通信性能測試方法及綜合測試儀的制作方法
【專利摘要】本申請公開了一種通信性能測試方法及綜合測試儀，一方面，底層設備可根據(jù)上位機下發(fā)的指令完成對車載設備的模擬處理，進而針對路側單元進行性能測試；另一方面，底層設備可根據(jù)上位機下發(fā)的指令完成對路側單元的模擬處理，進而針對車載設備進行性能測試。這樣，通過一臺綜合測試儀即可實現(xiàn)對RSU、OBU的性能測試，且在研發(fā)、生產(chǎn)或?qū)嶋H應用等場景下均可應用，極大地提高了測試的便利性，由于綜合測試儀結構簡單、便于攜帶且操作簡單，在實際應用情況下即可節(jié)省人力支出進行快速的性能測試，大大提高測試效率。
【專利說明】通信性能測試方法及綜合測試儀
【技術領域】
[0001]本申請涉及電子不停車收費系統(tǒng)領域，尤其涉及一種通信性能測試方法及綜合測試儀。
【背景技術】
[0002]電子不停車收費系統(tǒng)(Electronic Toll Collection，ETC)是為了減少道路收費口處的交通擁擠，加快車輛通過收費口的速度而建設的。ETC是智能交通(IntelligentTransportation System, ITS)的一項具體應用。ETC主要由多種ETC設備組成，如路側單元(Road-Side Units，RSU)和車載設備(On-Board Units，0BU)。當車輛通過收費 口時，OBU讀取集成電路(Integrated Circuit, IC)卡，收費口處設置的RSU會與車輛上的OBU之間進行通信，RSU會將IC卡信息與計算機收費系統(tǒng)通信，從而在計算機收費系統(tǒng)和IC卡之間完成對通行費的計費處理，實現(xiàn)電子結算收費。
[0003]隨著ETC建設的大力推進，相關設備RSU及OBU在ITS中應用越來越廣泛，因而，對RSU或OBU的性能測試顯得尤為重要。一般，在設備出廠前，需要通過專門的儀器對其各項性能指標進行測試。當設備在車道上應用發(fā)生故障時，又需要將設備送回廠同樣通過專門的儀器進行測試，以找出故障原因進而檢修?，F(xiàn)有技術不僅對RSU及OBU需要采用不同的設備對其進行性能測試，而且設備的性能測試依賴于廠中專門的儀器進行，在實際應用情況下無法進行快速的性能測試，檢修十分不便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本申請?zhí)峁┮环N通信性能測試方法及綜合測試儀，以解決對RSU、OBU的性能測試受限于專用儀器及場地，且測試效率低下的問題。
[0005]根據(jù)本申請的第一方面，本申請?zhí)峁┮环N通信性能測試方法，所述方法基于一種設置有上位機及底層設備的綜合測試儀，所述方法包括:
[0006]所述上位機向底層設備發(fā)送用于對ETC設備進行測試的指令；
[0007]所述底層設備根據(jù)所述指令完成模擬ETC設備的對端設備的初始化配置；
[0008]所述上位機將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給底層設備，觸發(fā)所述底層設備與ETC設備進行信息交互；
[0009]所述上位機基于信息交互完成通信性能測試。
[0010]根據(jù)本申請的第二方面，本申請?zhí)峁┮环N綜合測試儀，所述綜合測試儀對ETC設備進行檢測，包括上位機及底層設備，其中:
[0011]上位機，用于向所述底層設備發(fā)送用于對ETC設備進行測試的指令，將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給所述底層設備；
[0012]底層設備，用于根據(jù)所述指令完成模擬ETC設備的對端設備的初始化配置，通過所述通信幀與ETC設備進行信息交互，并對所述信息交互進行監(jiān)測，以將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機完成通信性能測試。[0013]本申請的有益效果是:
