專利名稱：光盤設備與光盤的控制方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明通常涉及一種光盤設備和控制光盤設備旋轉(zhuǎn)光盤的方法。
背景技術(shù)：
在過去，對于大容量數(shù)據(jù)記錄應用，主要使用磁帶、光磁帶、和其它帶類記錄媒體，但是，近年來，使用數(shù)字通用盤(DVD)和其它類似的光盤，其可以處理大量數(shù)據(jù)。因此，諸如DVD的光盤被越來越多地用于記錄應用。
在光盤中，沒有諸如帶類記錄媒體的倒帶或進帶操作，并且，目標地址可以被高速訪問。因此，在隨機訪問時，光盤可以以比帶類記錄媒體更高的速度訪問數(shù)據(jù)。
然而，在圖像拾取設備和其它圖像數(shù)據(jù)處理設備中，處理的數(shù)據(jù)數(shù)量已經(jīng)增加，所以，要求光盤設備高速記錄和重現(xiàn)大量數(shù)據(jù)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明有關(guān)一種光盤設備和控制允許更高訪問速度的光盤的方法。
本發(fā)明的一個實施例著重于一種光盤裝置，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，用于驅(qū)動光盤的旋轉(zhuǎn)；和控制器，用來控制旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，以便當訪問從所述光盤的中心到光盤中心和外圍之間的第一軌道的區(qū)域時，驅(qū)動光盤以恒定的角速度旋轉(zhuǎn)；而當訪問從所述第一軌道到光盤的外圍軌道的區(qū)域時，驅(qū)動光盤以恒定的線速度旋轉(zhuǎn)。
最好，第一軌道是由光盤的旋轉(zhuǎn)特性、旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分和數(shù)據(jù)讀取速度所確定的。
當確定訪問失敗時，所述控制器對所述光盤重試失敗的訪問嘗試，并且所述控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗，并且，所述控制器進一步判斷在所述光盤的預定的鄰近范圍內(nèi)，所述訪問失敗的預定原因是否重復出現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明的第一方面的設備可以進一步包括振蕩(vibration)檢測器，用來檢測出現(xiàn)在光盤中的振蕩，并且當在重試訪問嘗試中訪問失敗的原因沒有在所述預定的鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)且在訪問失敗時由所述振蕩檢測器檢測的振蕩超過預定閾值時，所述控制器判斷是否是振蕩引起訪問失??；而當所述振蕩沒有超過預定閾值時，控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗。
進而，當訪問光盤上的指定地址時，所述控制器可能判斷所述光盤的缺陷引起訪問失敗，如果從所述光盤上讀取有關(guān)地址的信息，則所述控制器將訪問目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第一地址的寬度的地址；同時，控制器確定在所述光盤的預定參考位置訪問是否可能和有關(guān)地址的信息是否被讀取，并且，如果在所述參考位置訪問是可能的，那么控制器將訪問目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第二地址寬度的地址，所述第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
本發(fā)明的另一個實施例著重于光盤設備，其中，(i)當發(fā)射光束的位置是在從所述光盤中心至第一軌道的區(qū)域中時，光盤的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)楹愣ǎ缓?ii)當發(fā)射光束的位置在第一軌道至所述光盤的外圍邊緣的區(qū)域中時，發(fā)射光束的位置以恒定的速度在信息軌道上移動。
