專利名稱：用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法和使用該方法的光記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光記錄方法和介質(zhì)，并且更為具體的說，涉及用于管理在WORM類型光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，和使用該方法的光記錄介質(zhì)。該方法特別適用于在一次性寫入光盤比如那些使用近來開發(fā)的已知為BD-WO的藍(lán)光光盤格式上記錄數(shù)據(jù)。
背景技術(shù)：
使用光讀取/寫入裝置的數(shù)據(jù)記錄設(shè)備和介質(zhì)通常被根據(jù)它們的寫入能力或靈活性來分類。在沒有寫入能力的只讀光記錄介質(zhì)中，存在那些使用CD-ROM和DVD-ROM格式的光記錄介質(zhì)。在已知的允許自由執(zhí)行多次寫入操作的盤標(biāo)準(zhǔn)中，存在CD-RW、DVD-RAM、DVD-RW和DVD+RW類型，其是可重寫激光盤和數(shù)字多用途光盤。
另一方面，WORM類型光盤適于用作需要大的存儲容量的數(shù)據(jù)存儲設(shè)備。但是，這種光盤具有有限的記錄靈活性，并且用在一次性寫入多次讀取應(yīng)用中。這些包括CD-R和DVD-R類型，其是可記錄的激光盤和數(shù)字多用途光盤。
同時，開發(fā)了已知為藍(lán)光光盤的高密度DVD(其是用于使用藍(lán)紫色激光記錄高質(zhì)量音頻和視頻數(shù)據(jù)的大容量光盤)的新的類型。藍(lán)光光盤采用已知為BD-RE的可重寫光盤格式。
在光記錄介質(zhì)的上述類型中，在它們的制造、處理或使用期間產(chǎn)生表面不完整和缺陷。因此，在數(shù)據(jù)記錄操作期間使用用于管理缺陷區(qū)域的方法，使得能夠正常地執(zhí)行數(shù)據(jù)再現(xiàn)。
參考圖1，用于與光記錄介質(zhì)102(比如BD-RE格式的光盤)一起使用的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100從主機(jī)(或控制器)200接收數(shù)據(jù)/命令輸入。光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100設(shè)置有用于將數(shù)據(jù)寫到插入的光記錄介質(zhì)或從其讀取數(shù)據(jù)的光拾取器104，用于控制光拾取器以實現(xiàn)正確的跟蹤并相對于光記錄介質(zhì)的表面維持可控距離的拾取伺服器106，通過將從光拾取器接收的再現(xiàn)信號恢復(fù)為所需的信號值或通過調(diào)制從主機(jī)接收的記錄信號以傳送到光盤來處理到和來自光拾取器的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)處理器108，用于在主機(jī)和記錄/再現(xiàn)設(shè)備之間傳送數(shù)據(jù)的接口110，用于控制記錄/再現(xiàn)設(shè)備的微計算機(jī)112，和用于存儲程序和用于臨時存儲包括缺陷管理信息的多種信息和數(shù)據(jù)的存儲器114。在主機(jī)200和存儲的程序的控制下，光拾取器104讀取在光盤上存儲(或?qū)懭?的數(shù)據(jù)，提供輸入給數(shù)據(jù)處理器108的數(shù)據(jù)信號用于再現(xiàn)處理和輸出，并且使用從數(shù)據(jù)處理器輸出的寫入信號將數(shù)據(jù)寫到光盤的特定區(qū)域上。在寫入操作期間，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100根據(jù)經(jīng)主機(jī)200輸入的命令和在存儲器114中存儲并由微機(jī)算機(jī)112執(zhí)行的程序接收數(shù)據(jù)流(或編碼的模擬信號)，并輸出寫入信號到光拾取器104。
參考圖2，用于和圖1的設(shè)備一起使用的BD-RE類型光盤被劃分為指定的區(qū)域。該指定的區(qū)域基本上包括設(shè)置在導(dǎo)入?yún)^(qū)(LIA)和導(dǎo)出區(qū)(LOA)之間的數(shù)據(jù)區(qū)。該數(shù)據(jù)區(qū)包括和導(dǎo)入?yún)^(qū)相鄰的內(nèi)備用區(qū)(ISA)和與導(dǎo)出區(qū)相鄰的外備用區(qū)(OSA)。
