專利名稱：：頭部位置控制用校正表創(chuàng)建方法、頭部位置控制方法及盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及用于對(duì)控制頭部對(duì)于旋轉(zhuǎn)盤的位置、從盤讀取信息和/或向盤寫(xiě)入信息的盤裝置進(jìn)行頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，并且涉及頭部位置控制方法及其盤裝置，更具體地，涉及一種用于對(duì)盤和位置信號(hào)的旋轉(zhuǎn)同步成分進(jìn)行校正的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，以及一種頭部位置控制方法及其盤裝置。
背景技術(shù)：
：用于向旋轉(zhuǎn)的盤介質(zhì)記錄數(shù)據(jù)并從其中再現(xiàn)數(shù)據(jù)的盤存儲(chǔ)裝置被廣泛用作數(shù)據(jù)存儲(chǔ)裝置。盤裝置包括用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的盤、用于使盤旋轉(zhuǎn)的主軸電機(jī)、用于向盤記錄信息/從盤中再現(xiàn)信息的頭部以及用于將頭部移動(dòng)到目標(biāo)位置的致動(dòng)器。典型的示例是磁盤裝置(HDD硬盤驅(qū)動(dòng)裝置)和光盤裝置(DVD-ROM、MO)。在磁盤裝置中，將用于檢測(cè)頭部位置的多個(gè)位置信號(hào)記錄在盤上的相對(duì)于旋轉(zhuǎn)中心的弧中，并在盤上形成軌道。位置信號(hào)包括伺服標(biāo)記、軌道號(hào)(格雷碼)以及偏移信息?？梢酝ㄟ^(guò)軌道號(hào)和偏移信息來(lái)獲得頭部的當(dāng)前位置。確定該位置信息和目標(biāo)位置之間的差，根據(jù)該偏移量來(lái)進(jìn)行計(jì)算，并且提供用于驅(qū)動(dòng)致動(dòng)器的驅(qū)動(dòng)信號(hào)，例如用于VCM(音圈電機(jī))的電流和用于電伸縮(electro-strictive)致動(dòng)器的電壓。盤上的位置信號(hào)(伺服信號(hào))是由盤裝置自身記錄的(STW(伺服軌道寫(xiě)入)方法)，或者是由外部STW裝置記錄的。通過(guò)盤裝置自身來(lái)記錄位置信號(hào)的STW方法包括推針STW、自伺服寫(xiě)入和重寫(xiě)STW。通過(guò)外部STW裝置來(lái)進(jìn)行記錄的方法包括在盤、磁性轉(zhuǎn)移和非連續(xù)介質(zhì)上進(jìn)行記錄的方法。為了精確地記錄并再現(xiàn)數(shù)據(jù)，需要將頭部置于從位置信號(hào)解調(diào)出的位置。然而，該位置信號(hào)包括噪聲，噪聲會(huì)降低定位精度。這種噪聲具有與主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)同步的成分，以及與旋轉(zhuǎn)不同步的成分?？梢詼y(cè)量并校正與旋轉(zhuǎn)同步的成分，并且如果時(shí)間允許進(jìn)行充分測(cè)量則可以將該成分抑制為零。另一方面，對(duì)于與旋轉(zhuǎn)不同步的成分，測(cè)量和校正較困難。已經(jīng)提出了對(duì)與旋轉(zhuǎn)同步的成分進(jìn)行測(cè)量和校正的各種方法。在沒(méi)有從外部受到振動(dòng)的狀態(tài)下，有兩個(gè)原因?qū)е略谖恢眯盘?hào)中產(chǎn)生與主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)同步的成分。第一個(gè)原因是，在STW過(guò)程中未精確地以同心方式來(lái)記錄伺服信號(hào)。只要該伺服信號(hào)是機(jī)械記錄的，則在記錄過(guò)程中的機(jī)械、電和磁噪聲就是不可避免的。因此，在STW過(guò)程中同心地精確記錄伺服信號(hào)是極其困難的。第二個(gè)原因是在STW之后盤和主機(jī)會(huì)發(fā)生變形。具體地說(shuō)，位置信號(hào)并沒(méi)有相對(duì)于主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)中心而同心對(duì)齊。當(dāng)前盤驅(qū)動(dòng)裝置的軌道寬度大約為200nm，所以即使是定位精度的輕微變形，影響也是極大的。將與旋轉(zhuǎn)同步的位置信號(hào)的波動(dòng)成分稱為“偏心率”或者RRO(可重復(fù)偏轉(zhuǎn)(RepeatableRunOut))，并且將旋轉(zhuǎn)頻率一倍的成分稱為“一次”，而將旋轉(zhuǎn)頻率二倍的成分稱為“二次”。如果出現(xiàn)RRO，則頭部的定位精度降低，這在讀取和再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。例如，如果定位精度較差，則當(dāng)將數(shù)據(jù)記錄在軌道上時(shí)，原先記錄在相鄰軌道上的一部分?jǐn)?shù)據(jù)被改寫(xiě)。為了防止這種狀態(tài)，在定位控制中必須對(duì)RRO進(jìn)行控制。傳統(tǒng)上可獲得的控制RRO的方法是控制致動(dòng)器不跟從RRO而是將其忽略的方法，如圖38所示，以及控制致動(dòng)器以跟從RRO的方法，如圖40所示。圖38和圖40示出了頭部位置控制系統(tǒng)的框圖，其中作為要施加給控制系統(tǒng)的擾動(dòng)，將與主軸電機(jī)的旋轉(zhuǎn)同步的成分和與旋轉(zhuǎn)不同步的成分表示為RRO、NRRO、RPE和NRPE。RRO(可重復(fù)偏轉(zhuǎn))是與旋轉(zhuǎn)同步的位置擾動(dòng)成分。NRRO(非可重復(fù)偏轉(zhuǎn))是與旋轉(zhuǎn)不同步的位置擾動(dòng)成分。RPE(可重復(fù)位置誤差)是在進(jìn)行定位控制時(shí)包含在位置誤差‘e’中的與旋轉(zhuǎn)同步的成分。而NRPE(非可重復(fù)位置誤差)是在進(jìn)行定位控制時(shí)包含在位置誤差‘e’中的與旋轉(zhuǎn)不同步的成分。與旋轉(zhuǎn)同步的成分RRO和RPE表示在各個(gè)伺服抽樣處的不同值。為了進(jìn)行定位控制，需要知道RRO、RPE和RPE+RRO，并且需要使所有這三個(gè)值達(dá)到最小。RRO表示盤上的軌道變形。其中與相鄰軌道RRO的差是關(guān)鍵的。這個(gè)差值表示軌道寬度的波動(dòng)。隨著差值的波動(dòng)寬度變寬，軌道間隔的波動(dòng)變大，換言之，產(chǎn)生了軌道寬度變窄的區(qū)域。當(dāng)從外部施加了振動(dòng)并且定位精度劣化的情況時(shí)，該RRO確定在相鄰軌道的數(shù)據(jù)記錄區(qū)域上出現(xiàn)改寫(xiě)的寬度。換言之，抑制RRO有助于提高抗外部振動(dòng)的性能。RPE表示與定位目標(biāo)的位移。如果進(jìn)行控制僅為了跟從RRO，則RPE表示與RRO的偏差。在通常的定位控制中，RPE是管理目標(biāo)。例如，如果RPE包含在與軌道寬度相差正/負(fù)15％的范圍中，或者如果對(duì)于預(yù)定數(shù)量的抽樣持續(xù)這種狀態(tài)，則可以進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，或者判斷尋道控制是否完成(完成整定)。換言之，抑制RPE有助于縮短尋道響應(yīng)時(shí)間。(RPE+RRO)表示在沒(méi)有從外部施加振動(dòng)的狀態(tài)下致動(dòng)器的軌跡。即，(RPE+RRO)表示當(dāng)來(lái)自外部的振動(dòng)為零時(shí)的數(shù)據(jù)記錄位置。因此，抑制(RPE+RRO)有助于提高在外部振動(dòng)較低的通常操作狀態(tài)下的定位精度以及降低記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤率。在圖38和圖40中，通過(guò)使用目標(biāo)位置r、RRO、NRRO、控制系統(tǒng)的傳遞函數(shù)C(z)以及設(shè)備(在磁盤裝置的情況下為致動(dòng)器)的傳遞函數(shù)P(z)的以下關(guān)系式(1)來(lái)表示實(shí)際位置‘y’和位置誤差‘e’。y=C(z)·P(z)1+C(z)·P(z)r+11+C(z)·P(z)RRO+11+C(z)·P(z)NRRO---(1)]]>e＝y(tǒng)-r現(xiàn)在將考慮當(dāng)目標(biāo)位置‘r’總是相同并且沒(méi)有從外部施加振動(dòng)時(shí)，在軌道跟從過(guò)程中的狀態(tài)。在表達(dá)式(1)中所示的對(duì)于‘y’的表達(dá)式的右手側(cè)的目標(biāo)位置‘r’一項(xiàng)是常數(shù)并且等于所輸入的(目標(biāo)位置)‘r’。因此，得到軌道跟從狀態(tài)下的位置誤差‘e’的表達(dá)式(2)。e=11+C(z)·P(z)RRO+11+C(z)·P(z)NRRO---(2)]]>在該狀態(tài)下的‘e’也是RPE和NRPE之和。因此，在以下表達(dá)式(3)中表達(dá)了RRO和NRRO，以及RPE和NRPE。在這些表達(dá)式中，通常將1/(1+C(z)·P(z))稱為“靈敏度函數(shù)”。RPE=11+C(z)·P(z)RRO]]>NRPE=11+C(z)·P(z)NRRO]]>這樣，在RPE和RRO之間存在靈敏度函數(shù)量的特性差異。換言之，存在取決于頻率的差異。這意味著，即使RRO可以被抑制，也不總是能夠?qū)τ赗PE實(shí)現(xiàn)相同的抑制率。并且，即使可以將RRO抑制50％，也僅能將RPE抑制20％。必須考慮到頻率特性的差異。有兩種抑制RRO的方法，即，一種方法是使致動(dòng)器不跟從RRO，如圖38所示，另一種方法是使致動(dòng)器跟從RRO，如圖40所示。實(shí)際上這兩種方法都可應(yīng)用于盤裝置。也可以使用一種同時(shí)使用這兩種方法的方法。例如，致動(dòng)器在低頻區(qū)域跟從RRO，而在高頻區(qū)域不跟從RRO。圖38示出了致動(dòng)器不跟從RRO的方法。預(yù)先創(chuàng)建用于存儲(chǔ)稱為“RroTable”值的校正表100。當(dāng)對(duì)盤裝置進(jìn)行定位控制時(shí)，從位置誤差‘e’中去除校正表100的RroTable值，并且將結(jié)果用于控制器C(z)。換言之，控制器C(z)根據(jù)去除了RRO的位置誤差來(lái)計(jì)算控制量。這些RroTable值可以根據(jù)頭部、軌道、讀取位置或者寫(xiě)入位置而不同，或者可以對(duì)于各個(gè)頭部或者由多個(gè)軌道形成的各個(gè)區(qū)域相同。一種提出的RroTable生成方法是通過(guò)計(jì)算觀測(cè)位置來(lái)確定RRO的方法。這種計(jì)算方法的示例是使用離散傅立葉變換(DFT)(例如，日本特開(kāi)平11-126444號(hào)公報(bào))。如圖38所示，從位置誤差‘e’產(chǎn)生了作為校正表100的RroTable的位置軌跡，并且去除‘e’中包含的RPE。通過(guò)以下表達(dá)式(4)來(lái)表示此時(shí)的位置誤差‘e’。根據(jù)表達(dá)式(4)，致動(dòng)器進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)以不跟從RRO。e=11+C(z)·P(z)(RRO+NRRO-RroTable)]]>=RPE+NRPE-11+C(z)·P(z)RroTable]]>(4)因此，為了從位置誤差‘e’中去除RPE，生成RroTable以滿足以下表達(dá)式(5)。RroTable＝(1+C(z)·P(z))RPE(5)換言之，如圖38所示，獲取塊110從位置誤差‘e’中獲取RPE，并且RRO計(jì)算塊112通過(guò)靈敏度函數(shù)的反轉(zhuǎn)特性，從所獲取的RPE中確定RroTable值。為了確定盤的多次旋轉(zhuǎn)的平均值，加法塊114將盤的各次旋轉(zhuǎn)的RroTable值相加。圖39是靈敏度函數(shù)的反轉(zhuǎn)特性的頻率特性的示例，其中相對(duì)于頻率的增益和相位特性是不同的。另一方面，在使制動(dòng)器跟從RRO的方法中，預(yù)先創(chuàng)建用于存儲(chǔ)URroTable值的校正表118，如圖40所示。并且，在盤裝置的定位控制過(guò)程中，當(dāng)從控制系統(tǒng)C(z)向設(shè)備P(z)施加驅(qū)動(dòng)信號(hào)時(shí)加入校正表118的URroTable值。該URroTable值也可以根據(jù)頭部、軌道以及讀取位置/寫(xiě)入位置而不同，或者可以對(duì)于各個(gè)頭部和對(duì)于由多個(gè)軌道構(gòu)成的各個(gè)區(qū)域具有一個(gè)值。各個(gè)頭部可以具有與軌道無(wú)關(guān)的多個(gè)URroTable值。對(duì)于這種URroTable生成方法，也提出了一些方法，例如計(jì)算位置誤差‘e’并且確定跟從RRO的信號(hào)的方法。這種計(jì)算方法的示例是使用離散傅立葉變換的方法(例如，參見(jiàn)日本特開(kāi)H11-126444號(hào)公報(bào))。如圖40所示，可以從位置誤差‘e’中生成URroTable值，并且去除‘e’中包含的RPE。如上所述，致動(dòng)器進(jìn)行運(yùn)轉(zhuǎn)以跟從RRO，并且在不施加外部振動(dòng)的軌道跟從狀態(tài)下，位置誤差‘e’滿足以下關(guān)系式(6)。e=11+C(z)·P(z)(RRO+NRRO)+P(z)1+C(z)·P(z)URroTable]]>=RPE+NRPE+P(z)1+C(z)·P(z)URroTable]]>(6)因此，為了從位置誤差‘e’中去除‘RPE’，生成URroTable值，以滿足以下表達(dá)式(7)。表達(dá)式(7)表示通過(guò)具有靈敏度函數(shù)的反轉(zhuǎn)特性和設(shè)備的反轉(zhuǎn)特性的傳遞函數(shù)來(lái)根據(jù)RPE確定URroTable值。URroTable=-1+C(z)·P(z)P(z)RPE---(7)]]>換言之，如圖40所示，由獲取塊110根據(jù)位置誤差‘e’來(lái)獲取RPE，并且由RRO計(jì)算塊112通過(guò)靈敏度函數(shù)的反轉(zhuǎn)特性和設(shè)備的反轉(zhuǎn)特性根據(jù)所獲取的RPE來(lái)確定該URroTable值。如果要確定盤的多次旋轉(zhuǎn)的平均值，則由加法塊116將盤的各次旋轉(zhuǎn)的URroTable值相加。如上所述，根據(jù)觀測(cè)到的RPE來(lái)確定校正表RroTable或者URroTable的方法是通過(guò)諸如(1+C(z)·P(z))或-(1+C(z)·P(z))/P(z)的傳遞函數(shù)來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換。對(duì)于這種轉(zhuǎn)換方法，預(yù)先確定RPE與RRO或URRO之間的頻率特性并且使用離散傅立葉變換(DFT)的方法是在短時(shí)間內(nèi)最精確地確定波形的最佳方法。下面說(shuō)明這種方法。首先對(duì)于最先觀測(cè)到的RPE波形進(jìn)行DFT。假設(shè)旋轉(zhuǎn)一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns。根據(jù)抽樣定理，在此情況下必須考慮的RRO次數(shù)是1至(Nx/2-1)。在將m次的系數(shù)表示為C(m)和S(m)時(shí)，為了對(duì)m次RRO頻率進(jìn)行DFT，用m次的cos波形和sin波形乘以從扇區(qū)No.0到No.