專利名稱：光盤驅(qū)動器中用于跟蹤誤差檢測的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于跟蹤誤差檢測的方法及裝置，更具體地說，涉及用于跟蹤誤差檢測的改進(jìn)的方法及裝置，在該方法及裝置中，將鎖相環(huán)(PLL)引入傳統(tǒng)的微分相位檢測跟蹤誤差(differential phase detection tracking error)(DPD TE)法，以增加跟蹤誤差檢測的精確度。
在傳統(tǒng)的DPD TE方法中，在光盤的凹坑或標(biāo)記的邊緣上產(chǎn)生相位差。記錄在光盤上的凹坑或標(biāo)記的長度處于各種范圍。例如，數(shù)字多用光盤-ROM對于(DVD-ROM)，長度分布范圍為3T到14T，其中T是該種盤的一個通道時鐘的延續(xù)時間。如果有很多長度較短的凹坑或標(biāo)記，則可以多次執(zhí)行相位差檢測，從而增強(qiáng)得到的跟蹤誤差信號的可靠性。相反，如果有很多長度較長的凹坑或標(biāo)記，則可以執(zhí)行的相位差檢測次數(shù)減少，從而降低跟蹤誤差信號的可靠性。此外，根據(jù)記錄在盤上的信號的調(diào)制方法，有一個頻譜分量與輸出的AC+和BD+緊密相關(guān)，并且該頻譜的低頻分量，影響到關(guān)于用來追蹤和確定跟蹤中心的位置的跟蹤誤差信號的噪聲。
根據(jù)傳統(tǒng)的DPD TE法，假定相位差檢測根據(jù)凹坑或標(biāo)記一次性完成，因此當(dāng)凹坑或標(biāo)記的信號由于缺陷等受到不利影響時，檢測到的信號的增益和特性惡化。此外，當(dāng)光盤的軌道密度增加時，傳統(tǒng)DPD TE法中的跟蹤誤差信號的幅度和增益減少。因此，傳統(tǒng)DPD TE法有一個弱點(diǎn)，那就是難于在高軌道密度結(jié)構(gòu)情況下，精確地控制跟蹤。
為了解決以上問題，本發(fā)明的一個目的是通過在傳統(tǒng)的微分相位檢測跟蹤誤差(DPD TE)方法中引入鎖相環(huán)(PLL)，提供一種改進(jìn)跟蹤誤差檢測精確度的方法。
本發(fā)明的另一個目的是提供一個使用上述方法的裝置。
因此，為了達(dá)到本發(fā)明的一個目的，提供一種用于生成跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測方法，生成的這種信號即是由兩個以上的沿穿過軌道中心的對角線上的光學(xué)檢測器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測信號之間的差信號。本發(fā)明的方法包括以下步驟二值化步驟，用于對光學(xué)檢測器的輸出進(jìn)行二值化；鎖相步驟，用于產(chǎn)生與由二值化步驟得到的每一個輸出同步的時鐘信號；相位差檢測步驟，用于檢測鎖相步驟輸出的各個同步時鐘信號之間的相位差；以及，低通濾波步驟，用于對相位差檢測步驟的輸出進(jìn)行濾波，以便把濾波結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。
為了達(dá)到另一個目的，本發(fā)明提供跟蹤誤差檢測裝置的第一實(shí)施例，根據(jù)由兩個以上的沿穿過軌道中心的對角線的光學(xué)檢測器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測信號之間的差信號，產(chǎn)生跟蹤誤差信號。本發(fā)明的裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例包括二值化器，用于對光學(xué)檢測器的每一個輸出進(jìn)行二值化；多個PLL，用于產(chǎn)生與二值化器得到的每一個輸出同步的時鐘信號；相位差檢測器，用于檢測從各個PLL輸出的多個同步時鐘信號之間的相位差；以及低通濾波器，用于對相位差的檢測器輸出進(jìn)行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。在這種情況下，最好再增加一個分頻器，用于把通道的時鐘信號的頻率被除以n(n=2，3，4，……)，即使在輸出信號的相位發(fā)生翻轉(zhuǎn)時，也能將信號輸出到各個PLL。