如上所述，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100處理來自主機(jī)200的輸入數(shù)據(jù)，并且以對應(yīng)于糾錯碼塊單元的簇(clusters)將數(shù)據(jù)寫到光盤上。如果在寫入操作期間在數(shù)據(jù)區(qū)檢測到存在缺陷區(qū)域，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行一系列替換寫入操作以在兩個備用區(qū)之一(如圖2的實例所示為ISA)寫入對應(yīng)于檢測的缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)簇。因此，通過在備用區(qū)而不是缺陷區(qū)域?qū)懭肴毕輩^(qū)域的數(shù)據(jù)簇，可以從備用區(qū)讀取和再現(xiàn)數(shù)據(jù)，因此即使當(dāng)光盤在數(shù)據(jù)區(qū)顯示出缺陷時也可防止發(fā)生寫入錯誤，并由此保證了數(shù)據(jù)安全性和數(shù)據(jù)完整性。
因為使用了可重寫光盤，使用允許自由訪問數(shù)據(jù)記錄區(qū)的光記錄介質(zhì)執(zhí)行上述方法。因此，在管理缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的過程中，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備具有無限定的記錄區(qū)的使用。但是，如果使用WORM類型光盤，僅一次執(zhí)行寫入操作，并且必須在由用戶能執(zhí)行正常的數(shù)據(jù)修補(bǔ)操作之前完成。
例如，近來已經(jīng)開發(fā)了使用已知為BD-WO的格式的另一類型的藍(lán)光光盤。BD-WO類型光盤是一次性寫入類型光盤，因為這個類型的光盤格式的標(biāo)準(zhǔn)化近來剛剛開始，其不能使用用于管理光盤上的缺陷區(qū)域的已知方法。需要立即的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明涉及用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，以及使用該方法的光記錄介質(zhì)(也就是，比如BD-WO的光盤)，其基本上避免了因為現(xiàn)有技術(shù)的限制和缺點引起的一個或多個問題。
本發(fā)明的目的是解決前述問題，其提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過其寫入光盤的缺陷區(qū)域和從其讀取的數(shù)據(jù)被重新定位(重寫)，并且管理該數(shù)據(jù)，這是通過其中將數(shù)據(jù)寫入對應(yīng)于缺陷區(qū)域的替代數(shù)據(jù)區(qū)(備用區(qū))的替換寫入操作的性能來實現(xiàn)的。
本發(fā)明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過該方法在完成數(shù)據(jù)記錄操作之后實現(xiàn)正常數(shù)據(jù)再現(xiàn)，而與在記錄期間檢測到存在的一個或多個缺陷區(qū)域無關(guān)。
本發(fā)明的另一目的是提供使用一次性寫入光記錄介質(zhì)過程中的數(shù)據(jù)安全性和數(shù)據(jù)完整性，具體的說對于使用從BD-WO光盤讀取的主計算機(jī)和在記錄時間采用線性替換技術(shù)的數(shù)據(jù)記錄操作。
本發(fā)明的另一目的是提供用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，通過其促進(jìn)BD-WO標(biāo)準(zhǔn)化。
本發(fā)明的另一目的是提供適于采用上述方法的光記錄介質(zhì)。
本發(fā)明的另一目的是提供用于使用采用上述方法的光記錄介質(zhì)的系統(tǒng)。
本發(fā)明的其它優(yōu)點、目的和特征將在隨后的說明中部分地描述，經(jīng)過以下檢驗或從本發(fā)明的實踐中學(xué)習(xí)，上述優(yōu)點、目的和特征對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說是顯而易見的。本發(fā)明的目的和優(yōu)點可以如所附說明書及其權(quán)利要求書和附圖中所特別指出的來實現(xiàn)和獲得。
為實現(xiàn)本發(fā)明的這些和其它的優(yōu)點，以及根據(jù)本發(fā)明的目的，如這里具體地和廣泛地描述的，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)寫入數(shù)據(jù)之后，檢測在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在；通過在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)，該定位符信息指示缺陷記錄扇區(qū)；和在分配到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標(biāo)識信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息。
