專利名稱：光盤裝置和光盤處理方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光盤裝置，尤其是一種光盤裝置和一種處理光盤抖動信號的方法。
背景技術：
最近幾年，光盤裝置得到了發(fā)展并且被廣泛的使用。甚至在這個技術領域中，也需要高標準的技術。該領域的技術之一是通過檢測光盤上提供的前凹槽來利用對應于所述抖動前凹槽產生的抖動時鐘。
在與抖動時鐘信號有關的早期的技術(Jpn.Pat.Appln.KOKAIPublication No.2002-260237)中公開了一個例子，在該例子中即使形成一個區(qū)域預凹點(Land pre-pit)同時該區(qū)域預凹點偏向于區(qū)域的內軌或者外半徑時，光束點的位置可以準確的被控制在一個信息記錄軌道的中心部分。Jpn.Pat.Appln.KOKAIPublication No.2002-260237是應用檢測抖動信號來實現(xiàn)光束點變換的位置控制，并且它是利用抖動信號(進行處理)的現(xiàn)有技術。
然而，上面說明的現(xiàn)有技術存在一個問題，就是它沒有涉及檢測那些沒有提供首標(header)的光盤中的可變頻率振蕩器(VFO)，比如在一些像下一代DVD(多功能數(shù)字光盤)-RAM(隨機存取存儲器)等。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目標是提供一種光盤裝置和光盤處理方法，它通過檢測抖動信號的相位反轉點來檢測下陷位置(sink position)，并在檢測振蕩到的下陷位置的基礎上估計VFO在光盤上的位置，并且進行射頻信號以及類似信號的調整。
根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種光盤裝置，它包括一個發(fā)生單元，它根據(jù)從光盤檢測到的反射光柱產生對應于抖動槽的抖動信號或對應于光盤上的存儲信息的RF信號；一個檢測單元，它根據(jù)發(fā)生單元產生的抖動信號對指示光盤上預定位置的檢測信號進行檢測；一個調整單元，它以檢測單元的檢測信號的時序為基礎來調整射頻信號；一個處理單元，它根據(jù)已經通過調整單元調整的射頻信號來重現(xiàn)光盤上的存儲信息。
在根據(jù)上述方面的光盤裝置中，甚至包括如下一代DVD-RAM等沒有提供首標的或者類似的情況，為了準確的識別光盤上的VFO的位置，檢測下陷位置是通過檢測例如抖動信號的相位反轉點是6T，4T和6T，并且VFO在光盤上的位置是根據(jù)下陷位置的檢測進行估計的。進一步，有可能提供一種光盤裝置和光盤處理方法來調整射頻信號的能級或者進行射頻信號的時序調整。


圖1是本發(fā)明一個實施例的光盤裝置的框圖；圖2是本發(fā)明一個實施例的光盤裝置的另一個框圖；圖3是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置檢測到的下陷和VFO之間的關系的說明圖；圖4是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置檢測到的下陷和相位反轉之間的關系的說明圖；圖5是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置控制的射頻信號能級調整的圖解說明；并且圖6A和圖6B是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置控制的射頻信號調整的時序圖解說明。
具體實施例方式