[0014]通過提供一種通信性能測試方法及綜合測試儀，一方面，底層設備可根據(jù)上位機下發(fā)的指令完成對車載設備的模擬處理，進而針對路側單元進行性能測試；另一方面，底層設備可根據(jù)上位機下發(fā)的指令完成對路側單元的模擬處理，進而針對車載設備進行性能測試。這樣，通過一臺綜合測試儀即可實現(xiàn)對RSU、OBU的性能測試，且在研發(fā)、生產(chǎn)或?qū)嶋H應用等場景下均可應用，極大地提高了測試的便利性，由于綜合測試儀結構簡單、便于攜帶且操作簡單，在實際應用情況下即可節(jié)省人力支出進行快速的性能測試，大大提高測試效率。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0015]圖1為本申請實施例一的DSRC綜合測試儀的結構圖；
[0016]圖2為本申請實施例一的通信測試方法的流程圖；
[0017]圖3為本申請實施例二的DSRC綜合測試儀的結構圖；
[0018]圖4為本申請實施例三的DSRC綜合測試儀的結構圖；
[0019]圖5為本申請實施例四的DSRC綜合測試儀的結構圖；
[0020]圖6為本申請實施例四中功率自動控制模塊503的結構圖；
[0021]圖7為本申請實施例四中CPLD邏輯處理電路505的結構圖。
【具體實施方式】
[0022]下面通過【具體實施方式】結合附圖對本發(fā)明作進一步詳細說明。
[0023]實施例一:
[0024]本申請?zhí)峁┝艘环N專用短程通信(DedicatedShort Range Communications,DSRC)綜合測試儀及對應的通信性能測試方法，主要用于對ETC中的OBU或者RSU進行模擬，對應與RSU或OBU通信，完成通信性能測試。性能測試具體可包括對鏈路性能的測試、DSRC通信協(xié)議分析等。DSRC綜合測試儀可以適用于研發(fā)(如實驗室)、生產(chǎn)(如工廠)或?qū)嶋H應用(如車道)等場景。
[0025]請參考圖1，DSRC綜合測試儀主要包括相連的上位機101及底層設備102，其中:
[0026]上位機101用于向底層設備102發(fā)送用于對ETC設備(RSU或0BU)進行測試的指令，將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給底層設備102 ；
[0027]底層設備102，用于根據(jù)上述指令完成模擬ETC設備的對端設備(0BU或RSU)的初始化配置，通過通信幀與ETC設備進行信息交互，并對信息交互進行監(jiān)測，以將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機101完成通信性能測試。
[0028]具體地，上述協(xié)議可以是GB/T20851-2007、DB44/127-2002、WH/T1.3-2009 等版本的ETC協(xié)議。每個版本的ETC協(xié)議均定義了對應的通信幀和通信幀的執(zhí)行流程。操作員可根據(jù)ETC設備上執(zhí)行的當前ETC協(xié)議，在上位機101上選擇DSRC綜合測試儀所要執(zhí)行的當前ETC協(xié)議，從而底層設備102將按照與ETC設備匹配的當前ETC協(xié)議與ETC設備進行信息交互，完成通信性能測試。底層設備102上所進行的初始化配置主要是指為完成與ETC設備的信息交互，而進行的模擬ETC設備的對端設備的參數(shù)配置。DSRC綜合測試儀可通過模擬OBU或RSU，完成與對端設備(RSU或0BU)的通信，從而進行通信性能測試，如設備參數(shù)(如OBU喚醒時間、OBU喚醒靈敏度、OBU通信頻率、RSU與OBU的交易時間等)、幀信息量可靠性、幀完整性、讀卡是否成功、對所接收信號的波形進行記錄、事件分析、事件發(fā)生前后通信過程記錄、異常事件(上行/下行幀錯誤、超時、重發(fā)等)記錄、檢測統(tǒng)計、失敗率統(tǒng)計、數(shù)據(jù)記錄查詢與分析、鏈路通信性能實時檢測(如信號強度、調(diào)制度、誤碼率等)等。上位機101還可以在顯示界面上對整個交易信息幀數(shù)據(jù)和系統(tǒng)信息進行顯示。DSRC綜合測試儀可以模擬無故障的OBU或RSU與對端設備通信，也可以模擬有故障的OBU或RSU與對端設備通信，對應只需在初始化時進行對應配置，如設置故障時的經(jīng)驗參數(shù)等。
