專利名稱：薄膜磁頭及其個(gè)體識(shí)別方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于磁盤裝置等、并具有個(gè)體識(shí)別機(jī)構(gòu)的薄膜磁頭及其個(gè)體識(shí)別方法。
背景技術(shù)：
眾所周知，磁頭裝置包括由板簧材料或撓性電路板等構(gòu)成的支撐構(gòu)件和安裝在該支撐構(gòu)件前端的磁頭主體構(gòu)成。磁頭主體具有由氧化鋁·碳化鈦(Al2O3·TiC)等陶瓷材料構(gòu)成的滑塊，該滑塊的拖動(dòng)側(cè)端面上形成有薄膜元件(磁頭元件)。薄膜元件具有利用磁阻效應(yīng)檢測來自記錄介質(zhì)的漏磁場并讀取磁信號(hào)的MR磁頭(讀取磁頭)和由線圈等形成圖案的感應(yīng)磁頭(寫入磁頭)。該磁頭主體是通過如下工序完成的在晶片基板上一并形成多個(gè)薄膜元件后，按每個(gè)薄膜元件為切割薄膜基板，并對(duì)各基板的成為與記錄介質(zhì)相對(duì)置的對(duì)置面的端面施加機(jī)械加工。
如果這樣一次制造多個(gè)磁頭主體，則在晶片單位或晶片內(nèi)部出現(xiàn)電氣特性差異，恐怕會(huì)混入不合格品。為了防止及管理這些來提高磁頭的性能和可靠性，以往對(duì)各磁頭主體付與識(shí)別信息(個(gè)體識(shí)別機(jī)構(gòu))，希望迅速且準(zhǔn)確地把握制造磁頭時(shí)的工藝信息和產(chǎn)品種類信息、批量信息、初期性能和可靠性信息等。識(shí)別信息一般由數(shù)字或文字、記號(hào)等構(gòu)成，例如通過激光制標(biāo)或薄膜工藝形成在滑塊的特定位置上(例如與記錄介質(zhì)相對(duì)的對(duì)置面或滑塊讀取面)。被付與這種識(shí)別信息的磁頭和對(duì)磁頭付與識(shí)別信息的方法例如記載在專利文獻(xiàn)1～4中。
專利文獻(xiàn)1日本特開昭62-20116號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2日本特開平4-356717號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)3日本特開平9-81922號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)4日本特開2003-76026號(hào)公報(bào)但是，由于以往在薄膜工藝中或薄膜工藝結(jié)束后將個(gè)體識(shí)別信息付與滑塊，因此恐怕會(huì)在制造工序中或組裝工序中附著污物而弄臟識(shí)別信息部分。識(shí)別信息一般通過圖像處理讀取，但是如果弄臟識(shí)別信息部分及其周圍，讀取精度下降，導(dǎo)致誤檢、或變成讀取誤差。如果發(fā)生識(shí)別信息的誤檢和讀取誤差，將不能把握該磁頭的工藝信息或產(chǎn)品種類信息、批量信息等，磁頭的可靠性變差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為上述問題而做出，其目的在于提供一種薄膜磁頭及其個(gè)體識(shí)別方法，能夠避免識(shí)別信息的誤檢，提高讀取精度，提高磁頭的可靠性。
本發(fā)明通過設(shè)置作為識(shí)別信息的一部分的誤差檢測/錯(cuò)誤修正用的檢驗(yàn)碼，可用該檢驗(yàn)碼進(jìn)行檢測出的識(shí)別信息的對(duì)錯(cuò)判斷和無法檢測的識(shí)別信息的復(fù)原。
即，本發(fā)明涉及的薄膜磁頭，根據(jù)在滑塊的特定位置付與的多位的批號(hào)進(jìn)行個(gè)體識(shí)別，其特征在于，在批號(hào)附近形成了用規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則提供給各批號(hào)的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼。
最好是，批號(hào)的每組規(guī)定數(shù)量的位具有一個(gè)檢驗(yàn)碼。隨著近年來的磁頭小型化，付與批號(hào)及檢驗(yàn)碼的空間受到限制、以及該空間將來會(huì)更加狹窄，因此，希望檢驗(yàn)碼的數(shù)量少。
最好是，多位的批號(hào)由多個(gè)文字或數(shù)字構(gòu)成，檢驗(yàn)碼是從在批號(hào)中可使用的文字組或數(shù)字組中選擇。如果使用文字或數(shù)字，不特定多數(shù)人能容易辨認(rèn)。
在上述批號(hào)中可使用的文字組和數(shù)字組，與表示磁頭識(shí)別信息的數(shù)值號(hào)碼分別關(guān)聯(lián)設(shè)定。此時(shí)，例如批號(hào)的每兩位具有一個(gè)檢驗(yàn)碼，該檢驗(yàn)碼被設(shè)定成使與該批號(hào)的文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的2個(gè)數(shù)值號(hào)碼的合計(jì)成為規(guī)定值。
