專利名稱：多層信息記錄介質和信息記錄和再現(xiàn)裝置的制作方法
技術領域：
本申請涉及一種信息記錄介質，如光盤、光卡等，更具體的說，涉及一種多層信息記錄介質，其具有多個層疊在隔離層上的記錄層。
背景技術：
的說明近幾年，光盤被廣泛用作用于記錄和再現(xiàn)如視頻數(shù)據(jù)、音頻數(shù)據(jù)、計算機數(shù)據(jù)等數(shù)據(jù)的裝置。稱為DVD(數(shù)字通用盤)的高密度記錄盤已經(jīng)應用于實際中。作為DVD中的一種，這種具有層壓結構的多層盤具有多個記錄層，該記錄層可以從盤的一側進行讀取。一側具有兩個記錄層的雙層盤已作為用于復制的盤應用于實際中。
如圖1所示，用于復制的雙層DVD包括淺記錄層，其是由數(shù)據(jù)被讀取的一側的方向看過去的第一層，即最接近光線入射表面，和深或第二記錄層。在雙層盤中，任何記錄在淺記錄層內和深記錄層內的信號都可以僅通過移動再現(xiàn)光束的焦點而從盤的一側讀取出來。淺記錄層由半透明薄膜制成以使光線可以穿過淺記錄層并讀取深記錄層的信號，對于淺記錄層可以便利地選用薄膜的厚度和材料。反射薄膜被用于深記錄層。對于光波長具有高投射比的光透射隔離層設置在淺記錄層和深記錄層之間，以用固定距離分離這些層。
DVD標準規(guī)定，僅具有一個記錄層的單層盤的記錄層上的透射保護層，為600μm厚，如圖2所示。另一方面，雙層盤具有分別位于距光線入射表面570μm和630μm處的第一記錄層和第二記錄層，即單層DVD的記錄層所位于的600μm的深度的上下。雙層盤采用在厚度方向上位于單記錄層上下的兩層定位，因為用于記錄和再現(xiàn)符合DVD標準的信號的光拾取系統(tǒng)包括具有相對小的0.6的數(shù)值孔徑的物鏡，該數(shù)值孔徑是為600μm厚度的保護層而設計，并且即使使用這種小數(shù)值孔徑的物鏡，在第一層和第二層的深度方向上均距離單記錄層大約30μm的偏差不會顯著影響信號的讀取。在這種情況下，盡管記錄層的30μm的偏差引起讀取光線的波象差，波象差的數(shù)量太小以致不會在數(shù)值孔徑大約為0.6數(shù)量級時產(chǎn)生問題。
超出了雙層盤的第一記錄層的長節(jié)目，如電影，被從兩個記錄層進行再現(xiàn)。DVD標準還規(guī)定了用于從兩層連續(xù)再現(xiàn)的單側信號再現(xiàn)方式，稱之為反向軌跡(opposite track path)再現(xiàn)方式。反向軌跡再現(xiàn)方式包括從位于570μm深度的記錄層由內周向外圍進行再現(xiàn)，將焦點從記錄層的外圍跳轉到位于630μm深度的記錄層上，并從外圍向內周地再現(xiàn)較深記錄層上的信號。在這種情況下，通過讀取代表記錄在位于570μm深度的層上的盤內容的信息區(qū)域，裝置可以依據(jù)反向軌跡再現(xiàn)方式讀出DVD的標題、節(jié)目持續(xù)時間或雙層盤。
此時，信息數(shù)量的增加要求下一代的光盤具有更高密度。應當考慮到物鏡的數(shù)值孔徑針對更高密度將增加到0.8或更高。當使用具有這種大數(shù)值孔徑的物鏡時，由記錄層上的保護層的厚度的誤差所引起的波象差的數(shù)量增加太多以致于不能讀取信號，從而不易于再現(xiàn)具有兩個記錄層結構的下一代光盤。因此，應當考慮到將能夠調整波象差數(shù)量的光學系統(tǒng)引入到拾取器中，以進行補償從而避免記錄層深度產(chǎn)生的波象差。
當用于補償波象差的光學系統(tǒng)被用于讀取單層盤和多層盤如下一代的雙層盤并同時保持兼容性時，差別存在于與各記錄層之間的深度相應的保護層厚度中，從而光線必須聚焦在每個記錄層上并同時校正波象差，以搜索導入信息等。這引起了這樣的問題，即如果在再現(xiàn)單層盤后立即再現(xiàn)雙層盤，開始再現(xiàn)所用的時間將變長。另外，通過采用大數(shù)值孔徑，更厚的保護層使得對傾斜盤的允許范圍顯著縮小，從而具有比單層盤更厚的保護層的多層盤必須制造為比單層盤更好的盤表面的平面性。