[0029]相應地，本申請的通信性能測試方法基于上述DSRC綜合測試儀進行，其流程主要如圖2所示:
[0030]步驟201，上位機101向底層設備102發(fā)送用于對ETC設備(RSU或0BU)進行測試的指令；
[0031]步驟202，底層設備102根據(jù)上述指令完成模擬ETC設備的對端設備(0BU或RSU)的初始化配置；
[0032]步驟203，上位機101將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給底層設備202 ；
[0033]步驟204，底層設備102利用通信幀與ETC設備進行信息交互，具體地，在信息交互過程中，底層設備102會對信息交互進行監(jiān)測，并且將監(jiān)測結果返回給上位機101 ；
[0034]步驟205，上位機101基于信息交互完成通信性能測試,具體地,上位機101根據(jù)底層設備102返回的監(jiān)測結果進行分析，從而完成基于上述信息交互的通信性能測試。
[0035]實施本申請的DSRC綜合測試儀及通信性能測試方法，通過一臺DSRC綜合測試儀即可實現(xiàn)與RSU或OBU通信的通信性能測試，且在研發(fā)、生產(chǎn)或?qū)嶋H應用等場景下均可應用，極大地提高了測試的便利性，由于綜合測試儀結構簡單、便于攜帶且操作簡單，在實際應用情況下即可節(jié)省人力支出進行快速的性能測試，大大提高測試效率。
[0036]實施例二:
[0037]本實施例的DSRC綜合測試儀在實施例一的基礎上進一步拓展，具體如圖3所示，底層設備102進一步包括控制模塊301、讀卡模塊302及信號收發(fā)模塊303，其中:
[0038]信號收發(fā)模塊303主要用作對RSU發(fā)來的信號進行接收并處理，如前置放大、解調(diào)、基帶放大及判決等處理，對發(fā)往RSU的信號進行發(fā)送前處理并發(fā)送，發(fā)送前處理如調(diào)制、功率控制等處理。
[0039]而本實施例的通信測試方法進一步包括:
[0040]當需要與OBU通信進行通信性能測試時:
[0041]控制模塊301根據(jù)用于對OBU進行測試的指令，首先對信號收發(fā)模塊進行參數(shù)配置，從而能夠使DSRC綜合測試儀工作在模擬RSU的模式下，完成模擬RSU的初始化配置，隨后，控制模塊301控制信號收發(fā)模塊303將通信幀發(fā)送到0BU，并從OBU獲得反饋幀，同時對信息交互進行監(jiān)測，并將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機101完成通信性能測試。
[0042]當需要與RSU通信進行通信性能測試時:
[0043]控制模塊301根據(jù)用于對RSU進行測試的指令，首先對信號收發(fā)模塊303進行參數(shù)配置，從而能夠使DSRC綜合測試儀工作在模擬OBU的模式下，完成模擬OBU的初始化配置，隨后，控制模塊301控制信號收發(fā)模塊303將通信幀發(fā)送到RSU，并從RSU獲得反饋幀，控制讀卡模塊301控制讀卡模塊302從用戶卡獲得IC卡信息并攜帶于通信幀中，同時對信息交互進行監(jiān)測，并將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機101完成通信性能測試。
[0044]實施例三:
[0045]上述實施例二中各模塊在應用時可采用如下具體結構實現(xiàn)，參照圖4所示:
[0046]讀卡模塊302可用讀卡器404實現(xiàn)；
