專利名稱：盤設備和盤處理方法
技術領域：
本發(fā)明涉及將信息記錄在比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW的盤上的盤設備。本發(fā)明也涉及處理盤的盤處理方法。
背景技術：
近年來，光盤比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW已經(jīng)都可購買到。因此，將信息記錄在這些光盤上或從這些光盤再現(xiàn)信息的光盤驅(qū)動器也已經(jīng)可購買到。
一旦接收光盤，光盤驅(qū)動器檢查所接收的光盤的邏輯和物理規(guī)格，由此執(zhí)行正常的光盤的再現(xiàn)/記錄操作。
光盤驅(qū)動器有時甚至檢查光盤的各種缺陷以及它的邏輯和物理規(guī)格。日本專利申請KOKAI出版物No.10-312568公開了一種使光盤驅(qū)動器根據(jù)缺陷檢查結(jié)果獲得最佳的記錄功率值的技術。
然而，根據(jù)上述的技術，由于信息甚至被記錄在具有缺陷的區(qū)域中，因此降低了光盤的可靠性。此外，由于某些缺陷光盤可能整體地變得不可用。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目的是提供一種能夠處理具有缺陷的盤但不降低可靠性的盤設備和盤處理方法。
根據(jù)本發(fā)明的一方面的盤設備包括被構造成檢測盤缺陷的缺陷檢測單元、被構造成基于缺陷檢測單元的缺陷檢測結(jié)果設置在該盤的所有記錄區(qū)域中能夠?qū)嶋H地記錄信息的實際記錄區(qū)的設置單元、和被構造成在通過設置單元設置的實際記錄區(qū)中記錄用戶信息的記錄單元。
根據(jù)本發(fā)明的一方面的盤處理方法包括檢測盤缺陷和基于缺陷檢測結(jié)果設置在該盤的所有的記錄區(qū)中能夠?qū)嶋H地記錄信息的實際記錄區(qū)。
在下文的描述中進一步闡述本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點，這些目的和優(yōu)點部分從這些描述中是顯而易見的或通過實踐本發(fā)明可以得知。借助于在此所特別指出的方式或其組合可以實現(xiàn)并獲得本發(fā)明的目的和優(yōu)點。


并入在說明書中并構成說明書的一部分的附圖示出了本發(fā)明的當前優(yōu)選的實施例，這些附圖連同上文給出的一般性描述和下文給出的優(yōu)選實施例的詳細描述一起用于解釋本發(fā)明的原理。
附圖1所示為根據(jù)本發(fā)明的一種實施例的光盤的示意性結(jié)構視圖；附圖2所示為光盤處理方法的實例的流程圖；附圖3所示為根據(jù)本發(fā)明一種實施例的光盤的視圖。
具體實施例方式
下文參考附圖描述本發(fā)明的實施例。
附圖1所示為根據(jù)本發(fā)明的一種實施例的光盤設備的示意性結(jié)構的視圖。這種光盤設備將信息記錄在光盤D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)上或再現(xiàn)記錄在光盤D上的信息。
如附圖1所示，光盤設備包括光學拾取器10、調(diào)制電路21、記錄控制部分22、激光控制電路23、信號處理電路24、解調(diào)電路25、可記錄區(qū)設置部分26、致動器27和缺陷檢測部分30。
光學拾取器10包括激光器11、準直透鏡12、偏振分束器(在下文中稱為PBS)13、λ/4波片14、物鏡15、聚光透鏡16和光檢測器17。
缺陷檢測部分30包括聚焦誤差信號產(chǎn)生電路31、聚焦控制電路32、跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路33和跟蹤控制電路34。
首先描述通過光盤設備在光盤D上的信息記錄。調(diào)制電路21根據(jù)預定的調(diào)制方案將記錄信息(數(shù)據(jù)符號)調(diào)制成通道位序列。對應于該記錄信息的通道位序列輸入到記錄控制部分22。記錄控制部分22將控制信號輸出給致動器27并使它驅(qū)動光學拾取器以將光束適當?shù)鼐劢沟侥繕擞涗浳恢?。記錄控制部?2也將通道位序列輸送給激光控制電路23。激光控制電路23將通道位序列轉(zhuǎn)換為激光驅(qū)動波形并驅(qū)動激光器11。即，激光控制電路23脈動地驅(qū)動激光器11。因此，激光器11發(fā)射對應于所需的位序列的記錄光束。通過準直透鏡12將從激光器11中發(fā)射的記錄光束準直成平行光束并入射及通過PBS 13。已經(jīng)通過PBS 13的光束通過λ/4波片14并通過物鏡15聚焦在光盤D的信息記錄表面上。在通過聚焦控制電路32和致動器27的聚焦控制和通過跟蹤控制電路34和致動器27的跟蹤控制下，將聚焦的記錄光束保持在這樣的狀態(tài)下在記錄表面上可以獲得最佳的小束點。