發(fā)明目的和簡要說明本發(fā)明是考慮到上述情況而作出的，本發(fā)明的目的在于提供一種多層信息記錄介質，其允許即使在使用具有0.8或更高的大數(shù)值孔徑的物鏡進行信息記錄或再現(xiàn)時，也能快速數(shù)據(jù)再現(xiàn)，并且其可以制造成與單層盤具有相等的平面性，本發(fā)明還提供一種適合使用多層信息記錄介質的信息記錄和再現(xiàn)裝置。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種具有多個在一側層疊在隔離層上的記錄層的多層信息記錄介質，其用于可以記錄或再現(xiàn)一側具有用作通過使光線穿過保護層照射到記錄層而改變反射率的單記錄層和保護層的單層信息記錄介質上的信息的記錄和再現(xiàn)裝置。
本發(fā)明的多層信息記錄介質包括
最深記錄層，其位于從光入射側表面到最深的光程d1滿足等式d1＝nt的位置處，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面而言與所述多層信息記錄介質兼容的單層信息記錄介質的保護層的預定折射率，“t”表示所述保護層的厚度；和至少一個淺記錄層，其位于從光入射側表面到光程d2滿足不等式d2＜nt的位置處。
根據(jù)本發(fā)明的一方面，所述多層信息記錄介質僅包括由所述最深記錄層和所述淺記錄層構成的兩層。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質的另一方面，物理地址信息由光入射側表面從所述淺記錄層向所述最深記錄層以較淺次序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質的再一方面，物理地址信息從所述最深記錄層的內周向外圍按順序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質的還一方面，物理地址信息從光入射側表面在前進方向上從內周到外圍和在相反的方向上從外圍到內周交替的在從所述淺記錄層到所述最深記錄層的記錄層的每個上以較淺次序順序記錄。
根據(jù)本發(fā)明的多層信息記錄介質的另一方面，與在所述淺記錄層上的所有內容相關的預定內容信息記錄在所述最深記錄層內。
根據(jù)本發(fā)明，還提供了一種信息記錄和再現(xiàn)裝置，其可以通過光束照射記錄或再現(xiàn)具有單記錄層的單層信息記錄介質或一側具有多個層疊在保護層上的記錄層的多層信息記錄介質上的信息。
本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置包括光學拾取器，其具有將光線照射到多層信息記錄介質上的物鏡，該多層信息記錄介質包括最深記錄層，其位于從光入射側表面到最深的光程d1滿足等式d1＝nt的位置處，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面而言與所述多層信息記錄介質兼容的單層信息記錄介質的保護層的預定折射率，“t”表示所述保護層的厚度，和至少一個淺記錄層，其位于從光入射側表面到光程d2滿足不等式d2＜nt的位置處；和聚焦伺服電路，其控制物鏡首先將光線聚焦到位于光程d1的所述最深記錄層上，并執(zhí)行初始聚焦伺服操作。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的另一方面，所述聚焦伺服電路執(zhí)行在執(zhí)行所述初始聚焦伺服操作之后將聚焦位置跳躍到位于光程d2的所述淺記錄層上的聚焦伺服操作。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的再一方面，所述物鏡具有等于和大于0.8的數(shù)值孔徑，以用于產(chǎn)生光線的會聚光點。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的還一方面，該裝置進一步包括波象差校正部分，其改變包括在所述聚焦光點內的波象差的數(shù)量。