為了達(dá)到本發(fā)明的另一個目的，本發(fā)明還提供第二跟蹤誤差檢測裝置的實(shí)施例，其根據(jù)由配置在三單元式光學(xué)檢測組件的軌道中心外側(cè)的兩個光學(xué)檢測器產(chǎn)生的各光學(xué)檢測信號的差信號，生成跟蹤誤差信號。本發(fā)明的裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例包括二值化器，用于對光學(xué)檢測器的每個輸出進(jìn)行二值化；相位差檢測器，用于檢測二值化器的多個輸出之間的相位差；低通濾波器，用于對相位差檢測器的輸出進(jìn)行濾波，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。在這種情況下，為了生成與二值化器的每一個輸出同步的時鐘信號，以便把這些同步時鐘信號輸出到相位差檢測器，跟蹤誤差檢測裝置最好還包括一些耦合到二值化器和相位檢測器的PLL。
通過參考附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，本發(fā)明的以上目的和優(yōu)點(diǎn)將變得更加清楚，在附圖中

圖1是傳統(tǒng)微分相位檢測跟蹤誤差(DPD TE)法中的跟蹤誤差檢測裝置的方框圖；圖2是一個波形曲線圖，表示圖1所示裝置的工作情況；圖3是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖4是一個波形曲線圖，它表示圖3所示裝置的工作情況；圖5是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的方框圖6是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖7是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的方框圖；圖8是關(guān)于圖3和5-7中所示的均衡器增益與頻率的關(guān)系曲線圖；圖9表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號與傳統(tǒng)DPDTE法生成的跟蹤誤差信號比較結(jié)果的曲線圖；圖10表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置與傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號的增益特性曲線圖。
參考圖1，該圖表示傳統(tǒng)微分相位檢測跟蹤誤差(DPD TE)法中的跟蹤誤差檢測裝置的結(jié)構(gòu)。圖1所示的裝置包括一個四單元式光學(xué)檢測組件102，一個矩陣電路104，高通濾波器(HPF)106a和106b，比較器108a和108b，一個相位比較器110以及低通濾波器(LPF)112。該裝置檢測四單元式光學(xué)檢測組件102輸出的各個信號之間的相位差，以便確定激光束點(diǎn)的位置。如果激光束點(diǎn)偏離軌道的中心，則將導(dǎo)致產(chǎn)生A+C和B+D信號之間的時間延遲或相位差。因此，通過檢測這些信號之間的時間延遲產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
特別是，矩陣電路104，用于將光學(xué)檢測信號A和B與C和D相加，各信號位于沿四單元式光學(xué)檢測組件102的各輸出(A、B、C和D)之間的對角線上，分別將輸出AC1和BD1轉(zhuǎn)化成A+C和B+D。用于增強(qiáng)矩陣電路104提供的AC1和BD1的高頻分量的HPF 106a和106b，對AC1和BD1微分(differentiate)，以便將結(jié)果即AC2和BD2輸出向比較器108a和108b。比較器108a和108b用于分別HPF 106a和106b提供的AC2和BD2進(jìn)行二值化，把AC2和BD2與預(yù)定的電平(圖1中為地電平)比較，并向比較器110輸出結(jié)果，即AC3和BD3。
相位比較器110，用于檢測比較器108a和108b提供的AC3和BD3之間的相位差，比較AC3和BD3的相位，并將比較結(jié)果即AC+和BD+輸出到LPF 112。在這種情況下，AC+是在AC3的相位比BD3的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號，而BD+是在BD3的相位比AC3的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號。用于對相位比較器110輸出的AC+和BD+濾波的LPF 112，把該結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。