[0047]信號收發(fā)模塊303可包括天線系統(tǒng)401、與天線系統(tǒng)401相連的調(diào)制解調(diào)器402及與調(diào)制解調(diào)器402相連的判決器403。其中:
[0048]當DSRC綜合測試儀需要與OBU通信進行測試時，首先，上位機101下發(fā)指令到控制模塊301，控制模塊301控制上述天線系統(tǒng)401、調(diào)制解調(diào)器402及判決器403完成初始化，初始化包括模擬RSU的參數(shù)配置過程。在信號發(fā)射過程中，控制模塊301輸出待發(fā)射信號到調(diào)制解調(diào)器402，調(diào)制解調(diào)器402將信號進行調(diào)制后通過天線系統(tǒng)401發(fā)出。在信號接收過程中，天線系統(tǒng)401將所接收信號通過調(diào)制解調(diào)器402解調(diào)后，再通過判決器403將解調(diào)所得模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，發(fā)送到控制模塊301進行處理。
[0049]當DSRC綜合測試儀需要與RSU通信進行測試時，首先，上位機101下發(fā)指令到控制模塊301，控制模塊301控制上述天線系統(tǒng)401、調(diào)制解調(diào)器402、判決器403、讀卡器404及上位機101完成初始化，初始化包括模擬OBU的參數(shù)配置過程。在信號發(fā)射過程中，控制模塊301輸出待發(fā)射信號到調(diào)制解調(diào)器402，調(diào)制解調(diào)器402將信號進行調(diào)制后通過天線系統(tǒng)401發(fā)出，而當信號中需要攜帶IC卡信息時，讀卡器404需要讀取IC卡信息并攜帶于待發(fā)射信號中。在信號接收過程中，天線系統(tǒng)401將所接收信號通過調(diào)制解調(diào)器402解調(diào)后，再通過判決器403將解調(diào)所得模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，發(fā)送到控制模塊301進行處理。
[0050]實施例四:
[0051]本申請的DSRC綜合測試儀的具體實施例四在實施例三基礎上可進一步如圖5所示。其中:
[0052]上位機101可為一微型化的計算機系統(tǒng)，其具有完整的計算機硬件和軟件。
[0053]天線系統(tǒng)401包括天線501、分別與天線501及調(diào)制解調(diào)器402相連的對所接收信號進行處理的前置放大電路502、對待發(fā)射信號進行處理的功率自動控制模塊503。具體地，在對所接收信號進行解調(diào)前，需要以前置放大電路502進行放大及濾波處理。在對待發(fā)射信號進行發(fā)射前，需要將待發(fā)射信號的功率調(diào)整為設定功率，此時就需要功率自動控制模塊503進行對應功率調(diào)整處理。
[0054]為了使功率調(diào)整更為精確，上述功率自動控制模塊503可如圖6所示，包括射頻耦合器601、與射頻耦合器601相連的功率檢測器602、與射頻耦合器601相連的多級壓控增益放大器603、參考電壓電路604，以及分別與參考電壓電路604、多級壓控增益放大器603及功率檢測器602相連的控制電壓變換與調(diào)理電路605。其中，待發(fā)射信號從多級壓控增益放大器603 —端輸入，經(jīng)過多級壓控增益放大器603的功率調(diào)整后輸出到與天線501相連的射頻耦合器601。功率檢測器602用于對輸出到天線501的待發(fā)射信號的功率進行實時檢測，并將檢測結果返回至控制電壓變換與調(diào)理電路605，該檢測結果為與輸出到天線501的待發(fā)射信號的功率成對數(shù)關系的電壓?？刂齐妷鹤儞Q與調(diào)理電路605接收參考電壓電路604輸入的用于指示設定功率的參考電壓以及功率檢測器602返回的檢測結果，通過比較檢測結果與參考電壓，對多級壓控增益放大器603輸出調(diào)整控制信號，控制多級壓控增益放大器603對待發(fā)射信號的功率進行調(diào)整以匹配設定功率。