根據(jù)本發(fā)明的信息記錄和再現(xiàn)裝置的又一方面，所述物鏡包括一組物鏡，其在光點聚焦于距離光程d1的位置處時最小化光束內的波象差的數(shù)量。


圖1是雙層盤的橫截面示意圖；圖2是單層盤的橫截面示意圖；圖3是根據(jù)本發(fā)明的雙層盤的橫截面示意圖；圖4是與本發(fā)明的雙層盤兼容的單層盤橫截面示意圖；和圖5是說明根據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)裝置的結構的示意性方框圖。
優(yōu)選實施方式的詳細說明下面將結合附圖對本發(fā)明的實施例進行說明。
<雙層盤>
根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的典型的多層盤是具有由例如圖3所示的記錄層L1、L2構成的兩層結構的雙層盤。這種雙層盤在再現(xiàn)或記錄方面而言與單層盤(圖4)是兼容的，在單層盤上通過預定的再現(xiàn)和記錄裝置穿過具有預定折射率n和厚度t的光入射側表面上的記錄層上的保護層而執(zhí)行記錄或再現(xiàn)。
最深記錄層，即與雙層盤的記錄層的光線入射側表面相距最深的記錄層被具有一定厚度的保護層覆蓋，所述保護層的厚度與用d1＝n×t表示的光程d1相關。
淺記錄層，不同于最深記錄層，被厚度與以d2＜n×t表示的光程d2相關的保護層覆蓋。雙層盤包括形成在滿足等式d1＝n×t的光程d1處的最深記錄層和形成在滿足不等式d2＜n×t的光程d2處的淺記錄層。
在該雙層盤上，由于最深記錄層設置在光程d1處，光程d1與單層盤的記錄層的光路厚度相同，因此，甚至可以不進行多層盤的淺記錄層的位置搜索而僅使用一個適用于使單層盤的波象差最小化的拾取器即可再現(xiàn)位于光程d1處的最深記錄層上的信息。并且，由于光程d2被設置為小于d1，因此，當在淺記錄層上執(zhí)行記錄或再現(xiàn)時，對傾斜光盤的限制(allowance)并不比單層盤更嚴格，從而與單層盤相比，并不需要改進其平面性。
在假設以預定次序從兩層進行再現(xiàn)，即位于光程d2處的淺記錄層在最深記錄層之前被再現(xiàn)的情況下，將信息記錄在雙層盤中。具體地，可以從淺記錄層到最深記錄層順序地記錄物理地址信息，深淺的順序是相對于光入射側表面的。
另外，利用雙層盤，從位于光程d2處的表面的內周向外圍再現(xiàn)信號。可選擇地，也可以從位于光程d1處的表面的外圍向內周再現(xiàn)信號。并且，也可以按照從最深記錄層的內周到外周的順序記錄物理地址信息。
為了再現(xiàn)一個超過淺記錄層的記錄限制容量的節(jié)目，通過如此設計雙層盤，在完成了從具有對傾斜盤的較大容差的淺記錄層的再現(xiàn)之后，再現(xiàn)記錄在最深記錄層上的剩余信息，從而使增加對正常傾斜的盤的容差成為可能。
在雙層盤中，與兩層上的所有內容相關的預定內容信息可以被記錄在光程d1處的最深記錄層上。在這種情況下，信號再現(xiàn)裝置從位于光程d1處的最深記錄層讀取雙層盤的標題、節(jié)目記錄時間或指示此雙層盤遵循反向軌跡再現(xiàn)方式等的預定信息，然后，將聚焦位置跳轉到位于光程d2處的淺記錄層的內周并繼續(xù)再現(xiàn)信號。物理地址信息以從最深記錄層到淺記錄層的深度次序、在從內周到外圍的正向和從外圍到內周的反向上交替地在每個記錄層上順序記錄。
利用以前述方式記錄信息的盤，在與單層盤相同的波象差校正狀態(tài)下，可以讀出指示兩層上的盤內容的預定信息，以使再現(xiàn)裝置可以知道其上記錄有信息的雙層盤而不用通過其波象差校正單元搜索記錄層的位置，并可以立即開始再現(xiàn)。因此，根據(jù)本發(fā)明，當從淺記錄層開始再現(xiàn)相鄰記錄層時，光拾取器可以在記錄層的再現(xiàn)平面之間平穩(wěn)移動。
這個信息可以是記錄在最深記錄層的內周部分的凹坑、或條碼、或使用凹坑形成類似條碼的所謂PEF，或一個用于一個區(qū)域以校正波象差的波象差校正信號，在所述區(qū)域中記錄有一個用于檢測波象差的信號。