下面將結合附圖詳細說明本發(fā)明的一個具體實施例的光盤裝置。圖1是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置的框圖；圖2是本發(fā)明的另一個實施例的光盤裝置的框圖；圖3是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置檢測到的下陷和VFO之間的關系的說明圖；圖4是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置檢測到的下陷和相位反轉之間的關系的說明圖；圖5是本發(fā)明的一個實施例的光盤裝置控制的射頻信號能級調整的圖解說明；并且，圖6A和圖6B是本發(fā)明的一種實現(xiàn)的光盤裝置控制的射頻信號調整的時序圖解說明。
根據(jù)本發(fā)明的光盤裝置(基本結構和操作)圖1，本發(fā)明的一個實現(xiàn)光盤裝置A包括存儲區(qū)域-只讀存儲器20和一個隨機存儲器21，和控制整個操作的系統(tǒng)控制單元22。光盤裝置A還包括一個驅動系統(tǒng)的旋轉電機M，這個電機將光盤D旋轉預定的轉數(shù)；還包括一個伺服控制單元12。進一步，光盤裝置A還包括一個拾取頭PUH，它向光盤D上寫入和讀取信息。拾取頭PUH上還包括一個物鏡L；一個光電探測器PD，比如四通道光電探測器；一個發(fā)射激光光束的激光二極管LD。
伺服控制單元12與伺服控制系統(tǒng)15的處理電路連接。伺服控制系統(tǒng)15的處理電路包含一個物鏡引導電路，一個焦距控制電路，一個物鏡驅動信號開關，一個物鏡驅動電路，一個抖動信號檢測器和其它沒有標明的部分。伺服控制系統(tǒng)15的處理電路執(zhí)行焦距的縮進等操作。
光盤裝置A還包括一個前置放大器11，從拾取頭PUH的光電探測器PD得到的檢測信號就進入11；一個射頻電路16，從前置放大器11輸出的信號被加到16；一個抖動PLL電路26。射頻電路16包括一個數(shù)據(jù)處理單元18，這個單元將從外部獲得的將要記錄的信號和從拾取頭PUH檢測到的檢測信號進行調制/解調處理或者糾錯碼處理。數(shù)據(jù)處理單元18與提供工作域的隨機存儲器(RAM)19和(I/F)接口25相連接，(I/F)接口25進行光盤裝置A與外部設備的信號交換。
數(shù)據(jù)處理單元18包括能級調整單元41，它對由射頻電路16得到的信號進行能級調整；時序調整單元42，它調整射頻信號的時序。進一步，在框圖2所示的光盤裝置的另一個實施例中，數(shù)據(jù)處理單元18包括記錄起始控制單元43。
本發(fā)明特性之一的抖動控制單元26包括推挽式電路27，從前置放大器11出來的信號(A、B、C和D)都送入27；帶通濾波器28，推挽式電路27的信號就進入28；抖動PLL電路29，帶通濾波器28的輸出信號進入電路29；下陷檢測電路30，帶通濾波器28的信號進入30；調速輪計數(shù)器31，下陷電路30和抖動PLL29的信號都進入31；能級調整起始發(fā)生單元32和時序調整起始發(fā)生單元33。在能級調整起始發(fā)生單元32和時序調整起始發(fā)生單元33中，每一個起始信號都由調速輪計數(shù)器31輸出。進一步，在圖2中，抖動控制單元26在調速輪計數(shù)器后續(xù)階段中包括一個下陷計數(shù)器35。下陷計數(shù)器35通過計數(shù)下陷次數(shù)來準確地檢測VFO的位置。
在以上結構中，系統(tǒng)控制單元22使用隨機存儲器21作為工作域來執(zhí)行記錄在隨機存儲器20中的包括本發(fā)明的程序中的預定操作。光盤D由拾取頭PUH所發(fā)出的光束照射，從光盤D的反射光束由前置放大器11轉換成電信號，電信號通過射頻電路16進入數(shù)據(jù)處理單元18。
物鏡引導電路、焦距控制電路、物鏡驅動信號開關、物鏡驅動電路、抖動信號檢測器和其它電路沒有標明卻包含在伺服控制系統(tǒng)15中，執(zhí)行焦距的縮進等操作。