下文描述通過這種光盤設備從光盤D中進行數(shù)據(jù)再現(xiàn)。激光控制電路23基于再現(xiàn)控制信號驅(qū)動激光器11。因此，激光器11發(fā)射再現(xiàn)光束。從激光器11中發(fā)射的再現(xiàn)光束通過準直透鏡12準直成平行光束并入射及通過PBS 13。已經(jīng)通過PBS 13的光束通過λ/4波片14并通過物鏡15聚焦在光盤D的信息記錄表面上。在通過聚焦控制電路32和致動器27的聚焦控制和通過跟蹤控制電路34和致動器27的跟蹤控制下，將聚焦的再現(xiàn)光束保持在這樣的狀態(tài)下在記錄表面上可以獲得最佳的小束點。這時，在信息記錄表面中的反射膜或折射記錄膜反射輻射光盤D的再現(xiàn)光束。所反射的光在相反的方向上通過物鏡15并再次轉(zhuǎn)換成平行光束。所反射的光通過λ/4波片14。該光具有垂直于入射光的偏振并通過PBS 13反射。通過PBS 13反射的光束通過聚光透鏡16會聚并入射在光檢測器17上。光檢測器17例如由四分光檢測器形成。入射在光檢測器17上的光束被光電地轉(zhuǎn)換為電信號并被放大。信號處理電路24使經(jīng)放大的信號均衡并二值化并發(fā)送給解調(diào)電路25。解調(diào)電路25執(zhí)行對應于預定的調(diào)制方案的解調(diào)操作以輸出再現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
基于從光檢測器17中輸出的部分電信號，聚焦誤差信號產(chǎn)生電路31產(chǎn)生聚焦誤差信號。類似地，基于從光檢測器17中輸出的部分電信號，跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路33產(chǎn)生跟蹤誤差信號。聚焦控制電路32基于聚焦誤差信號控制致動器27以控制束點的聚焦。跟蹤控制電路34基于跟蹤誤差信號控制致動器27以控制束點的跟蹤。
缺陷檢測部分30例如通過監(jiān)測聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號來檢測光盤缺陷。為檢測光盤缺陷，可以使用除了聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號以外的各種因素。光盤缺陷使光盤的記錄/再現(xiàn)的性能降低。通過缺陷檢測部分30所檢測的缺陷的實例如下。
·盤的翹曲·盤重心的偏心·盤中心的偏心·盤的波度基于缺陷檢測結(jié)果，可記錄區(qū)設置部分26設置光盤D的所有的記錄區(qū)域的可記錄區(qū)(＝實際記錄區(qū))，在該區(qū)域中可以實際地記錄信息。關于通過可記錄區(qū)設置部分26所設置的可記錄區(qū)的信息發(fā)送給記錄控制部分22。記錄控制部分22控制致動器27以將用戶信息記錄在可記錄區(qū)中。
下文接著描述光盤缺陷檢查和光盤的記錄性能。在光盤D插入到附圖1中所示的光盤設備中時，光盤設備檢查使所插入的光盤D的記錄性能降低的缺陷。即，如上文所述，缺陷檢測部分30例如通過監(jiān)測聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號來檢測光盤缺陷。
假設n是要檢查的缺陷元的數(shù)量，D1，D2，…，Dn是缺陷元。所插入的光盤D被分為m(m是自然數(shù))個區(qū)1，2，…，m。假設Dij是對應于缺陷元Di的區(qū)域j的值。更具體地說，在每個區(qū)域中檢查缺陷元Di，則在區(qū)域j中檢查的缺陷元Di的值定義為Dij。在缺陷元Di獨立于區(qū)域恒定地存在時，Di1＝Di2＝，…，＝Dim。在檢查到將會降低所插入的光盤D的記錄性能的缺陷時，得到如下的值·在區(qū)域1中的缺陷元的檢查值的組{D11，D21，…，Dn1}·在區(qū)域2中的缺陷元的檢查值的組{D12，D22，…，Dn2}·在區(qū)域j中的缺陷元的檢查值的組{D1j，D2j，…，Dnj}·在區(qū)域m中的缺陷元的檢查值的組{D1m，D2m，…，Dnm}從在區(qū)域j中的缺陷元的檢查值的組{D1j，D2j，…，Dnj}中獲得在區(qū)域j中預測的記錄性能Aj。
