專利名稱：遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法，更詳而言之，涉及一種應(yīng) 用于光學(xué)量測設(shè)備上的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
隨著人們生活品質(zhì)的不斷提高，諸多與人們?nèi)粘Ｉ钕⑾⑾嚓P(guān)的
例如顯示器(CRT)、液晶顯示幕(LCD)、行動電話背光模塊等各種 光源以及汽車儀表盤的產(chǎn)品尤其是液晶產(chǎn)品(以下簡稱為待測單元 (Unit Under Test; UUT))的亮度、色度等方面的品質(zhì)要求也隨之愈 來愈高，因此，于該類產(chǎn)品出貨前，針對該待測單元的亮度以及色度 等的測試操作就顯得尤為重要，相應(yīng)地，用以測試亮度以及色度且可 提供線上操作功效的色度亮度量測器即隨之應(yīng)運而生， 一般色度亮度 量測器是配置有液晶顯示幕，以顯示當(dāng)前測量值，從而方便操作人員 讀取并記錄該測量值，以進行后續(xù)如數(shù)據(jù)比對及分析等操作。
但是，通過上述色度亮度量測器進行線上測試所得到的數(shù)據(jù)必須 由操作人員以人工方式讀取并記錄，同時操作人員也必須時刻在線操 控，故，此種以人工的方式進行數(shù)據(jù)讀取操作，是容易因操作人員的 誤讀而造成人為疏失，如此，不但會造成測試人力的耗費，也影響測 試的精度與效率；再者，該種以色度亮度量測器進行線上測試的方式 是無法應(yīng)用在長時間的自動量測上，其主要原因在于該種線上測試中 有許多測試需在例如Walk in chamber (進行耐久測驗)的環(huán)境箱內(nèi)進 行的，于此種環(huán)境下操作人員在非必要時是不被允許進入環(huán)境箱內(nèi)進 行測試，即使操作人員進入環(huán)境箱內(nèi)也無法待在環(huán)境箱內(nèi)進行長時間 的連續(xù)量測，使得該種以色度亮度量測器進行線上測試的方式是受特 定測試場所的限制，因而大幅地縮小了該色度亮度量測器的應(yīng)用范圍。
綜上所述，如何提出一種避免現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點的技術(shù)，進 而達(dá)到節(jié)省人力耗費、提高測試效率與精度以及擴大測試應(yīng)用范圍的
目的，實為目前要解決的技術(shù)問題。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點，本發(fā)明的主要目的在于提供一種通過 遠(yuǎn)端控制的方式進行測試處理以及數(shù)據(jù)讀取操作的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方 法，以減少人力的耗費以及避免人為疏忽，進而提升測試效率與精度。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法，以解決現(xiàn) 有技術(shù)中測試操作受特定測試場所的限制，無法達(dá)成操作人員長時間 實地操作，進而造成測試操作的應(yīng)用范圍受局限的弊端。
為達(dá)上述主要目的及另一目的，本發(fā)明是提供一種用以通過具有 第一數(shù)據(jù)傳輸接口的數(shù)據(jù)處理裝置使具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口的光學(xué)量
測設(shè)備對待測單元(Unit Under Test; UUT)進行測試處理并將該測試 處理所得到的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，其 中，該光學(xué)量測設(shè)備還具有用以儲存該測試數(shù)據(jù)的儲存單元，該遠(yuǎn)端 控制系統(tǒng)是至少包括用以電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口以及該第二 數(shù)據(jù)傳輸接口以電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置以及該光學(xué)量測設(shè)備的電性 連接單元；設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中的觸發(fā)模塊，且用以產(chǎn)生一觸發(fā) 信號并通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳 輸接口將該觸發(fā)信號傳輸至該光學(xué)量測設(shè)備，從而使該光學(xué)量測設(shè)備 對該待測單元進行該測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲存 于該儲存單元；設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中的讀取模塊，且用以通過該 第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口讀取該 光學(xué)量測設(shè)備的儲存單元所儲存的測試數(shù)據(jù)；設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置 中的轉(zhuǎn)換模塊，且用以將該讀取模塊所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式轉(zhuǎn)換為 可編輯的格式；以及設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中的儲存模塊，且用以將 經(jīng)該轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)進行儲存，從而供進行后續(xù)處理操作。 