當用于會聚光點的物鏡的數(shù)值孔徑被選為0.8或更高時，物鏡被設計為在其穿過光程d1聚焦時使波象差的數(shù)量最小化。
上述實施例已經(jīng)描述了雙層盤的情況，具有三層或更多層的盤也可以以相同方式進行設計，并且即使不滿足前述條件，其他記錄層也可以被提供。此外，雖然沒有對記錄密度進行描述，兩個記錄層可以具有相同的記錄密度，或不同的記錄密度。
在前述實施例中，保護層的厚度等于光路長度。這通過采用折射率彼此相等并且厚度相同的材料自然可以實現(xiàn)。另外，即使采用具有不同折射率的材料，也可以將其構造為折射率與厚度之積，即光學厚度(光程)，相等。并且，當填充在各層之間的材料(隔離層)具有不同的折射率時，也可以通過順序(sequential)計算被設定為具有一個等效的光路長度。
例如，假設雙層盤的光入射側表面上的保護層具有折射率nc和厚度tc，淺記錄層L1具有折射率nL1和厚度tL1，記錄層L1、L2之間的隔離層具有折射率ns和厚度ts，盤被設計成從最深記錄層L2的光入射側表面開始的光程d1滿足d1＝n×t＝nc×tc+nL1×tL1+ns×ts，并且從淺記錄層L1的光入射側表面開始的光程d2滿足d2＝nc×tc＜n×t。
記錄層L1、L2的每一個都具有層壓結構，該結構包括由相變材料如Ag-In-Sb-Te制成的記錄層和由如ZnS-SiO2等制成的夾在記錄層之間的玻璃保護層。對于使用由相變材料制成的記錄層并且其上的數(shù)據(jù)可以被記錄或擦除，即可利用光束重寫，的光盤，每個記錄層都可以設置一個其中數(shù)據(jù)可被重寫，即記錄或擦除的可重寫區(qū)域，和一個預置坑區(qū)域，該區(qū)域具有一連串的壓紋(embossed)凹坑，用于承載作為順序物理地址的地址和如記錄定時之類的信息。雖然已經(jīng)描述了使用相變材料的可重寫雙層盤的實施例，但是本發(fā)明的記錄層所用的材料并不局限于相變材料，也可以采用一次性寫入的涂料材料。此外，雙層盤可以用作再現(xiàn)專用盤。
再現(xiàn)和記錄兼容的單層盤和多層盤除了上述條件外具有相同的盤直徑、整體盤厚度、道間距、最小間距長度、彎曲角度、雙折射率、格式等。例如，它們可以符合CAV(恒定角速度)或CLV(恒定線速度)方式。或者，它們可以是遵循組合了CAV和CLV的區(qū)域CAV或CLV方式的多層盤。多層盤的每個記錄層預先以螺旋或同心圓形交替地形成凸槽軌跡和凹槽軌跡。每個槽跡都可以以相應于多層盤的旋轉速度的頻率擺動。
<記錄/再現(xiàn)裝置>
通過利用一個具有低強度(讀取能量)再現(xiàn)光束照射記錄層的預置坑區(qū)域和可重寫區(qū)域，以便進行掃描從而檢測脊預置坑和槽預置坑、識別將被記錄的軌跡上的位置，并利用根據(jù)數(shù)據(jù)而被調節(jié)的高強度聚焦記錄光束(寫入能量)照射軌跡可重寫區(qū)域，而將數(shù)據(jù)記錄在多層盤上。
圖5是依據(jù)本發(fā)明的記錄和再現(xiàn)裝置的結構方框圖。
光拾取器21由一個包括聚焦透鏡、分束器、物鏡等的光學系統(tǒng)；一個作為光源的半導體激光器；一個光電檢測器；物鏡致動器等構成。物鏡21a具有等于或大于0.8的數(shù)值孔徑，并在記錄層上產(chǎn)生光束的聚焦光點。物鏡21a由一組透鏡構成，其可以在兼容的單層或多層盤位于正常位置時，或在光點聚焦到距離表面光程d1的位置上時，使光束波象差的數(shù)量最小化。光學拾取器21還包括一個波象差校正裝置21b，用于改變包括在聚焦光點內的波象差數(shù)量。