Aj＝f{D1j，D2j，…，Dnj}可記錄區(qū)設置部分26使用記錄性能Aj執(zhí)行每個區(qū)域的可記錄性確定。
接著下文更詳細地描述光盤缺陷檢查和光盤的記錄性能。同時，參考在附圖2中所示的流程圖描述光盤處理方法。描述光盤D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)的缺陷檢查。
如附圖3所示，光盤分被分為n(n是自然數(shù))個區(qū)域1，…，n(從內(nèi)周邊側(cè)起以遞增的順序分配該數(shù)量)。即，光盤被分為具有不同的徑向距離的n個環(huán)形區(qū)域。從通過盤缺陷檢查中獲得的每個缺陷分量中估計的記錄性能A被分配給每個區(qū)域。區(qū)域k(k是自然數(shù)；k＜n+1)的記錄性能由Ak表示。
盤缺陷例如包括盤的翹曲(翹曲分量S)、盤的波度(側(cè)面跳動分量M)、盤重心的偏心(質(zhì)量偏心分量H)和盤中心偏心(偏心分量C)?？梢詸z查每個區(qū)域的翹曲分量S和側(cè)面跳動分量M。通過Sk表示每個區(qū)域的翹曲分量，而以Mk表示每個區(qū)域的側(cè)面跳動分量。即，翹曲分量S和側(cè)面跳動分量M是對于每個徑向距離所檢測的缺陷元。
一旦接收到光盤D，光盤設備檢測光盤D(ST1)并檢查缺陷分量(ST2)。對于翹曲分量S，檢測在每個區(qū)域中的盤表面的傾斜，獲得相應的區(qū)域的S1，S2，…，Sn。基于在每個區(qū)域中的聚焦誤差信號檢查側(cè)面跳動分量M并獲得相應的區(qū)域的M1，M2，…，Mn。質(zhì)量偏心分量H和偏心分量C為所有的區(qū)域所共有，獲得H和C。從在該區(qū)域中獲得的缺陷分量中獲得每個區(qū)域的記錄性能Ak。該區(qū)域k的記錄性能由下式給出Ak＝f(Sk，Mk，H，C)這里f定義為值Ak越大記錄性能越差。
將獲得足夠的記錄性能的閾值定義為T。
滿足Ak＜T的區(qū)域k被確定為可記錄區(qū)。不滿足Ak＜T的區(qū)域k被確定為不可記錄區(qū)。
在光盤D的所有記錄區(qū)滿足Ak＜T時，檢查結(jié)果比較滿意(在ST3中為“是”)。將光盤D作為正常盤處理(ST8)。即，將光盤D的所有記錄區(qū)作為可記錄區(qū)處理。
在并不是光盤D的所有記錄區(qū)滿足Ak＜T時，檢查結(jié)果不滿意(在ST3中為“否”)。通過可記錄區(qū)設置部分26設置可記錄區(qū)(ST4)。對應于不滿足Ak＜T的最內(nèi)的一個區(qū)域的區(qū)域k(最小k)定義為k0。在光盤D的所有記錄區(qū)中，區(qū)域1，2，…，k0-1是可記錄區(qū)。在信息(用戶信息)已經(jīng)記錄在除了光盤D的所有記錄區(qū)的區(qū)域1，2，…，k0-1的之外的區(qū)域中時(在ST5中為“是”)，將光盤D作為不可記錄的可擦除盤處理(ST7)。在信息(用戶信息)還沒有記錄在除了光盤D的所有記錄區(qū)的區(qū)域1，2，…，k0-1的之外的區(qū)域中時(在ST5中為“否”)，將區(qū)域1，2，…，k0-1的容量處理為盤的容量(可記錄區(qū))(ST6)。
如上文所描述，在根據(jù)本發(fā)明的實施例的光盤設備和光盤處理方法中，可以檢測到其中不能獲得足夠的記錄性能的缺陷區(qū)域，并在光盤D的所有記錄區(qū)中設置能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。對于光盤D(比如CD-R、CD-RW、DVD-R或DVD-RW)，通常從內(nèi)側(cè)到外側(cè)記錄用戶信息。即，可以檢測在光盤的所有記錄區(qū)中不能獲得足夠的記錄性能的缺陷區(qū)，并僅將所檢測的缺陷區(qū)的最內(nèi)側(cè)的缺陷區(qū)里面的區(qū)域設置為可記錄區(qū)。因此，僅使用光盤的整個記錄容量沒有缺陷的區(qū)域。甚至可以使用具有缺陷的光盤而不降低可靠性。還可以解決由于某些嚴重的缺陷引起光盤整個地變得不可用的問題。
本領域的普通技術人員容易理解其它的優(yōu)點和變型。因此，就廣義上講本發(fā)明并不限于在此所描述并示出的具體的細節(jié)和有代表性的實施例。因此，在不脫離如附加的權利要求和它們的等效方案所界定的一般發(fā)明原理的精神和范圍的前提下可以做出各種變型。
權利要求
1.一種盤設備，其特征在于包括被構造成檢測盤缺陷的缺陷檢測單元(30)；被構造成基于缺陷檢測單元的缺陷檢測結(jié)果設置在該盤的所有記錄區(qū)中能夠?qū)嶋H地記錄信息的實際記錄區(qū)的設置單元(26)；和被構造成在通過設置單元設置的實際記錄區(qū)中記錄用戶信息的記錄單元(22)。