這種閉環(huán)控制結構具有功率調(diào)節(jié)靈敏度高、響應快的特點。多級壓控增益放大器603中可包含多個壓控增益放大器、功率放大器及壓控增益衰減器等，從而使功率調(diào)節(jié)更加精確。其中，壓控增益放大器根據(jù)給定電壓來控制信號增益，壓控增益衰減器根據(jù)給定電壓來控制信號衰減量，功率放大器為固定增益放大器，增益不可調(diào)，該組合可實現(xiàn)_50dB至20dB的可調(diào)動態(tài)范圍。
[0055]天線501可包括內(nèi)置天線、外置天線，以及在內(nèi)置天線與外置天線之間切換的射頻切換開關。通過設置射頻切換開關，可根據(jù)實際情況需要選擇采用內(nèi)置天線或外置天線。例如，在工廠進行在線測試時，可選擇內(nèi)置天線作為信號收發(fā)功能件，在車道進行測試時，可以分別針對下行鏈路和上行鏈路選擇獨立的外置天線進行信號收發(fā)處理，所接收信號經(jīng)過放大濾波后以一路或分兩路送到調(diào)制解調(diào)器402，從而實現(xiàn)雙通道或單通道信號的高靈敏度接收解調(diào)。
[0056]基帶放大電路504與調(diào)制解調(diào)器402相連以對所接收信號進行基帶放大處理。
[0057]判決器403分別與基帶放大電路504及控制模塊301相連，用于對基帶放大電路504處理所得基帶信號進行O、I判決，以將調(diào)制解調(diào)器402解調(diào)所得模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。
[0058]基帶放大電路504及判決器403具有增益高、對信號脈寬影響小的特點，能大大降低系統(tǒng)的接受誤碼率。
[0059]調(diào)制解調(diào)器402對所接收信號解調(diào)出的基帶信號經(jīng)基帶放大電路504及判決器403處理后送往控制模塊301進行處理。調(diào)制解調(diào)器402采用專用集成電路實現(xiàn)，具有頻率合成、信號放大、功率控制、接收靈敏度控制、調(diào)制解調(diào)等多種功率于一體，能大大簡化電路設計，使系統(tǒng)小型化且穩(wěn)定可靠。
[0060]采樣電路506具體為模擬數(shù)字(AD)采樣電路，其分別與基帶放大電路504及上位機101相連，可以高速采樣速率(如6MHZ-8MHZ)對基帶放大電路504處理所得基帶信號進行采樣，得到采樣數(shù)據(jù)。
[0061]USB接口 507，其分別與上位機101與控制模塊301相連，其主要用于在上位機101與控制模塊301之間完成信號傳遞，以及將采樣電路506的采樣數(shù)據(jù)批量、連續(xù)同步地傳輸?shù)缴衔粰C101以進行顯示、數(shù)據(jù)分析或處理。
[0062]控制模塊301具體可包括ARM控制器507，以及與ARM控制器507相連的、用于提供系統(tǒng)時鐘及對待發(fā)送至ARM控制器508的信號或ARM控制器508輸入的信號進行碼變換處理的復雜可編程邏輯器件(Complex Programmable Logic Device, CPLD)邏輯處理電路505。
[0063]ARM控制器508響應上位機101的各種命令并完成對應的功能，例如模擬RSU或0BU，讀寫各種1C，功率設置，DSRC幀封裝發(fā)送與幀接收分析、車道控制信號處理與響應，天線501的參數(shù)設置等。ARM控制器508與USB接口 507之間可通過雙口 RAM實現(xiàn)數(shù)據(jù)交換，大大提高了數(shù)據(jù)的處理與響應速度。
