件可以提供以包括測(cè)試部分90。此時(shí)，根據(jù)本發(fā)明一般性概念的軟件測(cè)試設(shè)備100可以包括具有上述軟件的不同電磁設(shè)備。例如，圖1和2中的軟件測(cè)試設(shè)備100和軟件測(cè)試方法可以包含于軟件、硬件或其組合中，以及作為計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)上的計(jì)算機(jī)可讀代碼。計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)可以包括適于存儲(chǔ)之后可由計(jì)算機(jī)系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)的任何數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備。計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)的示例包括、但不局限于，只讀存儲(chǔ)器(ROM)、隨機(jī)訪問存儲(chǔ)器(RAM)、CD-ROM、磁帶、軟盤、光數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備、以及載波(如，通過因特網(wǎng)的數(shù)據(jù)傳輸)。計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)還可以在網(wǎng)絡(luò)耦合計(jì)算機(jī)系統(tǒng)上分布，使得以分布的形式存儲(chǔ)和執(zhí)行計(jì)算機(jī)可讀代碼。
如上所述，基于根據(jù)本發(fā)明一般性概念的實(shí)施例的軟件測(cè)試方法，在測(cè)試作為測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的軟件之前，用戶可以改變簡單選項(xiàng)、或者可以輸入關(guān)于對(duì)話形式的信息。根據(jù)本發(fā)明一般性概念的測(cè)試方法可以以對(duì)話形式指導(dǎo)測(cè)試。因而，用戶可以無困難地直接檢查測(cè)試過程。因此，根據(jù)本發(fā)明一般性概念的軟件測(cè)試方法及其軟件測(cè)試設(shè)備會(huì)需要基于較少差錯(cuò)的用戶的較少努力。
如上所述，本發(fā)明的一般性概念提供了一種軟件測(cè)試方法及其方法，通過所述方法，用戶改變軟件，以適合基于輸入信息的測(cè)試，其中，通過詢問用戶關(guān)于測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的信息得到所述輸入信息。
盡管已經(jīng)示出并描述了本發(fā)明一般性概念的一些實(shí)施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員將理解，可以在不偏離本發(fā)明一般性概念的原理和精神的情況下，在這些實(shí)施例中作出改變，本發(fā)明一般性概念的范圍由所附權(quán)利要求
及其等同物所限定。
本申請(qǐng)要求2005年12月28日向韓國知識(shí)產(chǎn)權(quán)局遞交的專利申請(qǐng)?zhí)枮镹o.P2005-0131936的韓國專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán)，在此將該申請(qǐng)的公開整體并入作為參考。
權(quán)利要求
1.一種軟件測(cè)試方法，包括操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式；輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；讀取所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息；顯示詢問關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕；根據(jù)通過所述信息選擇屏幕輸入的關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息和所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息；以及輸出所述測(cè)試信息以測(cè)試所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
2.如權(quán)利要求
1所述的軟件測(cè)試方法，其中還包括如果輸入所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，則顯示類型選擇屏幕來選擇測(cè)試類型，其中，所述測(cè)試信息的生成還包括，基于所述測(cè)試類型來生成所述測(cè)試信息。
3.如權(quán)利要求
2所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述信息選擇屏幕的顯示包括顯示詢問關(guān)于變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一個(gè)的信息的屏幕。
4.如權(quán)利要求
3所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述變量信息包括變量數(shù)據(jù)類型、關(guān)于是否建立了變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一個(gè)。
5.如權(quán)利要求
4所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述測(cè)試用例信息包括測(cè)試用例類型和數(shù)據(jù)。
6.如權(quán)利要求
5所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述測(cè)試用例類型包括固定用例、默認(rèn)用例和用戶用例中的至少一個(gè)。
7.如權(quán)利要求
6所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述測(cè)試信息包括作為與測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的參考的測(cè)試用例和測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
8.如權(quán)利要求
2所述的軟件測(cè)試方法，其中，測(cè)試類型包括單元測(cè)試和集成測(cè)試之一。
9.如權(quán)利要求