于本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)的一較佳實施例中，該遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)還 包括用以供設(shè)定該可編輯的格式、以及后續(xù)處理操作所需的功能模式 與對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值且設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中的設(shè)定模塊， 其中，該功能模式是可為顯示功能模式、統(tǒng)計功能模式或判定功能模 式；該光學(xué)量測設(shè)備為色度亮度量測器；該電性連接單元為RS232電
纜(cable)。
為達(dá)上述相同目的，本發(fā)明還提供一種用以通過具有第一數(shù)據(jù)傳 輸接口的數(shù)據(jù)處理裝置使具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口的光學(xué)量測設(shè)備對待 測單元(Unit Under Test; UUT)進行測試處理并將該測試處理所得到 的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作的遠(yuǎn)端控制方法，其中，該光學(xué) 量測設(shè)備還具有用以儲存該測試數(shù)據(jù)的儲存單元，該遠(yuǎn)端控制方法是 包括如后步驟首先，通過電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口以及該第二 數(shù)據(jù)傳輸接口電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置以及該光學(xué)量測設(shè)備；其次， 于該數(shù)據(jù)處理裝置端產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該 電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口將該觸發(fā)信號傳輸至該光學(xué)量 測設(shè)備，從而使該光學(xué)量測設(shè)備對該待測單元進行該測試處理，并將 該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲存于該儲存單元；接著，于該數(shù)據(jù)處理 裝置端通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳 輸接口讀取該光學(xué)量測設(shè)備的儲存單元所儲存的測試數(shù)據(jù)；隨后，于 該數(shù)據(jù)處理裝置端轉(zhuǎn)換所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式為可編輯的格式；最 后，于該數(shù)據(jù)處理裝置端儲存經(jīng)轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)，從而供進行后續(xù) 處理操作。
于本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制方法的一較佳實施例中，還包括于該數(shù)據(jù)處 理裝置端提供設(shè)定該可編輯的格式、以及后續(xù)處理操作所需的功能模 式與對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值的步驟。其中，該功能模式是可為顯示 功能模式、統(tǒng)計功能模式或判定功能模式；該光學(xué)量測設(shè)備為色度亮 度量測器；該電性連接單元是可例如為RS232電纜。
相比于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法主要是通過該電 性連接單元電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置以及光學(xué)量測設(shè)備，接著通過該 數(shù)據(jù)處理裝置端所產(chǎn)生的觸發(fā)信號觸動該光學(xué)量測設(shè)備以使該光學(xué)量 測設(shè)備對待測單元進行測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲 存于該儲存單元，最后通過該數(shù)據(jù)處理裝置端讀取該光學(xué)量測設(shè)備的 儲存單元所儲存的測試數(shù)據(jù)，從而將所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式轉(zhuǎn)換為 可編輯的格式并進行儲存，以供后續(xù)于數(shù)據(jù)處理裝置端通過該可編輯 的測試數(shù)據(jù)進行后續(xù)處理操作。