(Ns-1)的一周的RPE波形，并將結(jié)果相加。在以下表達(dá)式(8)中表示出計(jì)算系數(shù)C(m)和S(m)的表達(dá)式。C(m)=Σk=0NS-1{RPE(k)·cos(2πmk/NS)}(2/NS)]]>S(m)=Σk=0NS-1{RPE(k)·sin(2πmk/NS)}(2/NS)---(8)]]>然后，為了確定RRO或URRO，對(duì)于各個(gè)RRO次數(shù)乘以傳遞函數(shù)。將要相乘的頻率特性的m次RRO頻率的復(fù)數(shù)值預(yù)先確定為a(m)+jb(m)。具體地，通過(guò)表達(dá)式(5)或表達(dá)式(7)所示的傳遞函數(shù)來(lái)確定m次該頻率的復(fù)數(shù)值。通過(guò)乘以這些特性，可以通過(guò)表達(dá)式(9)將成分的m次表達(dá)為復(fù)數(shù)值。換言之，可以通過(guò)C(m)、S(m)、a(m)和b(m)來(lái)確定C2(m)和S2(m)。C2(m)+jS2(m)＝(C(m)+jS(m))(a(m)+jb(m))＝(C(m)a(m)-S(m)b(m))+j(C(m)b(m)+S(m)a(m))(9)最后，進(jìn)行逆DFT以獲取要確定的波形。從第1次到第(Ns/2-1)次進(jìn)行m次計(jì)算。當(dāng)生成RroTable時(shí)，通過(guò)以下表達(dá)式(10)(在生成URroTable時(shí)也使用相同表達(dá)式)來(lái)確定第q個(gè)扇區(qū)的RRO波形，即RRO(q)。RRO(q)=Σm=1NS/2-1{C2(m)cos(2πmq/NS)+S2(m)sin(2πmq/NS)}---(10)]]>不需要對(duì)于所有的RRO次數(shù)計(jì)算表達(dá)式(10)。例如，為了計(jì)算RRO(q)(即跟從1到4次的RRO而不跟從5次RRO或者更高次的RRO的軌跡)，僅對(duì)于5次或更高次的RRO進(jìn)行計(jì)算，而不進(jìn)行上述計(jì)算以外的計(jì)算，即忽略對(duì)于1次至4次的計(jì)算。通過(guò)這種方式，為了確定RRO或者URRO，有必要通過(guò)表達(dá)式(8)中的DFT將時(shí)間波形RPE轉(zhuǎn)換為頻率單位，通過(guò)表達(dá)式(9)乘以頻率軸的傳遞函數(shù)(靈敏度函數(shù)的逆特性)，并且通過(guò)表達(dá)式(10)的逆DFT，將表達(dá)式(9)中以頻率為單位的相乘結(jié)果轉(zhuǎn)換為時(shí)間波形。目前的軌道密度正在增加，并且隨著對(duì)于存儲(chǔ)容量增長(zhǎng)的需求，要求進(jìn)一步提高定位精度。在生產(chǎn)RRO校正表的傳統(tǒng)方法中，必須對(duì)于各個(gè)測(cè)量軌道依次計(jì)算表達(dá)式(8)、(9)和(10)。由于該DFT和逆DFT計(jì)算包含正弦和余弦計(jì)算，其中包含有涉及正弦和余弦表的處理，所以這耗費(fèi)時(shí)間，而不像簡(jiǎn)單的加/減和乘法。例如，通過(guò)測(cè)量一周軌道旋轉(zhuǎn)的數(shù)據(jù)(RPE)來(lái)計(jì)算表達(dá)式(8)、(9)和(10)，但是為了降低成本，很少使用安裝在磁盤裝置中的算術(shù)處理速度很快的MCU(微控制器單元)。因此，在該計(jì)算處理結(jié)束之前，必須等待下一軌道的測(cè)量，這使得RRO校正表創(chuàng)建時(shí)間更長(zhǎng)。而且隨著最近軌道密度的提高，有時(shí)需要通過(guò)對(duì)于各個(gè)軌道測(cè)量這些參數(shù)來(lái)獲取RRO校正波形和URRO校正波形。例如，在2.5英寸磁盤的情況下，由于軌道密度的提高，在磁盤的一面上創(chuàng)建有大約50,000個(gè)軌道。如果所使用的磁頭是MR頭和寫(xiě)入誘導(dǎo)頭(其中讀寫(xiě)頭是分開(kāi)的)，則在讀取和寫(xiě)入之間頭部位置是不同的，并且必須為一個(gè)軌道提供兩個(gè)校正波形，一個(gè)用于讀取而另一個(gè)用于寫(xiě)入。換言之，對(duì)于磁盤的一面，可能需要對(duì)于100,000個(gè)軌道進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。而且，在裝置具有兩個(gè)磁盤的的情況下，即4個(gè)磁盤面，則需要進(jìn)行400,000個(gè)軌道的測(cè)量和計(jì)算。如上所述，用于計(jì)算RRO和URRO的計(jì)算量是很大的，進(jìn)行處理所使用的程序大小也是很大的，并且MCU上的負(fù)荷較高。這使得當(dāng)在盤裝置的制造步驟中測(cè)量校正值時(shí)，用于滿足定位精度規(guī)格所需的RPE測(cè)量時(shí)間，即用于在制造步驟中創(chuàng)建校正表所需的時(shí)間較長(zhǎng)，這不適用于盤裝置的批量生產(chǎn)。
發(fā)明內(nèi)容鑒于上述情況，本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種創(chuàng)建校正表的方法，其在計(jì)算作為用于校正表的校正值之一的RRO或者URRO時(shí)，降低了計(jì)算負(fù)荷并且在更短時(shí)間內(nèi)滿足定位精度規(guī)格，還提供了一種頭部定位控制方法及其盤裝置。本發(fā)明的另一目的是提供一種校正表創(chuàng)建方法，用于在計(jì)算作為用于校正表的校正值之一的RRO或者URRO時(shí)，即使進(jìn)行與DFT/逆DFT相同的計(jì)算時(shí)，也會(huì)降低計(jì)算負(fù)荷并且在更短時(shí)間內(nèi)滿足定位精度規(guī)格，還提供了一種頭部定位控制方法及其盤裝置。本發(fā)明的另一目的是提供一種校正表創(chuàng)建方法，用于在計(jì)算作為用于校正表的校正值之一的RRO或者URRO時(shí)，即使在計(jì)算多個(gè)軌道的校正值的情況下，也會(huì)在更短時(shí)間內(nèi)創(chuàng)建校正表，還提供了一種頭部定位控制方法及其盤裝置。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的校正表創(chuàng)建方法是一種用于頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，其用于產(chǎn)生對(duì)與盤的旋轉(zhuǎn)同步的成分進(jìn)行校正的校正信號(hào)。該方法包括以下步驟根據(jù)目標(biāo)位置與基于來(lái)自用于至少對(duì)盤進(jìn)行讀取的頭部的位置信號(hào)的檢測(cè)位置之間的位置誤差的平均波形，來(lái)測(cè)量與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分；根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的位置誤差成分生成校正信號(hào)，該濾波函數(shù)是根據(jù)測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率創(chuàng)建的；以及，將該校正信號(hào)存儲(chǔ)在校正表中。本發(fā)明的頭部位置控制方法是如下一種頭部位置控制方法，用于利用信號(hào)來(lái)控制至少對(duì)盤的信息進(jìn)行讀取的頭部的位置，其中所述盤的位置信號(hào)是通過(guò)與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的成分來(lái)校正的。該方法包括如下步驟計(jì)算目標(biāo)位置與基于來(lái)自所述頭部的位置信號(hào)的當(dāng)前位置之間的位置誤差；從存儲(chǔ)校正信號(hào)的校正表中讀取所述校正信號(hào)，該校正信號(hào)是根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分而獲取的，所述濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的；以及，基于所述位置誤差和所述校正信號(hào)來(lái)控制所述頭部位置。本發(fā)明的盤裝置包括頭部，用于至少讀取盤的信息；致動(dòng)器，用于將所述頭部移動(dòng)到所述盤上的期望位置；校正表，用于存儲(chǔ)根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分而獲取的校正信號(hào)，所述濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的；以及控制單元，用于基于來(lái)自所述頭部的所述位置信號(hào)來(lái)計(jì)算目標(biāo)位置與當(dāng)前位置之間的位置誤差，并且基于所述位置誤差和所述校正信號(hào)來(lái)控制所述頭部的位置。在本發(fā)明中，優(yōu)選地，所述生成步驟進(jìn)一步包括通過(guò)使用所創(chuàng)建的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)的一部分來(lái)生成所述校正信號(hào)的步驟。在本發(fā)明中，優(yōu)選地，所述生成步驟還包括以下步驟通過(guò)由以下表達(dá)式(13)定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)來(lái)生成校正信號(hào)RRO，其中RPE是位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性。RRO(q)=Σk=0NS-1RPE(k)F(k-q)]]>F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}(2/NS)---(13)]]>在本發(fā)明中，優(yōu)選地，所述生成步驟還包括通過(guò)由以下表達(dá)式(37)所定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)來(lái)生成校正信號(hào)RRO的步驟，其中RPE是位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性，，而Krro(m)是所述校正表的加法增益。F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}Krro(m)---(37)]]>x＝0，1，…，(Ns-1)優(yōu)選地，本發(fā)明還包括以下步驟測(cè)量所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性，并且根據(jù)所測(cè)得的頻率特性和所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率來(lái)創(chuàng)建以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)。在本發(fā)明中，優(yōu)選地，所述濾波函數(shù)創(chuàng)建步驟進(jìn)一步包括以下步驟將正弦擾動(dòng)施加給位置控制系統(tǒng)，并且觀測(cè)所述位置控制系統(tǒng)的信號(hào)；根據(jù)所觀測(cè)的信號(hào)來(lái)計(jì)算與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差；以及以頻率為單位計(jì)算所述擾動(dòng)與所述位置誤差之比，并且計(jì)算所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性。在本發(fā)明中，對(duì)DFT和逆DFT的正弦項(xiàng)和余弦項(xiàng)進(jìn)行積分，并且將復(fù)數(shù)a(m)和b(m)(該二者是具有相乘的頻率特性(1+C(z)·P(z))或-(1+C(z)·P(z))/P(z)的m次RRO頻率)以及用于頻率轉(zhuǎn)換的正弦和余弦項(xiàng)相乘以創(chuàng)建濾波函數(shù)，并且使用該濾波函數(shù)，使得可以以時(shí)間為單位來(lái)計(jì)算所述校正表的校正值，而無(wú)需頻率轉(zhuǎn)換。該濾波函數(shù)F(x)采取僅以重復(fù)出現(xiàn)的頻率波動(dòng)為目標(biāo)的濾波器的形式，并且a(m)和b(m)是靈敏度函數(shù)的頻率特性，使得可以預(yù)先測(cè)量并確定它們，并且可以對(duì)于相同模型使用同一值。因此，可以預(yù)先計(jì)算濾波函數(shù)F(x)的值，并且當(dāng)創(chuàng)建RRO校正表時(shí)，可以使用該濾波函數(shù)F(x)來(lái)計(jì)算RRO(q)而無(wú)需頻率轉(zhuǎn)換。圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的盤裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的說(shuō)明圖；圖2是表示圖1中的盤的伺服信號(hào)的排列的說(shuō)明圖；圖3是表示圖2中的伺服信號(hào)的結(jié)構(gòu)的說(shuō)明圖；圖4是圖3中的伺服信號(hào)的讀取波形圖；圖5是表示圖1中的頭部控制順序的說(shuō)明圖；圖6是表示圖1中的伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖7是表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的具有RRO校正功能的伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖8是表示圖7中的濾波函數(shù)F(x)表創(chuàng)建處理的流程圖；圖9是表示圖7中的RRO校正表創(chuàng)建處理的流程圖；圖10是表示在圖8中生成的濾波函數(shù)F(x)的陣列的曲線圖；圖11示出了圖7中的F(x)表；圖12是示出圖8中的DFT濾波函數(shù)F(x)的m次RRO頻率的復(fù)數(shù)值的測(cè)量和計(jì)算處理的流程圖；圖13是表示圖9中的RroTable創(chuàng)建處理的流程圖；圖14是表示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的RroTable創(chuàng)建方法的曲線圖；圖15是表示根據(jù)圖13中的第二實(shí)施例的RroTable創(chuàng)建處理的流程圖；圖16是表示圖14中的第二實(shí)施例的頻率特性的曲線圖；圖17是表示具有本發(fā)明第三實(shí)施例的RRO校正功能的伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖18是表示用于圖17中的最佳增益計(jì)算的評(píng)估函數(shù)的說(shuō)明圖；圖19是表示圖17中的最佳增益計(jì)算處理的流程圖；圖20是表示圖19中的RRO測(cè)量處理的流程圖；圖21是表示圖19中的NRRO測(cè)量處理的流程圖；圖22是表示對(duì)于圖19中的各個(gè)RRO次數(shù)的最佳增益測(cè)量處理的流程圖；圖23是表示包括圖19中的最佳增益的濾波函數(shù)F(x)的曲線；圖24是表示圖17中的RRO表創(chuàng)建處理的流程圖；圖25是表示根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的具有RRO校正功能的伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖26是表示根據(jù)本發(fā)明第四實(shí)施例的具有RRO校正功能的另一伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖27是表示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的具有URRO校正功能的伺服系統(tǒng)的框圖；圖28是表示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的具有URRO校正功能的另一伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖29是表示根據(jù)本發(fā)明第一實(shí)施例的具有URRO校正功能的另一伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖30是表示在本發(fā)明的URRO校正過(guò)程中的最佳增益和殘余RRO的說(shuō)明圖；圖31是表示根據(jù)本發(fā)明第五實(shí)施例的具有軌道相關(guān)性的RroTable創(chuàng)建處理的流程圖；圖32是表示圖31中的區(qū)域分割的說(shuō)明圖；圖33表示圖31中的RroTable；圖34是表示使用圖7中的RRO校正表的伺服軌道寫(xiě)入方法的說(shuō)明圖；圖35是表示使用圖7中的RRO校正表的另一伺服軌道寫(xiě)入方法的說(shuō)明圖；圖36是表示使用圖7中的RRO校正表的伺服軌道重寫(xiě)方法的流程圖；圖37表示圖7中的RRO校正表的存儲(chǔ)位置；圖38是表示使用傳統(tǒng)RRO校正表的伺服控制系統(tǒng)的框圖；圖39是表示圖38中的靈敏度函數(shù)的曲線圖；圖40是表示使用傳統(tǒng)URRO校正表的伺服控制系統(tǒng)的框圖。