圖2表示圖1所示的裝置工作情況的波形曲線圖。圖2中表示AC3的相位比BD3的相位超前時的情形，從上向下，依次表示AC3、BD3、AC+和BD+信號的波形曲線。正如圖2所示的那樣，可以發(fā)現(xiàn)，如果激光束點(diǎn)偏離到一個預(yù)定的量，則在AC3和BD3之間存在一個相位差，該相位差又反映到AC+和BD+。如果AC3的相位比BD3的相位超前，則跟蹤誤差信號比預(yù)定的中心值大，反之，比預(yù)定的中心值小。跟蹤誤差信號偏離中心值的程度，相應(yīng)于激光束點(diǎn)離開軌道中心的距離。
圖1中所示裝置的相位比較器110檢測AC3和BD3的上升沿或下降沿的相位差。AC3和BD3的上升沿或下降沿相應(yīng)于記錄在光盤上的凹坑或標(biāo)記的邊緣。換句話說，圖1中所示裝置在記錄于光盤上的凹坑或標(biāo)記的每個邊緣處，一次性檢測相位差。因此，當(dāng)凹坑或標(biāo)記的數(shù)量增加時，跟蹤誤差信號的可靠性提高，而當(dāng)凹坑或標(biāo)記的數(shù)量減少時，該信號的可靠性降低。如果凹坑或標(biāo)記由于光盤的瑕疵或別的因素受到影響，則跟蹤誤差信號的增益和特性將變壞。根據(jù)紀(jì)錄的調(diào)制法的頻譜分量，與AC+和BD+緊密相關(guān)，特別是，該頻譜的低頻分量影響到關(guān)于跟蹤誤差信號的噪聲。此外，在根據(jù)DPD TE法的跟蹤誤差信號情形，其幅度和增益在軌道密度增加時減少，這使得在高密度結(jié)構(gòu)中對跟蹤進(jìn)行精確控制變得困難。
為了克服這樣的缺陷，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測法包含產(chǎn)生與二值化的信號AC+和BD+的每一個信號同步的時鐘信號，以便檢測這些時鐘信號之間的相位差。在這種情況下，同步時鐘信號中的全部脈沖都具有AC+和BD+的相位差分量，因此跟蹤誤差信號的產(chǎn)生，與記錄在盤上的凹坑或標(biāo)記長度無關(guān)。
特別是，首先，在沿穿過軌道中心的對角線配置的光學(xué)檢測器的各個輸出均被二值化。其次，由PLL電路產(chǎn)生與二值化步驟得到的每一個輸出同步的時鐘信號。當(dāng)激光束點(diǎn)偏離軌道中心時，從二值化步驟得到的輸出AC+和BD+具有與激光束點(diǎn)相對于軌道中心的偏離程度相對應(yīng)的相位差，并且，相位鎖定于這些輸出的各時鐘具有相同的相位差。再次，鎖相步驟中檢測輸出的各同步時鐘信號之間的相位差。各個同步時鐘信號的所有時鐘均有AC+和BD+相位差分量，因此，根據(jù)逐個時鐘的相位差分量均被檢測。最后，對相位差檢測步驟的輸出，通過LPF進(jìn)行濾波，得到跟蹤誤差信號。
圖3是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第一優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。圖3所示的裝置包括；四單元式光學(xué)檢測組件302，矩陣電路304，均衡器(EQ)306a和306b，二值化器308a和308b，PLL 310a和310b，相位比較器312，LPF 314a和314b，差分放大器316，以及分頻器318。
矩陣電路304，用于在四單元式光學(xué)檢測組件302的各輸出A、B、C和D之間將光學(xué)檢測信號A和C以及B和D相加，分別將輸出A+C和B+D轉(zhuǎn)換成為AC1和BD1。即，該矩陣電路304生成由位于沿穿過軌道中心的對角線的各光學(xué)檢測器產(chǎn)生的信號的總信號。EQ 306a和306b，用于增強(qiáng)從矩陣電路304提供的AC1和BD1的高頻分量并且去除其中的噪聲，對AC1和BD1進(jìn)行微分，并去除其中噪聲，向二值化器308a和308b輸出結(jié)果AC2和BD2。換言之，因?yàn)樗膯卧焦鈱W(xué)檢測組件302的各輸出A、B、C和D具有較弱的高頻分量，所以矩陣電路304提供的AC1和BD1的高頻分量通過EQ 306a和306b得以增強(qiáng)。此外，由于四單元式光學(xué)檢測組件302的各輸出A、B、C和D除了從光盤中反射來的信號以外還含有噪聲分量，因此EQ 306a和306b去除了矩陣電路304提供的AC1和BD1中的噪聲分量。