由此可避免現(xiàn)有技術(shù)中需通過操作人員以人工方式時刻在線操
控，導(dǎo)致人力耗費以及因操作人員的誤讀而造成人為疏失的情事發(fā)生， 進而影響測試的效率與精度的弊端；同時，由于本發(fā)明是將測試數(shù)據(jù) 導(dǎo)出至數(shù)據(jù)處理裝置端并轉(zhuǎn)換為可編輯的數(shù)據(jù)以供進行后續(xù)處理操 作，故，操作人員無需線上操控操作，即可避免現(xiàn)有技術(shù)中測試操作 受例如Walk in chamber的特定測試場所的限制，進而造成測試操作的 應(yīng)用范圍受局限的缺點。


圖1是顯示本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)的實施例基本架構(gòu)方塊示意圖;
以及
圖2是顯示本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制方法的實施例操作流程示意圖。
主要元件符號說明
1遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)
ll設(shè)定模塊
12電性連接單元
13觸發(fā)模塊
14讀取模塊
15轉(zhuǎn)換模塊
16儲存模塊
100數(shù)據(jù)處理裝置
101第一數(shù)據(jù)傳輸接口
200光學(xué)量測設(shè)備
201第二數(shù)據(jù)傳輸接口
202儲存單元
300待測單元
A區(qū)域
S10 S15步驟
具體實施例方式
以下是通過特定的具體實例說明本發(fā)明的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù) 人員可由本說明書所揭示的內(nèi)容輕易地了解本發(fā)明的其他優(yōu)點與功
效。本發(fā)明也可通過其他不同的具體實例加以施行或應(yīng)用，本說明書 中的各項細(xì)節(jié)也可基于不同觀點與應(yīng)用，在不背離本發(fā)明的精神下進 行各種修飾與變更。
請參閱圖1，為本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)的實施例基本架構(gòu)方塊示意
圖。如圖所示，本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)1是用以通過數(shù)據(jù)處理裝置100 使光學(xué)量測設(shè)備200對待測單元300 (Unit Under Test; UUT)進行測 試處理并將該測試處理所得到的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作， 其中，該數(shù)據(jù)處理裝置100是具有第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101，而該光學(xué)量 測設(shè)備200是具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201以及用以儲存該測試數(shù)據(jù)的 儲存單元202。于本實施例中，該數(shù)據(jù)處理裝置IOO是可實施為個人電 腦、筆記型電腦或桌上型電腦等，該光學(xué)量測設(shè)備200是實施為色度 亮度量測器，該儲存單元202是可實施為隨機存儲器(Random-access memory; RAM)等。
如圖1所示，本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)l是包括設(shè)定模塊ll、電性 連接單元12、觸發(fā)模塊13、讀取模塊14、轉(zhuǎn)換模塊15以及儲存模塊 16，其中，該設(shè)定模塊11、觸發(fā)模塊13、讀取模塊14、轉(zhuǎn)換模塊15 以及儲存模塊16是設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置100中。以下即對該遠(yuǎn)端控 制系統(tǒng)1之前對各部件進行詳細(xì)說明。
該設(shè)定模塊11是用以供設(shè)定可編輯的格式、以及后續(xù)處理操作所 需的功能模式與對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值。于本實施例中，該功能模 式是可例如為顯示功能模式、統(tǒng)計功能模式或者判定功能模式，但不 以此為限。更詳而言之，該設(shè)定模塊11所設(shè)定的對應(yīng)該顯示功能模式 的參數(shù)值為顯示格式，對應(yīng)該統(tǒng)計功能模式的參數(shù)值為測試的間隔時 間以及時間總長，對應(yīng)該判定功能模式的參數(shù)值為該待測單元300的 檢驗標(biāo)準(zhǔn)，其中，該顯示格式是可為文檔格式或者圖檔格式，較佳地， 該文檔格式是依據(jù)操作人員實際需要而設(shè)定者，是可例如為Excd、 Minitab或Origin等文檔格式，而該圖檔格式為例如CIE色度圖的特定 座標(biāo)圖以及對應(yīng)該特定座標(biāo)圖的坐標(biāo)變換規(guī)則。