考慮到節(jié)省空間和辨認(rèn)性，批號(hào)和檢驗(yàn)碼配置成列狀較為實(shí)際。
此外，本發(fā)明涉及的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法中，薄膜磁頭在滑塊的特定位置上被付與了多位的批號(hào)和用規(guī)定的檢測規(guī)則提供給該批號(hào)的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼，并根據(jù)多位的批號(hào)進(jìn)行個(gè)體識(shí)別，其特征在于，通過圖像處理檢測出批號(hào)和檢驗(yàn)碼，根據(jù)檢驗(yàn)規(guī)則是否在該檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間成立，進(jìn)行檢測出的批號(hào)的對(duì)錯(cuò)判斷。
最好是，多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼由可使用的文字組或數(shù)字組中的文字或數(shù)字構(gòu)成，所述文字組或數(shù)字組同表示磁頭識(shí)別信息的數(shù)值號(hào)碼相關(guān)聯(lián)地設(shè)定。此時(shí)，通過圖像處理檢測構(gòu)成多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的文字或數(shù)字，根據(jù)與該檢測出的各文字或數(shù)字分別對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼來判斷檢驗(yàn)規(guī)則是否成立。
構(gòu)成多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的文字或數(shù)字，可根據(jù)分別核對(duì)拍攝圖像和基準(zhǔn)圖像而算出的相關(guān)值來檢測，所述拍攝圖像是由上述圖像處理取得的多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的拍攝圖像，所述基準(zhǔn)圖像是在該批號(hào)和檢驗(yàn)碼中可使用的所有文字和數(shù)字的基準(zhǔn)圖像。
根據(jù)上述相關(guān)值來檢測構(gòu)成批號(hào)和檢驗(yàn)碼的文字或數(shù)字的方式中，在檢驗(yàn)規(guī)則在檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間不成立的情況下，最好是，根據(jù)構(gòu)成該檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的相關(guān)值，重新判斷該檢測出的批號(hào)的對(duì)錯(cuò)。根據(jù)該重新判斷，可進(jìn)一步提高檢測精度。具體地說，例如，如果構(gòu)成該檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的相關(guān)值全部在規(guī)定的閾值以上，則判斷為該檢測出的批號(hào)正確。與此相對(duì)，最好是，如果構(gòu)成檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的任一個(gè)相關(guān)值在規(guī)定閾值以下，則判斷為檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤，根據(jù)檢測出的檢驗(yàn)碼和檢驗(yàn)規(guī)則復(fù)原批號(hào)?；蛘撸詈檬?，將小于等于該閾值的文字或數(shù)字變換為規(guī)定的虛數(shù)字文字，判定為該檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤。
作為另一種方式，上述檢驗(yàn)規(guī)則在上述檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間不成立時(shí)，也可以判定為檢測的批號(hào)錯(cuò)誤，根據(jù)檢測的檢驗(yàn)碼和上述檢驗(yàn)規(guī)則來復(fù)原批號(hào)?；蛘?，將檢測的批號(hào)變換為規(guī)定的虛數(shù)字文字，判斷為該檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤。
發(fā)明效果根據(jù)本發(fā)明，能得到磁頭及其個(gè)體識(shí)別方法，能避免識(shí)別信息的誤驗(yàn)測，能夠提高讀取精度和磁頭的可靠性。


圖1是表示從滑塊的滑動(dòng)側(cè)端面看應(yīng)用了本發(fā)明的薄膜磁頭的結(jié)構(gòu)時(shí)的概略俯視圖。
圖2是放大表示圖1的識(shí)別信息的俯視3表示自動(dòng)讀取并檢測識(shí)別信息的控制系統(tǒng)的概略結(jié)構(gòu)圖。