二值化器308a和308b，用于轉(zhuǎn)換EQ 306a和306b提供的AC2和BD2，成為二進(jìn)制數(shù)字信號，對AC2和BD2進(jìn)行二值化，并向PLL 310a和310b輸出結(jié)果AC3和BD3。通過二值化器308a和308b，可以實(shí)施對EQ 306a和306b提供的AC2和BD2的二值化電平進(jìn)行補(bǔ)償。PLL 310a和310b，用于產(chǎn)生與二值化器308a和308b提供的AC3和BD3的時鐘信號(CLK)同步的接受信號CLK、AC3和BD3，并且向相位比較器312輸出與AC3和BD3同步的CLK_AC和CLK_BD。相位比較器312，用于檢測PLL 310a和310b提供的CLK_AC和CLK_BD之間的相位差，比較CLK_AC和CLK_BD的相位，然后分別向LPF 314a和314b輸出結(jié)果AC+和BD+。在這種情況下，AC+和BD+分別是在CLK_AC的相位比CLK_BD的相位超前時和CLK_BD的相位比CLK_AC的相位超前時產(chǎn)生的相位差信號。
LPF 314a和314b對相位比較器312提供的AC+和BD+進(jìn)行濾波，以便向差分放大器316輸出結(jié)果。差分放大器316放大經(jīng)LPF 314a和314b濾波的AC+和BD+的差分信號，以便把結(jié)果作為跟蹤誤差信號(TE)輸出。
圖4表示圖3所示裝置工作情況的波形曲線。圖4表示AC3的相位超前于BD3的相位的情形，從上向下依次表示AC3、BD3、CLK_AC、CLK_AD、CLK_AC+和BD+信號波形。正如圖4所示的那樣，可以發(fā)現(xiàn)，如果激光束點(diǎn)距軌道中心偏離到一個預(yù)定的量，則在AC3和BD3之間存在的相位差被轉(zhuǎn)換成按CLK的頻率加倍的CLK_AC和CLK_BD。圖4表示了分別與AC3和BD3同步的CLK_AC和CLK_BD的產(chǎn)生，還表示了AC3和BD3之間形成的相位差Δt轉(zhuǎn)換為PLL 310a和310b的輸出CLK_AC和CLK_BD。因此，能夠得到作為CLK_AC和CLK_BD的相位比較結(jié)果的相位差值Δt。
傳統(tǒng)裝置在時間段t1中一次性檢測相位差Δt，而本發(fā)明的裝置在CLK的每一個周期中，均能一次性檢測相位差Δt。當(dāng)通道時鐘用作CLK時，相位差Δt在每一個通道時鐘周期T中，均一次性檢測，而不用考慮記錄在光盤中的凹坑和標(biāo)記的長度。分頻器318在輸出信號發(fā)生翻轉(zhuǎn)的時間段中，對CLK進(jìn)行分頻，以便向PLL 310a和310b輸出該結(jié)果。在圖3所示的裝置中，跟蹤伺服控制在輸出信號發(fā)生翻轉(zhuǎn)的時間段變得不穩(wěn)定。原因是輸出信號的翻轉(zhuǎn)導(dǎo)致偏離PLL 310a和310b的相位差檢測的范圍。因此，為了補(bǔ)償這種偏離，CLK的頻率在輸出信號發(fā)生翻轉(zhuǎn)期間被分頻，然后向PLL 310a和310b提供該結(jié)果。
圖5是本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第二優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。圖5所示的裝置包括；四單元式光學(xué)檢測組件502，EQ 506a-506d，二值化器508a-508d，PLL 510a-510d，相位比較器512a和512b，LPF 514a-514d，差分放大器516a和516b，以及加法器518。因?yàn)樗膯卧焦鈱W(xué)檢測組件502的各輸出A、B、C和D具有較弱的高頻分量，所以從四單元式光學(xué)檢測組件502提供的各輸出A、B、C和D的高頻分量通過EQ 506a-506d得以增強(qiáng)，此外，由于四單元式光學(xué)檢測組件502的各輸出A、B、C和D除了從光盤中反射來的信號以外含有噪聲分量，因此EQ 506a-506d去除四單元式光學(xué)檢測組件502提供的各輸出A、B、C和D的噪聲分量。