該電性連接單元12是用以電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101以及 該第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201，以電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置100以及該光學(xué) 量測設(shè)備200。于本實施例中，該電性連接單元12是可為RS232電纜
(cable),但不以此為限，舉凡可通過第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101以及該第二 數(shù)據(jù)傳輸接口 201實現(xiàn)該數(shù)據(jù)處理裝置100與該光學(xué)量測設(shè)備200之 間的電性連接關(guān)系的數(shù)據(jù)傳輸線，均屬于本發(fā)明的可實施范圍。
該觸發(fā)模塊13是用以產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101、該電性連接單元12以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201將該觸發(fā)信號 傳輸至該光學(xué)量測設(shè)備200，從而使該光學(xué)量測設(shè)備200對該待測單元 300進行該測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲存于該儲存單 元202。于本實施例中，該觸發(fā)模塊13是可供使用者依需求以手動控 制從而相應(yīng)產(chǎn)生該觸發(fā)信號，或可自動于該數(shù)據(jù)處理裝置100以及該 光學(xué)量測設(shè)備200電性連接完成后，于一預(yù)定時間內(nèi)產(chǎn)生該觸發(fā)信號。
該讀取模塊14是用以通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101、該電性連接 單元12以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201讀取該光學(xué)量測設(shè)備200的儲存 單元202所儲存的測試數(shù)據(jù)。于本實施例中，該讀取模塊14是可實時 讀取該光學(xué)量測設(shè)備200的儲存單元202所儲存的測試數(shù)據(jù)，或可于 每一間隔時間讀取一次該光學(xué)量測設(shè)備200的儲存單元202所儲存的 測試數(shù)據(jù)。
該轉(zhuǎn)換模塊15是用以將該讀取模塊14所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式 轉(zhuǎn)換為該設(shè)定模塊ll所預(yù)設(shè)的可編輯的格式。于本實施例中，經(jīng)由該 光學(xué)量測設(shè)備200測試處理得到的測試數(shù)據(jù)的格式為字串格式，該預(yù) 設(shè)的可編輯的格式是可設(shè)定為數(shù)值型格式，但不以此為限，該測試數(shù) 據(jù)的格式是可依據(jù)后續(xù)對該測試數(shù)據(jù)所進行的處理操作的需要而設(shè)定 的。
該儲存模塊16是用以將經(jīng)該轉(zhuǎn)換模塊15轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)進行 儲存，從而供后續(xù)于數(shù)據(jù)處理裝置100端，可通過該可編輯的測試數(shù) 據(jù)進行處理操作。
承上所述，通過上述設(shè)定模塊11、電性連接單元12、觸發(fā)模塊13、 讀取模塊14、轉(zhuǎn)換模塊15以及儲存模塊16，即可實現(xiàn)在遠(yuǎn)端(即該 數(shù)據(jù)處理裝置100端)通過該光學(xué)量測設(shè)備200對該待測單元300進 行測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)進行后續(xù)處理操作，以 避免現(xiàn)有技術(shù)中，測試均只能在如圖1所示的區(qū)域A進行實地線上操 作所帶來的種種缺點。
此處需進行說明的是，在后續(xù)處理操作中，操作人員可依據(jù)該設(shè) 定模塊ll所設(shè)定的功能模式擇一進行相應(yīng)的處理操作。例如，當(dāng)該功 能模式是設(shè)設(shè)定為顯示功能模式時，則以預(yù)設(shè)的諸如文檔或者圖檔的 顯示格式顯示該可編輯的測試數(shù)據(jù)；而當(dāng)該功能模式是設(shè)定為統(tǒng)計功 能模式時，則依據(jù)預(yù)設(shè)的間隔時間以及時間總長提取對應(yīng)時間點的測 試數(shù)據(jù)，而產(chǎn)生該測試數(shù)據(jù)隨時間變化的趨勢圖，從而供統(tǒng)計得出該 待測單元300的色度以及亮度的變化特性；又當(dāng)該功能模式是設(shè)定為 判定功能模式時，則將該可編輯的測試數(shù)據(jù)與預(yù)設(shè)的檢驗標(biāo)準(zhǔn)進行比 對，以判定該待測單元300是否符合該預(yù)設(shè)的檢驗標(biāo)準(zhǔn)，從而供輸出 相應(yīng)的判定結(jié)果(例如為合格或不合格)，由此以利操作人員即時知悉