具體實(shí)施例方式現(xiàn)在將按以下順序來(lái)說(shuō)明具體實(shí)施例方式盤裝置、RRO校正表創(chuàng)建方法的第一實(shí)施例、RRO校正表創(chuàng)建方法的第二實(shí)施例、RRO校正表創(chuàng)建方法的第三實(shí)施例、RRO校正表創(chuàng)建方法的第四實(shí)施例、URRO校正表創(chuàng)建方法、RRO校正表創(chuàng)建方法的第五實(shí)施例、使用RRO校正表的伺服軌道寫(xiě)入方法以及其它實(shí)施例。然而，本發(fā)明并不限于以下實(shí)施例。盤裝置圖1是表示根據(jù)本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的盤存儲(chǔ)裝置的結(jié)構(gòu)的說(shuō)明圖，圖2是表示圖1中的磁盤的位置信號(hào)的排列的說(shuō)明圖，圖3是表示圖1和圖2中的磁盤的位置信號(hào)的結(jié)構(gòu)的說(shuō)明圖，圖4是表示對(duì)圖3中的位置信號(hào)進(jìn)行讀取的波形圖，圖5是表示圖1中的頭部位置控制的說(shuō)明圖，而圖6是表示具有圖1中的結(jié)構(gòu)的伺服控制系統(tǒng)的框圖。圖1到圖6示出了作為盤存儲(chǔ)裝置的磁盤裝置。如圖1所示，作為磁存儲(chǔ)介質(zhì)的磁盤4安裝在主軸電機(jī)5的旋轉(zhuǎn)軸2上。主軸電機(jī)5使磁盤4旋轉(zhuǎn)。致動(dòng)器(VCM音圈電機(jī))1包括位于前端的磁頭3，并沿磁盤4的徑向移動(dòng)磁頭3。致動(dòng)器1包括繞旋轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)的音圈電機(jī)(VCM)。在圖1中，在磁盤裝置中安裝有兩個(gè)磁盤4，并且由同一致動(dòng)器1同時(shí)驅(qū)動(dòng)四個(gè)磁頭3。磁頭3包括讀取元件和寫(xiě)入元件。通過(guò)在滑塊上層疊包括磁致電阻(MR)元件的多個(gè)讀取元件，并在其上層疊包括寫(xiě)入線圈的多個(gè)寫(xiě)入元件來(lái)構(gòu)造出磁頭3。位置檢測(cè)電路7將磁頭3讀取的位置信號(hào)(模擬信號(hào))轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)。讀/寫(xiě)(R/W)電路10對(duì)磁頭3的讀取和寫(xiě)入進(jìn)行控制。主軸電機(jī)(SPM)驅(qū)動(dòng)電路8驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)5。音圈電機(jī)(VCM)驅(qū)動(dòng)電路6向音圈電機(jī)(VCM)1提供驅(qū)動(dòng)電流，并驅(qū)動(dòng)該VCM1。微控制器(MCU)14使用來(lái)自位置檢測(cè)電路7的數(shù)字位置信號(hào)來(lái)檢測(cè)(解調(diào))當(dāng)前位置，并根據(jù)檢測(cè)到的當(dāng)前位置和目標(biāo)位置之間的位置誤差來(lái)計(jì)算VCM驅(qū)動(dòng)指令值。換言之，進(jìn)行位置解調(diào)和伺服控制。只讀存儲(chǔ)器(ROM)13存儲(chǔ)MCU14的控制程序。隨機(jī)訪問(wèn)存儲(chǔ)器(RAM)12存儲(chǔ)用于對(duì)MCU14進(jìn)行處理所需的數(shù)據(jù)。硬盤控制器(HDC)11根據(jù)伺服信號(hào)的扇區(qū)號(hào)來(lái)判斷頭部在一周內(nèi)的位置，并記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)。使用隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)15作為緩沖存儲(chǔ)器，對(duì)讀取數(shù)據(jù)和寫(xiě)入數(shù)據(jù)進(jìn)行臨時(shí)存儲(chǔ)。HDC11通過(guò)諸如ATA和SCSI的接口IF與主機(jī)進(jìn)行通信。總線9與這些設(shè)備相連。如圖2所示，從外軌道到內(nèi)軌道、以相等的間隔、沿著圓周方向在各個(gè)軌道上設(shè)置伺服信號(hào)(位置信號(hào))。各個(gè)軌道包括多個(gè)扇區(qū)，圖2中的實(shí)線16表示伺服信號(hào)的記錄位置。如圖3所示，位置信號(hào)包括伺服標(biāo)記ServoMark、軌道號(hào)GrayCode、索引Index、以及偏移信息(伺服突發(fā)(servoburst))PosA、PosB、PosC和PosD。圖3中的虛線表示軌道中心。圖4是當(dāng)由磁頭3讀取圖3中的位置信號(hào)時(shí)的信號(hào)波形圖。通過(guò)使用圖4所示的信號(hào)波形的軌道號(hào)GrayCode以及偏移信息PosA、PosB、PosC和PosD來(lái)檢測(cè)磁頭3在半徑方向上的位置。此外，基于索引信號(hào)Index，獲知磁頭在圓周方向上的位置。例如，將檢測(cè)到索引信號(hào)時(shí)的扇區(qū)號(hào)設(shè)為No.0，在每檢測(cè)到伺服信號(hào)時(shí)將該扇區(qū)號(hào)加1，并獲取軌道的各個(gè)扇區(qū)的扇區(qū)號(hào)。當(dāng)記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)，伺服信號(hào)的扇區(qū)號(hào)成為基準(zhǔn)。在軌道上有一個(gè)索引信號(hào)?？梢栽O(shè)置扇區(qū)號(hào)來(lái)代替索引信號(hào)或者與索引信號(hào)一起設(shè)置扇區(qū)號(hào)。圖5是由圖1中的MCU14進(jìn)行的對(duì)致動(dòng)器的尋道控制的示例。通過(guò)圖1中的位置檢測(cè)電路7，MCU14確認(rèn)致動(dòng)器1的位置、進(jìn)行伺服計(jì)算并將適當(dāng)?shù)碾妷菏┘拥絍CM1。圖5表示當(dāng)將磁頭3從一個(gè)軌道位置移到目標(biāo)軌道位置時(shí)從開(kāi)始尋道時(shí)起的控制的轉(zhuǎn)變，示出了致動(dòng)器1的電流、致動(dòng)器1(磁頭3)的速度以及致動(dòng)器1(磁頭3)的位置。換言之，在尋道控制中，可以通過(guò)粗調(diào)控制、整定控制和跟隨(following)控制將磁頭移到目標(biāo)位置。粗調(diào)控制基本上為速度控制，整定控制和跟隨控制基本上為位置控制，對(duì)于這兩個(gè)控制都必須檢測(cè)磁頭的當(dāng)前位置。根據(jù)RPE來(lái)判斷從整定控制到跟隨控制的轉(zhuǎn)變，即尋道控制的完成。還可以根據(jù)RPE來(lái)判斷在跟隨控制過(guò)程中是否可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄和再現(xiàn)。為了確認(rèn)這些位置，如圖2到圖4所示，預(yù)先在磁盤上記錄伺服信號(hào)。換言之，如圖3所示，記錄表示伺服信號(hào)的起始位置的伺服標(biāo)記、表示軌道號(hào)的格雷碼、索引信號(hào)、以及表示偏移的信號(hào)PosA至PosD。由磁頭3讀取該伺服信號(hào)，由位置信息檢測(cè)電路7將該伺服信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)值。MCU14進(jìn)行圖6所示的數(shù)字伺服控制系統(tǒng)的計(jì)算。換言之，由計(jì)算塊22確定目標(biāo)位置‘r’與當(dāng)前位置‘y’之間的誤差‘e’，并由控制器20進(jìn)行控制計(jì)算，計(jì)算控制量并驅(qū)動(dòng)VCM1，即設(shè)備21。對(duì)于設(shè)備21的位置，通過(guò)對(duì)來(lái)自磁頭3的伺服信號(hào)進(jìn)行解調(diào)來(lái)得到當(dāng)前位置‘y’。當(dāng)前位置‘y’與目標(biāo)位置‘r’之間的差為位置誤差‘e’。在圖6中，作為施加到控制系統(tǒng)的擾動(dòng)，將與主軸電機(jī)5的旋轉(zhuǎn)同步的成分以及與其不同步的成分表示為RRO、NRRO、RPE和NRPE。RRO(可重復(fù)偏轉(zhuǎn))是與旋轉(zhuǎn)同步的位置擾動(dòng)成分。NRRO(不可重復(fù)偏轉(zhuǎn))是與旋轉(zhuǎn)不同步的位置擾動(dòng)成分。在本發(fā)明中，所有擾動(dòng)均以位置單位來(lái)考慮。例如，施加到致動(dòng)器1的風(fēng)擾動(dòng)以加速度單位來(lái)表示，但是在這里將其轉(zhuǎn)換成位置單位。RPE(可重復(fù)位置誤差)是進(jìn)行定位控制時(shí)包含在位置誤差‘e’中的與旋轉(zhuǎn)同步的成分。NRPE(不可重復(fù)位置誤差)是進(jìn)行定位控制時(shí)包含在位置誤差‘e’中的與旋轉(zhuǎn)不同步的成分。RRO和RPE表示隨著伺服扇區(qū)而不同的值。RRO校正表創(chuàng)建方法的第一實(shí)施例圖7是表示RRO校正表創(chuàng)建方法的第一實(shí)施例的功能框圖。圖7示出了在通過(guò)單個(gè)盤裝置計(jì)算濾波函數(shù)F(x)并生成校正表的情況下的框圖。圖8是表示圖7中的濾波函數(shù)F(x)計(jì)算處理的流程圖，圖9是表示通過(guò)使用圖8中的濾波函數(shù)F(x)進(jìn)行的RRO表創(chuàng)建處理的流程圖，圖10是表示在圖8中創(chuàng)建的濾波函數(shù)F(x)的曲線圖，而圖11示出了圖7中的F(x)表23-2。在圖7中，用相同標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖6中相同的組成元件。換言之，由計(jì)算塊22確定目標(biāo)位置‘r’與當(dāng)前(觀測(cè))位置‘y’之間的誤差‘e’，并且控制器20進(jìn)行控制計(jì)算，計(jì)算控制量并且驅(qū)動(dòng)VCM1，即設(shè)備21。對(duì)于設(shè)備21的位置，從磁頭3解調(diào)出伺服信號(hào)，并且獲取當(dāng)前位置‘y’。當(dāng)前位置‘y’與目標(biāo)位置‘r’之間的差成為位置誤差‘e’。當(dāng)對(duì)該控制系統(tǒng)施加擾動(dòng)時(shí)，將與主軸電機(jī)5的旋轉(zhuǎn)同步的成分和不同步的成分表示為RRO、NRRO、RPE和NRPE。RPE獲取塊26從各扇區(qū)的位置誤差‘e’獲取RPE，如圖9和圖13所示。F(x)計(jì)算塊23-1計(jì)算一個(gè)濾波函數(shù)F(x)，其中根據(jù)位置誤差‘e’對(duì)DFT計(jì)算和逆DFT計(jì)算表達(dá)式序列進(jìn)行積分。函數(shù)F(x)表23-2存儲(chǔ)所計(jì)算的濾波函數(shù)F(x)。如稍后在圖9和圖13中所述的，波形計(jì)算塊27通過(guò)將由RPE獲取塊26獲取的RPE與濾波函數(shù)F(x)相乘來(lái)計(jì)算RRO波形。RRO表29存儲(chǔ)RRO波形。加法塊28對(duì)于重復(fù)次數(shù)將RRO波形進(jìn)行相加，并且更新表29。在創(chuàng)建了RRO表29之后，在磁盤裝置工作狀態(tài)下(特別是在以下?tīng)顟B(tài)下)，由計(jì)算塊22從觀測(cè)位置‘y’中減去目標(biāo)位置‘r’和校正表29的RroTable表值，并生成位置誤差‘e’。據(jù)此，對(duì)于輸入控制器20的‘e’進(jìn)行了RRO校正。首先將說(shuō)明濾波函數(shù)F(x)。為了確定RroTable或者URroTable，必須將位置誤差‘e’的平均波形乘以(1+C(z)·P(z))或者-(1+C(z)·P(z))/P(z)。為了精確計(jì)算，需要進(jìn)行DFT計(jì)算。具體地，對(duì)于所確定的RPE波形(時(shí)間單位)進(jìn)行DFT計(jì)算，以轉(zhuǎn)換為頻率單位，對(duì)于頻率的各次RPE，乘以(1+C(z)·P(z))或者-(1+C(z)·P(z))/P(z)，并且最后進(jìn)行逆DFT計(jì)算，以確定所估算的RRO波形。將DFT計(jì)算和逆DFT計(jì)算表達(dá)式序列積分為一個(gè)表達(dá)式。下面對(duì)推導(dǎo)出該表達(dá)式的方法進(jìn)行說(shuō)明。讓我們假設(shè)對(duì)RRO頻率的m次進(jìn)行DFT計(jì)算。例如，在裝置為4200rpm的情況下，RRO頻率的一次為70Hz。如上所述，如果分別將余弦和正弦系數(shù)的m次表示為C(m)和S(m)，則可以由上述表達(dá)式(8)來(lái)確定具有m次RRO頻率的DFT的系數(shù)。然后，可以將要乘的頻率特性(1+C(z)·P(z))或者-(1+C(z)·P(z))/P(z)的m次頻率的復(fù)數(shù)值假設(shè)為a(m)+jb(m)。當(dāng)對(duì)這些特性進(jìn)行乘法運(yùn)算時(shí)，可以由使用復(fù)數(shù)值的上述表達(dá)式(9)給出成分的m次。然后，將表達(dá)式(8)代入表達(dá)式(9)，并且通過(guò)以下表達(dá)式(11)來(lái)確定C2(m)和S2(m)。C2(m)＝C(m)a(m)-S(m)b(m)=a(m)Σk=0Ns-1{RPE(k)·cos(2πmk/Ns)}(2/Ns)]]>-b(m)Σk=0Ns-1{RPE(k)·sin(2πmk/Ns)}(2/Ns)---(11)]]>=Σk=0-Ns-1{RPE(k)(a(m)cos(2πmk/Ns)-b(m)sin(2πmk/Ns))}(2/Ns)]]>S2(m)＝C(m)b(m)+S(m)a(m)=b(m)Σk=0Ns-1{RPE(k)·cos(2πmk/Ns)}(2/Ns)]]>+a(m)Σk=0Ns-1{RPE(k)·sin(2πmk/Ns)}(2/Ns)]]>=Σk=0Ns-1{RPE(k)(b(m)cos(2πmk/Ns)+a(m)sin(2πmk/Ns))}(2/Ns)]]>從一次至(NS/2)次執(zhí)行了該m次計(jì)算(NS是旋轉(zhuǎn)一周的伺服扇區(qū)數(shù))，并且通過(guò)逆DFT計(jì)算來(lái)獲取要確定的波形。