該設備可進一步包含光拾取器，用來輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號的發(fā)射光束；和信號處理器，用于處理光拾取器的輸出信號，其中，(i)當所述光盤的旋轉(zhuǎn)速度恒定時，旋轉(zhuǎn)速度變成能夠被旋轉(zhuǎn)驅(qū)動驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)速度的預定上限，和(ii)發(fā)射光束在所述信息軌道上的位置的運動速度控制所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，以便所述光拾取器的輸出信號頻率變?yōu)槟軌蛟谛盘柼幚砥魈幚淼念l率的預定上限。
本發(fā)明的再一實施例著重于一種方法，其通過在訪問從所述光盤的中心到光盤中心和光盤外圍之間的第一軌道的區(qū)域時，以恒定的角速度來驅(qū)動光盤的旋轉(zhuǎn)，而當訪問從所述第一軌道到光盤的外圍邊緣的區(qū)域時，以恒定的線速度來驅(qū)動光盤的旋轉(zhuǎn)，來控制光盤。
本發(fā)明的再一實施例著重于一種光盤設備，包括控制器，用于當訪問失敗的預定原因在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生時，判斷所述光盤的缺陷引起訪問失敗。
本發(fā)明的再一實施例著重于一種光盤設備，用于當訪問光盤上的指定地址時，判斷光盤的缺陷引起訪問失敗，如果從所述光盤讀取了有關(guān)地址的信息，則控制器將訪問目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第一地址的寬度的地址；同時，控制器確定在光盤的預定參考位置訪問是否可能和有關(guān)地址的信息是否被讀取，并且，如果在所述參考位置訪問是可能的，那么控制器將訪問目的地改變?yōu)殡x引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第二地址寬度的地址，所述第二地址寬度大于第一地址寬度。
如果有關(guān)地址的信息未被讀取，則在確定所述預定參考位置之前，所述控制器從未訪問的所述地址開始的預定地址范圍內(nèi)搜索可讀的地址，并且如果所述范圍有可讀的地址，則該控制器將訪問目的地改變?yōu)樗龅刂罚欢绻龇秶鷽]有可讀的地址，那么控制器確定所述參考位置。
如果預定的訪問失敗原因在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)，則在所述訪問嘗試的重試中判斷所述光盤的缺陷引起訪問失敗時，控制器可以執(zhí)行重試失敗的訪問嘗試的處理；而當經(jīng)預定時間或預定次重復該判斷時，所述控制器執(zhí)行訪問目的地改變處理。
本發(fā)明的再一實施例著重于振蕩檢測器，用來檢測在光盤中出現(xiàn)的振蕩，其中，當在訪問嘗試的重試中訪問失敗的原因沒有在預定的鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)，并且在訪問失敗時由振蕩檢測器檢測的振蕩超過預定閾值時，控制器判斷是否是振蕩引起訪問失??；而當振蕩沒有超過預定閾值時，控制器判斷是否是光盤的缺陷引起訪問失敗。
于是，根據(jù)本發(fā)明，第一，通過在恒定旋轉(zhuǎn)速度模式和恒定線速度模式之間恰當?shù)剞D(zhuǎn)換光盤的旋轉(zhuǎn)控制模式，由于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的性能限制而造成的對線速度的約束消失了，且能夠提高訪問速度。
第二，能夠區(qū)分由于光盤缺陷而產(chǎn)生的訪問失敗和由于來自外部源的振蕩而產(chǎn)生的訪問失敗。
第三，當由于光盤缺陷而造成訪問失敗時，通過根據(jù)缺陷的狀態(tài)將訪問目的地改變?yōu)榫嚯x合適地址寬度的地址，能夠抑制由于訪問失敗而導致的處理延遲。


從以下參照附圖給出的優(yōu)選實施例的描述中，本發(fā)明的這些或其它目的和特征將變得更加清晰，其中圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的光盤設備的結(jié)構(gòu)示例；圖2是表示在寫訪問或讀訪問處理中的處理的第一流程圖；