當(dāng)前該待測單元300的色度以及亮度等參數(shù)是否符合檢驗標(biāo)準(zhǔn)。
請一同參閱圖2，為本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制方法的實施例操作流程示意 圖。本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制方法是用以通過具有第一數(shù)據(jù)傳輸接口的數(shù)據(jù) 處理裝置使具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口的光學(xué)量測設(shè)備對待測單元(Unit Under Test; UUT)進行測試處理并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)讀回 以進行后續(xù)處理操作，其中，該光學(xué)量測設(shè)備還具有用以儲存該測試 數(shù)據(jù)的儲存單元，于本實施例中，該數(shù)據(jù)處理裝置是可實施為個人電 腦、筆記型電腦或者桌上型電腦等，該光學(xué)量測設(shè)備是實施為色度亮 度量測器，該儲存單元是可實施為隨機存儲器(Random-access memory; RAM)等。
本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制方法，首先執(zhí)行步驟SIO，設(shè)定可編輯的格式， 以及后續(xù)處理操作所需的功能模式與對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值。于本 實施例中，該功能模式是可例如為顯示功能模式、統(tǒng)計功能模式或者 判定功能模式，但不以此為限。接著進行步驟Sll。
在步驟Sll中，電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101以及該第二數(shù) 據(jù)傳輸接口 201以電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置100以及該光學(xué)量測設(shè)備 200。于本實施例中，該電性連接步驟是通過上述的電性連接單元12 實現(xiàn)，該電性連接單元12是可為RS232電纜，但不以此為限，舉凡可 利用該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201實現(xiàn)該數(shù) 據(jù)處理裝置100與該光學(xué)量測設(shè)備200之間的電性連接關(guān)系的數(shù)據(jù)傳 輸線，均屬于本發(fā)明的可實施范圍。接著進行步驟S12。
在步驟S12中，于該數(shù)據(jù)處理裝置100端產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過 該第一數(shù)據(jù)傳輸接口 101、該電性連接單元12以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接 口 201將該觸發(fā)信號傳輸至該光學(xué)量測設(shè)備200，從而使該光學(xué)量測設(shè) 備200對該待測單元300進行該測試處理，并將該測試處理所得的測 試數(shù)據(jù)儲存于該儲存單元202。于本實施例中，此步驟是由前述的觸發(fā) 模塊13執(zhí)行，且該觸發(fā)模塊13是可供使用者依需求以手動控制從而 相應(yīng)產(chǎn)生該觸發(fā)信號，或可自動于該數(shù)據(jù)處理裝置100以及該光學(xué)量 測設(shè)備200電性連接完成后，于一預(yù)定時間內(nèi)產(chǎn)生該觸發(fā)信號。接著 進行步驟S13。
在步驟S13中，于該數(shù)據(jù)處理裝置100端通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接 口 101、該電性連接單元12以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口 201讀取該光學(xué) 量測設(shè)備200的儲存單元202所儲存的測試數(shù)據(jù)。于本實施例中，此 步驟是由前述的讀取模塊14執(zhí)行，該讀取模塊14是可實時讀取該光 學(xué)量測設(shè)備200的儲存單元202所儲存的測試數(shù)據(jù)，或可于每一間隔 時間讀取一次該光學(xué)量測設(shè)備200的儲存單元202所儲存的測試數(shù)據(jù)。 接著進行步驟S14。
在步驟S14中，于該數(shù)據(jù)處理裝置100端轉(zhuǎn)換所讀取的測試數(shù)據(jù) 的格式為可編輯的格式。于本實施例中，經(jīng)由該光學(xué)量測設(shè)備200測 試處理得到的測試數(shù)據(jù)的格式為字串格式，該預(yù)設(shè)的可編輯的格式是 可設(shè)定為數(shù)值型格式，但不以此為限，該測試數(shù)據(jù)的格式是可依據(jù)后 續(xù)對該測試數(shù)據(jù)所進行的處理操作的需要而設(shè)定的。接著進行步驟 S15。