圖4表示圖3的處理裝置執(zhí)行的批號(hào)自動(dòng)檢測動(dòng)作的流程圖。
圖5表示與圖4不同方式的批號(hào)的自動(dòng)檢測動(dòng)作的流程圖。
具體實(shí)施例方式
圖1是表示從滑塊的滑動(dòng)側(cè)端面看應(yīng)用了本發(fā)明的薄膜磁頭的結(jié)構(gòu)時(shí)的概略俯視圖。薄膜磁頭1具有與硬盤等記錄盤(記錄介質(zhì))對(duì)置的滑塊3?；瑝K3是雙軌型滑塊，由Al2O3·TiC等非磁性材料構(gòu)成。滑塊3的滑動(dòng)側(cè)端面3a上并列設(shè)置了薄膜元件4和用于外部連接的焊盤5a～5d，該薄膜元件4和各焊盤5a～5d通過4根引出線6a～6b、上部連接線7和中間連接線8被導(dǎo)通連接。
薄膜元件4是層疊MR磁頭(讀取磁頭)和感應(yīng)磁頭(寫入磁頭)而構(gòu)成的所謂的復(fù)合型薄膜磁頭，MR磁頭利用磁阻效應(yīng)來檢測來自記錄磁盤D的漏磁場并讀取磁信號(hào)，感應(yīng)磁頭中平面螺旋狀的線圈等形成圖案。MR磁頭的MR元件的兩端上分別連接了導(dǎo)電層E1、E2。
各引出線6a～6d、上部連接線7及中間連接線8由Ni或Cu等低電阻導(dǎo)電材料構(gòu)成。引出線6a的一端與連接在其上層形成的焊盤5a上，另一端與位于同記錄磁盤D面對(duì)的寫入間隙G的相反側(cè)上的線圈C的外周端連續(xù)連接。引出線6b的一端連接在形成于其上層的焊盤5b上，另一端與線圈C的中央端、以及跨過該線圈C設(shè)在絕緣層(未圖示)上的上部連接線7的兩者連接。引出線6c的一端與形成在其上層的焊盤5c連接，另一端通過接觸孔(未圖示)與焊盤5d側(cè)的導(dǎo)電層E1連接。引出線6d的一端與形成在其上層的焊盤5d連接，另一端通過接觸孔(圖未示)與中間連接線8連接。中間連接線8的一端連接在導(dǎo)電層E2上，另一端如上所述地通過接觸孔(圖未示)與引出線6d的另一端連接著。中間連接線8的另一端配置在靠近導(dǎo)電層E1的位置上，以便圍繞線圈C的周圍。
焊盤5a～5d上分別安裝了由Au構(gòu)成的金屬線，通過各金屬線與設(shè)在外部的處理電路(未圖示)連接著。通過焊盤5a、5b向薄膜元件4的感應(yīng)磁頭提供寫入用的信號(hào)電流，通過焊盤5c、5d向MR磁頭提供讀取用的電流(讀取電流)。
在滑塊3的滑動(dòng)側(cè)端面3a，還在未形成有薄膜元件4和焊盤5a～5d等的區(qū)域上付與了本薄膜磁頭1固有的識(shí)別信息10。識(shí)別信息10中包含著制造磁頭時(shí)的工藝信息和產(chǎn)品種類信息、批量信息、初期性能以及可靠性信息等。本實(shí)施例的薄膜磁頭1的特征在于該識(shí)別信息10，以下詳細(xì)說明識(shí)別信息10和利用該識(shí)別信息10的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法。
圖2是放大表示識(shí)別信息10的一例的模式圖。識(shí)別信息10具有同制造工序或產(chǎn)品種類等識(shí)別信息對(duì)應(yīng)的多位的批號(hào)11、和按照一定的檢驗(yàn)規(guī)則分配給該批號(hào)11的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼12。該批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12例如利用薄膜工藝或薄膜工藝后的激光制標(biāo)形成，如圖2所示地配置成列狀。
批號(hào)11例如是4位的號(hào)碼，由與芯片識(shí)別信息對(duì)應(yīng)的低兩位的第1批號(hào)11a和與條形碼識(shí)別信息對(duì)應(yīng)的高兩位的第2批號(hào)11b構(gòu)成。該批號(hào)11的各位由事先規(guī)定的可以使用的文字/數(shù)字組中的一個(gè)文字或數(shù)字構(gòu)成。作為可使用于批號(hào)的文字/數(shù)字組，本實(shí)施方式中設(shè)定了例如0至9的10個(gè)數(shù)字組、和A～E、H、J～N、P、R、T、V、W、Y這17個(gè)羅馬字符組構(gòu)成的總計(jì)27個(gè)文字/數(shù)字組。如表1所示，該27個(gè)文字/數(shù)字組(letter)分別變換成0至26的數(shù)值號(hào)碼(Number)，各數(shù)值號(hào)碼表示磁頭制造工序和產(chǎn)品種類等各種信息。圖2所示的批號(hào)11為“7930”，第1批號(hào)11a為“79”，第2批號(hào)11b為“30”。
