一種sas存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在SAS存儲(chǔ)板卡的生產(chǎn)檢測中,有一個(gè)環(huán)節(jié)是對SAS通道的檢測,即檢測SAS通道的穩(wěn)定性。
[0003]當(dāng)前的檢測一般是通過連接硬盤進(jìn)行讀寫測試來判斷SAS通道的質(zhì)量。這種測試方法的弊端是:需要準(zhǔn)備較多的硬盤,測試時(shí)間長,硬盤本身也是一種不穩(wěn)定的因素,而且測試結(jié)果并不能準(zhǔn)確衡量SAS通道的質(zhì)量。隨著SAS板卡的SAS通道越來越多,SAS通道的檢測工藝需要耗費(fèi)較大的時(shí)間與成本。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0004]本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:提供一種測試方法及裝置,以解決目前SAS板卡生產(chǎn)檢測中效率低,成本大的問題。
[0005]本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為:
一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,所述測試方法將SAS存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,通過對比接收到的信號與發(fā)送的信號的差異來判斷通道的質(zhì)量。
[0006]所述SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連方式如下:將SAS通道的Tx+信號線與自身的Rx+信號線相連,Tx-信號線與自身的Rx-信號線相連。
[0007]SAS通道的信號發(fā)送端(Transmitter)以固定的數(shù)據(jù)序列發(fā)送數(shù)據(jù);這樣SAS通道的信號接收端(Receiver)可以收到自己發(fā)送給自己的數(shù)據(jù);SAS通道的信號接收端(Receiver)根據(jù)信號發(fā)送端(Transmitter)發(fā)送的固定的數(shù)據(jù)序列檢查收到的數(shù)據(jù),并計(jì)算出現(xiàn)錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤率是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0008]所述測試方法包括步驟如下:
步驟21,SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,使SAS通道構(gòu)成一個(gè)環(huán)回鏈路; 步驟22,SAS通道的信號發(fā)送端以固定的數(shù)據(jù)序列發(fā)送數(shù)據(jù);
步驟23,SAS通道的信號接收端接收到發(fā)送端傳輸來的數(shù)據(jù);
步驟24,SAS通道的信號接收端將收到的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)存放在特定的寄存器中;
步驟25,SAS存儲(chǔ)板卡的中央處理器讀取SAS通道的信號接收端的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)寄存器以計(jì)算單位時(shí)間內(nèi)的傳輸錯(cuò)誤率,依此判斷SAS通道是否符合質(zhì)量要求。
[0009]一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試裝置,所述測試裝置包括SAS通道的信號接收端和發(fā)送端,其中SAS通道的信號接收端與信號發(fā)送端相連,構(gòu)成環(huán)回SAS通道,以達(dá)到使連接于此裝置的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端組成環(huán)回的目的。
[0010]測試時(shí),環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號接收端連接要測試的存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端,以接受存儲(chǔ)板卡的SAS通道發(fā)送的數(shù)據(jù);環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號發(fā)送端連接要測試的存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號接收端,以轉(zhuǎn)發(fā)環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號接收端所接受到的數(shù)據(jù)。
[0011]所述測試裝置包括若干個(gè)環(huán)回SAS通道。
[0012]本發(fā)明的有益效果為:本發(fā)明公開的環(huán)回測試方法和裝置可以大幅度縮減存儲(chǔ)板卡生產(chǎn)檢測的成本,縮短檢測時(shí)間,提高檢測質(zhì)量。
【附圖說明】
[0013]圖1為本發(fā)明中SAS通道示意圖;
圖2為本發(fā)明中SAS通道環(huán)回示意圖;
圖3為本發(fā)明中SAS通道環(huán)回測試裝置示意圖;
圖4為本發(fā)明中SAS通道環(huán)回測試示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]下面參照附圖所示,通過【具體實(shí)施方式】對本發(fā)明進(jìn)一步說明:
一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,SAS存儲(chǔ)板卡包括一到多個(gè)SAS通道,如圖1所示,SAS通道包括信號發(fā)送端和信號接收端,信號發(fā)送端負(fù)責(zé)向目標(biāo)通道傳輸數(shù)據(jù),信號接收端負(fù)責(zé)接收來自目標(biāo)通道的數(shù)據(jù),如圖2所示,所述測試方法將SAS存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,通過對比接收到的信號與發(fā)送的信號的差異來判斷通道的質(zhì)量。
[0015]所述SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連方式如下:將SAS通道的Tx+信號線與自身的Rx+信號線相連,Tx-信號線與自身的Rx-信號線相連。