在步驟S15中，于該數(shù)據(jù)處理裝置100端儲存經(jīng)轉(zhuǎn)換后的測試數(shù) 據(jù)，從而供后續(xù)于數(shù)據(jù)處理裝置100端通過該可編輯的測試數(shù)據(jù)進行 處理操作。
綜上所述，本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法主要是通過電性連接單 元電性連接數(shù)據(jù)處理裝置以及光學(xué)量測設(shè)備，且于上述電性連接關(guān)系 完成后通過數(shù)據(jù)處理裝置端的觸發(fā)模塊觸發(fā)該光學(xué)量測設(shè)備以使該光 學(xué)量測設(shè)備對待測單元進行測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù) 據(jù)儲存于該儲存單元，以供數(shù)據(jù)處理裝置端的讀取模塊讀取該光學(xué)量 測設(shè)備的儲存單元所儲存的測試數(shù)據(jù)，從而供數(shù)據(jù)處理裝置端的轉(zhuǎn)換
模塊將該讀取模塊所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式轉(zhuǎn)換為可編輯的格式，最 后通過數(shù)據(jù)處理裝置端的儲存模塊將經(jīng)上述轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)進行儲 存，從而供后續(xù)于數(shù)據(jù)處理裝置端可通過該可編輯的測試數(shù)據(jù)進行進 一步的處理操作。
相應(yīng)地，通過本發(fā)明的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法可避免現(xiàn)有技術(shù)中需 通過操作人員以人工方式時刻在線操控，導(dǎo)致人力耗費以及因操作人 員的誤讀而造成人為疏忽的情事發(fā)生，進而影響測試的效率與精度的 弊端；同時，由于本發(fā)明是將測試數(shù)據(jù)導(dǎo)出至數(shù)據(jù)處理裝置端并轉(zhuǎn)換 為可編輯的數(shù)據(jù)以供進行后續(xù)處理操作，故，操作人員無需線上操控 操作，即可避免現(xiàn)有技術(shù)中測試操作受例如Walk in chamber的特定測 試場所的限制，進而造成測試操作的應(yīng)用范圍受局限的缺點。
上述實施例僅例示性說明本發(fā)明的原理及其功效，而非用于限制 本發(fā)明。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員均可在不違背本發(fā)明的精神及范疇下， 對上述實施例進行修飾與改變。因此，本發(fā)明的權(quán)利保護范圍，應(yīng)如 權(quán)利要求所列。
權(quán)利要求
1.一種遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，是用以通過具有第一數(shù)據(jù)傳輸接口的數(shù)據(jù)處理裝置使具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口的光學(xué)量測設(shè)備對待測單元進行測試處理并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作，其中，該光學(xué)量測設(shè)備還具有用以儲存該測試數(shù)據(jù)的儲存單元，該遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)是至少包括電性連接單元，是用以電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口以電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置以及該光學(xué)量測設(shè)備；觸發(fā)模塊，是設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中，用以產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口將該觸發(fā)信號傳輸至該光學(xué)量測設(shè)備，從而使該光學(xué)量測設(shè)備對該待測單元進行該測試處理，并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲存于該儲存單元；讀取模塊，是設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中，用以通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口讀取該光學(xué)量測設(shè)備的儲存單元所儲存的測試數(shù)據(jù)；轉(zhuǎn)換模塊，是設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中，用以將該讀取模塊所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式轉(zhuǎn)換為可編輯的格式；以及儲存模塊，是設(shè)置于該數(shù)據(jù)處理裝置中，用以將經(jīng)該轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)進行儲存，從而供進行后續(xù)處理操作。