在數(shù)據(jù)寫入操作中，利用寫入通道電路(沒有標出)產生的寫入時鐘，數(shù)據(jù)處理單元18給通過接口I/F25向數(shù)據(jù)中加入一個錯誤檢測碼(EDC)和一個標識(ID)；執(zhí)行數(shù)據(jù)擾亂操作以穩(wěn)定伺服系統(tǒng)；給數(shù)據(jù)加入糾錯碼ECC；并且給數(shù)據(jù)加入同步信號。進一步，數(shù)據(jù)處理單元18調制除同步信號以外的信號并且將同步信號以外的信號送入一個寫入功率控制單元(沒有標出)。除同步信號以外的信號由激光二極管驅動電路(沒有標出)通過對應于媒質的最優(yōu)的策略寫入到媒質上。
在執(zhí)行數(shù)據(jù)讀出操作時，來自拾取頭PUH的檢測信號由前置放大器11放大，并且由射頻電路16產生的射頻信號通過最優(yōu)均衡器傳輸?shù)阶x緩沖區(qū)(沒有標出)和PLL電路(沒有標出)。通道數(shù)據(jù)和由PLL電路產生的讀出時鐘一起從讀緩存中讀出。在已經讀出的數(shù)據(jù)中，同步符號數(shù)據(jù)由數(shù)據(jù)處理單元18讀出。然后，進行糾錯和光盤擾亂后，通過接口I/F25輸出到外部設備或者其它類似的設備。
VFO檢測處理(概述)下面對應附圖，將詳細闡述根據(jù)本發(fā)明的抖動控制單元26進行的對碟上的VFO的檢測操作以及其他操作。
下一代DVD-RAM或者類似的沒有提供首標。因此，在有些時候，對VFO區(qū)域的檢測也有可能變得困難。在進行抖動地址編碼的RAM盤中，如圖3所示，可能通過確定抖動的下陷SNK位置來估計位于一個段SG的前端的VFO區(qū)域。
當一個下陷模式SNK由抖動信號W檢測出來時，檢測的下陷模式SNK的時序能完成射頻信號處理系統(tǒng)的啟動。由于從VFO部分開始的部分是其中記錄新開始的部分，如圖3的箭頭所示，從抖動的下陷時序起有預定的延時，并且用于起始的信號在VFO部分的起始的位置輸出。
從抖動信號W檢測特定的下陷信號的過程將對照圖3和圖4來詳細說明。從抖動下陷開始并有地址數(shù)據(jù)跟隨的一個循環(huán)被稱作一個抖動單元。
在這個磁盤系統(tǒng)中?！?”和“1”由反轉抖動信號的相位來表示。一個抖動溝槽，如圖4所示，有4個相位反轉點，并且相位反轉點之間的間隔分別是6個周期，4個周期，6個周期以此反復。假設下陷模式定義為6個周期“1”，4個周期“0”，以及6個周期“1”，則可能通過測量相位反轉點的位置來測量下陷位置。
(配置和操作)下面詳細介紹的配置和操作有下陷和VFO的檢測、根據(jù)表明VFO位置的時序信號的射頻信號的調整，以及記錄過程的控制。
抖動，即溝槽在光盤D上徑向振動的形式，使得抖動成為取得讀通道信號處理的時間基礎的線索，其中讀通道信號處理諸如根據(jù)光盤的線性速率的變化生成寫時鐘。在光盤裝置中，當處理時鐘與抖動信號同步時，抖動信號周期被再現(xiàn)，并且生成處理時鐘。如上所述，物理地址的下陷和用來檢測物理地址的下陷都由溝槽中的相位調制來編碼，其中處理抖動。
由激光二極管LD發(fā)射的激光束通過物鏡L聚焦在磁盤的表面，基于反射光柱的檢測信號被導入光電檢測器PD。光電檢測器PD包括諸如一個四分光學接受面，光電檢測器PD根據(jù)衍射方向來區(qū)分光強。由于光接受表面的輸出是非常小的電流，這些輸出由前置放大器11放大到大的電壓以便于之后進一步處理。
前置放大器11的輸出信號被分開，其中的一路被輸入到射頻電路16。在射頻電路16中進行從讀通道讀取射頻信號的附加操作，并且產生的射頻信號提供給數(shù)據(jù)處理單元18。射頻信號被提供給能級調整單元41，它包含在數(shù)據(jù)處理單元18里。能級調整單元的輸出提供給時序調整單元42。
起始信號由抖動控制單元26中的能級調整起始發(fā)生單元32提供給能級調整單元41，并且起始信號也由時序調整起始發(fā)生單元33提供給時序調整單元42。因此，射頻信號的能級處理和時序處理由適當?shù)臅r序來執(zhí)行(通過和VFO同步)。