在本發(fā)明的另一方面中，提供了一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟通過從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，并檢測和檢查標(biāo)識信息來識別光盤結(jié)束狀態(tài)，其中該標(biāo)識信息指示光盤結(jié)束狀態(tài)；基于標(biāo)識信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作。
在本發(fā)明的另一方面中，提供了具有用于光學(xué)記錄數(shù)據(jù)到一次性寫入光記錄介質(zhì)或從一次性寫入光記錄介質(zhì)光學(xué)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的可編程設(shè)備的系統(tǒng)。該設(shè)備可被編程以執(zhí)行本發(fā)明的方法的所需步驟，包括那些用于記錄數(shù)據(jù)和再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)的步驟。
在本發(fā)明的另一方面中，提供一次性寫入光記錄介質(zhì)，其包括數(shù)據(jù)區(qū)，相鄰數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置的導(dǎo)入?yún)^(qū)；和在導(dǎo)入?yún)^(qū)中用于寫入關(guān)于多個寫入位置的信息以及用于選擇性訪問寫入位置的標(biāo)識信息(其作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息)的缺陷管理區(qū)域，該多個寫入位置用于訪問臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息，其中該臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開的位置。
比如BD-WO光盤的光記錄介質(zhì)采用本發(fā)明的方法保證了數(shù)據(jù)的安全性和數(shù)據(jù)的完整性，特別在使用采用線性替換(linearreplacement)技術(shù)的主計算機(jī)的數(shù)據(jù)記錄操作期間。
應(yīng)該理解本發(fā)明的前述解釋和下面的具體描述都是示例性和說明性的，并且意在提供本發(fā)明如權(quán)利要求所述的進(jìn)一步解釋。


通過結(jié)合附圖的下面的詳細(xì)說明可以更為全面的理解本發(fā)明的另外的目的和優(yōu)點，在附圖中圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)的一般光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備的示意圖；圖2是用于管理在比如BD-RE類型光盤的可重寫光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法的視圖；圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實施例的一次性寫入光記錄介質(zhì)，比如BD-WO類型光盤的指定的區(qū)域的視圖，其用于說明用于管理在光盤上的缺陷區(qū)域的方法；圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明方法寫入的定位符信息的視圖；圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明的方法寫入的定位符信息，由此增加訪問速率的視圖；圖6是用于說明根據(jù)本發(fā)明的另一優(yōu)選實施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區(qū)域的方法的視圖；以及圖7是用于說明根據(jù)本發(fā)明的另一優(yōu)選實施例的，用于管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)、比如BD-WO類型光盤上的缺陷區(qū)域的方法的視圖。
具體實施例方式
下面將詳細(xì)參考本發(fā)明的優(yōu)選實施例，在附圖中示出了其實例。在整個附圖中使用相同的參考數(shù)字表示相同或相似的部分。
參考圖3，其中示出比如BD-WO類型光盤的光記錄介質(zhì)的指定的區(qū)域以說明根據(jù)本發(fā)明的方法，在導(dǎo)入?yún)^(qū)(LIA)和導(dǎo)出區(qū)(LOA)之間設(shè)置數(shù)據(jù)區(qū)，其中數(shù)據(jù)區(qū)基本上包括用戶數(shù)據(jù)區(qū)和在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的任一側(cè)設(shè)置的非用戶數(shù)據(jù)區(qū)。用戶數(shù)據(jù)區(qū)被指定有物理扇區(qū)號(PSN)和邏輯扇區(qū)號(LSN)，同時非用戶數(shù)據(jù)區(qū)僅被指定有物理扇區(qū)號。