[0064]CPLD邏輯處理電路505實現(xiàn)邏輯信號的產(chǎn)生和信號處理等功能，能使系統(tǒng)簡化、工作穩(wěn)定，并方便系統(tǒng)的升級處理。其可包括如圖7所示的結構:時鐘生成單元701、碼變換單元702，以及控制時鐘生成單元701、碼變換單元702及外圍器件進行處理的邏輯信號生成單元703。邏輯信號生成單元703接收ARM控制器508輸入的信號，觸發(fā)時鐘生成單元701生成系統(tǒng)所用的各個時鐘，如采樣電路506的采樣時鐘、USB接口 507的傳輸時鐘、讀卡器404的頻率時鐘等，并觸發(fā)碼變換單元702將所接收信號的碼型轉(zhuǎn)換為ARM控制器508要求的碼型，同時輸出碼元同步時鐘至ARM控制器508，或者，對ARM控制器508輸出的待發(fā)射信號的碼型進行轉(zhuǎn)換，例如，將所接收信號的雙向間隔(B1-phase Space, FMO)碼轉(zhuǎn)換為不歸零(No Return Zero，NRZ)碼以送至ARM控制器508處理，待發(fā)射信號的FMO碼可不進行轉(zhuǎn)換。另外，邏輯信號生成單元703還可以根據(jù)ARM控制器508的控制信號，選擇天線501的不同接收通道。例如，ARM控制器508可輸入一天線選擇信號，邏輯信號生成單元703根據(jù)該信號產(chǎn)生對射頻切換開關作用的控制信號；ARM控制器508可輸入一通道選擇信號，邏輯信號生成單兀703根據(jù)該信號將ARM控制器508的I2C時鐘信號切換給相應第一通道或第二通道；ARM控制器508可輸入一通道選擇信號，邏輯信號生成單元703根據(jù)該信號確定碼變換單元702的時鐘頻率。
[0065]讀卡器404可將各種IC卡的讀寫電路集成在一起，從而完成對各種IC的讀寫操作。IC卡可以是消費安全存取(Purchase Secure Access Module,PSAM)卡、嵌入式安全存取(Embedded Secure Access Module, ESAM)卡或非接觸卡等。讀卡器404中可設置PSAM卡座或ESAM卡快速插拔插座等，通過軟件切換、分時工作，并且可通過維護窗口對卡座或插座進行更換。并且通過讀卡器404的設置，還可以實現(xiàn)上位機101操作界面對IC卡進行發(fā)行和充值。
[0066]需要說明的是:
[0067]1、在本申請其他實施例中，待發(fā)射信號只要滿足設定功率要求，可不經(jīng)過功率自動控制模塊503的功率調(diào)節(jié)，從而DSRC綜合測試儀中可不設置功率自動控制模塊503。
[0068]2、在本申請其他實施例中，多級壓控增益放大器603中可僅設置壓控增益放大器及壓控增益衰減器，或者多級壓控增益放大器603中可僅設置壓控增益放大器或壓控增益衰減器。
[0069]3、在本申請其他實施例中，天線501可僅設置內(nèi)置天線或外置天線，從而無需采用射頻切換開關進行切換選擇。
[0070]4、在本申請其他實施例中，某些可選功能對應的模塊是可以不配置的，例如，若無需對基帶放大電路504處理所得基帶信號進行采樣，則可不配置采樣電路506。
[0071]5、在本申請其他實施例中，控制模塊301還可以體現(xiàn)為一個單片機來實現(xiàn)，或由其他具有控制功能的芯片實現(xiàn)。
[0072]以上內(nèi)容是結合具體的實施方式對本申請所作的進一步詳細說明，不能認定本申請的具體實施只局限于這些說明。對于本申請所屬【技術領域】的普通技術人員來說，在不脫離本申請構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換。
【權利要求】
1.一種通信性能測試方法，其特征在于，所述方法基于一種設置有上位機及底層設備的綜合測試儀，所述方法包括: 所述上位機向底層設備發(fā)送用于對ETC設備進行測試的指令； 所述底層設備根據(jù)所述指令完成模擬ETC設備的對端設備的初始化配置； 所述上位機將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給底層設備，觸發(fā)所述底層設備與ETC設備進行信息交互； 所述上位機基于信息交互完成通信性能測試。