圖5展示了射頻信號的能級調整單元41進行的調整，圖6A和圖6B展示了時序調整單元42進行的調整。圖5中，在直流拉入之前的射頻信號S1通過能級調整單元41的調整變換為直流拉入之后的射頻信號S2。正如從圖5可以看出的，射頻信號S2被準確的調整到A/D轉換器輸入電壓范圍的最大和最小電壓的中心。時序的調整由與記錄數(shù)據(jù)起始處的VFO位置同步的時序完成。
如圖6A和圖6B所示，雖然鎖定前的射頻信號S3的時序與PLL時鐘C偏移，通過調整單元42的調整鎖定之后射頻信號S4與時鐘C同步。其中進行時序調整的時序是由與記錄數(shù)據(jù)起始處的VFO位置同步的時序完成。
在合適的時間能級和時序都被調整的射頻信號被用于校正處理和隨后的類似步驟，并且執(zhí)行合適的處理。因此，即使在像下一代DVD-RAM等沒有提供首標的情況下，再現(xiàn)處理也可以在最優(yōu)時序下完成，這樣，下陷及其類似的信號從抖動信號中識別出來，VFO的位置在檢測到的下陷的時序中估計出來。
由圖2所示，起始記錄控制起始發(fā)生單元34接收與VFO相應的時序信號來提供起始記錄控制起始信號給在數(shù)據(jù)處理單元18里面的記錄起始控制單元43。這就使得對給定信息的記錄過程安全可靠的完成，而且記錄處理與VFO同步。
(下陷信號的檢測和起始信號的生成)下面，對照圖1和圖2，將對抖動信號的下陷的檢測和起始信號的生成進行詳細的說明。前置放大器11的輸出也是推挽式電路27的輸入。在推挽式電路27中的推挽信號由前置放大器11的輸出信號操作生成，其中所述推挽信號指示了溝槽的徑向衍射光束的均衡。抖動信號的頻率和相位的檢測和地址數(shù)據(jù)下陷的檢測是通過獲得光盤D上的溝槽抖動狀態(tài)來完成，這個狀態(tài)顯現(xiàn)在推挽信號中。
在由推挽電路27產生的推挽信號中，一部分不必要的讀通道射頻信號和不必要的直流部分被帶通濾波器28衰減。然后，推挽信號以抖動信號W的形式被提供給抖動PLL電路29和下陷檢測器30，抖動信號W與抖動溝槽的變化充分地對應。
在抖動PLL電路29中，接近于純抖動時鐘(鎖定的抖動信號)的抖動PLL信號WPLL在抖動信號W的基礎上同步振蕩，其中信噪比不理想并且包含讀通道射頻信號和類似信號。由于抖動PLL信號WPLL有一個受PLL影響的調速輪效應，即使抖動是下陷或者尋址完成的抖動相位調制，抖動PLL信號WPLL能夠繼續(xù)振動而同時抖動PLL信號WPLL保持基本相位。抖動PLL信號WPLL提供抖動信號的一個周期的長度的信息給下陷檢測器30和調速輪計數(shù)器31。
在整個的光盤系統(tǒng)中，抖動頻率被乘以固定的數(shù)字用來在記錄過程中產生一位的時鐘，或者作為射頻信號再現(xiàn)處理的頻率信息。但是，對這一部分的描述這里忽略。
通過接收由帶通濾波器28提供的抖動信號W和由抖動PLL電路29提供的抖動PLL信號WPLL，下陷檢測器30確定了下陷位置，如上所定義的方式。也就是說，由圖3和圖4所示，在帶通濾波器28提供的抖動信號W中在相位反轉的基礎上檢測下陷，下陷檢測器30通過相位反轉點和抖動周期檢測到關于鎖定抖動的相位的鎖定抖動的波長單元中的6T，4T和6T的相位反轉，并且下陷檢測器30在相位反轉的基礎上檢測下陷。當下陷檢測器30檢測下陷的時候，它產生一個標記，并且這個標記輸入到調速輪計數(shù)器31。
調速輪計數(shù)器31產生抖動的周期的信號(鎖定抖動)直到通過計數(shù)抖動周期信號檢測到下一個抖動。例如下陷一般以1500個周期抖動間隔出現(xiàn)。
調速輪計數(shù)器31用來記錄下陷間隔中抖動周期的個數(shù)。因此，即使下陷檢測器30由于噪音或者其它的影響沒能檢測出下陷，下陷檢測信號也可以在隨后階段通過調速輪計數(shù)器31的操作被準確的提供給能級調整起始發(fā)生單元32、時序調整起始單元33和起始記錄控制起始發(fā)生單元34。如圖3所示，即使在VFO和下陷之間預定的間隔已經存在的情況下，與VFO相應的時序信號也可以通過調速輪計數(shù)器31的延遲功能準確的提供給下一階段。