非用戶數(shù)據(jù)區(qū)分別包括外部備用區(qū)(OSA)和臨時缺陷列表(TDFL)區(qū)。外部備用區(qū)用于寫入對應(yīng)于缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)，也就是，替換數(shù)據(jù)，而TDFL區(qū)用于寫入關(guān)于檢測的缺陷區(qū)域的缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符和相應(yīng)的替換數(shù)據(jù)。可以累積地或連續(xù)地寫入缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符信息。
雖然沒有在附圖中示出，OSA和TDFL區(qū)可以是交替定位的或它們可以是另外的指定的區(qū)域，比如內(nèi)備用區(qū)(ISA)。例如，可以另外設(shè)置ISA或代替OSA，或者與OSA相鄰或在LIA中在非用戶數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置TDFL區(qū)域。
在光記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的過程中，比如如圖3所示，圖1的光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行內(nèi)部程序以時間連續(xù)的方式在用戶數(shù)據(jù)區(qū)的預(yù)定寫入扇區(qū)上寫入數(shù)據(jù)。寫入操作進(jìn)行直到數(shù)據(jù)記錄終止或直到記錄最后一個記錄扇區(qū)。每個寫入情況將被稱作為數(shù)據(jù)記錄階段。
將預(yù)定的寫入扇區(qū)設(shè)置為缺陷驗證單元(DVU)，通過其在數(shù)據(jù)記錄階段期間，使用在每個DVU之后執(zhí)行的寫入后確認(rèn)操作(verify-after operation)檢測缺陷區(qū)域。一個DVU可以具有等于任意數(shù)目的物理軌道或簇的記錄大小，并且因為便于描述本發(fā)明的實施例的緣故，將這個記錄大小任意地設(shè)置為五個簇。多個缺陷驗證單元(DVU1到DVUn)構(gòu)成了記錄或具有時間連續(xù)性的數(shù)據(jù)記錄階段的一個情況，且每個數(shù)據(jù)記錄階段1、2和3依賴于記錄的數(shù)據(jù)量來構(gòu)成多個DVU。
由光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行寫入后確認(rèn)操作，其重復(fù)執(zhí)行一系列檢測操作以確定對應(yīng)于一個DVU的寫入數(shù)據(jù)的缺陷區(qū)域的存在。在每個缺陷區(qū)域檢測操作中，再現(xiàn)寫在DVU中的數(shù)據(jù)以驗證它的記錄狀態(tài)；就是說，確定是否成功寫入數(shù)據(jù)使得可以進(jìn)行正常的再現(xiàn)。如果不能驗證正常的再現(xiàn)，則確定存在缺陷。
例如，在通過記錄操作在DVU1的物理簇1-5中順序和連續(xù)寫入數(shù)據(jù)之后S10，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過逐漸再現(xiàn)寫在DVU1中的數(shù)據(jù)來執(zhí)行寫入后確認(rèn)操作，以驗證正常再現(xiàn)，并由此檢測任意缺陷區(qū)域的存在。在逐漸再現(xiàn)過程中，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100再次從第一簇開始(或下一個位置)順序讀取寫入的數(shù)據(jù)，并且連續(xù)讀取直到通過再現(xiàn)操作檢測到第一個(或下一個)不可驗證的數(shù)據(jù)簇的出現(xiàn)S11，其指示在物理簇2中存在缺陷區(qū)域。之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100在它的存儲器114中臨時存儲物理簇2的數(shù)據(jù)。臨時存儲(緩存)的數(shù)據(jù)用于執(zhí)行通過記錄操作的替換寫入操作S12，由此將對應(yīng)于缺陷簇的替換數(shù)據(jù)寫作OSA中的替換簇2’以代替缺陷區(qū)域。這里，可以從OSA的任一端開始寫入第二簇的數(shù)據(jù)。
在完成上述的替換寫入操作之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過再現(xiàn)操作連續(xù)再現(xiàn)DVU1的數(shù)據(jù)S13，以進(jìn)行到下一個簇，也就是，物理簇3。當(dāng)在物理簇4中檢測到另一缺陷區(qū)域時，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100通過記錄操作執(zhí)行另一替換寫入操作S14，其中緩存缺陷簇的數(shù)據(jù)，并且然后寫作為OSA中與替換簇2’連續(xù)的替換簇4’。