當將多層盤1裝載到由主軸馬達驅動的轉盤1a上時，光學驅動器21將作為記錄光或讀取光的光束照射到多層盤1上。光學拾取器21包括光電檢測器，其檢測從多層盤的記錄層反射回來的反射光束，以讀取與形成在多層盤1上的軌跡和預置坑或記錄標記相應的信號，作為一個反射率的改變。伺服電路20具有一個聚焦伺服電路和一個跟蹤伺服電路，用于根據(jù)光學拾取器21提供的一個控制信號和控制單元(CPU)26提供的一個控制命令，執(zhí)行拾取器的聚焦和跟蹤的伺服控制、再現(xiàn)位置(徑向位置)的控制、主軸馬達的旋轉速度控制等。當前面所述的實施例中的多層盤，如雙層盤，被加載時，光束首先照射到位于光程d1處的最深記錄層L2，執(zhí)行初始聚焦伺服操作，并執(zhí)行物鏡的跟蹤伺服和聚焦伺服控制，以使光束正確聚焦在多層盤的記錄層上。聚焦伺服電路在執(zhí)行初始聚焦伺服操作之后，還執(zhí)行用于使聚焦位置跳轉到位于光程d2處的淺記錄層L1上的聚焦伺服操作。
從光學拾取器21輸出的讀取信號(RF信號)在放大電路中被放大，并提供給預尋址(pre-address)解碼器23和解碼器43。
預尋址解碼器23提取預置坑、擺動信號等，并且預尋址解碼器23內的同步時鐘和定時信號發(fā)生器電路產(chǎn)生與多層盤1的旋轉同步的時鐘信號和定時信號。定時信號代表盤上的當前位置，如通過光束記錄(再現(xiàn))的預置坑區(qū)域或可重寫區(qū)域，或脊軌道或槽軌道等。預尋址解碼器23依據(jù)拾取器從盤的預置坑區(qū)域內的壓紋凹坑中讀取的信號來讀取地址信息，并將地址信息和定時信號傳送到CPU26。預尋址解碼器23包括用于檢測多層盤上的可重寫區(qū)域和預置坑區(qū)域的電路。
CPU26根據(jù)這些信號檢測記錄層上的預置坑區(qū)域的位置。存儲裝置被包含在或連接到CPU26，用于存儲必要的數(shù)據(jù)等。CPU26通常根據(jù)提供給它的信號來控制裝置。CPU26從預尋址解碼器23讀取地址信息，并將控制命令發(fā)送到記錄控制電路36和伺服電路20，以控制在一個預定地址上的記錄和再現(xiàn)操作。
記錄控制電路36根據(jù)來自CPU26的控制命令和來自預尋址解碼器23的定時信號，依據(jù)諸如記錄、擦除、再現(xiàn)等特定狀態(tài)來控制拾取器內激光器的功率。在記錄狀態(tài)下，記錄控制電路根據(jù)來自編碼器27的一個信號，調節(jié)拾取器內的激光器的功率以在盤上記錄信息。在再現(xiàn)狀態(tài)下(當再現(xiàn)可重寫區(qū)域內的數(shù)據(jù)時，或再現(xiàn)預置坑區(qū)域內的地址信息時)，記錄控制電路36控制讀取功率保持在一個恒定的低功率，以便不擦除記錄在盤上的信息。
編碼器27將用于誤差校正的奇偶校驗碼添加到將被記錄的數(shù)據(jù)中，并將合成數(shù)據(jù)轉換為用于將其編碼成一個適于記錄在多層盤1上的信號的RLL(游程長度受限)碼。編碼信號被從編碼器27發(fā)送到記錄控制電路36。
解碼器43對從盤的可重寫的區(qū)域讀出的信號執(zhí)行與編碼器相反的處理過程(RLL編碼、誤差校正等的解調)以恢復原始記錄的數(shù)據(jù)。
如上所述，本發(fā)明提供了一種多層信息記錄介質，其具有兩個和多個與單層盤兼容的記錄層和一個與單層盤的保護層的光路長度相同的保護層，另一記錄層位于比它薄的保護層的位置上，從而使該多層信息記錄介質在盤平面的穩(wěn)定性上優(yōu)越，并且可以以能夠連續(xù)從這些記錄層再現(xiàn)信號的順序記錄和再現(xiàn)信息。
上述描述和結合附圖的對本發(fā)明的優(yōu)選實施例的闡述是易于理解的。當然，不同的改進、添加和替換設計根據(jù)不背離本發(fā)明的精神和范圍的教導對于本領域的技術人員是顯而易見的。因此，應當理解，本發(fā)明并不局限于實施例披露的內容，而是包括了附加權利要求的全部范圍。
權利要求
1.一種多層信息記錄介質，其一側具有層疊在隔離層上的多個記錄層，所述記錄介質適用于能夠記錄或再現(xiàn)一個在一側具有單個記錄層和單個保護層的單層信息記錄介質上的信息的信息記錄和再現(xiàn)裝置，從而體現(xiàn)出通過光束穿過保護層照射到記錄層而引起的反射率變化，所述多層信息記錄介質包括最深記錄層，其位于距離光入射側表面最深光程d1處，所述光程d1滿足等式d1＝nt，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面與所述多層信息記錄介質兼容的單層信息記錄介質的保護層的預定折射率，“t”表示所述保護層的厚度；和至少一個淺記錄層，其位于距離光入射側表面光程d2處，所述光程d2滿足不等式d2＜nt的位置處。