進一步，比如在下一代DVD-RAM中，提供圖2所示的下陷計數(shù)器單元35在調速輪計數(shù)器31的后一級，能對應于在每7個下陷里有一個VFO的情況。也就是說，當使用來自調整輪計數(shù)器31的下陷檢測信號來從最后的VFO位置開始計數(shù)下陷，可以確認下一個VFO位置位于第7個下陷計數(shù)的位置。因此，即在多個下陷都對應于一個VFO的情況，和VFO或者類似的信號同步的時序信號都可以通過下陷計數(shù)器單元35在隨后階段被安全的提供給能級調整起始發(fā)生單元32、能級調整起始發(fā)生單元33、和起始記錄控制起始發(fā)生單元34。
即使在像下一代DVD-RAM沒有提供首標的情況下，抖動信號的下陷可以通過本發(fā)明的光盤裝置的抖動控制電路檢測，并且射頻信號的能級調整和時序調整也可以在對應于VFO的時序來完成。
盡管用這些成熟的技術可將本發(fā)明進行不同的實現(xiàn)，但是也可以簡單易行的對具體的部分進行修改，并且可以不用多少創(chuàng)造力就可以使本發(fā)明應用于不同的模式。
綜上所述，即使在像下一代DVD-RAM等沒有提供首標的情況下，本發(fā)明提供了這個光盤裝置和光盤抖動信號的處理方法，就是通過利用抖動控制單元、能級調整單元來檢測下陷信號，并且射頻信號的時序調整單元能夠以對應于VFO的時序來完成。
權利要求
1.一個光盤設備，其特征在于包括一個發(fā)生單元(PUH、11和27)，其根據(jù)從光盤上檢測的反射光束產生和抖動溝槽相對應的抖動信號或者和光盤上存儲的信息相對應的射頻信號；一個檢測單元(30)，它根據(jù)發(fā)生單元產生的抖動信號檢測指示光盤上的預定位置的檢測信號；一個調整單元(41)，它根據(jù)檢測單元檢測的檢測信號的時序來調整射頻信號；和一個處理單元(18)，它根據(jù)由調整單元調整的射頻信號來再現(xiàn)存儲在光盤上的信息。
2.權利要求1中的光盤設備的特征為調整單元產生一個用于調整射頻信號能級的起始信號，并且根據(jù)該起始信號調整射頻信號的能級。
3.權利要求1中的光盤設備的特征為調整單元產生用于調整射頻信號時序的所述起始信號，并且根據(jù)該起始信號調整射頻信號的時序。
4.權利要求1中的光盤設備，特征在于其還包括一個記錄起始控制單元(43)，它根據(jù)檢測單元檢測的檢測信號的時序來控制記錄起始，一個記錄單元(18和LD)，它對應于起始控制單元控制的一個給定信號在光盤的一個存儲域內執(zhí)行記錄。
5.權利要求1中的光盤設備，特征為檢測單元通過檢測由發(fā)生單元產生的抖動信號中的每預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測預定位置的下陷。
6.權利要求1中的光盤設備，特征為檢測單元包括一個下陷檢測單元(30)，當由發(fā)生單元產生的抖動信號有第一個相位反轉點、與第一個相位反轉點相隔6個抖動的第二個相位反轉點、與第二個相位反轉點相隔4個抖動的第三個相位反轉點、與第三個相位反轉點相隔6個抖動的第四個相位反轉點時，下陷檢測單元將檢測到的相位反轉點作為下陷。
7.權利要求1中的光盤設備，特征為檢測單元包括一個下陷檢測單元(30)，它通過檢測由發(fā)生單元產生的抖動信號中的每所述預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測下陷，以及一個調速輪計數(shù)器(31)，其把經過所述預定數(shù)目抖動的點識別為所述下陷檢測單元檢測的下陷之后的下一個下陷。
8.權利要求1中的光盤設備，特征為檢測單元還包括一個下陷檢測單元(30)，它通過檢測由發(fā)生單元產生的抖動信號中的每所述預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測下陷，以及下陷計數(shù)器(35)，它計數(shù)從預定位置起由下陷檢測單元檢測的下陷的數(shù)目，并確定當所述下陷的數(shù)目為某一個數(shù)值時的下陷位置是下一個預定位置。
