一種用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明實施例涉及數(shù)據(jù)銷毀技術領域，尤其涉及一種用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法。
【背景技術】
[0002]鑒于磁性介質(zhì)的存儲原理和數(shù)據(jù)讀寫方法，普通的低級格式化、數(shù)據(jù)刪除等方法都無法徹底清除數(shù)據(jù)；操作系統(tǒng)和硬盤的隱性操作會產(chǎn)生殘留數(shù)據(jù)，為了避免不法分子利用數(shù)據(jù)殘留恢復出原始數(shù)據(jù)信息，造成安全泄密的風險，在硬盤報廢或者送修、捐獻前應按不同的保密等級對硬盤數(shù)據(jù)進行銷毀處理。
[0003]目前，在磁性介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀后會生成一個對應的標簽，標簽上信息包括磁性介質(zhì)的屬性、規(guī)格以及是否已進行銷毀處理等信息。后續(xù)的審核員根據(jù)標簽信息對批量處理后的磁性介質(zhì)進行統(tǒng)一處理。
[0004]但是在實際操作中，發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有對存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方式存在幾個問題:(I)存在人為失誤或者主觀故意誤操作，將標簽錯貼亂貼，出現(xiàn)標簽信息顯示已銷毀但實際并未進行銷毀操作的問題，導致重要數(shù)據(jù)外泄；(2)標簽信息為明文信息，容易導致磁性介質(zhì)銷毀信息暴露，若標簽顯示未完成銷毀信息，則易被非法人員留意并竊取此磁性介質(zhì)的信息；(3)審核員過于依賴標簽信息，若在處理過程中，出現(xiàn)標簽脫落或者損壞，則會導致審核員無法審核的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為解決現(xiàn)有存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方式存在的上述問題，本發(fā)明提供一種用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法，通過在存儲介質(zhì)內(nèi)寫入校驗密文序列的技術手段，實現(xiàn)校驗核查時可以保證安全、無遺漏的驗證存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的狀態(tài)信息。
[0006]本發(fā)明提供的一種用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法的技術手段如下:
[0007]—種用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法，包括:
[0008]將待數(shù)據(jù)銷毀的目標存儲介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀處理；
[0009]根據(jù)所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀特征信息提取生成第一加密電子特征碼以及根據(jù)所述目標存儲介質(zhì)的固有屬性信息提取生成第二加密電子特征碼；
[0010]基于預設的加密算法，將所述第一加密電子特征碼和第二加密電子特征碼進行加密，生成校驗密文序列后寫入所述目標存儲介質(zhì)中指定的校驗存儲區(qū)域；
[0011]校驗核查時，對所述校驗存儲區(qū)域的校驗密文序列進行解密處理，將生成的解密結果與所述存儲介質(zhì)上的顯性信息核對以驗證所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀信息。
[0012]進一步地，在上述技術方案的基礎上，將待數(shù)據(jù)銷毀的目標存儲介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀處理后，將生成的校驗密文序列和數(shù)據(jù)銷毀信息一并寫入數(shù)據(jù)銷毀報告并打印輸出，則在校驗核查時，對所述校驗存儲區(qū)域的校驗密文序列以及數(shù)據(jù)銷毀報告中的校驗密文序列一并進行解密，并將解密結果與所述存儲介質(zhì)上的顯性信息核對以驗證所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀信息。
[0013]進一步地，在上述技術方案的基礎上，在所述將待數(shù)據(jù)銷毀的目標存儲介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀處理之前，還包括:
[0014]對所述目標存儲介質(zhì)進行容量最大化處理以消除系統(tǒng)隱藏存儲空間。
[0015]進一步地，在上述技術方案的基礎上，對所述目標存儲介質(zhì)進行容量最大化處理之后，在將待數(shù)據(jù)銷毀的目標存儲介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀處理之前還包括:
[0016]檢測所述目標存儲介質(zhì)是否存在不可或局部不可銷毀的缺陷，若存在則發(fā)出告警提不?目息。
[0017]進一步地，在上述技術方案的基礎上，所述不可或局部不可銷毀的缺陷至少包括:
[0018]所述目標存儲介質(zhì)中寫磁頭損壞或存在壞扇區(qū)映射。
[0019]進一步地，在上述技術方案的基礎上，還包括:
[0020]將所述目標存儲介質(zhì)的顯性信息生成二維碼圖形標簽，則在校驗核查時，對所述校驗存儲區(qū)域的校驗密文序列進行解密處理，將生成的解密結果與所述二維碼圖形提取的信息進行核對。
[0021]進一步地，在上述技術方案的基礎上，所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀特征信息包括下述一種或多種的特征信息組合:
[0022]擦除開始時間、擦除完成時間、擦除完成狀態(tài)、擦除標準或操作員編號。
[0023]進一步地，在上述技術方案的基礎上，所述目標存儲介質(zhì)的固有屬性信息包括下述一種或多種的屬性信息組合:
[0024]存儲介質(zhì)系列號、存儲介質(zhì)容量、存儲介質(zhì)型號或存儲介質(zhì)版本號。