2.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于該缺陷檢測單元檢測每個預定區(qū)的缺陷，和該設置單元基于通過缺陷檢測單元所檢測的缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有的記錄區(qū)中滿足預定的記錄性能水平的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
3.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于該缺陷檢測單元檢測對應于徑向距離的每個預定區(qū)的缺陷，和該設置單元基于通過缺陷檢測單元所檢測的缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有的記錄區(qū)中不滿足預定的記錄性能水平的最內(nèi)的一個區(qū)域里面的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
4.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于該缺陷檢測單元在對應于徑向距離的每個預定區(qū)中檢測對于每個徑向距離都變化的第一缺陷并檢測為整個盤共有的第二缺陷，和該設置單元基于通過缺陷檢測單元所檢測的缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有的記錄區(qū)中不滿足預定的記錄性能水平的最內(nèi)的一個區(qū)域里面的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
5.根據(jù)權利要求1所述的設備，其特征在于在用戶信息已經(jīng)記錄在除了盤的所有記錄區(qū)的實際記錄區(qū)之外的區(qū)域中時，該設置單元將該盤設置為不可記錄的盤。
6.一種盤處理方法，其特征在于包括檢測(ST2)盤缺陷；和基于缺陷檢測結(jié)果設置(ST4)在該盤的所有記錄區(qū)中能夠?qū)嶋H地記錄信息的實際記錄區(qū)。
7.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于檢測每個預定區(qū)的缺陷，和基于缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有記錄區(qū)中滿足預定的記錄性能水平的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
8.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于對于與徑向距離對應的每個預定區(qū)檢測缺陷，和基于缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有記錄區(qū)中不滿足預定的記錄性能水平的最內(nèi)的一個區(qū)域里面的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
9.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于對于與徑向距離對應的每個預定區(qū)檢測對于每個徑向距離都變化的第一缺陷并檢測為整個盤共有的第二缺陷，和基于缺陷檢測結(jié)果獲得每個預定區(qū)的記錄性能，并設置在盤的所有的記錄區(qū)中不滿足預定的記錄性能水平的最內(nèi)的一個區(qū)域里面的區(qū)域作為能夠?qū)嶋H記錄信息的實際記錄區(qū)。
10.根據(jù)權利要求6所述的方法，其特征在于在用戶信息已經(jīng)記錄在除了盤的所有記錄區(qū)的實際記錄區(qū)之外的區(qū)域中時，將該盤設置為不可記錄的盤。
全文摘要
本發(fā)明涉及盤設備和盤處理方法，其中盤設備包括被構造成檢測光盤缺陷的缺陷檢測單元(30)、被構造成基于缺陷檢測單元的缺陷檢測結(jié)果設置在該盤的所有記錄區(qū)域中能夠?qū)嶋H地記錄信息的實際記錄區(qū)的設置單元(26)和被構造成在通過設置單元設置的實際記錄區(qū)域中記錄用戶信息的記錄單元(22)。
文檔編號G11B20/10GK1503234SQ20031011833
公開日2004年6月9日 申請日期2003年11月21日 優(yōu)先權日2002年11月21日
發(fā)明者鈴木貴廣 申請人:株式會社東芝