用于轉(zhuǎn)換EQ 506a-506d提供的信號為二進(jìn)制數(shù)字信號的二值化器508a-508d，對這些信號進(jìn)行二值化，并向PLL 510a-510d輸出該結(jié)果。用于產(chǎn)生同步于二值化器508a-508d提供的信號的CLK的PLL 510a-510d，接受信號CLK作為輸入，并且接受從二值化器508a-508d提供的信號，以便向相位比較器512a和512b輸出與由二值化器508a-508d提供的每一個信號同步的CLK。相位比較器512a和512b用于檢測PLL 510a-510d提供的CLK_A和CLK_B之間的相位差，以及CLK_C和CLK_D之間相位差。相位比較器512a比較CLK_A和CLK_B的相位，并分別向LPF 514a和514b輸出結(jié)果A+和B+，而相位比較器512 b比較CLK_C和CLK_D的相位，并分別向LPF 514c和514d輸出結(jié)果C+和D+。在這種情況下，A+和B+分別是在CLK_A的相位比CLK_B的相位超前時和CLK_B的相位比CLK_A的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號。此外，C+和D+分別是在CLK_C的相位比CLK_D的相位超前時和CLK_D的相位比CLK_C的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號。
LPF 514a-514d對相位比較器512a和512b提供的A+、B+、C+和D+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器516a和516b輸出結(jié)果。差分放大器516a和516b放大經(jīng)LPF 514a-514d濾波后的A+和B+及C+和D+的差分信號，并向加法器518輸出該結(jié)果。用于相加差分放大器516a和516b提供的信號的加法器，把那些信號相加起來，輸出其結(jié)果作為TE。
圖6是表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第三優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。其中的TE是通過利用三單元式光學(xué)檢測組件的輸出產(chǎn)生的。圖6所示的裝置包括三單元式光學(xué)檢測組件602，EQ 606a和606b，二值化器608a和608b，PLL 610a和610b，相位比較器612，LPF 614a和614b，以及差分放大器616。
EQ 606a和606b用于增強(qiáng)位于三單元式光學(xué)檢測組件602外側(cè)的各光學(xué)檢測器提供的信號E和G的高頻分量，并去除其中的噪聲，對E和G進(jìn)行微分，并去除其中的噪聲，然后向二值化器608a和608b輸出該結(jié)果。二值化器608a-608b用于轉(zhuǎn)換EQ 606a-606b提供的信號為二進(jìn)制數(shù)字信號，對這些信號進(jìn)行二值化，以便向PLL 610a-610b輸出結(jié)果E3和G3。CLK的PLL610a-610b用于產(chǎn)生同步于二值化器608a-608b提供的信號，接受信號CLK、E3和G3作為輸入，然后向相位比較器612輸出與E3和G3同步的信號CLK_E和CLK_G。相位比較器612用于檢測PLL 610a-610b提供的CLK_E和CLK_G之間相位差，比較CLK_E和CLK_G的相位，然后分別向LPF 614a和614b輸出結(jié)果E+和G+。在這種情況下，E+和G+分別是在CLK_E的相位比CLK_G的相位超前時和CLK_G的相位比CLK_E的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號。
LPF 614a-614b對相位比較器612提供的E+和G+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器616輸出該結(jié)果。差分放大器616放大經(jīng)LPF 614a-614b濾波后的E+和G+的差分信號，并把其結(jié)果作為TE輸出。
圖7是表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置的第四優(yōu)選實(shí)施例的方框圖。其中的TE是通過利用三單元式光學(xué)檢測組件的輸出產(chǎn)生的。圖7所示的裝置包括三單元式光學(xué)檢測組件702，EQ 706a和706b，二值化器708a和708b，相位比較器712，LPF 714a和714b，以及差分放大器716。