當(dāng)生成RroTable時(shí)，通過(guò)以下表達(dá)式(12)(對(duì)于生成URroTable也使用相同的表達(dá)式)來(lái)確定第q個(gè)扇區(qū)的RRO波形RRO(q)。RRO(q)=Σm=1NS/2-1{C2(m)cos(2πmq/NS)+S2(m)sin(2πmq/NS)}---(12)]]>=Σm=1NS/2-1Σk=0NS-1RPE(k){a(m)cos(2πmk/NS)cos(2πmq/NS)]]>-b(m)sin(2πmk/Ns)cos(2πmq/Ns)+b(m)cos(2πmk/Ns)sin(2πmq/Ns)+a(m)sin(2πmk/Ns)sin(2πmq/Ns)}(2/Ns)=Σm=1NS/2-1Σk=0NS-1RPE(k)[a(m){cos(2πmk/NS)cos(2πmq/NS)]]>+sin(2πmk/Ns)sin(2πmq/Ns)}+b(m){-sin(2πmk/Ns)cos(2πmq/Ns)+cos(2πmk/Ns)sin(2πmq/Ns)}](2/Ns)=Σm=1NS/2-1Σk=0NS-1RPE(k){a(m)cos(2πm(k-q)/NS)-b(m)sin(2πm(k-q)/NS)}(2/NS)]]>=Σk=0NS-1RPE(k)Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πm(k-q)/NS)-b(m)sin(2πm(k-q)/NS)}(2/NS)]]>這里，表達(dá)式(12)中的RPE(k)項(xiàng)的下一項(xiàng)被積分為F(x)，并獲得表達(dá)式(13)。該F(x)是系數(shù)次數(shù)為NS的陣列，該NS是旋轉(zhuǎn)一周的扇區(qū)數(shù)。RRO(q)=Σk=0NS-1RPE(k)·F(k-q)]]>F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2mx/NS)}(2/NS)]]>換言之，當(dāng)將該表達(dá)式變形為表達(dá)式(12)時(shí)，可以對(duì)DFT和逆DFT的正弦項(xiàng)和余弦項(xiàng)進(jìn)行積分，并且當(dāng)像表達(dá)式(13)中一樣，使用(頻率)濾波函數(shù)F(x)時(shí)，將RRO(q)的表達(dá)式以時(shí)間為單位進(jìn)行表達(dá)。該濾波函數(shù)F(x)是要乘的頻率特性(即(1+C(z)·P(z))或者-(1+C(z)·P(z))/P(z))的RRO頻率的m次的復(fù)數(shù)值a(m)和b(m)，以及用于頻率轉(zhuǎn)換的正弦和余弦的倍數(shù)。因此，當(dāng)通過(guò)預(yù)先測(cè)量來(lái)計(jì)算濾波函數(shù)F(x)時(shí)，可以以時(shí)間為單位來(lái)計(jì)算RRO校正值RRO(q)，而無(wú)需頻率轉(zhuǎn)換。該濾波函數(shù)F(x)采用僅以重復(fù)出現(xiàn)的頻率波動(dòng)為目標(biāo)的濾波器的形式，如表達(dá)式(13)所示，并且由于a(m)和b(m)是靈敏度函數(shù)的頻率特性，從而可以通過(guò)預(yù)先測(cè)量來(lái)確定它們，正如后面所描述的，并且可以對(duì)于同一模型使用相同的值。因此，可以預(yù)先計(jì)算濾波函數(shù)F(x)的值，并且當(dāng)創(chuàng)建RRO校正表時(shí)，可以使用該濾波函數(shù)F(x)的值來(lái)計(jì)算RRO(q)，而無(wú)需頻率轉(zhuǎn)換。濾波函數(shù)F(x)滿足表達(dá)式(14)中的關(guān)系。換言之，F(xiàn)(x)成為對(duì)于扇區(qū)數(shù)NS的各個(gè)軌道具有相同的值。F(x)＝F(x+Ns)＝F(x-Ns)(14)使用表達(dá)式(14)作為一個(gè)元素，例如，可以通過(guò)以下表達(dá)式(15)計(jì)算第5扇區(qū)的波形RRO(5)。RRO(5)＝RPE(0)F(-5)+RPE(1)F(-4)+…+RPE(Ns-1)F(Ns-6)(15)圖10是F(x)的示例，其是Ns(一周的扇區(qū)數(shù))個(gè)系數(shù)的陣列。在圖10中，橫坐標(biāo)是x(扇區(qū)數(shù)Ns)，而縱坐標(biāo)是濾波函數(shù)F(x)。圖11表示所創(chuàng)建的F(x)表23-2。換言之，存儲(chǔ)相對(duì)于各個(gè)橫坐標(biāo)x的濾波函數(shù)F(x)的系數(shù)值F(x)。如表達(dá)式(14)所示，通過(guò)使用一周的F(x)可以使用多周的F(x)。現(xiàn)在將對(duì)確定該函數(shù)F(x)的處理進(jìn)行說(shuō)明。首先，像用于DFT計(jì)算的表達(dá)式(9)一樣，確定濾波函數(shù)F(x)的表達(dá)式(13)的定位循環(huán)的頻率特性a(m)和b(m)。這僅是針對(duì)代表性的盤驅(qū)動(dòng)裝置，并且對(duì)于各個(gè)頭部，在內(nèi)部位置、中心位置以及外部位置處進(jìn)行測(cè)量。圖8是表示圖7中的F(x)計(jì)算塊23-1的處理的流程圖。(S10)測(cè)量磁盤裝置的代表模型的頻率特性a(m)和b(m)(參見(jiàn)表達(dá)式(11)到(13))。稍后將在圖12中具體說(shuō)明。(S12)通過(guò)使用所測(cè)得的頻率特性a(m)和b(m)，由表達(dá)式(13)來(lái)計(jì)算濾波函數(shù)F(x)。(S14)將所計(jì)算的濾波函數(shù)F(x)存儲(chǔ)在F(x)表23-2中。圖9是表示圖7中的RPE獲取塊26和波形計(jì)算塊27的處理的流程圖。(S16)測(cè)量各個(gè)扇區(qū)的RPE。如圖12所示，通過(guò)位置誤差PES的平均值來(lái)確定各個(gè)扇區(qū)的RPE(k)。(S18)當(dāng)測(cè)量一周中的所有扇區(qū)的RPE時(shí)，參照F(x)表23-2確定所有扇區(qū)的函數(shù)值，并且通過(guò)表達(dá)式(13)來(lái)計(jì)算RRO波形RRO(q)。下面說(shuō)明上述頻率特性測(cè)量處理。圖12是表示定位循環(huán)的頻率特性測(cè)量處理的流程圖。(S20)將RRO的次數(shù)m初始化為“1”。(S22)在通過(guò)圖7中的控制系統(tǒng)進(jìn)行定位控制期間，將該位置的正弦波擾動(dòng)d(i)＝GainD·cos(2πmi/Nc)輸入到觀測(cè)位置(圖7中的計(jì)算塊41的輸出)，并且在經(jīng)過(guò)預(yù)定時(shí)間之后測(cè)量位置誤差PES(i)。這里，將GainD設(shè)為對(duì)于多個(gè)軌道的位置波動(dòng)的幅值。(S24)對(duì)于磁盤4的所有n周，測(cè)量各個(gè)扇區(qū)k的位置誤差PES(k+1·Ns)，并且計(jì)算各個(gè)扇區(qū)k的位置誤差PES的平均值RPE(k)。換言之，這里假設(shè)扇區(qū)的指針為k，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為NS，而i為旋轉(zhuǎn)周數(shù)(第1周、第2周、…、第N周)。因此，在圖12的表達(dá)式中，確定扇區(qū)指針k相同的扇區(qū)的各周的位置誤差之和，即PES(k+i·Ns)，并除以測(cè)量旋轉(zhuǎn)周數(shù)N，來(lái)獲得平均值。通過(guò)這種方式，可以消除在觀測(cè)位置處的噪聲的影響。(S26)然后，對(duì)最初觀測(cè)到的RPE波形RPE(k)進(jìn)行DFT。如果在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns，則根據(jù)抽樣定理此時(shí)必須考慮的RRO次數(shù)為1到(Ns/2-1)。為了對(duì)于m次RPE波形頻率進(jìn)行DFT，分別將cos和sin的系數(shù)的m次表示為C(m)和S(m)，并且用cos波形和sin波形的m次乘以從扇區(qū)No.0到No.(Ns-1)的一周的RPE波形，并將結(jié)果相加。換言之，計(jì)算以下表達(dá)式(16)。C(m)=Σk=0NS-1{RPE(k)·cos(2πmk/NS)}]]>S(m)=Σk=0NS-1{RPE(k)·sin(2πmk/NS)}]]>(S28)然后，對(duì)于在步驟S22中輸入的正弦擾動(dòng)d(k)的波形進(jìn)行DFT。換言之，通過(guò)將余弦波形和正弦波形的m次與從扇區(qū)No.0至No.(Ns-1)的一周的正弦擾動(dòng)相乘并將結(jié)果相加，來(lái)獲得擾動(dòng)的復(fù)數(shù)值C2(m)+j·S2(m)。換言之，計(jì)算出以下表達(dá)式(17)。C2(m)=Σk=0NS-1{d(k)·cos(2πmk/NS)}]]>S2(m)=Σk=0NS-1{d(k)·sin(2πmk/NS)}---(17)]]>(S30)由于通過(guò)(擾動(dòng))/(加入擾動(dòng)后的位置)獲得頻率特性，所以通過(guò)以下表達(dá)式(18)獲得相除結(jié)果。C2(m)+jS2(m)C(m)+jS(m)=C2(m)+jS2(m)C(m)2+S(m)2(C(m)-jS(m))---(18)]]>=C2(m)·C(m)+S2(m)·S(m)C(m)2+S(m)2+j-C2(m)·S(m)+S2(m)·C(m)C(m)2+S(m)2]]>＝a(m)+jb(m)當(dāng)將其用頻率特性a(m)和b(m)來(lái)表達(dá)時(shí)，獲得以下表達(dá)式(19)，并且可以通過(guò)計(jì)算該表達(dá)式來(lái)獲得a(m)和b(m)。同時(shí)次數(shù)m被加“1”。a(m)＝(C2(m)·C(m)+S2(m)·S(m))/(C(m)2+S(m)2)(19)b(m)＝(-C2(m)·S(m)+S2(m)·C(m))/(C(m)2+S(m)2)(S32)由于根據(jù)上述抽樣定理，次數(shù)m接近于(Ns/2)-1，所以對(duì)次數(shù)m是否是(Ns/2)-1或者更大進(jìn)行判斷。如果判斷次數(shù)m不是(Ns/2)-1或者更大，則處理返回步驟S22。如果次數(shù)m是(Ns/2)-1或者更大，則處理結(jié)束。通過(guò)這種方式，使用代表盤驅(qū)動(dòng)裝置來(lái)預(yù)先測(cè)量靈敏度函數(shù)的逆特性(頻率特性)a(m)和b(m)。使用該頻率特性，通過(guò)表達(dá)式(13)計(jì)算濾波函數(shù)F(x)。將參照?qǐng)D13說(shuō)明使用濾波函數(shù)F(x)的校正表創(chuàng)建處理。(S40)首先將校正表29的各個(gè)扇區(qū)q的RRO校正值(即RroTable(q))初始化為“0”。q是介于0到(Ns-1)范圍內(nèi)的值。換言之，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns。(S42)正如圖12中的步驟S24所示，對(duì)磁盤4的所有N周的各個(gè)扇區(qū)指針k的位置誤差PES(k+i·Ns)進(jìn)行測(cè)量，并且計(jì)算各個(gè)扇區(qū)指針k的位置誤差PES的平均值RPE(k)。換言之，這里假設(shè)扇區(qū)指針為k，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量是Ns，并且i是旋轉(zhuǎn)周數(shù)(第1周、第2周、…、第N周)。因此，在圖13的表達(dá)式中，確定同一扇區(qū)k的各周的位置誤差之和，即PES(k+i·Ns)，并且通過(guò)除以測(cè)量周數(shù)N獲得平均值。計(jì)算所有扇區(qū)指針k的位置誤差PES的平均值RPE(k)。(S44)為了計(jì)算目標(biāo)扇區(qū)q的RRO(q)，在將扇區(qū)指針k從“0”至“Ns-1”進(jìn)行變化的同時(shí)，通過(guò)使用F(x)表23-2的濾波函數(shù)F(k-q)和平均值RPE(k)來(lái)計(jì)算RRO(q)。換言之，當(dāng)生成RroTable時(shí)，通過(guò)以下表達(dá)式(20)(對(duì)于生成稍后提到的URroTable也使用了相同的表達(dá)式)確定第q個(gè)扇區(qū)的RRO波形RRO(q)。RRO(q)=Σk=0NS-1RPE(k)·F(k-q)]]>q＝0，1，…，(Ns-1)(S46)最后，通過(guò)上述最佳增益k乘以所確定的RRO(q)，并將結(jié)果存儲(chǔ)在校正表29的RroTable(q)中。處理結(jié)束。如果測(cè)量和校正的次數(shù)M是2或者更大，則重復(fù)該步驟，并且通過(guò)塊28將結(jié)果與校正表29中的值相加，并將結(jié)果存儲(chǔ)在校正表29中。當(dāng)使用上述濾波函數(shù)時(shí)，可以通過(guò)簡(jiǎn)單的表達(dá)式來(lái)執(zhí)行一系列的RRO生成計(jì)算處理，而無(wú)需乘以正弦和余弦。傳統(tǒng)上，當(dāng)MCU執(zhí)行計(jì)算時(shí)，預(yù)先以表的形式來(lái)提供正弦和余弦值，并且在每次計(jì)算校正表時(shí)參照該表。因此，該參照處理耗費(fèi)時(shí)間。通過(guò)預(yù)先測(cè)量和計(jì)算來(lái)確定用于代表模型的濾波函數(shù)F(x)，并且將其用于其它盤裝置，降低了在其它盤裝置中的MCU的創(chuàng)建RRO表29的負(fù)擔(dān)，并且可以降低處理時(shí)間。下面示出了RRO校正表創(chuàng)建處理(以C程序語(yǔ)言編寫(xiě))的示例。當(dāng)已經(jīng)測(cè)量了平均值RPE時(shí)，用于計(jì)算上述表達(dá)式(13)的RRO的程序成為如下極其簡(jiǎn)單的程序。RPE、RRO和F表示上述位置誤差的平均值、RRO校正值和濾波函數(shù)，以及RPE、RRO、F和KBitShiftF是外部變量。由于將其表示為固定小數(shù)點(diǎn)型，所以KBitShiftF的比特?cái)?shù)是存儲(chǔ)在陣列F中的函數(shù)值的小數(shù)點(diǎn)之后的比特?cái)?shù)。VoidcalcRro(void)[for(intq＝0；q＜＝Ns-1；q++)[RRO(q)＝0；for(intk＝0；k＜＝Ns-1；k++)[intIdx＝k-q；if(Idx＜0)Idx+＝Ns；RRO(q)+＝RPE(k)*F(Idx)；]RRO(q)＞＞＝(kBitShiftF)；]]RRO校正表創(chuàng)建方法的第二實(shí)施例圖14是表示本發(fā)明第二實(shí)施例的濾波函數(shù)F(x)的曲線圖，圖15是表示本發(fā)明第二實(shí)施例的校正表創(chuàng)建處理的流程圖，而圖16是表示根據(jù)第二實(shí)施例的頻率特性與實(shí)際靈敏度函數(shù)的關(guān)系的曲線圖。在圖10中的用于一周的上述濾波函數(shù)F(x)的情況下，圖10中的兩端處的值接近于“0”。這樣，如圖14所示，沒(méi)有使用在X方向中的一周的兩端處的F(x)來(lái)進(jìn)行計(jì)算，而是將其去除，并且僅使用中心部分來(lái)計(jì)算，以降低計(jì)算量。將參照?qǐng)D15來(lái)詳細(xì)描述校正表創(chuàng)建處理。(S50)與圖13中的步驟S40一樣，將校正表29(即RroTable(q))的各個(gè)扇區(qū)q的RRO校正值初始化為“0”。q是介于0至(Ns-1)范圍內(nèi)的值。