文字/數(shù)字組 數(shù)值號(hào)碼0 01 12 23 34 45 56 67 78 89 9A 10B 11C 12D 13E 14H 15J 16K 17L 18M 19N 20P 21R 22T 23V 24W 25Y 26檢驗(yàn)碼12是批號(hào)11的每個(gè)規(guī)定數(shù)量的位就具備一個(gè)的代碼。近年來，隨著磁頭的小型化，付與識(shí)別信息10的空間受到限制，所以期望檢驗(yàn)碼數(shù)量減少。具體地說，批號(hào)11的每兩位就具備一個(gè)檢驗(yàn)碼12，包括用于第1批號(hào)11a的錯(cuò)誤監(jiān)測的第1檢驗(yàn)碼12a和用于第2批號(hào)11b的錯(cuò)誤檢測的第2檢驗(yàn)碼12b。第1檢驗(yàn)碼12a和第2檢驗(yàn)碼12b由可使用于批號(hào)的文字/數(shù)字組(表1)中的任何一個(gè)文字或數(shù)字構(gòu)成，設(shè)定成對(duì)第1批號(hào)11a和第2批號(hào)11b分別滿足一定的檢驗(yàn)規(guī)則。本實(shí)施方式中，設(shè)定第1檢驗(yàn)碼12a，使與構(gòu)成第1批號(hào)的2個(gè)文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的表1的數(shù)值號(hào)碼N1、N2和與構(gòu)成第1檢驗(yàn)碼12a的1個(gè)文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的表1的數(shù)值號(hào)碼C這三者的和成為固定值27。即，檢驗(yàn)規(guī)則為(N1+N2+C)＝27。如圖2所示的第1批號(hào)11a是“79”，因此，與第1批號(hào)11a的各位對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼的合計(jì)為7+9＝16，在可使用于表1的批號(hào)11的文字/數(shù)字組中，相當(dāng)于數(shù)值號(hào)碼“11”(27-16)的“B”成為第1檢驗(yàn)碼12a。根據(jù)該檢驗(yàn)規(guī)則(N1+N2+C)＝27還設(shè)定第2檢驗(yàn)碼12b。圖2所示的第2批號(hào)11a是“30”，與第2批號(hào)11b的各位對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼的合計(jì)為3+0＝3，在可使用于表1的批號(hào)11的文字或數(shù)字中，相當(dāng)于數(shù)值號(hào)碼“24”(＝27-3)的“V”成為第2檢驗(yàn)碼12b。表2中例示了滿足上述檢驗(yàn)規(guī)則(N1+N2+C)＝27的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的組合。
1 0 Y2 0 W3 0 V4 0 T5 0 R6 0 P7 0 N0 1 Y1 1 W2 1 V3 1 T4 1 R5 1 P6 1 N7 1 M0 2 W1 2 V2 2 T3 2 R4 2 P5 2 N6 2 M7 2 L0 3 V1 3 T2 3 R3 3 P4 3 N5 3 M8 3 L7 3 K0 4 T1 4 R2 4 P3 4 N4 4 M5 4 L8 4 K7 4 J0 5 R1 5 P2 5 N3 5 M4 5 L5 5 K8 5 J7 5 H0 6 P1 6 N2 6 M3 6 L4 6 K5 6 J8 6 H7 6 E0 7 N1 7 M2 7 L3 7 K4 7 J5 7 H8 7 E7 7 D0 8 M1 8 L2 8 K3 8 J4 8 H5 8 E8 8 D7 8 C0 9 L1 9 K2 9 J3 9 H4 9 E5 9 08 9 C7 9 B8 0 M9 0 LA 0 KB 0 JC 0 HD 0 EE 0 DH 0 C8 1 L9 1 KA 1 JB 1 HC 1 ED 1 DE 1 CH 1 B8 2 K9 2 JA 2 HB 2 EC 2 DD 2 CE 2 BH 2 A8 3 J9 3 HA 3 EB 3 DC 3 CD 3 BE 3 AH 3 98 4 H9 4 EA 4 DB 4 CC 4 BD 4 AE 4 9H 4 88 5 E9 5 DA 5 CB 5 BC 5 AD 5 9E 5 8H 5 78 6 D9 6 CA 6 BB 6 AC 6 9D 6 8E 6 7H 6 68 7 C9 7 BA 7 AB 7 9C 7 8D 7 7E 7 8H 7 58 8 B9 8 AA 8 9B 8 8C 8 7D 8 6E 8 5H 8 48 9 A9 9 9A 9 8B 9 7C 9 6D 9 5E 9 4H 9 3J 0 BK 0 AL 0 9M 0 6N 0 7P 0 6R 0 5T 0 4J 1 AK 1 9L 1 8M 1 7N 1 6P 1 5R 1 4T 1 3J 2 9K 2 8L 2 7M 2 6N 2 5P 2 4R 2 3T 2 2J 3 8K 3 7L 3 6M 3 5N 3 4P 3 3R 3 2T 3 1J 4 7K 4 6L 4 5M 4 4N 4 3P 4 2R 4 1T 4 0J 5 6K 5 5L 5 4M 5 3N 5 2P 5 1R 5 0T 5 YJ 6 5K 6 4L 6 3M 6 2N 6 1P 6 0R 6 YT 6 WJ 7 4K 7 3L 7 2M 7 1N 7 0P 7 YR 7 WT 7 VJ 8 3K 8 2L 8 1M 8 0N 8 YP 8 WR 8 VT 8 TJ 9 2K 9 1L 9 0M 9 YN 9 WP 9 VR 9 TT 9 RV 0 3W 0 2Y 0 1V 1 2W 1 1Y 1 0V 2 1W 2 0Y 2 YV 3 0W 3 YY 3 WV 4 YW 4 WY 4 VV 5 WW 5 VY 5 TV 6 VW 6 TY 6 RV 7 TW 7 RY 7 NV 8 RW 8 NY 8 MV 9 NW 9 MY 9 L根據(jù)批號(hào)11將薄膜磁頭1與其它薄膜磁頭識(shí)別管理。