通過再現(xiàn)操作的DVU1的連續(xù)寫入后確認(rèn)操作沒有找到另外的缺陷區(qū)域S15，則完成數(shù)據(jù)記錄階段1的DVU的數(shù)據(jù)記錄。因此，該DVU1最終包括物理簇1、3和5的數(shù)據(jù)并且具有兩個缺陷區(qū)域，將其數(shù)據(jù)作為對應(yīng)于缺陷區(qū)域的替換簇2’和4’寫在OSA中。對于每個DVU重復(fù)相同處理，直到通過執(zhí)行對于DVUn的記錄和寫入后確認(rèn)操作完成數(shù)據(jù)記錄階段1。在這種情況下，將物理簇6寫作DVU2的第一簇。
然后，即，在連續(xù)完成DVUn的寫入后確認(rèn)操作之后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100寫入用于識別每個缺陷區(qū)域和定位相應(yīng)替換數(shù)據(jù)的缺陷區(qū)域數(shù)據(jù)定位符。這些定位符被寫作TDFL信息并存儲在TDFL區(qū)域。為增加TDFL信息的訪問速率，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100還將寫入位置信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)信息寫在LIA中指定的缺陷管理區(qū)域(DMA)中。
如圖4所示，該TDFL信息包括多個缺陷條目，每個被表示為一對PSN，也就是，缺陷PSN和對應(yīng)于其的替換PSN。這里，缺陷PSN是缺陷區(qū)域的物理扇區(qū)號，而替換PSN是其中寫入缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的區(qū)域的物理扇區(qū)號。每個缺陷條目還包括除PSN外的狀態(tài)信息。該狀態(tài)信息包括狀態(tài)1和狀態(tài)2信息，而狀態(tài)2信息在本實施例中不可用。狀態(tài)1信息指示在缺陷或潛在缺陷區(qū)域和對應(yīng)于其的任意替換數(shù)據(jù)之間存在的關(guān)系的類型，該替換數(shù)據(jù)包括替換數(shù)據(jù)記錄狀態(tài)、地址分配、缺陷區(qū)域確認(rèn)、替換區(qū)域可用性等。
對應(yīng)于DDS信息的第60字節(jié)(第60字節(jié)位置)的記錄扇區(qū)可以包括用于訪問當(dāng)前TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息，也就是，反映最后(最近)的替換寫入操作的TDFL信息。將這種寫入位置信息和包括光盤結(jié)束標(biāo)志的識別信息一起寫入和管理，該光盤結(jié)束標(biāo)志指示是否執(zhí)行了光盤結(jié)束操作，并通知完成了光盤的寫入處理。
當(dāng)標(biāo)識信息示出沒有光盤結(jié)束時，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100讀取DMA并且參考寫入位置信息以搜索寫入位置。例如，標(biāo)識信息的一個字節(jié)可以被寫作“0000 XXXX”，以指示沒有執(zhí)行光盤結(jié)束操作，或者被設(shè)置為“0000 1111”以指示執(zhí)行了光盤結(jié)束。同時，標(biāo)識信息可以包括大于一個字節(jié)的大小，并且可以使用“0000 XXXX”和“00001111”之外的值指示光盤結(jié)束操作的執(zhí)行。該DDS信息可以包括用于訪問第一TDFL和當(dāng)前TDFL兩者，或者選擇性地訪問任意一個的寫入位置信息。
當(dāng)根據(jù)用戶操作執(zhí)行光盤結(jié)束操作時，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100將光盤結(jié)束標(biāo)志從指示沒有執(zhí)行光盤結(jié)束操作的值(例如，“0000XXXX”)設(shè)置為指示光盤結(jié)束狀態(tài)的值(例如，“0000 1111”)，并且在DMA中寫入TDFL信息作為缺陷列表(DFL)信息。因此，在光盤結(jié)束的情況下，存儲在DDS信息中的寫入位置信息被寫作表示DFL信息的寫入位置的最終值。對應(yīng)于DDS信息的第24字節(jié)(第24字節(jié)位置)的記錄扇區(qū)可以包括用于訪問DFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
參考圖5，DDS信息可以增加之后的或最后的TDFL信息(TDFL q)的訪問速率，且進(jìn)一步包括對應(yīng)于最近寫入的TDFL，也就是，恰好在光盤結(jié)束之前的TDFL信息的第一PSN的寫入位置信息。
如圖6所示，該TDFL信息可以包括在LIA中的記錄扇區(qū)中。另一方面，如圖7所示，該TDFL信息可以被分配給OSA中的記錄扇區(qū)，或者可以被分配到別處，比如在LOA中。