2.根據(jù)權利要求1所述的多層信息記錄介質，其中所述多層信息記錄介質僅包括由所述最深記錄層和所述淺記錄層構成的兩層。
3.根據(jù)權利要求1所述的多層信息記錄介質，其中所述多層信息記錄介質包括按照從所述淺記錄層向所述最深記錄層的順序而初順序記錄的物理地址信息，深淺的順序是相對于光入射側表面而言的。
4.根據(jù)權利要求1所述的多層信息記錄介質，其中所述多層信息記錄介質包括按照從所述最深記錄層的內周向外圍的順序而初順序記錄的物理地址信息。
5.根據(jù)權利要求4所述的多層信息記錄介質，其中所述多層信息記錄介質包括物理地址信息，該物理地址信息按照從所述淺記錄層到所述最深記錄層的順序，在從內周到外圍的正向上和在從外圍到內周的反向上被交替記錄到每個記錄層上，深淺的順序是相對于光入射表面而言的。
6.根據(jù)權利要求1所述的多層信息記錄介質，其中所述多層信息記錄介質包括記錄在所述最深記錄層中的預定內容信息，該信息與所述淺記錄層上的所有內容相關。
7.一種信息記錄和再現(xiàn)裝置，該裝置能夠通過光束照射來記錄或再現(xiàn)具有單記錄層的單層信息記錄介質或一側具有層疊在保護層上的多個記錄層的多層信息記錄介質上的信息，所述信息記錄和再現(xiàn)裝置包括光學拾取器，其包括用于將光束照射到多層信息記錄介質上的物鏡，所述多層信息記錄介質包括最深記錄層，其位于距離光入射側表面最深光程d1處，所述光程d1滿足等式d1＝nt，其中“n”表示至少在再現(xiàn)和記錄方面與所述多層信息記錄介質兼容的單層信息記錄介質的保護層的預定折射率，“t”表示所述保護層的厚度，和至少一個淺記錄層，其位于距離光入射側表面光程d2處，所述光程d2滿足不等式d2＜nt；和聚焦伺服電路，用于控制物鏡首先將光束聚焦到位于光程d1處的所述最深記錄層上，并執(zhí)行初始聚焦伺服操作。
8.根據(jù)權利要求7所述的信息記錄和再現(xiàn)裝置，其中所述聚焦伺服電路在執(zhí)行所述初始聚焦伺服操作之后，執(zhí)行將聚焦位置跳轉到位于光程d2處的所述淺記錄層上的聚焦伺服操作。
9.根據(jù)權利要求7所述的信息記錄和再現(xiàn)裝置，其中所述物鏡具有等于或大于0.8的數(shù)值孔徑，以用于產(chǎn)生光束的會聚光點。
10.根據(jù)權利要求9所述的信息記錄和再現(xiàn)裝置，進一步包括用于改變包括在所述聚焦光點內的波象差數(shù)量的波象差校正部分。
11.根據(jù)權利要求9所述的信息記錄和再現(xiàn)裝置，其中，所述物鏡包括一組物鏡，用于在光點聚焦在間隔光程d1的位置處時，使光束內的波象差數(shù)量最小化。
全文摘要
一種多層信息記錄介質,適用于能夠記錄或再現(xiàn)一側具有單個記錄層的單層信息記錄介質或一側具有層疊在保護層上的多個記錄層的多層信息記錄介質上的信息的記錄和再現(xiàn)裝置,從而體現(xiàn)出通過照射光束而引起的反射率變化。多層信息記錄介質至少在再現(xiàn)和記錄方面與單層信息記錄介質兼容,該單層信息記錄介質具有預定折射率為“n”和厚度為“t”的、位于光入射表面的記錄層上的保護層。該多層信息記錄介質包括距離光入射側表面最深的最深記錄層。該最深記錄層形成在距離光入射側表面最深光程d1處,所述光程d1滿足等式d1=nt。該多層信息記錄介質還包括至少一個淺記錄層,其形成在距離光入射側表面光程d2處,所述光程d2滿足不等式d2<nt。
文檔編號G11B7/007GK1388525SQ0212047
公開日2003年1月1日 申請日期2002年5月24日 優(yōu)先權日2001年5月25日
發(fā)明者大澤誠一, 前田孝則 申請人:先鋒株式會社