圖3是對(duì)識(shí)別信息10進(jìn)行自動(dòng)讀取檢測的控制系統(tǒng)的概略結(jié)構(gòu)圖。該控制系統(tǒng)中具有拍攝磁頭主體1的滑塊3的滑動(dòng)側(cè)端面3a的攝像機(jī)20；向攝像機(jī)20提供照明光的光源21；將攝像機(jī)20可在XY方向上移動(dòng)自如地支承的XY載物臺(tái)22；驅(qū)動(dòng)XY載物臺(tái)22的電動(dòng)機(jī)控制器23；處理裝置24；以及顯示來自處理裝置24的輸出的顯示器25。處理裝置24是管理該控制系統(tǒng)的控制機(jī)構(gòu)，通過電動(dòng)機(jī)控制器23和XY載物臺(tái)22調(diào)整攝像機(jī)20的位置，輸入攝像機(jī)20拍攝的圖像信號(hào)，檢測批號(hào)11并判斷對(duì)錯(cuò)。
接著，參照?qǐng)D4所示的流程圖說明處理裝置24執(zhí)行的批號(hào)11的自動(dòng)檢測工作。由于該自動(dòng)檢測工作分別對(duì)第1批號(hào)11a和第2批號(hào)11b同樣施行，因此，以下說明檢測第1批號(hào)11a的情況。
處理裝置24首先起動(dòng)攝像機(jī)20的拍攝動(dòng)作，取得第1批號(hào)11a和第1檢驗(yàn)碼12a的圖像(S1)。接著，分別對(duì)各基準(zhǔn)圖像和從攝像機(jī)20取得的第1批號(hào)11a的拍攝圖像及第1檢驗(yàn)碼12a的拍攝圖像進(jìn)行逐位比較，該基準(zhǔn)圖像是在裝置內(nèi)的存儲(chǔ)部(未圖示)中預(yù)先存儲(chǔ)(規(guī)定)的可以使用的文字/數(shù)字組(表1)的基準(zhǔn)圖像，并且，從上述可使用的文字/數(shù)字組中，檢測出表示基準(zhǔn)圖像和拍攝圖像的一致程度的相關(guān)值最高的文字或數(shù)字，作為第1批號(hào)11a和第1檢驗(yàn)碼12a(S2)。接著，將構(gòu)成檢測出的第1批號(hào)11a和第1檢驗(yàn)碼12a的文字或數(shù)字，逐行變換為表1的對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼(S3)。例如，如果構(gòu)成檢測出的第1批號(hào)11a的文字/數(shù)字組“A8”，則分別變換為數(shù)值號(hào)碼“10”、“8”。
如果將檢測出的第1批號(hào)11a和第1檢驗(yàn)碼12a變換成數(shù)值號(hào)碼，則將各數(shù)值號(hào)碼利用到規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則中，判斷該檢驗(yàn)規(guī)則是否成立(S4，S5)。本實(shí)施方式的檢驗(yàn)規(guī)則是，在如上所述地將第1批號(hào)11a的兩個(gè)數(shù)值號(hào)碼設(shè)為N1、N2、第1檢驗(yàn)碼12a的數(shù)值號(hào)碼設(shè)為C時(shí)，(N1+N2+C)＝27，所以，如果三個(gè)數(shù)值號(hào)碼N1、N2、C的合計(jì)值為27，則檢驗(yàn)規(guī)則成立，判斷為OK，如果是“27”以外，則檢驗(yàn)規(guī)則不成立，判斷為NG。
在S5中判斷為檢驗(yàn)規(guī)則OK(S5的“是”)時(shí)，顯示器25上顯示在S2檢測出的第1批號(hào)11a和檢驗(yàn)規(guī)則OK的信息(S6)。
另外，S5中判斷為檢驗(yàn)規(guī)則NG時(shí)(S5的“否”)，對(duì)每個(gè)在S2檢測出的第1批號(hào)11a的各文字或數(shù)字，判斷該文字或數(shù)字的相關(guān)值是否超過規(guī)定的閾值(S7)。相關(guān)值是如上所述地表示預(yù)先存儲(chǔ)的可使用的文字/數(shù)字組的基準(zhǔn)圖像和攝像機(jī)20的拍攝圖像的一致程度的值。為確保一定的檢測精度，需要大于等于規(guī)定閾值的相關(guān)值。如果構(gòu)成第1批號(hào)11a的各文字或數(shù)字的相關(guān)值均超過規(guī)定的閾值(S7的“是”)，則判斷為在S2檢測的第1批號(hào)11a正確，將該第1批號(hào)11a和檢驗(yàn)規(guī)則NG信息顯示在顯示器25上(S8)。如果構(gòu)成第1批號(hào)的各文字或數(shù)字的相關(guān)值任何一個(gè)小于等于規(guī)定閾值(S7的“否”)，則判斷為在S2檢測出的第1批號(hào)11a錯(cuò)誤，將相關(guān)值小于等于規(guī)定閾值的文字或數(shù)字置換為虛文字X，將置換后的批號(hào)11和檢驗(yàn)規(guī)則NG信息顯示在顯示器25上(S9，S10)。利用在顯示器25上顯示的檢驗(yàn)規(guī)則OK信息或檢驗(yàn)規(guī)則NG信息，能夠把握檢測出的批號(hào)11的可靠性。