[0016]SAS通道的信號發(fā)送端(Transmitter)以固定的數(shù)據(jù)序列發(fā)送數(shù)據(jù);這樣SAS通道的信號接收端(Receiver)可以收到自己發(fā)送給自己的數(shù)據(jù);SAS通道的信號接收端(Receiver)根據(jù)信號發(fā)送端(Transmitter)發(fā)送的固定的數(shù)據(jù)序列檢查收到的數(shù)據(jù),并計(jì)算出現(xiàn)錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤率是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
[0017]所述測試方法包括步驟如下:
步驟21,SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,使SAS通道構(gòu)成一個(gè)環(huán)回鏈路; 步驟22,SAS通道的信號發(fā)送端以固定的數(shù)據(jù)序列發(fā)送數(shù)據(jù);
步驟23,SAS通道的信號接收端接收到發(fā)送端傳輸來的數(shù)據(jù);
步驟24,SAS通道的信號接收端將收到的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)存放在特定的寄存器中;
步驟25,SAS存儲(chǔ)板卡的中央處理器讀取SAS通道的信號接收端的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)寄存器以計(jì)算單位時(shí)間內(nèi)的傳輸錯(cuò)誤率,依此判斷SAS通道是否符合質(zhì)量要求。
[0018]如圖3所示,一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試裝置,所述測試裝置包括SAS通道的信號接收端和發(fā)送端,其中SAS通道的信號接收端與信號發(fā)送端相連,構(gòu)成環(huán)回SAS通道,以達(dá)到使連接于此裝置的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端組成環(huán)回的目的。
[0019]如圖4所示,測試時(shí),環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號接收端連接要測試的存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端,以接受存儲(chǔ)板卡的SAS通道發(fā)送的數(shù)據(jù);環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號發(fā)送端連接要測試的存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號接收端,以轉(zhuǎn)發(fā)環(huán)回測試裝置的SAS通道的信號接收端所接受到的數(shù)據(jù)。
[0020]所述測試裝置包括若干個(gè)環(huán)回SAS通道。
[0021]以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明,而并非對本發(fā)明的限制,有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下,還可以做出各種變化和變型,因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇,本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,其特征在于:所述測試方法將SAS存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,通過對比接收到的信號與發(fā)送的信號的差異來判斷通道的質(zhì)量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,其特征在于,所述SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連方式如下:將SAS通道的Tx+信號線與自身的Rx+信號線相連,Tx-信號線與自身的Rx-信號線相連。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,其特征在于,所述測試方法,包括步驟如下: 步驟21,SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,使SAS通道構(gòu)成一個(gè)環(huán)回鏈路; 步驟22,SAS通道的信號發(fā)送端以固定的數(shù)據(jù)序列發(fā)送數(shù)據(jù); 步驟23,SAS通道的信號接收端接收到發(fā)送端傳輸來的數(shù)據(jù); 步驟24,SAS通道的信號接收端將收到的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)存放在特定的寄存器中; 步驟25,SAS存儲(chǔ)板卡的中央處理器讀取SAS通道的信號接收端的錯(cuò)誤計(jì)數(shù)寄存器以計(jì)算單位時(shí)間內(nèi)的傳輸錯(cuò)誤率,依此判斷SAS通道是否符合質(zhì)量要求。
4.一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試裝置,其特征在于:所述測試裝置包括SAS通道的信號接收端和發(fā)送端,其中SAS通道的信號接收端與信號發(fā)送端相連,構(gòu)成環(huán)回SAS通道。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試裝置,其特征在于:所述測試裝置包括若干個(gè)環(huán)回SAS通道。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試方法,所述測試方法將SAS存儲(chǔ)板卡的SAS通道的信號發(fā)送端與信號接收端相連,通過對比接收到的信號與發(fā)送的信號的差異來判斷通道的質(zhì)量。本發(fā)明還公開了一種SAS存儲(chǔ)板卡的環(huán)回測試裝置,所述測試裝置包括SAS通道的信號接收端和發(fā)送端,其中SAS通道的信號接收端與信號發(fā)送端相連,構(gòu)成環(huán)回SAS通道本發(fā)明公開的環(huán)回測試方法和裝置可以大幅度縮減存儲(chǔ)板卡生產(chǎn)檢測的成本,縮短檢測時(shí)間,提高檢測質(zhì)量。
【IPC分類】G06F11-22
【公開號】CN104699580
【申請?zhí)枴緾N201510125069
【發(fā)明人】王獻(xiàn)飛
【申請人】浪潮集團(tuán)有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2015年3月20日