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，還包括設(shè)置于該數(shù)據(jù)處 理裝置中的設(shè)定模塊，是用以供設(shè)定該可編輯的格式、以及后續(xù)處理 操作所需的功能模式與對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，其中，該功能模式為顯 示功能模式、統(tǒng)計功能模式以及判定功能模式的其中之一。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，其中，該光學(xué)量測設(shè)備 為色度亮度量測器。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)，其中，該電性連接單元 為RS232電纜。
6. —種遠(yuǎn)端控制方法，是用以通過具有第一數(shù)據(jù)傳輸接口的數(shù)據(jù) 處理裝置使具有第二數(shù)據(jù)傳輸接口的光學(xué)量測設(shè)備對待測單元進行測 試處理并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作，其 中，該光學(xué)量測設(shè)備還具有用以儲存該測試數(shù)據(jù)的儲存單元，該遠(yuǎn)端 控制方法是包括以下步驟電性連接該第一數(shù)據(jù)傳輸接口以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口以電性連 接該數(shù)據(jù)處理裝置以及該光學(xué)量測設(shè)備；于該數(shù)據(jù)處理裝置端產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接 口、該電性連接單元以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口將該觸發(fā)信號傳輸至該 光學(xué)量測設(shè)備，從而使該光學(xué)量測設(shè)備對該待測單元進行該測試處理， 并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)儲存于該儲存單元；于該數(shù)據(jù)處理裝置端通過該第一數(shù)據(jù)傳輸接口、該電性連接單元 以及該第二數(shù)據(jù)傳輸接口讀取該光學(xué)量測設(shè)備的儲存單元所儲存的測 試數(shù)據(jù)；于該數(shù)據(jù)處理裝置端轉(zhuǎn)換所讀取的測試數(shù)據(jù)的格式為可編輯的格 式；以及于該數(shù)據(jù)處理裝置端儲存經(jīng)轉(zhuǎn)換后的測試數(shù)據(jù)，從而供進行后續(xù) 處理操作。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的遠(yuǎn)端控制方法，還包括于該數(shù)據(jù)處理裝 置端提供設(shè)定該可編輯的格式、以及后續(xù)處理操作所需的功能模式與 對應(yīng)該功能模式的參數(shù)值的步驟。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的遠(yuǎn)端控制方法，其中，該功能模式為顯 示功能模式、統(tǒng)計功能模式以及判定功能模式的其中之一。
9. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的遠(yuǎn)端控制方法，其中，該光學(xué)量測設(shè)備為色度亮度量測器。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的遠(yuǎn)端控制方法，其中，該電性連接單元為RS232電纜。
全文摘要
一種遠(yuǎn)端控制系統(tǒng)及方法，是用以通過數(shù)據(jù)處理裝置使光學(xué)量測設(shè)備對待測單元(Unit Under Test；UUT)進行測試處理并將該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)讀回以進行后續(xù)處理操作，本發(fā)明是先通過電性連接單元電性連接該數(shù)據(jù)處理裝置以及該光學(xué)量測設(shè)備，進而由該數(shù)據(jù)處理裝置端產(chǎn)生一觸發(fā)信號并通過該電性連接單元將該觸發(fā)信號傳輸至該光學(xué)量測設(shè)備，從而使該光學(xué)量測設(shè)備對該待測單元進行該測試處理，最后由該數(shù)據(jù)處理裝置端通過該電性連接單元讀取該測試處理所得的測試數(shù)據(jù)，并經(jīng)格式轉(zhuǎn)換后進行儲存，從而供進行后續(xù)處理操作，由此可以遠(yuǎn)端控制的方式進行測試處理以及數(shù)據(jù)讀取操作。
文檔編號G08C19/00GK101105889SQ200610101890
公開日2008年1月16日 申請日期2006年7月12日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月12日
發(fā)明者洪孟佳, 石新海 申請人:英業(yè)達(dá)股份有限公司