根據(jù)以上實(shí)施方式，由于對(duì)批號(hào)11設(shè)置了以規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則分配的檢驗(yàn)碼12，因此根據(jù)檢驗(yàn)規(guī)則是否在檢測出的批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12之間成立，來判斷檢測出的批號(hào)11的對(duì)錯(cuò)，由此可避免制造工序中產(chǎn)生污點(diǎn)或文字缺失時(shí)的批號(hào)11的誤檢測。由此，批號(hào)11的讀取精度提高，能實(shí)現(xiàn)薄膜磁頭1的可靠性的提高。另外，不設(shè)置檢驗(yàn)碼，以表示預(yù)先存儲(chǔ)的文字/數(shù)字組的基準(zhǔn)圖像和由圖像處理取得的批號(hào)的拍攝圖像之間的一致程度的相關(guān)值為基準(zhǔn)，在通過判斷該相關(guān)值是否超過規(guī)定的閾值來檢測批號(hào)的情況下，不能避免即使相關(guān)值高也會(huì)誤檢測的情況和即使正確檢測也會(huì)因相關(guān)值過低而變成檢驗(yàn)錯(cuò)誤的情況，另外，在相關(guān)值過低而不能檢測出批號(hào)時(shí)，不能獲得補(bǔ)救措施。
本實(shí)施方式中，在判斷為檢驗(yàn)規(guī)則NG的情況下，根據(jù)檢測出的批號(hào)11的文字或數(shù)字的相關(guān)值是否超過規(guī)定的閾值，重新判斷該檢測出的批號(hào)11的對(duì)錯(cuò)，但是也可以采用其它方式。例如，與檢測出的批號(hào)11的文字或數(shù)字的相關(guān)值無關(guān)，在判定為檢驗(yàn)規(guī)則NG的情況下，也可以全部判斷為誤檢測。
或者，在判斷為檢驗(yàn)規(guī)則NG的情況下，也可以根據(jù)規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則，用剩余的兩個(gè)文字或數(shù)字復(fù)原檢測出的批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12中相關(guān)值最低的文字或數(shù)字，得到批號(hào)11。具體地說，例如圖5的流程圖所示，判定為檢驗(yàn)規(guī)則NG后(S5的“否”)，對(duì)構(gòu)成由S2檢測出的批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12的文字或數(shù)字，檢驗(yàn)相關(guān)值超過規(guī)定閾值的文字或數(shù)字是否有2個(gè)以上(S11)。接著，如果相關(guān)值超過規(guī)定閾值的文字或數(shù)字存在2個(gè)以上(S11的“是”)，根據(jù)與相關(guān)值最高和第二高的文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的2個(gè)數(shù)值號(hào)碼和規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則，對(duì)剩余的數(shù)值號(hào)碼進(jìn)行逆運(yùn)算(S12)，將與算出的數(shù)值號(hào)碼對(duì)應(yīng)的文字或數(shù)字，同相關(guān)值最低的文字或數(shù)字進(jìn)行置換(S13)，將求出的批號(hào)11和檢驗(yàn)規(guī)則NG的信息顯示在顯示器25上(S14)。這時(shí)，如果相關(guān)值最低的文字或數(shù)字為檢驗(yàn)碼12，則不改變批號(hào)11，在顯示器12上顯示檢測出的批號(hào)11。如果相關(guān)值超過規(guī)定閾值的文字或數(shù)字沒有2個(gè)以上(S11的“否”)，則將該相關(guān)值小于等于規(guī)定閾值的文字或數(shù)字變換為虛文字(S15)，在顯示器25上顯示變換后的批號(hào)11和檢驗(yàn)規(guī)則NG的信息(S16)。這樣，如果能檢測出構(gòu)成批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12的文字或數(shù)字中的2個(gè)(如果相關(guān)值高)，就能復(fù)原剩余的1個(gè)文字或數(shù)字，即使在制造工序中附著污染或產(chǎn)生文字缺失而不能讀取批號(hào)11的情況下，也能夠以規(guī)定的檢測精度得到批號(hào)11。