3所述的軟件測(cè)試方法，其中，所述測(cè)試信息的生成包括根據(jù)通過所述信息選擇屏幕和所述類型選擇屏幕中的至少一個(gè)輸入的信息，顯示所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的變量信息、定義信息、子函數(shù)信息、標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息、以及測(cè)試用例類型中的至少一個(gè)。
10.一種軟件測(cè)試設(shè)備，包括顯示部分，用于顯示圖像；接口屏幕生成部分，用于生成在顯示部分上顯示的屏幕；存儲(chǔ)部分，用于存儲(chǔ)具有標(biāo)記信息的測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；用戶選擇部分，用于選擇測(cè)試模式來開始軟件測(cè)試；以及控制器，用于在選擇測(cè)試模式時(shí)，控制所述接口屏幕生成部分生成詢問關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕，以及基于通過信息選擇屏幕輸入的信息來生成測(cè)試信息。
11.如權(quán)利要求
10所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述控制器在輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)時(shí)，控制所述接口屏幕生成部分來生成選擇測(cè)試類型的類型選擇屏幕，以及基于通過所述類型選擇屏幕輸入的測(cè)試類型，來生成所述測(cè)試信息。
12.如權(quán)利要求
11所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述信息選擇屏幕包括詢問關(guān)于變量信息、定義信息、子函數(shù)信息和標(biāo)準(zhǔn)函數(shù)信息中的至少一個(gè)的信息的屏幕。
13.如權(quán)利要求
12所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述變量信息包括變量數(shù)據(jù)類型、關(guān)于是否建立了變量指針的信息、以及測(cè)試用例信息中的至少一個(gè)。
14.如權(quán)利要求
13所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述測(cè)試用例信息包括具有固定用例、默認(rèn)用例和用戶用例中的至少一個(gè)的測(cè)試類型。
15.如權(quán)利要求
14所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述控制器生成測(cè)試信息，所述測(cè)試信息具有作為所述目標(biāo)函數(shù)測(cè)試項(xiàng)的參考的測(cè)試用例和測(cè)試驅(qū)動(dòng)器中的至少一個(gè)。
16.如權(quán)利要求
10所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述測(cè)試類型包括單元測(cè)試和集成測(cè)試之一。
17.如權(quán)利要求
10所述的軟件測(cè)試設(shè)備，其中，所述控制器包括控制接口屏幕生成部分的顯示控制器，以及生成測(cè)試信息的測(cè)試信息生成部分。
18.一種執(zhí)行計(jì)算機(jī)可讀代碼的計(jì)算機(jī)可讀記錄介質(zhì)，用于執(zhí)行軟件測(cè)試方法，所述方法包括操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式；輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；讀取所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息；顯示詢問關(guān)于標(biāo)記信息的信息的信息選擇屏幕；根據(jù)通過所述信息選擇屏幕輸入的關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息和所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息；以及輸出所述測(cè)試信息來測(cè)試所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)。
19.一種軟件測(cè)試方法，包括生成接收測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的接口屏幕；根據(jù)輸入的所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)來確定標(biāo)記信息；根據(jù)所選擇的所述標(biāo)記信息來生成測(cè)試信息；以及根據(jù)生成的所述測(cè)試信息來測(cè)試軟件。
20.如權(quán)利要求
19所述的軟件測(cè)試方法，其中，測(cè)試的所述軟件是由用戶獨(dú)立測(cè)試的軟件的形成單元。
21.如權(quán)利要求
19所述的軟件測(cè)試方法，其中還包括在確定所述標(biāo)記信息之前，輸入軟件語言類型，其中，根據(jù)輸入的所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)和輸入的所述軟件語言類型，來執(zhí)行所述標(biāo)記信息的確定。
22.如權(quán)利要求
19所述的軟件測(cè)試方法，其中還包括在確定所述標(biāo)記信息之前，輸入軟件測(cè)試類型，其中，根據(jù)輸入的所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)和輸入的所述軟件測(cè)試類型，來執(zhí)行所述標(biāo)記信息的確定。
專利摘要
一種軟件測(cè)試方法及設(shè)備。所述軟件測(cè)試方法包括，操作開始軟件測(cè)試的測(cè)試模式；輸入測(cè)試目標(biāo)函數(shù)；讀取測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的標(biāo)記信息；顯示詢問關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息選擇屏幕；根據(jù)所述通過信息選擇屏幕輸入的關(guān)于所述標(biāo)記信息的信息和測(cè)試目標(biāo)函數(shù)，來生成測(cè)試信息；以及輸出測(cè)試所述測(cè)試目標(biāo)函數(shù)的測(cè)試信息。
文檔編號(hào)G06F11/36GK1991786SQ200610168826
公開日2007年7月4日 申請(qǐng)日期2006年12月14日
發(fā)明者黃淳勛 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan