一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系統(tǒng)，根據(jù)各個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂巖厚度、單層砂巖的最大厚度和最小厚度，計(jì)算砂厚、砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，篩選出砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)，在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度、單層最薄砂巖的厚度、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比分別達(dá)到要求時(shí)確定篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相，避免主導(dǎo)相的誤判，提高沉積相圖的準(zhǔn)確度。
【專利說(shuō)明】
一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系 統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 沉積相圖是石油與天然氣勘探開發(fā)中重要的基礎(chǔ)圖件，砂體平面展布圖件則是編 制沉積相圖的主要圖件，一般包括砂體厚度圖（簡(jiǎn)稱砂厚圖）和砂地比圖（或含砂率圖）。在 統(tǒng)計(jì)工區(qū)鉆遇地層和砂巖厚度的基礎(chǔ)上，編制相應(yīng)的等值線圖即可獲得砂厚圖和砂地比 圖。一般砂巖厚度是統(tǒng)計(jì)某一地層單元內(nèi)砂巖的累計(jì)厚度，砂地比則是由砂巖的累計(jì)厚度 除以地層厚度。
[0003] 獲取準(zhǔn)確的砂巖累計(jì)厚度是編制砂厚圖和砂地比圖的關(guān)鍵。砂巖累計(jì)厚度是統(tǒng)計(jì) 地層單元內(nèi)所有或大部分單層砂巖的厚度，該方法存在的缺陷是有些鉆遇點(diǎn)砂巖單層厚度 薄、砂層層數(shù)多，累計(jì)厚度大，將非主導(dǎo)相誤認(rèn)為主導(dǎo)相;反之，將單層厚度大、層數(shù)少、累計(jì) 厚度小的主導(dǎo)相誤認(rèn)為非主導(dǎo)相；出現(xiàn)上述問(wèn)題則會(huì)導(dǎo)致沉積相圖的可靠性變差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系統(tǒng)，用以解決現(xiàn)有技 術(shù)中主導(dǎo)相判斷錯(cuò)誤導(dǎo)致沉積相圖可靠性變差的問(wèn)題。
[0005] -種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法，包括以下步驟：
[0006] 統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)以及地層厚度；
[0007] 根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小厚度，確定單層最厚砂巖 和單層最薄砂巖；
[0008] 根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚、砂地比、單 層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比；
[0009] 根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè) 層數(shù)的鉆遇點(diǎn)；
[0010]在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的厚度分別達(dá)到最大 經(jīng)驗(yàn)厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比分 別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相。
[0011]優(yōu)選地，通過(guò)以下公式計(jì)算所述砂厚：
[0012]
[0013] 共中，]1為所還砂厚，η為所述砂巖層數(shù)，hi為第i層砂巖的厚度。
[0014] m+A浦過(guò)以下公式計(jì)算所述砂地比：
[0015]
[0016] 其中，P為所述砂地比，H為所述地層厚度。
[0017] 優(yōu)選地，通過(guò)以下公式計(jì)算所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì) 應(yīng)的砂地比：
[0018]
[0019]
[0020] 其中，Pmax為所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmax為所述單層最厚砂巖的厚度， Pmin為所述單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmin為所述單層最薄砂巖的厚度。
[0021 ] -種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)，包括：
[0022] 統(tǒng)計(jì)模塊，用于統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)以及地層厚度；
[0023] 第一篩選模塊，用于根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小厚 度，確定單層最厚砂巖和單層最薄砂巖；
[0024] 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn)的 砂厚、砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比；
[0025] 第二篩選模塊，用于根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且 砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)；
[0026] 判斷模塊，用于在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的厚度 分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì) 應(yīng)的砂地比分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo) 相。
[0027] mm a#計(jì)算模塊通過(guò)以下公式計(jì)算所述砂厚：
[0028]
[0029]其中，h為所述砂厚，η為所述砂巖層數(shù)，Iu為第i層砂巖的厚度。
[0030] 優(yōu)選地，所述計(jì)算模塊通過(guò)以下公式計(jì)算所述砂地比：
[0031]
[0032] a ,地比，H為所述地層厚度。
[0033] 優(yōu)選地，所述計(jì)算模塊通過(guò)以下公式計(jì)算所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單 層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比：
[0034]
[0035]
[0036] 其中，Pmax為所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmax為所述單層最厚砂巖的厚度， Pmin為所述單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmin為所述單層最薄砂巖的厚度。
[0037] 本發(fā)明實(shí)施例中一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法及系統(tǒng)，根據(jù)各個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂 巖厚度、單層砂巖的最大厚度和最小厚度，計(jì)算砂厚、砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比 以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，篩選出砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆 遇點(diǎn)，在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度、單層最薄砂巖的厚度、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng) 的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比分別達(dá)到要求時(shí)確定篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相，避 免主導(dǎo)相的誤判，提高沉積相圖的準(zhǔn)確度。
【附圖說(shuō)明】
[0038] 為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例 或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅 是本發(fā)明發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提 下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0039] 圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法的步驟流程圖；
[0040] 圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)的功能模塊圖。
【具體實(shí)施方式】
[0041] 下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于 本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他 實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0042] 參照?qǐng)D1，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法，該方法包括：
[0043] 步驟100,統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)以及地層厚度；
[0044]步驟101，根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小厚度，確定單層 最厚砂巖和單層最薄砂巖；
[0045] 具體地，具有最大厚度的單層砂巖為所述單層最厚砂巖，具有最小厚度的單層砂 巖為所述單層最薄砂巖；
[0046] 步驟102,根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚、 砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比；
[0047] 具體地，通過(guò)以下公式（1)計(jì)算所述砂厚：
[0048]
(J).
[0049]式(1)中，h為所述砂厚，η為所述砂巖層數(shù)，Iu為第i層砂巖的厚度；
[0050] 通過(guò)以下公式(2)計(jì)算所述砂地比： 剛
⑵；
[0052]式(2)中，P為所述砂地比，H為所述地層厚度；
[0053]通過(guò)以下公式(3)和(4)分別計(jì)算所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄 砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比： _4]
(3);
[0055] f Λ、
(4);
[0056] 其中，Pmax為所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmax為所述單層最厚砂巖的厚度， Pmin為所述單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmin為所述單層最薄砂巖的厚度；
[0057] 步驟103,根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù) 大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)；
[0058] 步驟104,在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的厚度分別 達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的 砂地比分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相；
[0059] 具體地，所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為步驟103中砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù)大于預(yù) 設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)。
[0060] 基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)，如 圖2所示，由于該系統(tǒng)解決技術(shù)問(wèn)題的原理和一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法相似，因此 該系統(tǒng)的實(shí)施可參照方法的實(shí)施，重復(fù)之處不再贅述。
[0061] 統(tǒng)計(jì)模塊200,用于統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)以及地層厚度； [0062]第一篩選模塊201，用于根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小 厚度，確定單層最厚砂巖和單層最薄砂巖；
[0063] 計(jì)算模塊202,用于根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn) 的砂厚、砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比以及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比；
[0064] 第二篩選模塊203,用于根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚 度且砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)；
[0065] 判斷模塊204,用于在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的 厚度分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂 巖對(duì)應(yīng)的砂地比分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為 主導(dǎo)相。
[0066] 應(yīng)當(dāng)理解，以上一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)包括的模塊僅為根據(jù)該系統(tǒng)實(shí) 現(xiàn)的功能進(jìn)行的邏輯劃分，實(shí)際應(yīng)用中，可以進(jìn)行上述模塊的疊加或拆分。并且該實(shí)施例提 供的一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)所實(shí)現(xiàn)的功能與上述實(shí)施例提供的一種沉積相圖 中主導(dǎo)相的判斷方法一一對(duì)應(yīng)，對(duì)于該系統(tǒng)所實(shí)現(xiàn)的更為詳細(xì)的處理流程，在上述方法實(shí) 施例一中已做詳細(xì)描述，此處不再詳細(xì)描述。
[0067] 本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實(shí)施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計(jì)算機(jī)程序 產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實(shí)施例、完全軟件實(shí)施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實(shí) 施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個(gè)或多個(gè)其中包含有計(jì)算機(jī)可用程序代碼的計(jì)算機(jī) 可用存儲(chǔ)介質(zhì)（包括但不限于磁盤存儲(chǔ)器、CD-ROM、光學(xué)存儲(chǔ)器等）上實(shí)施的計(jì)算機(jī)程序產(chǎn) 品的形式。
[0068] 本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的方法、設(shè)備（系統(tǒng)）、和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品的流程 圖和/或方框圖來(lái)描述的。應(yīng)理解可由計(jì)算機(jī)程序指令實(shí)現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一流 程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計(jì)算機(jī)程序 指令到通用計(jì)算機(jī)、專用計(jì)算機(jī)、嵌入式處理機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器以產(chǎn) 生一個(gè)機(jī)器，使得通過(guò)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生用于實(shí) 現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的裝置。
[0069] 這些計(jì)算機(jī)程序指令也可存儲(chǔ)在能引導(dǎo)計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特 定方式工作的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中，使得存儲(chǔ)在該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器中的指令產(chǎn)生包括指 令裝置的制造品，該指令裝置實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一個(gè)方框或 多個(gè)方框中指定的功能。
[0070] 這些計(jì)算機(jī)程序指令也可裝載到計(jì)算機(jī)或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計(jì) 算機(jī)或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的處理，從而在計(jì)算機(jī)或 其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實(shí)現(xiàn)在流程圖一個(gè)流程或多個(gè)流程和/或方框圖一 個(gè)方框或多個(gè)方框中指定的功能的步驟。
[0071] 盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造 性概念，則可對(duì)這些實(shí)施例作出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu) 選實(shí)施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。
[0072] 顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改動(dòng)和變型而不脫離本發(fā)明的精 神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍 之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動(dòng)和變型在內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷方法，其特征在于，包括W下步驟： 統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)W及地層厚度； 根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小厚度，確定單層最厚砂巖和單 層最薄砂巖； 根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚、砂地比、單層最 厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比W及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比； 根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù) 的鉆遇點(diǎn)； 在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的厚度分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn) 厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比分別達(dá) 到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相。2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，通過(guò)W下公式計(jì)算所述砂厚：其中，h為所述砂厚，η為所述砂巖層數(shù)，hi為第i層砂巖的厚度。3. 如權(quán)利要求2所述的方法，通過(guò)W下公式計(jì)算所述砂地比：其中，P為所述砂地比，Η為所述地層厚度。4. 如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，通過(guò)W下公式計(jì)算所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的 砂地比W及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比：其中，Pmax為所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmax為所述單層最厚砂巖的厚度，Pmin為 所述單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmin為所述單層最薄砂巖的厚度。 5 . -種沉積相圖中主導(dǎo)相的判斷系統(tǒng)，其特征在于，包括： 統(tǒng)計(jì)模塊，用于統(tǒng)計(jì)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)W及地層厚度； 第一篩選模塊，用于根據(jù)所述各層砂巖厚度篩選單層砂巖的最大厚度和最小厚度，確 定單層最厚砂巖和單層最薄砂巖； 計(jì)算模塊，用于根據(jù)所述各層砂巖厚度、砂巖層數(shù)和地層厚度計(jì)算每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚、 砂地比、單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比W及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比； 第二篩選模塊，用于根據(jù)每個(gè)鉆遇點(diǎn)的砂厚和砂巖層數(shù)篩選砂厚大于預(yù)設(shè)厚度且砂巖 層數(shù)大于預(yù)設(shè)層數(shù)的鉆遇點(diǎn)； 判斷模塊，用于在篩選出的鉆遇點(diǎn)的單層最厚砂巖的厚度和單層最薄砂巖的厚度分別 達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)厚度和最小經(jīng)驗(yàn)厚度，且單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比和單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的 砂地比分別達(dá)到最大經(jīng)驗(yàn)砂地比和最小經(jīng)驗(yàn)砂地比，確定所述篩選出的鉆遇點(diǎn)為主導(dǎo)相。6.如權(quán)利要求5所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算模塊通過(guò)W下公式計(jì)算所述砂厚：其中，h為所述砂厚，η為所述砂巖層數(shù)，hi為第i層砂巖的厚度。7. 如權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算模塊通過(guò)W下公式計(jì)算所述砂地 比：其中，P為所述砂地比，Η為所述地層厚度。8. 如權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算模塊通過(guò)W下公式計(jì)算所述單層最 厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比W及單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比：其中，Pmax為所述單層最厚砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmax為所述單層最厚砂巖的厚度，Pmin為 所述單層最薄砂巖對(duì)應(yīng)的砂地比，hmin為所述單層最薄砂巖的厚度。
【文檔編號(hào)】G06F19/00GK105844082SQ201610153389
【公開日】2016年8月10日
【申請(qǐng)日】2016年3月11日
【發(fā)明人】耳闖, 趙靖舟, 程妮
【申請(qǐng)人】西安石油大學(xué)