圖3是表示在寫訪問或讀訪問處理中的處理的第二流程圖；圖4是表示在寫訪問或讀訪問處理中的處理的第三流程圖；圖5是說明當執(zhí)行參考位置終止操作時的處理的第一流程圖；圖6是說明當執(zhí)行參考位置終止操作時的處理的第二流程圖；圖7是錯誤原因判斷處理的流程圖；圖8是缺陷錯誤處理的流程圖；圖9是在根據(jù)本發(fā)明的光盤設備中跟蹤錯誤判斷的結(jié)構(gòu)的示例；圖10A、10B、10C是當施加強振蕩時或在光盤遇到缺陷的情況下，跟蹤錯誤的檢測信號的波形示例；圖11是距離光盤中心的激光光束的發(fā)射位置與光盤設備中光盤的旋轉(zhuǎn)速度之間的關(guān)系的示例；圖12A、12B是普通光盤設備中的查找操作示例；圖13是光盤設備中的查找操作示例；圖14是光盤設備中的查找操作示例；和圖15是圖像拾取設備的結(jié)構(gòu)示例。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的六個典型實施例作說明。
第一實施例包括使用光盤的視頻播放機或攝像機的視頻設備正變得越來越普及。近年來，光盤已被制得更小而存儲容量更大。因此，已極大地改進了光盤的性能。
光盤驅(qū)動系統(tǒng)用于驅(qū)動光盤，且包括以恒定線速度驅(qū)動光盤的CLV(恒定線速度)系統(tǒng)和以恒定角速度驅(qū)動光盤的CAV(恒定角速度)系統(tǒng)。
當光盤用于諸如攝像機的小型視頻設備時，驅(qū)動光盤的主軸馬達的旋轉(zhuǎn)性能有限制。由于這個限制，例如，即使將光盤格式化成以攝像機的記錄媒體上的恒定線速度來驅(qū)動，但是由于小型主軸馬達的性能限制，也許不能以預想的線速度使用光盤的很多區(qū)域。
因此，如圖11所示，例如，本發(fā)明的部分是由CAV系統(tǒng)驅(qū)動從光盤的中心至某個軌道的CLV格式化的光盤，而由CLV系統(tǒng)驅(qū)動從某個軌道開始的區(qū)域至光盤的周圍邊緣的光盤，從而根據(jù)激光光束在軌道上的位置來改變主軸馬達的旋轉(zhuǎn)速度。
該驅(qū)動系統(tǒng)被稱為受限的CLV(limited CLV，LCLV)系統(tǒng)。
注意，攝像機和其它視頻設備可以帶有各種類型的可換光盤。在根據(jù)本發(fā)明的一個實施例的光盤設備中，不僅能夠由LCLV系統(tǒng)驅(qū)動光盤，而且能夠由CLV系統(tǒng)或CAV系統(tǒng)驅(qū)動光盤。
第二實施例圖1是根據(jù)本發(fā)明的第一實施例的光盤設備的結(jié)構(gòu)示例。
圖1所示的光盤設備具有接口1、FIFO單元2、數(shù)據(jù)處理器3、寫處理器4、光拾取器5、RF信號處理器10、讀處理器11、偏斜檢測器12、振蕩檢測器13、光拾取器驅(qū)動器14、馬達控制器15、主軸馬達16、伺服控制器17，和系統(tǒng)控制器18。
進一步，光拾取器5有功率控制器6、激光二極管7、光學系統(tǒng)8和光敏元件9。
在上述結(jié)構(gòu)中，馬達16是本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的例證。
系統(tǒng)控制器18是本發(fā)明的控制器的例證。
振蕩檢測器13是本發(fā)明的振蕩檢測器的例證。
光拾取器5是本發(fā)明的光拾取器的例證。
光拾取器驅(qū)動器14是本發(fā)明的光拾取器驅(qū)動的例證。
包括RF信號處理器10和讀處理器11的單元是本發(fā)明的信號處理器的例證。
馬達控制器15是本發(fā)明的旋轉(zhuǎn)控制器的例證。
偏斜檢測器12是本發(fā)明的偏斜檢測器的例證。
對圖1所示的上述光盤設備的元件作出說明。
接口1從外部設備(未示出)向光盤20輸入寫數(shù)據(jù)。進而，接口1從光盤20向外部設備(未示出)輸出讀數(shù)據(jù)。進而，光盤設備執(zhí)行將從外部設備輸入的各種指令傳遞到系統(tǒng)控制器18的處理，或?qū)南到y(tǒng)控制器18發(fā)出的響應消息傳遞給外部設備的處理。
接口1根據(jù)例如ATA(AT附件)或其它常用接口標準，與這種外部設備連接。
FIFO單元2臨時存儲從接口1向數(shù)據(jù)處理器3輸入的寫數(shù)據(jù)和從數(shù)據(jù)處理器3向接口1讀取的讀數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)處理器3對光盤20的寫數(shù)據(jù)和讀數(shù)據(jù)執(zhí)行各種數(shù)據(jù)處理。
根據(jù)光盤20的預定記錄格式，由接口1輸入的寫數(shù)據(jù)受到預定的碼處理(例如，糾錯碼處理)。由此，該寫數(shù)據(jù)被替換為具有寫入光盤20的格式的數(shù)據(jù)。進而，從讀處理器11輸入的讀數(shù)據(jù)受到解碼處理。結(jié)果，寫前數(shù)據(jù)被重現(xiàn)。