EQ 706a和706b用于增強(qiáng)位于三單元式光學(xué)檢測組件702外側(cè)的各光學(xué)檢測器提供的信號E和G的高頻分量，并去除其中的噪聲，對E和G進(jìn)行微分并去除其中的噪聲，以便向二值化器708a和708b輸出該結(jié)果。二值化器708a-708b用于轉(zhuǎn)換EQ 706a和706b提供的信號成為二進(jìn)制數(shù)字信號，對這些信號進(jìn)行二值化，以便向相位比較器712輸出結(jié)果E3和G3。相位比較器712用于檢測EQ 706a和706b提供的E3和G3之間的相位差，比較E3和G3的相位，以便分別向LPF 714a和714b輸出比較結(jié)果E+和G+。在這種情況下，E+和G+分別是在E3的相位比G3的相位超前時和G3的相位比E3的相位超前時產(chǎn)生的相位誤差信號。
LPF 714a-714b對相位比較器712提供的E+和G+進(jìn)行濾波，然后向差分放大器716輸出該結(jié)果。差分放大器716放大經(jīng)LPF 714a-714b濾波后的E+和G+的差分信號，并把其結(jié)果作為TE輸出。
圖8是表示關(guān)于圖3和5-7中所示EQ工作情況的增益與頻率的關(guān)系曲線圖。其中的垂直軸和水平軸分別表示增益和頻率。具有圖8所示的特性的這些EQ，執(zhí)行控制它們的特性的功能，使得輸入信號可以位于在第一頻率f1和第二頻率f2之間，以放大接近第二頻率f2的高頻分量。
圖9表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號與傳統(tǒng)DPDTE法生成的跟蹤誤差信號比較結(jié)果的曲線圖。在圖9中，標(biāo)號91和92分別表示傳統(tǒng)DPD TE法和本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置生成的跟蹤誤差信號，可以看出，后者的增益比前者的增益大。此外，時間段93指示了輸出信號發(fā)生翻轉(zhuǎn)的區(qū)段，因此當(dāng)使用如本發(fā)明的PLL產(chǎn)生的CLK檢測相位差時，相位差將超出檢測的限制。如果是這種情形，則PLL CLK的頻率可以被除以n(n=2、3、4、……)，然后把結(jié)果輸出向相位檢測器，這樣的相位檢測器增加了檢測范圍，使得象93這樣的時間段不存在。
圖10表示本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置和傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號的增益特性曲線圖。在圖10中，標(biāo)號94和95分別表示傳統(tǒng)DPD TE法和本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置生成的跟蹤誤差信號。如果兩者在相同條件下測量，可以看出，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置生成的跟蹤誤差信號的增益，比另一個的增益大大約10倍。時間段96是在正常跟蹤狀態(tài)下，光學(xué)拾取頭跳到相鄰軌道的區(qū)段。而時間段96不能清楚地表示傳統(tǒng)DPD TE法生成的跟蹤誤差信號，本發(fā)明生成的跟蹤誤差信號作為大值輸出。
象前面描述的那樣，本發(fā)明的跟蹤誤差檢測裝置能夠生成跟蹤誤差信號，這種信號不隨記錄在光盤上的凹坑和標(biāo)記的長度改變，因此跟蹤誤差信號的可靠性可以增強(qiáng)。
盡管本發(fā)明是參照其特定的優(yōu)選實(shí)施例來描述的，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員會理解，在不脫離有所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明的構(gòu)思和范圍的情況下，可以對其形式和細(xì)節(jié)進(jìn)行各種修改。
權(quán)利要求