本實(shí)施方式中，批號(hào)11a、11b和檢驗(yàn)碼12a、12b之間的檢驗(yàn)規(guī)則，與檢測出的批號(hào)11a、11b及檢驗(yàn)碼12a、12b的文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼的和(N1+N2+C)成為固定值27，但是，檢驗(yàn)規(guī)則能進(jìn)行各種變形，不拘形式。具體地說，例如也可以將與構(gòu)成批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12的文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的3個(gè)數(shù)值號(hào)碼之和成為規(guī)定值(例如與可使用的文字/數(shù)字組對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼的最大值)的倍數(shù)，作為檢驗(yàn)規(guī)則。
本實(shí)施方式中，對(duì)批號(hào)11的每兩位設(shè)置1個(gè)檢驗(yàn)碼12，但是，可根據(jù)滑塊3的滑動(dòng)側(cè)端面3a的識(shí)別信息付與區(qū)域的大小，適當(dāng)?shù)卦O(shè)定檢驗(yàn)碼12的設(shè)定個(gè)數(shù)。但是，由于考慮到未來磁頭小型化進(jìn)一步發(fā)展而使滑動(dòng)側(cè)端面3a的識(shí)別信息付與區(qū)域?qū)⒏营M窄，因此希望像本實(shí)施方式那樣將檢驗(yàn)碼12的數(shù)量抑制在最低限度。并且，包含批號(hào)11和檢驗(yàn)碼12的識(shí)別信息10可以不設(shè)在滑塊3的滑動(dòng)側(cè)端面3a上，也可以形成在形成有軌道的滑塊3的背面。
權(quán)利要求
1.一種薄膜磁頭，根據(jù)在滑塊的特定位置付與的多位的批號(hào)進(jìn)行個(gè)體識(shí)別，其特征在于，在上述批號(hào)附近形成了用規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則提供給各批號(hào)的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼。
2.如權(quán)利要求1所述的薄膜磁頭，其特征在于，上述批號(hào)的每組規(guī)定數(shù)量的位，具有一個(gè)上述檢驗(yàn)碼。
3.如權(quán)利要求1或2所述的薄膜磁頭，其特征在于，上述多位的批號(hào)由多個(gè)文字或數(shù)字構(gòu)成，上述檢驗(yàn)碼是從在上述批號(hào)中可使用的文字組或數(shù)字組中選擇。
4.如權(quán)利要求3所述的薄膜磁頭，其特征在于，在上述批號(hào)中可使用的文字組和數(shù)字組，分別與表示磁頭識(shí)別信息的數(shù)值號(hào)碼關(guān)聯(lián)設(shè)定，上述批號(hào)的每兩位具有一個(gè)上述檢驗(yàn)碼，該檢驗(yàn)碼被設(shè)定成使與該批號(hào)的文字或數(shù)字對(duì)應(yīng)的2個(gè)數(shù)值號(hào)碼的合計(jì)成為規(guī)定值。
5.如權(quán)利要求1所述的薄膜磁頭，其特征在于，上述批號(hào)和上述檢驗(yàn)碼被配置成列狀。
6.一種薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，在該薄膜磁頭中，在滑塊的特定位置上被付與多位的批號(hào)、和用規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則提供給該批號(hào)的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼，并根據(jù)上述多位的批號(hào)進(jìn)行個(gè)體識(shí)別，其特征在于，通過圖像處理檢測出上述批號(hào)和上述檢驗(yàn)碼，根據(jù)上述檢驗(yàn)規(guī)則是否在該檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間成立，進(jìn)行上述檢測出的批號(hào)的對(duì)錯(cuò)判斷。
7.如權(quán)利要求6所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，上述多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼由與表示磁頭識(shí)別信息的數(shù)值號(hào)碼相關(guān)聯(lián)地設(shè)定、且可使用的文字組或數(shù)字組中的文字或數(shù)字構(gòu)成，并且，通過圖像處理檢測出構(gòu)成上述多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的文字或數(shù)字，并根據(jù)與該檢測出的各文字或數(shù)字分別對(duì)應(yīng)的數(shù)值號(hào)碼來判斷上述檢驗(yàn)規(guī)則是否成立。