工業(yè)應(yīng)用性在本發(fā)明的方法中，當(dāng)比如BD-WO類型的光盤的光記錄介質(zhì)被放入比如如圖1所示的可編程系統(tǒng)中時，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索分配到光盤的LIA的DMA，從DMA的DDS信息檢測光盤結(jié)束標(biāo)志，檢查它的值，并由此確定光盤是否結(jié)束。如果光盤結(jié)束標(biāo)志是示出了沒有出現(xiàn)光盤結(jié)束的值，則光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索和訪問關(guān)于DDS信息中的第一和/或之后(最后)的TDFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問TDFL信息。然后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100執(zhí)行一系列替換寫入操作或再現(xiàn)操作。另一方面，如果光盤結(jié)束標(biāo)志是示出出現(xiàn)光盤結(jié)束的值，則光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100搜索和訪問關(guān)于在DDS信息中存儲的第一和/或之后(最后)DFL信息的寫入位置信息，以然后搜索和訪問DFL信息。然后，光盤記錄/再現(xiàn)設(shè)備100可以執(zhí)行再現(xiàn)操作。
通過采用根據(jù)本發(fā)明的用于在一次性寫入光記錄介質(zhì)上管理缺陷區(qū)域的方法，通過其中將數(shù)據(jù)寫在對應(yīng)于缺陷區(qū)域的替代(備用)數(shù)據(jù)區(qū)中的替換寫入操作的性能，寫入和有效管理寫在光盤的缺陷區(qū)域上的數(shù)據(jù)。因此，根據(jù)本方法的格式，比如當(dāng)前開發(fā)的BD-WO類型光盤的光記錄介質(zhì)能夠用于通過一次性寫入操作記錄數(shù)據(jù)，使得即使當(dāng)在光盤上存在缺陷時也能正常再現(xiàn)記錄的數(shù)據(jù)。另外，通過提供合適的一次性寫入光記錄介質(zhì)，采用本發(fā)明的方法促進(jìn)了BD-WO標(biāo)準(zhǔn)化，由此能夠有效管理寫在其缺陷區(qū)域上的數(shù)據(jù)。
對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說很明顯可以對根據(jù)本發(fā)明的管理在一次性寫入光記錄介質(zhì)上的缺陷區(qū)域的方法和使用該方法的光記錄介質(zhì)做出多種修改和變更而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。因此，本發(fā)明意在覆蓋在所附權(quán)利要求及其等效物范圍內(nèi)提供的本發(fā)明的修改和變型。
權(quán)利要求
1.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)之后，檢測在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在；通過在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)，該定位符信息表示缺陷記錄扇區(qū)；和在指定到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標(biāo)識信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，進(jìn)一步包括光盤結(jié)束步驟，所述光盤結(jié)束步驟包括步驟在缺陷管理區(qū)域?qū)懭胱鳛槿毕萘斜硇畔⒌呐R時缺陷列表信息，和用于訪問缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值；和設(shè)置標(biāo)識信息為指示光盤結(jié)束的值，并將該值寫在缺陷管理區(qū)域中，其中，該設(shè)置的標(biāo)識信息確定對最終寫入位置信息的訪問，并且其中設(shè)置的標(biāo)識信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結(jié)構(gòu)信息中。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該標(biāo)識信息包括具有大于或等于一個字節(jié)大小的標(biāo)志，所述標(biāo)志確定在光記錄介質(zhì)在光盤結(jié)束狀態(tài)時對寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的訪問，并確定當(dāng)光記錄介質(zhì)不在光盤結(jié)束狀態(tài)時對寫在指定的記錄扇區(qū)中的臨時缺陷列表信息的訪問。