9.一個光盤設備，特征在于包括一個發(fā)生單元(PUH、11和27)，其根據(jù)從光盤上檢測反射光束產生和抖動溝槽相對應的抖動信號或者和光盤上的存儲信息相對應的射頻信號；一個處理單元(18)，它根據(jù)發(fā)生單元產生的抖動信號來調整射頻信號。
10.權利要求9中的光盤設備，特征為處理單元根據(jù)抖動信號調整射頻信號的能級和時序之一。
11.一種光盤處理方法，其特征在于包括根據(jù)從光盤上檢測的反射光束產生和抖動溝槽相對應的抖動信號或者和光盤上的存儲信息相對應的射頻信號；根據(jù)抖動信號檢測指示了光盤上預定位置的檢測信號；根據(jù)檢測信號的時序調整射頻信號；根據(jù)調整的射頻信號再現(xiàn)存儲在光盤上的信息。
12.權利要求11的光盤處理方法，特征為產生用來調整射頻信號的能級的一個起始信號，并且根據(jù)該起始信號在調整操作中調整射頻信號的能級。
13.權利要求11的光盤處理方法，特征為產生用來調整射頻信號的時序的一個起始信號，并且根據(jù)該起始信號在調整操作中調整射頻信號的時序。
14.權利要求11的光盤處理方法，還包括在檢測到的檢測信號的時序的基礎上控制記錄起始，以及對應于所述控制的一個給定信號在光盤的一個存儲區(qū)域里執(zhí)行記錄。
15.權利要求11的光盤處理方法，特征為檢測過程中，通過檢測抖動信號中的每預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測預定位置的下陷。
16.權利要求11的光盤處理方法，特征為在檢測當中，當由發(fā)生單元產生的抖動信號有第一個相位反轉點、與第一個相位反轉點相隔6個抖動的第二個相位反轉點、與第二個相位反轉點相隔4個抖動的第三個相位反轉點、與第三個相位反轉點相隔6個抖動的第四個相位反轉點的情況下，這些相位反轉點被檢測為下陷。
17.權利要求11的光盤處理方法，特征為檢測過程中，通過檢測抖動信號中的每所述預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測下陷，以及所述預定數(shù)目的抖動之后的點被識別為所檢測的下陷之后的下一個下陷。
18.權利要求11的光盤處理方法，特征為檢測過程中，通過檢測抖動信號中的每所述預定數(shù)目抖動周期中的相位反轉點來檢測下陷，以及從所述預定位置計數(shù)下陷的數(shù)目，并且確定下陷的數(shù)目為某一個數(shù)值時的下陷位置是下一個預定位置。
19.權利要求11的光盤處理方法，特征在于包括根據(jù)從光盤檢測出的反射光束產生和抖動溝槽相對應的抖動信號或者和光盤上的存儲信息相對應的射頻信號；根據(jù)抖動信號調整射頻信號。
20.權利要求19的光盤處理方法，特征為在調整過程中射頻信號的能級和時序中至少有一個根據(jù)抖動信號被調整。
全文摘要
本發(fā)明是一個光盤裝置，包括一個發(fā)生單元(PUH，11和27)，它產生一個射頻信號和從光盤檢測到的抖動信號；一個檢測單元(30)，它可通過抖動信號檢測下陷或者光盤的VFO。一個調整單元(41)，它利用檢測單元的檢測信號的時序來調整射頻信號。還包括一個處理單元(18)，它再現(xiàn)由調整單元調整過的射頻信號。在本發(fā)明的光盤中，即使在像下一代DVD－RAM一樣沒有提供首標的情況下，對射頻信號的調整及其類似操作也可以通過識別VFO的位置來容易地實現(xiàn)。
文檔編號G11B20/14GK1573972SQ200410032950
公開日2005年2月2日 申請日期2004年4月16日 優(yōu)先權日2003年5月30日
發(fā)明者吉岡容 申請人:株式會社東芝