1．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測方法，其中的跟蹤誤差信號即是沿位于通過軌道中心的對角線上的兩個以上的各光學(xué)檢測器中生成的光學(xué)檢測信號之間的差信號，該方法包括以下的步驟二值化步驟，用于將光學(xué)檢測器的輸出進(jìn)行二值化；鎖相步驟，用于產(chǎn)生與由二值化步驟得到的每一個輸出同步的的時鐘信號；相位差檢測步驟，用于檢測鎖相步驟輸出的多個同步時鐘信號之間的相位差；以及低通濾波步驟，用于對相位差檢測步驟的輸出濾波，然后將其結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。
2．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測裝置，其中的跟蹤誤差信號即是沿位于通過軌道中心的對角線上的兩個以上的光學(xué)檢測器中生成的各光學(xué)檢測信號之間的差信號，該裝置包括二值化器，用于對光學(xué)檢測器的每一個輸出進(jìn)行二值化；多個鎖相環(huán)，用于產(chǎn)生與二值化器的每一個輸出同步的時鐘信號；相位差檢測器，用于檢測各個鎖相環(huán)輸出的多個同步時鐘信號之間的相位差；以及低通濾波器，用于對相位差檢測器的輸出進(jìn)行濾波，然后將其結(jié)果作為跟蹤誤差信號輸出。
3．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測裝置，該裝置還包括均衡器，用于增強(qiáng)光學(xué)檢測器輸出的高頻分量，然后將結(jié)果輸出到二值化器。
4．根據(jù)權(quán)利要求3所述的跟蹤誤差檢測裝置，其中的均衡器根據(jù)紀(jì)錄的調(diào)制方法去除光學(xué)檢測器的輸出頻譜中的高頻分量。
5．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測裝置，其中提供向鎖相環(huán)的時鐘信號是通道時鐘信號。
6．根據(jù)權(quán)利要求5所述的跟蹤誤差檢測裝置，還包括一個分頻器，用于當(dāng)輸出信號的相位翻轉(zhuǎn)時，把通道時鐘信號的頻率除以n(n=2，3，4，……)，將結(jié)果輸出到鎖相環(huán)。
7．根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測裝置，其中相位差檢測器產(chǎn)生一指示從鎖相環(huán)輸出的第一個同步時鐘信號超前于從鎖相環(huán)輸出的第二個同步時鐘信號的第一相位差信號，以及一指示第二個同步時鐘信號超前于第一個同步時鐘信號的第二相位差信號，以及其中的低通濾波器包括用于分別對第一和第二相位差信號進(jìn)行濾波的第一和第二低通濾波器，以及根據(jù)權(quán)利要求2所述的跟蹤誤差檢測裝置，還包括一差分放大器，用于產(chǎn)生相應(yīng)于第一和第二低通濾波器的輸出的差信號的跟蹤誤差信號。
8．一種用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號的跟蹤誤差檢測裝置，該跟蹤誤差信號即是配置于三單元式光學(xué)檢測組件外側(cè)的兩個光學(xué)檢測器生成的光學(xué)檢測信號的差信號，該裝置包括二值化器，用于兩個光學(xué)檢測器的每一個輸出進(jìn)行二值化；相位差檢測器，用于檢測二值化器的輸出之間的相位差；低通濾波器，用于對相位差檢測器的輸出進(jìn)行濾波，并將結(jié)果輸出作為跟蹤誤差信號。
9．根據(jù)權(quán)利要求9所述的跟蹤誤差檢測裝置，還包括耦合到二值化器和相位差檢測器的鎖相環(huán)，用于產(chǎn)生與二值化器的每一個輸出同步的時鐘信號，并向相位差檢測器輸出該同步信號，其中的相位差檢測器檢測由鎖相環(huán)輸出的同步信號之間的相位差。
全文摘要
一種通過在傳統(tǒng)微分相位檢測跟蹤誤差(DPD TE)法中引進(jìn)鎖相環(huán),使得在跟蹤誤差檢測時,能夠提高跟蹤誤差檢測的精確度的改進(jìn)的方法和裝置。跟蹤誤差檢測裝置產(chǎn)生的跟蹤誤差信號為沿位于沿通過軌道中心的對角線上的兩個以上的光學(xué)檢測器中生成的各光學(xué)檢測信號的差信號,該裝置包括:二值化器;鎖相環(huán);相位差檢測器;以及低通濾波器。該裝置能夠生成一種不隨記錄在光盤上的凹坑和標(biāo)記的長度改變的跟蹤誤差信號。
文檔編號G11B7/09GK1280361SQ00120438
公開日2001年1月17日 申請日期2000年7月7日 優(yōu)先權(quán)日1999年7月8日
發(fā)明者馬炳寅, 樸仁植, 徐仲彥, 沈載晟 申請人:三星電子株式會社