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)中。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)中。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的導(dǎo)出區(qū)中。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的非用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，該非用戶數(shù)據(jù)區(qū)與光記錄介質(zhì)的外備用區(qū)相鄰。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該包括臨時缺陷列表信息的指定的記錄扇區(qū)被定位于光記錄介質(zhì)的用戶數(shù)據(jù)區(qū)中，該用戶數(shù)據(jù)區(qū)在光記錄介質(zhì)的外備用區(qū)之前。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是累積地寫入的。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，該定位符信息是連續(xù)地寫入的。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在備用區(qū)中寫入替換數(shù)據(jù)的過程中，從備用區(qū)的一端開始寫入數(shù)據(jù)。
12.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟通過從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，和檢測并檢查表示光盤結(jié)束狀態(tài)標(biāo)識信息來識別光盤結(jié)束狀態(tài)；基于標(biāo)識信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置；和基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標(biāo)識信息指示光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時，搜索寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的寫入位置。
14.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述選擇性搜索步驟在標(biāo)識信息指示光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時，選擇性地搜索寫在缺陷管理區(qū)域以外的記錄扇區(qū)中的第一臨時缺陷列表信息或最后的臨時缺陷列表信息的寫入位置。
15.一種一次性寫入光記錄介質(zhì)，其包括數(shù)據(jù)區(qū)；導(dǎo)入?yún)^(qū)，其被相鄰所述數(shù)據(jù)區(qū)設(shè)置；和缺陷管理區(qū)，其在導(dǎo)入?yún)^(qū)中用于寫入多個寫入位置作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息，該多個寫入位置用于訪問臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息和用于寫入選擇性訪問寫入位置的標(biāo)識信息，其中，該臨時缺陷列表信息和缺陷列表信息被寫在分開的位置。
16.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，該光盤定義結(jié)構(gòu)信息進(jìn)一步包括用于訪問寫在缺陷管理區(qū)域中的第一缺陷列表信息的寫入位置信息；和用于訪問寫在缺陷管理區(qū)域之外的記錄扇區(qū)中的第一臨時缺陷列表信息的寫入位置信息。
17.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，該標(biāo)識信息包括具有大于或等于一個字節(jié)大小的標(biāo)志，所述標(biāo)志確定在光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時對寫在缺陷管理區(qū)域中的缺陷列表信息的訪問，并確定當(dāng)光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時對寫在指定的記錄扇區(qū)中的臨時缺陷列表信息的訪問。
18.如權(quán)利要求15所述的光記錄介質(zhì)，其中，所述數(shù)據(jù)區(qū)、導(dǎo)入?yún)^(qū)和缺陷管理區(qū)被經(jīng)BD-WO標(biāo)準(zhǔn)指定。