換言之，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns。(S52)與圖12中的步驟S24和圖13中的步驟S42一樣，測(cè)量磁盤4的所有N周的各個(gè)扇區(qū)k的位置誤差PES(k+i·Ns)，并且計(jì)算各個(gè)扇區(qū)k的位置誤差PES的平均值RPE(k)。換言之，這里假設(shè)扇區(qū)的指針為k，在一周中的扇區(qū)的數(shù)量為Ns，并且i為旋轉(zhuǎn)周數(shù)(第1周、第2周、…、第N周)。因此，在圖13中的表達(dá)式中，確定同一扇區(qū)k的各周的位置誤差之和(即PES(k+i·Ns))，并且除以測(cè)量旋轉(zhuǎn)周數(shù)N，以獲得平均值。(S54)然后，判斷||k-q|-Ns/2|是否超出L，L為去除了圖14中的一周的F(x)兩端的范圍。如果未超出L，則處理返回步驟S52，以去除兩端，如果超出L，則由于不再去除兩端，所以處理進(jìn)行到步驟S56。下面說(shuō)明該表達(dá)式的涵義。F(x)的“x”是對(duì)于一周的扇區(qū)數(shù)Ns(例如“150”)，而k取“0-149”范圍內(nèi)的值并且q取“0-149”范圍內(nèi)的值，因此(k-q)取從“-149”至“+149”之間的值，即2Ns個(gè)值。因此，對(duì)于三周提供圖14中的F(x)，即F(x)、F(x-Ns)以及F(x+Ns)。絕對(duì)值|x＝k-q|處于范圍“0”至“149”中，而當(dāng)從該絕對(duì)值中減去Ns/2(“75”)時(shí)，相減的結(jié)果處于范圍“-75”至“+75”之間。該相減結(jié)果的絕對(duì)值為“0”至“75”。因此，當(dāng)圖14中的一周的F(x)的兩端的去除范圍分別是“L”(例如，在圖14情況下的“20”)時(shí)，在對(duì)于一周的x＝k-q中去除“56”至“75”以及“-56”至“-75”。如果(k-q)是“-54”，則||k-q|-Ns/2|＝20，如果(k-q)是“+54”，則||k-q|-Ns/2|＝20，這樣未超出去除范圍L。換言之，可以將(k-q)的有效范圍判斷為“-55”至“+55”。換言之，僅將圖14中的正側(cè)歸一化，并且對(duì)于Ns/2＝75變換(shift)(k-q)的值，并且通過(guò)與去除范圍(寬度)進(jìn)行比較來(lái)判斷其是否介于有效范圍或者去除范圍中。(S56)與圖13中的步驟S44一樣，使用F(x)表23-2的濾波函數(shù)F(k-q)來(lái)計(jì)算目標(biāo)扇區(qū)q的RRO(q)。換言之，當(dāng)生成RroTable時(shí)，通過(guò)上述表達(dá)式(20)確定第q個(gè)扇區(qū)的RRO波形RRO(q)。(S58)最后將上述最佳增益K乘以所確定的RRO(q)，并將結(jié)果存儲(chǔ)在校正表29的RroTable(q)中。處理結(jié)束。通過(guò)這種方式，可以降低對(duì)于去除范圍L的計(jì)算量。例如，在圖14中，計(jì)算量是150次，從“75”至“-75”，但是去除范圍L對(duì)于兩端是“40”，所以計(jì)算量是110次，大約為上述計(jì)算量的2/3。圖16示出了當(dāng)在4200rpm(150個(gè)扇區(qū)/轉(zhuǎn))的磁盤上去除了位于兩端的25個(gè)扇區(qū)時(shí)(即，當(dāng)使用位于中心的100個(gè)扇區(qū)來(lái)進(jìn)行計(jì)算(實(shí)線)時(shí))的實(shí)際靈敏度函數(shù)RE(實(shí)線)與當(dāng)使用降低了計(jì)算量的F(x)時(shí)的頻率特性E-3(虛線)的比較。在圖16中的頻率特性中，上部的曲線圖示出了相對(duì)于增益的頻率，而下部的曲線圖示出了相對(duì)于相位的頻率。如圖16所示，RE和E-3在低頻區(qū)有一些偏差，而在高頻區(qū)十分一致。因此，通過(guò)去除濾波函數(shù)F(x)的兩端而減小計(jì)算量的方法不會(huì)降低性能。根據(jù)計(jì)算處理時(shí)間實(shí)際是否滿足盤裝置的規(guī)格來(lái)確定是否使用該方法。如果所允許的處理時(shí)間充足，則不需要去除兩端。RRO校正表的第三實(shí)施例圖17是表示本發(fā)明的頭部定位控制系統(tǒng)的第三實(shí)施例的框圖，圖18是表示用于創(chuàng)建RroTable的殘余RRO的說(shuō)明圖，圖19是表示使用殘余RRO的RRO增益最佳值計(jì)算處理的流程圖，圖20是表示圖19中的RRO測(cè)量處理的流程圖，圖21是表示圖19中的NRRO測(cè)量處理的流程圖，圖22是表示圖17中的F(x)計(jì)算塊的F(x)計(jì)算處理的流程圖，圖23是表示通過(guò)圖22中的處理而得到的濾波函數(shù)F(x)的曲線圖，而圖24是表示圖17中的RPE獲取和波形計(jì)算處理的流程圖。圖17也是當(dāng)通過(guò)單個(gè)盤裝置執(zhí)行最佳值計(jì)算和校正表創(chuàng)建時(shí)的框圖，并且用相同的標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖6和圖7中相同的組成元件。換言之，通過(guò)計(jì)算塊22來(lái)確定目標(biāo)位置‘r’與當(dāng)前(觀測(cè))位置‘y’之間的誤差‘e’，并且控制器20執(zhí)行控制計(jì)算，計(jì)算控制量并且驅(qū)動(dòng)VCM1，即設(shè)備21。對(duì)于設(shè)備21的位置，從磁頭3解調(diào)出伺服信號(hào)，并獲取當(dāng)前位置‘y’。當(dāng)前位置‘y’和目標(biāo)位置‘r’之間的差成為位置誤差‘e’。當(dāng)對(duì)該控制系統(tǒng)施加了擾動(dòng)時(shí)，將與主軸電機(jī)5的旋轉(zhuǎn)同步的成分和不同步的成分表示為RRO、NRRO、RPE和NRPE。如上所述，RPE獲取塊26從對(duì)于各個(gè)扇區(qū)的位置誤差‘e’中獲取RPE。如稍后在圖19到圖21中所述的，位置精度測(cè)量塊24根據(jù)位置誤差‘e’測(cè)量位置精度。最佳化計(jì)算塊25計(jì)算當(dāng)重復(fù)次數(shù)是M時(shí)的最佳增益，如圖19所述。波形計(jì)算塊27通過(guò)將由RPE獲取塊26獲取的RPE乘以包括所計(jì)算的最佳增益的濾波函數(shù)F(x)，來(lái)計(jì)算RRO波形。RRO表29存儲(chǔ)該RRO波形。加法塊28對(duì)于重復(fù)次數(shù)將該RRO波形相加，并更新表29，如稍后在圖24中所描述的。F(x)計(jì)算塊23-1計(jì)算一個(gè)濾波函數(shù)值F(x)，其中基于位置誤差‘e’對(duì)一系列DFT計(jì)算表達(dá)式進(jìn)行積分，并將所計(jì)算出的函數(shù)F(x)存儲(chǔ)在函數(shù)F(x)表23-2中，如稍后在圖22中所描述的。在創(chuàng)建了RRO表29后，在磁盤裝置工作狀態(tài)下，特別地在以下?tīng)顟B(tài)下，通過(guò)計(jì)算塊22從觀測(cè)位置‘y’中減去目標(biāo)位置‘r’和校正表29的RroTable值，并生成位置誤差‘e’。據(jù)此，對(duì)于輸入到控制器20的‘e’進(jìn)行RRO校正。在說(shuō)明最佳值(增益)計(jì)算和校正表創(chuàng)建之前，將參照?qǐng)D18說(shuō)明用于計(jì)算增益的最佳值的評(píng)估函數(shù)。首先，生成RroTable(校正表)，并對(duì)于執(zhí)行了用于定位控制的RRO校正之后的殘余RRO，考慮特定扇區(qū)。換言之，如圖18所示，該殘余RRO是從實(shí)際RRO中減去RroTable29的RRO校正值的結(jié)果。這里假設(shè)可以通過(guò)對(duì)觀測(cè)位置‘y’進(jìn)行離散傅立葉變換(DFT)來(lái)觀測(cè)(RRO+NRRO)之和的值。對(duì)于N周連續(xù)觀測(cè)(RRO+NRRO)的波形，并測(cè)量各個(gè)扇區(qū)的平均值。假設(shè)該扇區(qū)的RRO為R0。還假設(shè)各次測(cè)量時(shí)NRRO的值變?yōu)閚11、n12、…、n1N。此時(shí)，由以下表達(dá)式(21)給出對(duì)于N周取平均之后的(RRO+NRRO)的波形，即RRO推測(cè)值。R0+1/NΣi=1Nn1i---(21)]]>將該值乘以增益K，將所得結(jié)果代入RRO校正表RroTable29中(因?yàn)檫@是第一次測(cè)量，所以RRO校正表為“0”)。然后，利用RRO校正表進(jìn)行定位控制，并由表達(dá)式(22)給出殘余RRO。R1=R0-K{R0+1/NΣi=1Nn1i}=(1-K)R0-K/NΣi=1Nn1i---(22)]]>通過(guò)這種方式，進(jìn)行第二次測(cè)量，其中用加法增益K乘以該值，將所得結(jié)果加入RRO校正表29，并使用RRO校正表進(jìn)行定位控制，然后由以下表達(dá)式(23)給出殘余RROR2。R2=R1-K{R1+1/NΣi=1Nn2i---(23)]]>=(1-K)2R0-K/N{(1-K)Σi=1Nn1i+Σi=1Nn2i}]]>如果依次重復(fù)此過(guò)程，則由以下表達(dá)式(24)給出經(jīng)過(guò)M次校正之后的RRO的殘余RM。但是，在下面的表達(dá)式中，由“j”代替NRRO的下標(biāo)“i”。RM=(1-K)MR0-K/NΣi=1M{((1-K)i-1Σj=1Nnij}---(24)]]>如果在很多軌道處都觀測(cè)到各個(gè)扇區(qū)的初始RRO，即R0，則假設(shè)該R0表示正態(tài)分布。通常已知NRRO也表示正態(tài)分布。而RRO和NRRO并不相關(guān)。所以，可以獨(dú)立地考慮RRO和NRRO。換言之，可以分別處理表達(dá)式(24)右邊第一項(xiàng)中的由RRO產(chǎn)生的成分，以及第二項(xiàng)中的由NRRO產(chǎn)生的成分。對(duì)于當(dāng)在許多點(diǎn)確定殘余RRO時(shí)的方差，分別確定與表達(dá)式(24)的第一項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差以及與其第二項(xiàng)相對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)偏差。各個(gè)所得結(jié)果的平方和成為該方差。首先對(duì)于第一項(xiàng)的RRO，在多個(gè)軌道處測(cè)量各個(gè)扇區(qū)的Nm個(gè)RRO，并且如果測(cè)量值為R1、R2、…、RNm，則通過(guò)以下表達(dá)式(25)來(lái)確定RRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差σRRO。σRRO2=Σi=1NmRi2/(Nm-1)---(25)]]>由于校正之后的殘余RRO中的由RRO引起的成分遵循表達(dá)式(24)右邊的第一項(xiàng)，所以在右邊第一項(xiàng)中，代替R0，將多點(diǎn)處的RRO視為R1、R2、…、RNM，并且將其帶入表達(dá)式(25)中，然后可以由下面的表達(dá)式(26)來(lái)表示殘余RRO中的由RRO生成的成分的方差(標(biāo)準(zhǔn)偏差σRRO的平方)。Σi=1Nm{(1-K)MRi}2/(Nm-1)=(1-K)2MΣi=1NmRi2/(Nm-1)=(1-K)2MσRRO2---(26)]]>然后對(duì)于NRRO，假設(shè)NRRO引起的標(biāo)準(zhǔn)偏差為σNRRO。表達(dá)式(24)右邊的第二項(xiàng)中的nij的分布遵從該標(biāo)準(zhǔn)偏差σNRRO。換言之，如果對(duì)于N個(gè)抽樣的NRRO之和由標(biāo)準(zhǔn)偏差σNRRO(即該和的期望值)表示，則所得結(jié)果變成以下表達(dá)式(27)。Σi=1Nnij=(Σi=1NσNRRO2)0.5=NσNRRO---(27)]]>因此，如果使用σNRRO來(lái)表示表達(dá)式(24)右邊第二項(xiàng)中的由NRRO所產(chǎn)生的成分的方差，則將表達(dá)式(27)帶入表達(dá)式(24)右邊的第二項(xiàng)中，將所得結(jié)果取平方，然后由下面的表達(dá)式(28)來(lái)表示該結(jié)果。K2/N2Σi=1M{(1-K)2(i-1)(NσNRRO)2}=K2/NΣi=1M(1-k)2(i-1)σNRRO2---(28)]]>因此，利用表達(dá)式(26)和表達(dá)式(28)，可以由表達(dá)式(29)表示校正之后的殘余RRO的方差(σ的平方)。這成為用于計(jì)算RRO校正效果的評(píng)估表達(dá)式。在給定條件下，可以調(diào)整變量使得表達(dá)式(29)的值變?yōu)樽钚?。如果使用了該表達(dá)式，則可以根據(jù)RRO與NRRO的σ比來(lái)確定最佳變量N(抽樣數(shù))、M(測(cè)量和校正的重復(fù)次數(shù))和K(加法增益)的細(xì)合。然后，根據(jù)表達(dá)式(29)確定使殘余RRO最小的最佳條件的代數(shù)解。首先，考慮當(dāng)重復(fù)次數(shù)M為“1”的情況。在表達(dá)式(29)中，如果重復(fù)次數(shù)的值M為“1”，則表達(dá)式(29)成為下面的表達(dá)式(30)。(RRO的殘余σ)2＝(1-K)2σRRO2+(K2/N)σRRO2(30)如果校正前的RRO和NRRO的各個(gè)σ的比為r，并將其帶入表達(dá)式(30)，則使用該比值r，可以將歸一化的殘余RRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差r[1](表示為方差r[1]2)表示為以下表達(dá)式(31)。r2＝σRRO2/σNRRO2(31)歸一化的殘余RRO的方差＝r[1]2＝(1-K)2r2+K2/N為了確定使殘余RRO最小的加法增益K，確定使表達(dá)式(31)對(duì)K的偏微分的值為“0”的條件。換言之，如果微分值為“0”，則殘余RRO為最小。因此，可以通過(guò)以下表達(dá)式(32)來(lái)獲取使殘余RRO最小的加法增益K。∂∂Kr[1]2=-2(1-K)r2+2K/N=0]]>→K=Nr2Nr2+1---(32)]]>此時(shí)，通過(guò)將表達(dá)式(32)帶入表達(dá)式(31)中的表達(dá)式(33)獲取表達(dá)式(31)的歸一化殘余RRO(第一次校正之后的殘余RRO)的標(biāo)準(zhǔn)偏差r[1]。r[1]2(1-Nr2Nr2+1)2r2+(Nr2Nr2+1)21N=r2(Nr2+1)2+Nr4(Nr2+1)2=r2Nr2+1---(33)]]>從而，對(duì)于最佳增益K、歸一化的殘余RRO的方差、殘余RRO的方差、表示定位精度的殘余RRO與初始RRO的比以及RRO的減少率，可以導(dǎo)出以下表達(dá)式(34)中所示的相互關(guān)系。據(jù)此，如果給出了N(抽樣數(shù))、σRRO(RRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差)和σNRRO(NRRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差)，則唯一地確定了使殘余RRO最小的增益K。最佳增益K=Nr2Nr2+1]]>歸一化的殘余RRO的方差r[1]2=r2Nr2+1=KN]]>殘余RRO的方差r[1]2σNRRO2=r2Nr2+1σNRRO2=KNσNRRO2---(34)]]>殘余RRO與初始RRO的比1Nr2+1=KNr2]]>RRO減少率1-1Nr2+1=1-KNr2]]>當(dāng)測(cè)量和校正的重復(fù)次數(shù)M為“1”時(shí)存在以上表達(dá)式，并且確定當(dāng)重復(fù)次數(shù)M為2或更大時(shí)的最佳增益K[k]和歸一化殘余RROr[M]。