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述底層設備包括:控制模塊、讀卡模塊及信號收發(fā)模塊，當所述ETC設備為OBU時，所述底層設備完成模擬RSU的初始化配置，所述底層設備與ETC設備進行信息交互具體包括:所述控制模塊控制信號收發(fā)模塊將通信幀發(fā)送到0BU，并從所述OBU獲得反饋幀。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述底層設備包括:控制模塊、讀卡模塊及信號收發(fā)模塊，當所述ETC設備為RSU時，所述底層設備完成模擬OBU的初始化配置，所述底層設備與ETC設備進行信息交互具體包括:所述控制模塊控制信號收發(fā)模塊將通信幀發(fā)送到RSU，并從所述RSU獲得反饋幀，所述讀卡模塊從用戶卡獲得的IC卡信息并攜帶于所述通信幀中。
4.如權利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述用戶卡為消費安全存取卡、嵌入式安全存取卡或非接觸卡。
5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通信性能測試具體包括:記錄所接收信號波形、事件分析、事件發(fā)生`前后通信過程記錄、上行/下行幀錯誤或超時或重發(fā)記錄、失敗率統(tǒng)計、信號強度實時監(jiān)測、調(diào)制度實時監(jiān)測或誤碼率實時監(jiān)測。
6.一種綜合測試儀，其特征在于，所述綜合測試儀對ETC設備進行檢測，包括上位機及底層設備，其中: 上位機，用于向所述底層設備發(fā)送用于對ETC設備進行測試的指令，將用于測試的協(xié)議下的通信幀按照協(xié)議規(guī)定流程發(fā)送給所述底層設備； 底層設備，用于根據(jù)所述指令完成模擬ETC設備的對端設備的初始化配置，通過所述通信幀與ETC設備進行信息交互，并對所述信息交互進行監(jiān)測，以將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機完成通信性能測試。
7.如權利要求5所述的綜合測試儀，其特征在于，所述底層設備包括控制模塊、讀卡模塊及信號收發(fā)模塊，當所述ETC設備為OBU時，所述底層設備完成模擬RSU的初始化配置，控制模塊用于控制所述信號收發(fā)模塊將通信幀發(fā)送到0BU，并從所述OBU獲得反饋幀，同時對信息交互進行監(jiān)測，并將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機完成通信性能測試。
8.如權利要求5所述的綜合測試儀，其特征在于，所述底層設備包括控制模塊、讀卡模塊及信號收發(fā)模塊，當所述ETC設備為RSU時，所述底層設備完成模擬OBU的初始化配置，控制模塊用于控制所述信號收發(fā)模塊將通信幀發(fā)送到RSU，并從所述RSU獲得反饋幀，控制所述讀卡模塊從用戶卡獲得的IC卡信息并攜帶于所述通信幀中，同時對信息交互進行監(jiān)測，并將監(jiān)測信息發(fā)送至上位機完成通信性能測試。
9.如權利要求6所述的綜合測試儀，其特征在于，所述用戶卡為消費安全存取卡、嵌入式安全存取卡或非接觸卡。
10.如權利要求5至7中任一項所述的方法，其特征在于，所述通信性能測試具體包括如下內(nèi)容中的一種或多種的組合:記錄所接收信號波形、事件分析、事件發(fā)生前后通信過程記錄、上行/下行幀錯誤或超時或重發(fā)記錄、失敗率統(tǒng)計、信號強度實時監(jiān)測、調(diào)制度實時監(jiān)測或誤碼率實時監(jiān)測。`
【文檔編號】G07B15/06GK103778672SQ201310130675
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2013年4月15日 優(yōu)先權日:2013年4月15日
【發(fā)明者】夏應清, 何鵬俊, 李旦, 肖娟, 魯駿, 陳育成, 吳嘉誼 申請人:深圳市金溢科技有限公司