8.如權(quán)利要求7所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，構(gòu)成上述多位的批號(hào)和上述檢驗(yàn)碼的文字或數(shù)字，是根據(jù)分別核對(duì)拍攝圖像和基準(zhǔn)圖像而算出的相關(guān)值來檢測，所述拍攝圖像是由上述圖像處理取得的多位的批號(hào)和檢驗(yàn)碼的拍攝圖像，所述基準(zhǔn)圖像是在該批號(hào)和檢驗(yàn)碼中可使用的所有文字和數(shù)字的基準(zhǔn)圖像。
9.如權(quán)利要求8所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，上述檢驗(yàn)規(guī)則在上述檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間不成立時(shí)，根據(jù)構(gòu)成上述檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的相關(guān)值，重新判斷該檢測出的批號(hào)的對(duì)錯(cuò)。
10.如權(quán)利要求9所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，如果構(gòu)成上述檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的相關(guān)值全部大于等于規(guī)定的閾值，則判斷為該檢測出的批號(hào)正確。
11.如權(quán)利要求9或10所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，如果構(gòu)成上述檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的任一個(gè)相關(guān)值小于規(guī)定的閾值，則判斷為上述檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤，根據(jù)上述檢測出的檢驗(yàn)碼和檢驗(yàn)規(guī)則來復(fù)原上述批號(hào)。
12.如權(quán)利要求9或10所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，如果構(gòu)成上述檢測出的批號(hào)各位的文字或數(shù)字的任一個(gè)相關(guān)值小于規(guī)定的閾值，則將小于閾值的該文字或數(shù)字變換為規(guī)定的虛數(shù)字文字，判斷為上述檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤。
13.如權(quán)利要求6至8中任一項(xiàng)所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，上述檢驗(yàn)規(guī)則在上述檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間不成立時(shí)，判定為檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤，根據(jù)檢測出的檢驗(yàn)碼和上述檢驗(yàn)規(guī)則來復(fù)原批號(hào)。
14.如權(quán)利要求6至8中任一項(xiàng)所述的薄膜磁頭的個(gè)體識(shí)別方法，其特征在于，上述檢驗(yàn)規(guī)則在上述檢測出的批號(hào)和檢驗(yàn)碼之間不成立時(shí)，將檢測出的批號(hào)變換為規(guī)定的虛數(shù)字文字，并判斷為該檢測出的批號(hào)錯(cuò)誤。
全文摘要
提供一種薄膜磁頭及其個(gè)體識(shí)別方法，能夠避免識(shí)別信息的誤檢測，提高讀取精度和磁頭的可靠性。該薄膜磁頭，根據(jù)在滑塊的特定位置上付與的多位批號(hào)進(jìn)行個(gè)體識(shí)別，而且，在批號(hào)附近形成用規(guī)定的檢驗(yàn)規(guī)則提供給各批號(hào)的錯(cuò)誤檢測用的檢驗(yàn)碼。多位的批號(hào)由分別與表示磁頭識(shí)別信號(hào)的數(shù)值號(hào)碼相關(guān)聯(lián)地設(shè)定的多個(gè)文字/數(shù)字組中的文字或數(shù)字構(gòu)成，檢驗(yàn)碼是按照上述檢驗(yàn)規(guī)則從可使用于該批號(hào)的文字/數(shù)字組中選擇設(shè)定的。
文檔編號(hào)G11B5/31GK1691137SQ20051006726
公開日2005年11月2日 申請(qǐng)日期2005年4月20日 優(yōu)先權(quán)日2004年4月20日
發(fā)明者相村浩, 小沢利亮 申請(qǐng)人:阿爾卑斯電氣株式會(huì)社