根據(jù)表達(dá)式(32)和表達(dá)式(33)，獲得以下表達(dá)式(35)。這里K[1]，K[2]，…是具有不同值的增益。換言之，每重復(fù)測(cè)量和校正一次，都可以通過(guò)改變加法增益K的值對(duì)各次設(shè)置最佳加法增益K，。K[M]=Nr2MNr2+1]]>r[M]2=K[M]N=r2MNr2+1]]>因此，當(dāng)重復(fù)次數(shù)M為任意數(shù)時(shí)，與表達(dá)式(34)類似，得到以下表達(dá)式(36)中所示的關(guān)系表達(dá)式。第M次重復(fù)的最佳增益Nr2MNr2+1---(36)]]>第M次重復(fù)的歸一化RRO的方差r[M]2=K[M]N=r2MNr2+1]]>第M次重復(fù)的RRO的方差r[M]2σNRRO2=K[M]NσNRRO2=r2MNr2+1σNRRO2]]>殘余RRO與初始RRO的比1MNr2+1=K[M]Nr2]]>RRO減少率1-1MNr2+1=1-K[M]Nr2]]>參照?qǐng)D20和圖21，根據(jù)圖19說(shuō)明最佳增益計(jì)算處理。(S60)通過(guò)使用具有圖1中所示結(jié)構(gòu)的磁盤裝置，使磁盤4旋轉(zhuǎn)，并根據(jù)磁盤4的伺服信號(hào)由圖17中所示的控制系統(tǒng)對(duì)磁頭3進(jìn)行軌道跟隨控制，并且測(cè)量RRO和NRRO。如圖20所示，對(duì)于RRO的測(cè)量，沿半徑方向?qū)⒋疟P分為多個(gè)區(qū)域，并將磁頭定位在各個(gè)目標(biāo)區(qū)域的代表軌道中。圖16中的定位精度測(cè)量塊24測(cè)量所有目標(biāo)區(qū)域中的代表軌道的各個(gè)扇區(qū)中的PES(位置誤差信號(hào))(圖17中的誤差‘e’)。測(cè)量塊24對(duì)于各個(gè)扇區(qū)計(jì)算多個(gè)軌道的平均值，并獲取平均值作為RPE(可重復(fù)位置誤差)。如表達(dá)式(3)所示，由傳遞函數(shù)(1+CP)乘以各個(gè)扇區(qū)的RPE來(lái)計(jì)算各個(gè)扇區(qū)的RRO。同樣地，如圖21所示，對(duì)于NRRO的測(cè)量，在相對(duì)長(zhǎng)的時(shí)間(例如磁盤的512周)內(nèi)測(cè)量各個(gè)扇區(qū)的一個(gè)代表軌道的PES，并計(jì)算其平均值作為RPE。然后對(duì)于各個(gè)扇區(qū)，從所測(cè)量的PES中減去RPE，并計(jì)算各個(gè)扇區(qū)的NRPE。通過(guò)FFT(快速傅立葉變換(FastfourierTransform))計(jì)算所計(jì)算出的NRPE的功率譜，并將其分為各個(gè)頻率。如表達(dá)式(3)所示，用傳遞函數(shù)(1+CP)乘以對(duì)于各個(gè)頻率而分開(kāi)的NRPE，并計(jì)算對(duì)于各個(gè)頻率的NRRO的功率譜。(S62)然后圖17中的最佳值計(jì)算塊25根據(jù)表達(dá)式(25)從所確定的各個(gè)扇區(qū)的RRO計(jì)算出RRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差σrro。同樣地，根據(jù)表達(dá)式(27)從所確定的各個(gè)扇區(qū)的NRRO計(jì)算出NRRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差σnrro。(S64)利用表達(dá)式(31)從RRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差σrro以及NRRO的標(biāo)準(zhǔn)偏差σnrro計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)偏差σ的比r，并利用表達(dá)式(32)或表達(dá)式(35)計(jì)算出最佳增益K或K[M]。這樣，利用校正后的殘余RRO作為評(píng)估目標(biāo)確定評(píng)估函數(shù)，并根據(jù)該評(píng)估函數(shù)在理論上確定使殘余RRO達(dá)到最小(使校正后的RRO達(dá)到最小)的增益。因此，可以不依賴于實(shí)驗(yàn)來(lái)確定校正表創(chuàng)建增益。同時(shí)可以將校正后的RRO的值確保為預(yù)定值，并可以確定制造時(shí)間和裝置規(guī)格?，F(xiàn)在將參照?qǐng)D22和圖23來(lái)說(shuō)明包含有該最佳增益的上述濾波函數(shù)F(x)的創(chuàng)建處理。圖19中的上述實(shí)施例是一種用最佳增益K乘以所確定的推測(cè)RRO波形并且將該結(jié)果加入RroTable中的方法，換言之，對(duì)于所有頻率區(qū)域乘以統(tǒng)一的增益K，而不考慮RRO或NRRO的頻率特性。然而，在實(shí)際的盤裝置中，RRO和NRRO之間的頻率特性是不同的。換言之，RRO與NRRO的比根據(jù)該頻率而不同。在以下實(shí)施例中，對(duì)于各次RRO確定RRO的σ和NRRO的σ的比，并且可以根據(jù)上述表達(dá)式(32)或(35)從該比來(lái)確定最佳增益K。圖22是表示包括本發(fā)明的最佳增益計(jì)算的濾波函數(shù)F(x)的計(jì)算處理的流程圖。在該說(shuō)明中，假設(shè)RRO的次數(shù)為m，根據(jù)奈奎斯特定理m＝1至Ns/2-1。(S70)首先，與圖19中的步驟S60一樣，確定RRO的功率譜。RRO的功率譜以區(qū)域中的多個(gè)軌道為目標(biāo)。不僅對(duì)于諸如“2”和“4”的少量軌道確定RRO，而且對(duì)于幾十或者幾個(gè)軌道確定RRO?？梢酝ㄟ^(guò)靈敏度函數(shù)的逆特性乘以RPE來(lái)確定RRO波形?；蛘呖梢越?jīng)過(guò)充分的時(shí)間，在各個(gè)軌道中生成不跟從RRO的波形。在通過(guò)這種方式確定了各個(gè)軌道的RRO之后，將所有RRO波形排成一行，并確定功率譜。(S72)然后，確定NRRO的功率譜。與圖21一樣，通過(guò)FFT分析儀觀測(cè)位置誤差‘e’，并確定(RPE+NRPE)的功率譜，然后從該結(jié)果中減去RPE，以確定NRPE。并且用靈敏度函數(shù)的逆特性乘以該結(jié)果?；蛘呖梢越?jīng)過(guò)充分的時(shí)間來(lái)生成忽略了RRO的軌跡RroTable，并且可以在將位置誤差‘e’中的RPE抑制到幾乎為零之后，確定NRPE的功率譜。(S74)然后將RRO次數(shù)m初始化為“1”。(S76)然后用DFT計(jì)算的頻率特性乘以RRO和NRRO的功率譜。在DFT計(jì)算中，如表達(dá)式(11)中所示來(lái)乘以sin和cos。確定目標(biāo)次數(shù)m，并在要觀測(cè)的頻率區(qū)域(即，0Hz到(抽樣頻率/2))中以預(yù)定頻率間隔提供信號(hào)，并且確定DFT的輸出特性RRO的功率譜PowerRro(m)和NRRO的功率譜PowerNrro(m)。換言之，為了對(duì)RRO和NRRO的m次的功率譜執(zhí)行DFT，將從No.0至No.(Ns-1)扇區(qū)的一周的功率譜乘以余弦波形和正弦波形，并將這些結(jié)果相加，并且如表達(dá)式(11)所示計(jì)算系數(shù)C(m)和S(m)的m次。這成為DFT計(jì)算的檢測(cè)特性的頻率特性。通過(guò)這種方式，確定對(duì)于各個(gè)RRO次數(shù)的NRRO的功率譜PowerNrro(m)和RRO的功率譜PowerRro(m)。(S78)將這兩個(gè)譜進(jìn)行比較，對(duì)于各個(gè)RRO次數(shù)確定RRO的σ(PowerRro(m))與NRRO的σ(PowerNrro(m))的比r(m)。(S80)將該σ比r(m)應(yīng)用于上述最佳條件表達(dá)式(32)或(35)，計(jì)算各個(gè)RRO次數(shù)的最佳增益Krro(m)或者Krro(M，m)。(S82)將RRO次數(shù)m加“1”，并判斷RRO次數(shù)m是否為可觀測(cè)的奈奎斯特頻率(Ns/2)或更大。如果RRO次數(shù)m不大于(Ns/2)，則處理返回到步驟S76，并計(jì)算各個(gè)RRO次數(shù)的最佳增益Krro(m)或Krro(M，m)。如果RRO次數(shù)m為可觀測(cè)的奈奎斯特頻率(Ns/2)或更大，則最佳增益計(jì)算處理結(jié)束，并且通過(guò)以下表達(dá)式(37)根據(jù)圖13中計(jì)算出的a(m)、b(m)和Krro(m)來(lái)計(jì)算F(x)。F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}Krro(m)---(37)]]>x＝0，1，…，(Ns-1)如上所述，可以確定用于各個(gè)RRO次數(shù)的增益，并且可以預(yù)先計(jì)算包括該增益的濾波函數(shù)F(x)。圖23是表示包括該最佳增益的濾波函數(shù)F(x)的一個(gè)示例的曲線圖。通過(guò)這種方式，在設(shè)置最佳增益的同時(shí)，可以進(jìn)一步縮減創(chuàng)建RRO校正表的處理時(shí)間。下面參照?qǐng)D24來(lái)說(shuō)明使用該濾波函數(shù)F(x)的RRO表創(chuàng)建處理。這里，假設(shè)通過(guò)圖17中的位置精度測(cè)量塊24和最佳值計(jì)算塊25在圖22中的處理中確定最佳增益K，并由F(x)計(jì)算塊23-1和23-2獲取F(x)，還將說(shuō)明由圖17中的RPE獲取塊26和波形計(jì)算塊27進(jìn)行的RRO校正表29的創(chuàng)建處理。(S90)將測(cè)量和校正計(jì)數(shù)值CountM初始化為“0”。(S92)與圖15中的步驟S50一樣，將校正表29的各個(gè)扇區(qū)q的RRO校正值RroTable(q)初始化為“0”。這里的q為0到(Ns-1)范圍內(nèi)的值。換言之，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns。(S94)與圖15中的步驟S52一樣，測(cè)量磁盤4的所有N周的各個(gè)扇區(qū)指針k的位置誤差PES(k+i·Ns)，并計(jì)算各個(gè)扇區(qū)指針k的位置誤差PES的平均值RPE(k)。換言之，這里假設(shè)扇區(qū)的指針為k，在一周中的伺服扇區(qū)的數(shù)量為Ns，而‘i’是旋轉(zhuǎn)周數(shù)(第1周、第2周、…、第N周)。因此，在圖24中的表達(dá)式中，確定同一扇區(qū)(由扇區(qū)指針K表示)的各周的位置誤差PES(k+i·Ns)之和，并將其除以測(cè)量旋轉(zhuǎn)周數(shù)N，以獲得平均值。(S96)與圖13中的步驟S44一樣，測(cè)量并計(jì)算所有扇區(qū)指針的位置誤差的平均值RPE(k)，并且使用包含有F(x)表23-2的最佳增益的濾波函數(shù)F(k-q)和平均值RPE(k)來(lái)計(jì)算目標(biāo)扇區(qū)q的RRO(q)。換言之，當(dāng)生成RroTable時(shí)，通過(guò)上述表達(dá)式(20)確定第q個(gè)扇區(qū)處的RRO波形RRO(q)。(S98)最后，將所確定的RRO(q)加入校正表29的RroTable(q)，并且將所加入的值存儲(chǔ)在校正表29的RroTable(q)中。并且將測(cè)量和校正計(jì)數(shù)值CountM加“1”。然后，判斷測(cè)量校正值是否是“M”或更大。如果該計(jì)數(shù)值CountM沒(méi)有超過(guò)“M”，則處理返回到步驟S94。如果該計(jì)數(shù)值CountM是“M”或更大，則完成了M次的測(cè)量和校正，所以結(jié)束校正表創(chuàng)建處理。如上所述，將校正后的殘余RRO作為評(píng)估目標(biāo)來(lái)確定評(píng)估函數(shù)，并且根據(jù)該評(píng)估函數(shù)，按照?qǐng)D22來(lái)確定使殘余RRO最小(即，使校正后的RRO達(dá)到最小)的增益K(即，K(CountM))，并且將該結(jié)果與濾波函數(shù)F(x)相結(jié)合，以按照?qǐng)D24創(chuàng)建校正表。因此，除了濾波函數(shù)F(x)的上述效果外，在不依賴于實(shí)驗(yàn)的情況下，可以確定校正表創(chuàng)建增益，該增益對(duì)于創(chuàng)建時(shí)間和裝置規(guī)格都是最佳的，并且據(jù)此可以創(chuàng)建校正表。此外，可以確保校正之后的RRO的值，基于此，可以確定制造時(shí)間和裝置規(guī)格。RRO校正表創(chuàng)建方法的第四實(shí)施例圖25是表示本發(fā)明的RRO校正表創(chuàng)建系統(tǒng)的第四實(shí)施例的框圖。在圖25中，用相同標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖7中相同的組成元件，與圖7的不同之處在于濾波函數(shù)F(x)的計(jì)算處理23-1(圖8，圖12)是由與盤裝置相連的外部設(shè)備(例如個(gè)人計(jì)算機(jī))50執(zhí)行的，并且將結(jié)果設(shè)置在盤裝置中的F(x)表23-2中。由于通過(guò)這種方式使用外部設(shè)備50來(lái)計(jì)算DFT的濾波函數(shù)F(x)，所以可以降低盤裝置中的MCU14的負(fù)擔(dān)，并且可以提高計(jì)算速度。也可以容易地進(jìn)行DFT的濾波函數(shù)F(x)的復(fù)制，其適合于大量制造。還可以通過(guò)外部設(shè)備50來(lái)執(zhí)行圖17中的最佳增益計(jì)算。圖26是表示本發(fā)明第四實(shí)施例的RRO校正表創(chuàng)建方法的修改形式的框圖。在圖25中，用相同標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖7中相同的組成元件，并且與圖7的不同之處在于由與盤裝置相連的外部設(shè)備(例如個(gè)人計(jì)算機(jī))50來(lái)執(zhí)行濾波函數(shù)F(x)計(jì)算處理23-1(圖8，圖12)、RPE獲取處理26(圖13)和波形計(jì)算處理27(圖13)，并且將所得結(jié)果設(shè)置在盤裝置中的RRO校正表29中。由于以這種方式使用外部設(shè)備50來(lái)計(jì)算RRO校正表29的表值，所以可以降低盤裝置的MCU14的負(fù)擔(dān)，并且可以提高計(jì)算速度。在盤裝置出廠之后，在該盤裝置中不必具有校正表創(chuàng)建處理程序，從而可以消除將該程序加載到盤裝置上所需的時(shí)間。同樣，可以通過(guò)外部設(shè)備50來(lái)執(zhí)行圖17中的最佳增益計(jì)算。對(duì)于同一批中的多個(gè)盤裝置，可以在圖25或圖26的結(jié)構(gòu)中創(chuàng)建代表盤裝置的校正表29，并將該表復(fù)制到其它盤裝置。這可以進(jìn)一步減少制造時(shí)間。URRO校正表創(chuàng)建方法上述各種表達(dá)式都是關(guān)于RroTable的。但是，對(duì)于電流波形URroTable，也可以采用相同方式來(lái)討論有關(guān)噪聲的問(wèn)題。換言之，可以根據(jù)隨后提到的關(guān)系式將RroTable轉(zhuǎn)換成URroTable。生成當(dāng)前波形URroTable，以使致動(dòng)器的軌跡與RRO匹配。圖27是表示當(dāng)由單個(gè)盤裝置單元進(jìn)行最佳值計(jì)算和URRO校正表創(chuàng)建時(shí)的情況的框圖，其中由相同標(biāo)號(hào)表示與圖17中相同的組成元件。