基于數(shù)據(jù)處理器3處理的寫數(shù)據(jù)，寫處理器4產(chǎn)生用來驅(qū)動激光二極管7的寫脈沖信號。寫處理器4根據(jù)被寫的光盤20的類型，適當?shù)卦O置寫脈沖信號的振幅或脈沖寬度。
功率控制器6檢測從光學系統(tǒng)8反饋的激光二極管7的輸出功率，并控制激光二極管7的發(fā)射數(shù)量，以便在寫脈沖信號中檢測的功率和檢測的輸出功率變?yōu)橄嗟取?br> 激光二極管7根據(jù)功率控制器6的控制，產(chǎn)生具有功率的激光光束。
光學系統(tǒng)8引導激光二極管7產(chǎn)生的激光光束，并將其聚焦在光盤20的光接收表面上。進而，在激光二極管7產(chǎn)生的部分激光光束返回至功率控制器6。從光盤20反射的光被引導至光敏元件9。
光學系統(tǒng)8相對于光盤20的焦點位置隨如何驅(qū)動光拾取器驅(qū)動器14而改變。
光敏元件9將從光盤20反射的光轉(zhuǎn)換成電信號。
設計光敏元件9，以便除了獲得記錄在光盤20上的信息以外，還獲得表示光盤20的信息軌道和發(fā)射的激光光束的位置之間的偏移(跟蹤錯誤，tracking error)的信息，和表示光學系統(tǒng)8的焦點至光盤20的偏移(聚焦錯誤，focus error)的信息。
例如，光敏元件9具有多個光學檢測器，其被排列成能夠在從光盤20反射的光束照射到的平面上的多個對稱位置上檢測反射光的強度。
根據(jù)光盤20的記錄數(shù)據(jù)，RF信號處理器10放大、二進制化、或按照RF機制以其它方式處理由光敏元件9轉(zhuǎn)換的電信號，以產(chǎn)生讀數(shù)據(jù)。
進而，根據(jù)光敏元件9的輸出信號，RF信號處理器10產(chǎn)生與上述跟蹤錯誤或聚焦錯誤相關(guān)的信號，并且將這樣的信號輸出至伺服控制器17。例如，RF信號處理器10運行處理，例如，加或減。上述多個光學檢測器的檢測結(jié)果包含在光敏元件9內(nèi)，以產(chǎn)生與跟蹤錯誤或聚焦錯誤有關(guān)的信號。這些信號被用在伺服控制器17中以進行伺服控制。
進而，在本實施例中，作為一個示例，假定在光盤20的信息軌道上形成擺動。術(shù)語“擺動”是指位于信息軌道側(cè)面的周期性彎曲形狀。例如，用作寫操作訪問時的基準的時鐘信號的信息或有關(guān)信息軌道上的地址的信息，作為擺動被隱藏在光盤20中。
RF信號處理器10基于該擺動(擺動信號)從光敏元件9的輸出信號中提取周期性的信號分量，并將這樣的信號輸出至讀處理器11。
讀處理器11對從光盤20讀取的信號執(zhí)行各種處理。例如，讀處理器11基于從RF信號處理器10輸出的擺動信號執(zhí)行重現(xiàn)基準時鐘信號的處理，和執(zhí)行解調(diào)擺動信號并重現(xiàn)在信息軌道上的地址信息的處理。
偏斜檢測器12檢測光盤20的光接收表面相對于從光拾取器5發(fā)出的光束的偏斜。光盤20發(fā)生偏斜是，例如，由于光盤20外部的震動，也就是由于在與光盤20的旋轉(zhuǎn)軸平行的方向上施加的震動。
振蕩檢測器13檢測施加在光盤設備上的振蕩。為了檢測振蕩，可以使用加速度傳感器。
光拾取器驅(qū)動器14在伺服控制器17的控制下，使光拾取器的發(fā)射激光光束的位置相對于信息軌道或光學系統(tǒng)8的聚焦位置移動。例如，光拾取器驅(qū)動器14有致動裝置，其使得光拾取器5沿著光盤20平面的方向或與平面垂直的方向滑動。
馬達控制器15控制主軸馬達16，以使光盤20的旋轉(zhuǎn)速度保持在由系統(tǒng)控制器18指定的旋轉(zhuǎn)速度上。
主軸馬達16在馬達控制器15的控制下，驅(qū)動光盤20的旋轉(zhuǎn)。
伺服控制器17根據(jù)RF信號處理器10產(chǎn)生的跟蹤錯誤或聚焦錯誤的信號，通過伺服控制來控制光拾取器驅(qū)動器14，以便在光學系統(tǒng)8的聚焦狀態(tài)下，在光盤20的信息軌道上的指定位置發(fā)射光拾取器5的激光光束。
進而，根據(jù)偏斜檢測器12或振蕩檢測器13的檢測結(jié)果，伺服控制器17控制光拾取器驅(qū)動器14，以便即使當外部震動引起振蕩時，上述伺服控制依然運行。當光拾取器5和光盤20之間的碰撞即將發(fā)生時，伺服控制器17控制光拾取器驅(qū)動器14以避免碰撞。