19.一種具有用于光學(xué)記錄數(shù)據(jù)到一次性寫入光記錄介質(zhì)或從一次性寫入光記錄介質(zhì)光學(xué)再現(xiàn)數(shù)據(jù)的可編程設(shè)備的系統(tǒng)，該一次性寫入光記錄介質(zhì)包括數(shù)據(jù)區(qū)和與其相鄰設(shè)置的導(dǎo)入?yún)^(qū)，所述可編程設(shè)備包括用于在光記錄介質(zhì)的預(yù)定記錄扇區(qū)中寫入數(shù)據(jù)之后，檢測在預(yù)定記錄扇區(qū)中缺陷的存在的裝置；用于通過在指定給光記錄介質(zhì)的數(shù)據(jù)區(qū)的備用區(qū)中寫入數(shù)據(jù)，且在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中寫入作為臨時缺陷列表信息的定位符信息來替換寫在缺陷記錄扇區(qū)中的數(shù)據(jù)的裝置，該定位符信息表示缺陷記錄扇區(qū)；和用于在指定到光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域中寫入用于訪問臨時缺陷列表信息的寫入位置信息和用于確定對寫入位置信息的訪問的標(biāo)識信息作為光盤定義結(jié)構(gòu)信息的裝置，用于在缺陷管理區(qū)域?qū)懭胱鳛槿毕萘斜硇畔⒌呐R時缺陷列表信息，和用于訪問缺陷列表信息的寫入位置信息的最終值的裝置；和用于設(shè)置標(biāo)識信息為表示光盤結(jié)束的值并將該值寫在缺陷管理區(qū)域中的裝置，其中該設(shè)置的標(biāo)識信息確定對最終寫入位置信息的訪問，并且其中設(shè)置的標(biāo)識信息和最終寫入位置信息被包括在光盤定義結(jié)構(gòu)信息中。
20.如權(quán)利要求19所述的系統(tǒng)，所述可編程設(shè)備進(jìn)一步包括用于通過從缺陷管理區(qū)域中的光盤定義結(jié)構(gòu)信息搜索指定給光記錄介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)的缺陷管理區(qū)域，并檢測和檢查表示光盤結(jié)束狀態(tài)的標(biāo)識信息來識別光盤結(jié)束狀態(tài)的裝置；用于基于標(biāo)識信息，選擇性地搜索光盤定義結(jié)構(gòu)信息中的缺陷列表信息或臨時缺陷列表信息的寫入位置的裝置；和用于基于選擇性搜索的缺陷列表信息和臨時缺陷列表信息，對于缺陷區(qū)域執(zhí)行替換寫入操作或正常再現(xiàn)操作的裝置。
21.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟在光記錄介質(zhì)的指定的記錄扇區(qū)中記錄用于分別訪問光記錄介質(zhì)的缺陷列表(DFL)和光記錄介質(zhì)的臨時缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；當(dāng)光記錄介質(zhì)不處在光盤結(jié)束狀態(tài)時，搜索TDFL寫入位置信息以在臨時缺陷列表中寫入缺陷管理信息；和當(dāng)光記錄介質(zhì)處在光盤結(jié)束狀態(tài)時，搜索DFL寫入位置信息以從缺陷列表中讀取缺陷管理信息。
22.一種用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法，其包括步驟首先在光記錄介質(zhì)的第一指定的記錄扇區(qū)中記錄用于訪問臨時缺陷列表(TDFL)的寫入位置信息；根據(jù)TDFL寫入位置信息在臨時缺陷列表中寫入缺陷管理信息；在光記錄介質(zhì)的第二指定的記錄扇區(qū)中第二次記錄用于訪問缺陷列表(DFL)的寫入位置信息；和根據(jù)DFL寫入位置信息從缺陷列表中讀取缺陷管理信息，其中當(dāng)光記錄介質(zhì)不在光盤結(jié)束狀態(tài)時執(zhí)行所述第一記錄步驟，且當(dāng)光記錄介質(zhì)在光盤結(jié)束狀態(tài)時執(zhí)行所述第二記錄步驟。
全文摘要
本發(fā)明提供了用于管理一次性寫入光記錄介質(zhì)的缺陷區(qū)域的方法及使用該方法的光記錄介質(zhì)。在用于使用比如BD－WO類型光盤的光盤記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤設(shè)備中，該方法允許通過用于記錄缺陷區(qū)域的數(shù)據(jù)的替換寫入操作，來正常讀取和再現(xiàn)寫在光盤的缺陷區(qū)域上的記錄數(shù)據(jù)。當(dāng)在記錄處理期間在光盤的預(yù)定記錄扇區(qū)中檢測到缺陷時，將記錄數(shù)據(jù)寫在對應(yīng)于缺陷區(qū)域的備用區(qū)上，并因此管理寫入數(shù)據(jù)。
文檔編號G11B20/10GK1739158SQ200380108780
公開日2006年2月22日 申請日期2003年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2003年1月14日
發(fā)明者樸容徹, 金成大 申請人:Lg電子株式會社