換言之，計(jì)算塊22確定目標(biāo)位置‘r’與當(dāng)前(觀測(cè))位置‘y’之間的誤差‘e’，控制器20對(duì)計(jì)算進(jìn)行控制并計(jì)算出控制量，加法塊30將URRO校正表36的URRO校正值相加，并驅(qū)動(dòng)VCM1(即設(shè)備21)。對(duì)于設(shè)備21的位置，解調(diào)出來(lái)自磁頭3的伺服信號(hào)，并獲取當(dāng)前位置‘y’。當(dāng)前位置‘y’與目標(biāo)位置‘r’之間的差為位置誤差‘e’。作為要施加到該控制系統(tǒng)的外部擾動(dòng)，將與主軸電機(jī)5的旋轉(zhuǎn)同步的成分以及與其不同步的成分表示為RRO、NRRO、RPE和NRPE。如圖13所示，RPE獲取塊26從對(duì)于各個(gè)扇區(qū)的位置誤差‘e’中獲取RPE。如圖12所描述的，F(xiàn)(x)計(jì)算塊23-1計(jì)算一個(gè)濾波函數(shù)F(x)，其中基于位置誤差‘e’對(duì)一系列DFT計(jì)算表達(dá)式進(jìn)行積分。然而，在URRO的情況下，必須如表達(dá)式(7)(即P(z)/(1+C(z)·P(z)))來(lái)確定傳遞函數(shù)，將電流擾動(dòng)ud(i)而不是位置擾動(dòng)d(i)施加給圖12中的計(jì)算塊33。換言之，可以僅通過(guò)用“ud(i)”替代“d(i)”來(lái)使用圖12中的流程。函數(shù)F(x)表23-2存儲(chǔ)所計(jì)算的濾波函數(shù)F(x)。波形計(jì)算塊27用函數(shù)F(x)乘以在RPE獲取塊26中獲取的RPE，并且計(jì)算URRO波形，如圖9和圖13所示。URRO表36存儲(chǔ)該URRO波形。如圖13中所述，加法塊28對(duì)于重復(fù)次數(shù)將URRO波形相加，并更新表36。在創(chuàng)建了URRO表36之后，計(jì)算塊33在磁盤裝置的工作狀態(tài)下(特別地在以下?tīng)顟B(tài)中)將校正表36中的URroTable加入控制器20的控制量中，并生成控制量‘u’。據(jù)此，對(duì)于控制器20的輸出進(jìn)行URRO校正。根據(jù)上述表達(dá)式(7)，通過(guò)靈敏度函數(shù)的逆特性(1+C(z)·P(z))以及設(shè)備的逆特性(1/P(z))對(duì)于RPE確定URroTable值。因此，在濾波函數(shù)F(x)中，對(duì)于表達(dá)式(7)中的設(shè)備的逆特性(1/P(z))的量，由于對(duì)于F(x)計(jì)算塊23-1描述的圖12中的變形，所以上述表達(dá)式(13)的a(m)和b(m)是不同的。圖28是表示根據(jù)本發(fā)明第二實(shí)施例的URRO校正表創(chuàng)建系統(tǒng)的框圖。在圖28中，用相同標(biāo)號(hào)表示與圖7和圖27中相同的組成元件，圖28與圖27的不同之處在于通過(guò)與盤裝置相連的外部設(shè)備(例如個(gè)人計(jì)算機(jī))50執(zhí)行濾波函數(shù)值F(x)計(jì)算處理23-1，并將結(jié)果設(shè)置在盤裝置中的F(x)表23-2中。當(dāng)使用該結(jié)構(gòu)時(shí)，利用外部設(shè)備50計(jì)算濾波函數(shù)F(x)，從而減輕了盤裝置的MCU14的負(fù)擔(dān)，并且可以提高計(jì)算速度。圖29是表示根據(jù)本發(fā)明第三實(shí)施例的URRO校正表創(chuàng)建方法的框圖。在圖29中，用相同的標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖7和圖27中相同的組成元件，圖29與圖27的不同之處在于通過(guò)與盤裝置相連的外部設(shè)備(例如個(gè)人計(jì)算機(jī))50來(lái)執(zhí)行濾波函數(shù)值F(x)計(jì)算處理23-1、RPE獲取處理26(圖13)和波形計(jì)算處理27(圖13)，并且將所得結(jié)果設(shè)置在盤裝置中的URRO校正表36中。當(dāng)使用這種結(jié)構(gòu)時(shí)，通過(guò)使用外部設(shè)備50來(lái)計(jì)算URRO校正表36的表值，從而可以進(jìn)一步減少盤裝置的MCU14的負(fù)擔(dān)，并且可以提高計(jì)算速度。此外，在盤裝置出廠之后，在該盤裝置中不必具有校正表創(chuàng)建處理程序，從而可以消除將該程序加載到盤裝置上所需的時(shí)間。與RRO一樣，對(duì)于同一批中的多個(gè)盤裝置，可以利用圖27至圖29的結(jié)構(gòu)創(chuàng)建代表盤裝置的校正表36，并將其復(fù)制到其它盤裝置。這可以進(jìn)一步減少制造時(shí)間。而且與圖17一樣，可以執(zhí)行對(duì)于加法增益K的最佳處理。圖30是表示其評(píng)估函數(shù)的說(shuō)明圖。在圖30中，用相同的標(biāo)號(hào)來(lái)表示與圖18相同的組成元件。根據(jù)表達(dá)式(7)，殘余RRO是通過(guò)從實(shí)際RRO中減去在塊34中通過(guò)((1+C(z)·P(z)/)P(z)而獲取的值(作為URroTable36中的URRO校正值)所得的結(jié)果。而且根據(jù)表達(dá)式(5)，通過(guò)靈敏度函數(shù)的逆特性(1+C(z)·P(z))對(duì)于RPE確定RroTable值，所以由以下表達(dá)式(38)給出URroTable值。URroTable＝(-1/P(z))·RroTable(38)換言之，在RRO的情況下評(píng)估函數(shù)與表達(dá)式(29)相同，但是通過(guò)根據(jù)關(guān)系表達(dá)式(7)由波形計(jì)算塊27將RroTable值轉(zhuǎn)換成URroTable值，來(lái)獲取URRO校正表36?？紤]軌道之間相關(guān)性的RRO校正表創(chuàng)建方法的第五實(shí)施例上述方法基于如下假設(shè)在盤的軌道之間不存在相關(guān)性。然而，在某些情況下，軌道之間的RRO的校正可能增加。例如，當(dāng)盤機(jī)械變形時(shí)，除了在盤表面上的一點(diǎn)處或各個(gè)區(qū)域中確定RRO校正值的方法外，還需要一些改進(jìn)?；谝陨峡紤]，將說(shuō)明支持該狀態(tài)的一個(gè)實(shí)施例。換言之，在各個(gè)軌道中創(chuàng)建RroTable值。圖31是表示考慮軌道之間的相關(guān)性的RRO校正表創(chuàng)建處理的流程圖，而圖32和圖33說(shuō)明該處理流程。(S100)如圖32所示，將具有同一頭部的盤4分為多個(gè)區(qū)域Z1、Z2和Z3。首先，在該區(qū)域內(nèi)創(chuàng)建共用RRO校正值。換言之，將目標(biāo)頭部移動(dòng)到盤4的目標(biāo)區(qū)域，并將RroTable值初始化為“0”。確定該區(qū)域內(nèi)的抽樣目標(biāo)軌道的平均RPE波形，并計(jì)算該區(qū)域的平均RRO校正波形RroZone，將對(duì)于所有頻率統(tǒng)一的加法增益設(shè)為“1”。(S102)然后，利用該RroZone作為初始值，將頭部定位到該區(qū)域內(nèi)的測(cè)量點(diǎn)(例如各個(gè)軌道)，并將RroZone值存儲(chǔ)在圖33所示的RroTable29中。(S104)如上所述，對(duì)于特定旋轉(zhuǎn)周數(shù)N，測(cè)量移動(dòng)后的當(dāng)前軌道的位置誤差‘e’，并計(jì)算RPE。對(duì)于圖22所述的各個(gè)頻率，使用包含有不同加法增益的濾波函數(shù)F(x)，在圖24的處理中計(jì)算RRO校正波形RRO(q)。如圖33所示，將當(dāng)前軌道的RRO校正值存儲(chǔ)在RroTable29中。在磁頭3以MR頭作為讀取元件的示例中，除了寫(xiě)入元件，還使用了旋轉(zhuǎn)致動(dòng)器，并且寫(xiě)入元件和讀取元件對(duì)于該軌道的位置也是不同的。因此在圖33中的RroTable29中，獨(dú)立于寫(xiě)入元件的RRO值(即RRO(W))，測(cè)量讀取元件的RRO值并存儲(chǔ)為RRO(R)。(S106)然后，判斷是否測(cè)量了該區(qū)域內(nèi)的所有的測(cè)量點(diǎn)。如果沒(méi)有測(cè)量該區(qū)域內(nèi)的所有測(cè)量點(diǎn)，則將頭部移動(dòng)到下一測(cè)量點(diǎn)，并且處理返回到步驟S104。如果已經(jīng)測(cè)量了該區(qū)域內(nèi)的所有測(cè)量點(diǎn)，則結(jié)束該區(qū)域中的RroTable的創(chuàng)建。對(duì)于圖32中所示的分割區(qū)域的數(shù)量重復(fù)進(jìn)行此操作，并創(chuàng)建圖33中的RroTable29。這樣，將具有同一磁頭的磁盤4分為多個(gè)區(qū)域，并且首先計(jì)算該區(qū)域中的共用RRO校正值，并通過(guò)將對(duì)于所有頻率統(tǒng)一的加法增益設(shè)為“1”，計(jì)算區(qū)域平均RRO校正波形RroZone。然后使用該RroZone作為初始值，將磁頭移動(dòng)到該區(qū)域中的測(cè)量點(diǎn)(例如各個(gè)軌道)，并對(duì)于特定旋轉(zhuǎn)周數(shù)N進(jìn)行測(cè)量，計(jì)算RPE，并且使用包含有根據(jù)頻率而不同的加法增益的濾波函數(shù)F(x)，在圖24中的處理中測(cè)量RRO校正波形RRO(q)。因此，當(dāng)多個(gè)軌道之間的RRO相關(guān)性較高時(shí)，例如當(dāng)磁盤機(jī)械變形時(shí)，可以測(cè)量各個(gè)軌道中的測(cè)量點(diǎn)的RRO校正值，并且即使在這種狀態(tài)下也可以進(jìn)行準(zhǔn)確的RRO校正。使用RRO校正表的伺服軌道寫(xiě)入方法下面將說(shuō)明使用上述所創(chuàng)建的校正表的一個(gè)實(shí)施例。第一實(shí)施例涉及制造所述盤裝置。將外部記錄有伺服信號(hào)的盤安裝在盤裝置中，并對(duì)于各個(gè)讀取和寫(xiě)入位置創(chuàng)建用于所有軌道的校正表?；蛘叨鄠€(gè)軌道可以構(gòu)成一個(gè)區(qū)域，并可以對(duì)該區(qū)域內(nèi)的共同成分進(jìn)行校正。當(dāng)將伺服信號(hào)記錄在盤裝置中時(shí)使用第二實(shí)施例。圖34是對(duì)此進(jìn)行說(shuō)明的說(shuō)明圖。伺服信號(hào)記錄方法是一種自伺服寫(xiě)入方法。如圖34所示，在盤4的邊緣(在此情況下為外軌道)處以預(yù)定進(jìn)給寬度記錄幾個(gè)軌道的伺服信號(hào)SV1。然后，基于這些伺服信號(hào)SV1，將伺服信號(hào)SV2記錄在盤4上的沒(méi)有記錄伺服信號(hào)的區(qū)域中。當(dāng)將伺服信號(hào)SV1記錄在盤4的邊緣(在此情況下為外邊緣)時(shí)，測(cè)量RRO校正值，并利用該RRO校正值，基于伺服信號(hào)SV1，將伺服信號(hào)SV2記錄在盤4上的沒(méi)有記錄伺服信號(hào)的區(qū)域中。并且，對(duì)于所有軌道，測(cè)量RRO校正值，并創(chuàng)建RroTable29。第三實(shí)施例用于稱為“復(fù)制STW”或“重寫(xiě)STW”的伺服信號(hào)記錄方法。圖35是伺服軌道寫(xiě)入方法的說(shuō)明圖。如圖35所示，將伺服信號(hào)預(yù)先記錄在盤4-1的至少一面的整個(gè)表面上，并且將記錄有伺服信號(hào)的盤4-1以及沒(méi)有記錄伺服信號(hào)的盤4-2安裝在盤裝置上。并且，在使用盤4-1的一面上的伺服信號(hào)進(jìn)行定位控制的同時(shí)，測(cè)量RRO校正表，并利用該RRO校正值，將伺服信號(hào)記錄在未記錄有伺服信號(hào)的一面上(盤4-1的背面和盤4-2)。通過(guò)測(cè)量所有軌道的RRO校正值來(lái)創(chuàng)建RroTable29。在這種情況下，利用RRO校正值，可以從開(kāi)始就將伺服信號(hào)重寫(xiě)在記錄有伺服信號(hào)的盤4-1的一面上，并可以隨后刪除初始伺服信號(hào)。第四實(shí)施例用于盤裝置出廠之后。當(dāng)伺服信號(hào)達(dá)到了不同于制造過(guò)程中的狀態(tài)時(shí)，例如在由于機(jī)械變形而出現(xiàn)偏心或者由于介質(zhì)刮痕而出現(xiàn)伺服信號(hào)丟失的情況下，使用第四實(shí)施例來(lái)生成跟從或不跟從RRO的信號(hào)。這使得可以通過(guò)較少旋轉(zhuǎn)周數(shù)實(shí)現(xiàn)高精度校正。圖36是表示該校正表重寫(xiě)方法的流程圖。(S110)盤裝置的MCU14判斷定位精度是否出現(xiàn)異常。例如，當(dāng)即使在利用上述RRO校正表29進(jìn)行了定位控制之后，磁頭仍未能被定位在目標(biāo)軌道中心(位置誤差大于偏道標(biāo)準(zhǔn)值)時(shí)，進(jìn)行重試。如果即使在幾次重試之后磁頭仍未能被定位在目標(biāo)軌道中心，則判定定位精度異常。(S102)如果判定定位精度異常，則判斷是否可以通過(guò)RRO校正進(jìn)行恢復(fù)。例如，如果磁頭檢測(cè)能力下降，則即使進(jìn)行RRO校正也不能進(jìn)行恢復(fù)。如果判定可以通過(guò)RRO校正進(jìn)行恢復(fù)，則MCU14如上所述測(cè)量RRO校正值。(S104)然后通過(guò)將RRO校正值測(cè)量結(jié)果與當(dāng)前RRO校正表29的校正值進(jìn)行比較，來(lái)判斷RRO校正表29的重寫(xiě)是否有效。例如，如果RRO校正值測(cè)量結(jié)果與當(dāng)前RRO校正表29的校正值差別不是很大，則即使對(duì)校正表29進(jìn)行重寫(xiě)也不能提高定位精度，從而處理結(jié)束。如果RRO校正值測(cè)量結(jié)果與當(dāng)前RRO校正表29的校正值不同，則通過(guò)重寫(xiě)校正表29來(lái)提高定位精度，從而重寫(xiě)校正表29，處理結(jié)束。這樣，當(dāng)伺服信號(hào)到達(dá)不同于制造過(guò)程中的狀態(tài)時(shí)，例如在由于機(jī)械變形而產(chǎn)生偏心或者由于介質(zhì)刮痕而出現(xiàn)伺服信號(hào)丟失的情況下，可以將伺服信號(hào)重寫(xiě)為跟從或不跟從RRO的信號(hào)，這有助于提高定位精度。其它實(shí)施例存在一些可以記錄上述校正數(shù)據(jù)(表)的可能位置。如圖37所示，可以將校正數(shù)據(jù)RroTable(q)加到各個(gè)扇區(qū)的伺服信號(hào)的尾部?；蛘呖梢詫⑿Ｕ龜?shù)據(jù)記錄在盤4介質(zhì)上的不用于記錄/再現(xiàn)數(shù)據(jù)的專用區(qū)域中。此外，可以將校正數(shù)據(jù)預(yù)先記錄在盤裝置的電子電路上的非易失性存儲(chǔ)器中。在這三個(gè)記錄位置中，當(dāng)校正所有獨(dú)立軌道時(shí)，第一或第二方法是有效的。如果只校正定位波動(dòng)較大的軌道，即校正數(shù)據(jù)量較小，則可以使用第三方法(非易失性存儲(chǔ)器)。當(dāng)盤裝置的盤是固定的時(shí)，上述方法有效。即，當(dāng)介質(zhì)是不可替換的時(shí)。即使在將盤(如磁性轉(zhuǎn)移設(shè)備和圖案化介質(zhì))固定在磁盤驅(qū)動(dòng)裝置中的情況下，如果利用共用模具(die)形成介質(zhì)上的伺服信號(hào)，則可以測(cè)量隨著模具創(chuàng)建精度而確定的共用RRO，并將該盤用作介質(zhì)。