[0025]本發(fā)明實施例用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法通過將第一加密電子特征碼和第二加密電子特征碼進行組合加密，避免現(xiàn)有校驗方法中靠單一依賴標簽的明文信息進行校驗，可以實現(xiàn)在校驗核查時，通過對所述校驗存儲區(qū)域的校驗密文序列進行解密處理，獲取該存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀信息以及固有屬性信息，從而判斷校驗此存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀的具體情況。通過上述技術手段，可以實現(xiàn)可靠的、無遺漏的校驗，加強了對存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀處理的安全性。
【附圖說明】
[0026]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0027]圖1為本發(fā)明用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法實施例一的流程圖；
[0028]圖2為本發(fā)明用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法實施例二的流程圖；
[0029]圖3為本發(fā)明用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法實施例三的流程圖。
【具體實施方式】
[0030]為使本發(fā)明實施例的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚，下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0031]實施例一
[0032]圖1為本發(fā)明用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法實施例一的流程圖，圖1的執(zhí)行主體是存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀設備和校驗核查終端，具體如圖1所示，包括:
[0033]步驟103、將待數(shù)據(jù)銷毀的目標存儲介質(zhì)進行數(shù)據(jù)銷毀處理，存儲介質(zhì)可以包括如:硬盤，U盤，移動硬盤，SD卡，CF卡等存儲介質(zhì)。數(shù)據(jù)銷毀處理可以采用扇區(qū)進行物理清零和覆蓋的方式，或者利用強磁對存儲介質(zhì)消磁和物理破壞。具體的選擇的方式可根據(jù)數(shù)據(jù)銷毀的要求而選定。
[0034]步驟105、根據(jù)所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀特征信息提取生成第一加密電子特征碼以及根據(jù)所述目標存儲介質(zhì)的固有屬性信息提取生成第二加密電子特征碼；
[0035]本步驟中，優(yōu)選地，所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀特征信息可以包括下述一種或多種的特征信息組合:擦除開始時間、擦除完成時間、擦除完成狀態(tài)、擦除標準或操作員編號，上述特征信息均與具體對目標存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀處理具有關聯(lián)性。只要具有與目標存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀處理具有關聯(lián)性的特征信息在此都可以作為提取生成第一加密電子特征碼的基礎，在此不做進一步限定。
[0036]所述目標存儲介質(zhì)的固有屬性信息可以包括下述一種或多種的屬性信息組合:存儲介質(zhì)系列號、存儲介質(zhì)容量、存儲介質(zhì)型號或存儲介質(zhì)版本號。上述屬性信息均可以唯一標識此存儲介質(zhì)。
[0037]步驟107、基于預設的加密算法，將所述第一加密電子特征碼和第二加密電子特征碼進行加密，生成校驗密文序列后寫入所述目標存儲介質(zhì)中指定的校驗存儲區(qū)域；
[0038]本步驟具體實施時，可以根據(jù)需要選擇是單獨將第一加密電子特征碼或者第二加密電子特征碼進行加密，或者將第一加密電子特征碼和第二加密電子特征碼進行組合加密。具體加密的校驗密文序列可以按照目標存儲介質(zhì)的容量值的一定比例設定，指定的校驗存儲區(qū)域也不做限定，在實施時可以根據(jù)需要調(diào)整設定。且為了進一步保證安全性，對每個目標存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀時，均可以隨機指定不同的區(qū)域，在解密時，再將生成的隨機區(qū)域信息僅發(fā)送給校驗終端，從而更進一步增加校驗的安全性。
[0039]步驟109、校驗核查時，對所述校驗存儲區(qū)域的校驗密文序列進行解密處理，將生成的解密結果與所述存儲介質(zhì)上的顯性信息核對以驗證所述目標存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀信息。
[0040]此步驟中，存儲介質(zhì)上的顯性信息比如在存儲介質(zhì)上標簽上顯示的存儲介質(zhì)系列號。首先核對存儲介質(zhì)系列號是否與解密獲取的存儲介質(zhì)系列號一致，如果不一致，說明此存儲介質(zhì)存在標簽錯誤，就需要進一步進行核實和處理；如果一致，說明此解密結果即是該存儲介質(zhì)的相關信息，通過解密結果上顯示的存儲介質(zhì)的數(shù)據(jù)銷毀信息可以確認此存儲介質(zhì)的銷毀狀態(tài)，比如何時何地何人對此存儲介質(zhì)進行的銷毀，銷毀使用的標準以及銷毀結果，都可以在解密結果中核對出來。
[0041]而現(xiàn)有的校驗的方式是人工針對標簽上的記錄結果進行核對，如果標簽上顯示是已銷毀或者未銷毀，則審核員就按照此信息對存儲介質(zhì)進行分類處理。但是若存在人工疏忽或者故意，則會造成未被銷毀的存儲介質(zhì)當作已銷毀存儲介質(zhì)繼續(xù)流向市場，則會導致里面的重要的數(shù)據(jù)外泄。而上述實施例提供的用于存儲介質(zhì)數(shù)據(jù)銷毀的校驗方法，因為對中間的銷毀數(shù)據(jù)的狀態(tài)以及存儲介質(zhì)均做了技術授權的加密，且存儲在存儲介質(zhì)上，因此在校驗時，可以直接使用手持的終端校驗設備直接機器校驗，即節(jié)省人力，又避免人工校驗時存在的失誤，可以實現(xiàn)100%的校驗結果。
[0042]需要說明的是，上述實施中，為了進一步加強校驗的安全性和一致性，在上述技