將盤裝置描述為磁盤裝置，但是本發(fā)明也可以應(yīng)用于其它盤介質(zhì)，例如光盤裝置和磁光盤裝置。同樣地，對(duì)于圖25中的實(shí)施例說(shuō)明了RRO，但是本發(fā)明也可以應(yīng)用于圖27所述的URRO。利用這些實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明，但是可以在本發(fā)明的主要特征的范圍內(nèi)對(duì)本發(fā)明進(jìn)行各種改進(jìn)，這些改進(jìn)不應(yīng)排除在本發(fā)明的范圍之外。由于預(yù)先計(jì)算了濾波函數(shù)F(x)的值，并且當(dāng)創(chuàng)建RRO校正表時(shí)，可以使用該濾波函數(shù)F(x)值來(lái)計(jì)算旋轉(zhuǎn)成分校正信號(hào)，而不進(jìn)行頻率轉(zhuǎn)換，所以本發(fā)明可以極大地降低校正表創(chuàng)建時(shí)間，并且有助于提高盤裝置的生產(chǎn)率。因此，可以在更短時(shí)間內(nèi)制造進(jìn)行旋轉(zhuǎn)同步校正的盤裝置，并可以低成本地實(shí)現(xiàn)適于大批量生產(chǎn)的盤裝置。權(quán)利要求1.一種頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，用于創(chuàng)建對(duì)與盤的旋轉(zhuǎn)同步的成分進(jìn)行校正的校正信號(hào)，該方法包括如下步驟根據(jù)檢測(cè)位置與目標(biāo)位置之間的位置誤差的平均波形，來(lái)測(cè)量與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分，其中所述檢測(cè)位置基于來(lái)自用于至少讀取所述盤的頭部的位置信號(hào)；根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的位置誤差成分生成校正信號(hào)，所述濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的；以及，將所述校正信號(hào)存儲(chǔ)在所述校正表中。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，其中所述生成步驟包括以下步驟使用所創(chuàng)建的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)的一部分來(lái)生成所述校正信號(hào)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，其中所述生成步驟還包括以下步驟通過(guò)由以下表達(dá)式(13)定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)來(lái)生成所述校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，并且a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性。RRO(q)=Σk=0Ns-1RPE(k)F(k-q)]]>F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}(2/NS).---(13)]]>4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，其中所述生成步驟還包括以下步驟通過(guò)由以下表達(dá)式(37)所定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)來(lái)生成所述校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性，Krro(m)是所述校正表的加法增益。F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}Krro(m)---(37)]]>x＝0，1，...，(NS-1)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，還包括如下步驟測(cè)量所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性，并且根據(jù)所測(cè)得的頻率特性和所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率，創(chuàng)建以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的頭部位置控制的校正表創(chuàng)建方法，其中，所述濾波函數(shù)創(chuàng)建步驟還包括以下步驟將正弦擾動(dòng)施加給所述位置控制系統(tǒng)，并觀測(cè)所述位置控制系統(tǒng)的信號(hào)；根據(jù)所觀測(cè)的信號(hào)來(lái)計(jì)算與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差；以及，以頻率為單位計(jì)算所述擾動(dòng)與所述位置誤差之比，并且計(jì)算所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性。7.一種頭部位置控制方法，用于使用信號(hào)來(lái)控制至少對(duì)盤的信息進(jìn)行讀取的頭部的位置，其中所述信號(hào)是通過(guò)用與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的成分來(lái)校正所述盤的位置信號(hào)而得到的，該方法包括以下步驟計(jì)算目標(biāo)位置與基于來(lái)自所述頭部的位置信號(hào)的當(dāng)前位置之間的位置誤差；從存儲(chǔ)校正信號(hào)的校正表中讀取所述校正信號(hào)，該校正信號(hào)是通過(guò)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的所測(cè)得的位置誤差成分而獲取的，所述以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的；以及，基于所述位置誤差和所述校正信號(hào)來(lái)控制所述頭部位置。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的頭部位置控制方法，其中所述讀取步驟包括以下步驟通過(guò)使用所創(chuàng)建的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)的一部分從所述校正表中讀取所生成的校正信號(hào)。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的頭部位置控制方法，其中所述讀取步驟還包括以下步驟通過(guò)由以下表達(dá)式(13)定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)來(lái)讀取所生成的校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，并且a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性。RRO(q)=Σk=0Ns-1RPE(k)F(k-q)]]>F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}(2/NS).---(13)]]>10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的頭部位置控制方法，其中所述讀取步驟還包括以下步驟通過(guò)由以下表達(dá)式(37)所定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)來(lái)讀取所述生成的校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性，Krro(m)是所述校正表的加法增益。F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}Krro(m)---(37)]]>x＝0，1，...，(NS-1)。11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的頭部位置控制方法，還包括如下步驟測(cè)量所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性，并且根據(jù)所測(cè)得的頻率特性和所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率，來(lái)創(chuàng)建以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)。12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的頭部位置控制方法，其中，所述濾波函數(shù)創(chuàng)建步驟還包括以下步驟將正弦擾動(dòng)施加給所述位置控制系統(tǒng)，并觀測(cè)所述位置控制系統(tǒng)的信號(hào)；根據(jù)所觀測(cè)的信號(hào)來(lái)計(jì)算與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差；以及，以頻率為單位計(jì)算所述擾動(dòng)與所述位置誤差之比，并且計(jì)算所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性。13.一種盤裝置，包括頭部，用于至少讀取盤的信息；致動(dòng)器，用于將所述頭部移動(dòng)到所述盤上的期望位置；校正表，用于存儲(chǔ)根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分而獲取的校正信號(hào)，所述以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的；以及控制單元，用于計(jì)算目標(biāo)位置與基于來(lái)自所述頭部的所述位置信號(hào)的當(dāng)前位置之間的位置誤差，并且基于所述位置誤差和所述校正信號(hào)來(lái)控制所述頭部位置。14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的盤裝置，其中所述校正表存儲(chǔ)使用所創(chuàng)建的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)的一部分而生成的所述校正信號(hào)。15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的盤裝置，其中所述校正表存儲(chǔ)通過(guò)由以下表達(dá)式(13)定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)而生成的所述校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，并且a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性。RRO(q)=Σk=0Ns-1RPE(k)F(k-q)]]>F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}(2/NS).---(13)]]>16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的盤裝置，其中所述校正表存儲(chǔ)通過(guò)由以下表達(dá)式(37)所定義的以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)F(x)而生成的所述校正信號(hào)RRO，其中RPE是所述位置誤差信號(hào)的平均波形，RRO是校正信號(hào)，Ns是所述盤的一個(gè)軌道的一周的伺服扇區(qū)數(shù)，a(m)+jb(m)是作為所述盤的旋轉(zhuǎn)頻率的m倍的所述頻率特性，而Krro(m)是所述校正表的加法增益。F(x)=Σm=1NS/2-1{a(m)cos(2πmx/NS)-b(m)sin(2πmx/NS)}Krro(m)---(37)]]>x＝0，1，...，(NS-1)。17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的盤裝置，其中所述控制單元測(cè)量所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性，并且根據(jù)所測(cè)得的頻率特性和所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率來(lái)創(chuàng)建以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)。18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的盤裝置，其中所述控制單元將正弦擾動(dòng)施加給所述位置控制系統(tǒng)，觀測(cè)所述位置控制系統(tǒng)的信號(hào)，根據(jù)所觀測(cè)的信號(hào)來(lái)計(jì)算與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差，以頻率為單位計(jì)算所述擾動(dòng)與所述位置誤差之比，并計(jì)算所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性。19.根據(jù)權(quán)利要求13所述的盤裝置，其中所述控制單元根據(jù)以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)以及所測(cè)得的與所述盤的旋轉(zhuǎn)同步的位置誤差成分來(lái)計(jì)算校正信號(hào)，并且創(chuàng)建所述校正表，所述濾波函數(shù)是根據(jù)所測(cè)得的所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性以及所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率而創(chuàng)建的。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的盤裝置，其中所述控制單元測(cè)量所述頭部的位置控制系統(tǒng)的頻率特性，并根據(jù)所測(cè)得的頻率特性和所述盤的旋轉(zhuǎn)的重復(fù)頻率來(lái)創(chuàng)建所述以時(shí)間為單位的濾波函數(shù)。全文摘要一種頭部位置控制方法，基于所述頭部控制量對(duì)與盤的旋轉(zhuǎn)同步的成分進(jìn)行校正，來(lái)控制頭部的位置。使用濾波函數(shù)來(lái)生成對(duì)于與旋轉(zhuǎn)同步的成分的校正信號(hào)。預(yù)先測(cè)量該濾波函數(shù)，該濾波函數(shù)對(duì)DFT和逆DFT的正弦和余弦項(xiàng)進(jìn)行積分并形成復(fù)數(shù)值a(m)和b(m)與用于頻率轉(zhuǎn)換的正弦和余弦的乘積。所述復(fù)數(shù)值是具有要相乘的頻率特性(1+C(z)P(z))或者－(1+C(z)P(z)/)P(z)的m次RRO頻率。文檔編號(hào)G11B21/10GK1773608SQ200510067288公開(kāi)日2006年5月17日申請(qǐng)日期2005年4月14日優(yōu)先權(quán)日2004年11月9日發(fā)明者高石和彥申請(qǐng)人:富士通株式會(huì)社