進而，當對用于在信息軌道上的指定位置發(fā)射激光光束的伺服控制(跟蹤控制)或者用于將光學系統(tǒng)8聚焦在信息軌道上的伺服控制(聚焦控制)的鎖定丟失時，伺服控制器17通知系統(tǒng)控制器18。
系統(tǒng)控制器18執(zhí)行與光盤設備的整體操作有關(guān)的各種處理。
例如，系統(tǒng)控制器18獲得從外部設備經(jīng)接口1輸入的指令，發(fā)送消息至外部設備，監(jiān)控存儲在FIFO單元2中的寫數(shù)據(jù)或讀數(shù)據(jù)的數(shù)量，獲得在讀處理器11重現(xiàn)的光盤20的地址信息，指令在數(shù)據(jù)處理器3或伺服控制器17進行的處理。
進而，系統(tǒng)控制器18在嘗試訪問光盤20時，執(zhí)行重試失敗的訪問嘗試的處理。進一步，當重新嘗試訪問時，如果不良的伺服控制、地址信息的不良讀取、或任何訪問失敗的其它原因在光盤20的預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生，則系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理，以判斷是否是由于光盤20的缺陷而引起訪問失敗。
進而，當作出由于光盤20的缺陷而使得對光盤20上的指定地址的訪問失敗的判斷時，那么如果讀處理器11能夠讀地址信息，則系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理，以將訪問目的地更新為距離要訪問的失敗地址預定地址寬度(第一地址寬度)的地址。另一方面，如果讀處理器11不讀地址信息(例如，當伺服控制器18對跟蹤控制或聚焦控制的鎖定丟失時)，系統(tǒng)控制器18確定在光盤20的預定參考位置(例如，光盤20的最內(nèi)部的圓周)上訪問是否可能，并且如果在該參考位置訪問是可能的，則將訪問目的地更新為距離要訪問的失敗地址預定地址寬度(比第一地址寬度更長的第二地址寬度)的地址。
將描述在圖1所示的光盤設備具有上述結(jié)構(gòu)并執(zhí)行讀訪問或?qū)懺L問處理(以下被稱為“R/W訪問”)的情況下的操作。
圖2至圖4是表示R/W訪問處理的示例的流程圖。
在執(zhí)行R/W訪問中，系統(tǒng)控制器設置以下常量。
常量#1(外部因素超時時間Ts)外部因素超時時間Ts表示在振蕩或其它外部因素引起訪問失敗時重復訪問重試的時間的上限。然而，該上限時間的起點是外部設備向系統(tǒng)控制器18發(fā)出指令執(zhí)行寫或讀訪問的指令的時間。
常量#2(缺陷時重試次數(shù)Nd的上限值)缺陷時重試次數(shù)Nd的上限值表明當由于光盤20的缺陷而重試訪問時的重試次數(shù)的上限值。
常量#3(內(nèi)部錯誤時重試次數(shù)Ni的上限值)
內(nèi)部錯誤時重試次數(shù)Ni的上限值表示當由于光盤設備的內(nèi)部錯誤而重試訪問時的重試次數(shù)的上限值。
常量#4(查找開始前的超時時間Tt)這表示在開始查找處理前重復訪問重試的時間的上限。上限時間的起點與外部因素超時時間Ts相同。
常量#5(內(nèi)部因素超時時間Ti)這個常量表示當光盤的內(nèi)部原因引起訪問失敗時可以進行重試的時間的上限。上限時間的起點與外部因素超時時間Ts相同。
將上述的五個常量，例如，通過接口1從外部設備給系統(tǒng)控制器18。
當外部設備發(fā)出R/W訪問指令時，系統(tǒng)控制器18從指令發(fā)出時間起在內(nèi)部計時器開始計數(shù)。
首先，系統(tǒng)控制器18比較該計時器數(shù)值和外部因素超時時間Ts(步驟ST100)，和當該計時器數(shù)值超過此上限時，系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問重試并執(zhí)行預定的錯誤處理(步驟ST102)。例如，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理，以通知外部設備由于震動或其它外部因素而產(chǎn)生了錯誤。
當計時器數(shù)值不超過外部因素超時時間Ts時，系統(tǒng)控制器18確定查找操作是否可能(步驟ST104)。
當查找操作不可能時，系統(tǒng)控制器18確定原因是否是地址的不良讀取(步驟ST106)。例如，系統(tǒng)控制器18確定是否由于在伺服控制器17內(nèi)跟蹤控制或聚焦控制的鎖定的完全丟失而不再讀取地址信息。如果沒有此類錯誤發(fā)生且能從光盤20讀取地址，那么程序回到步驟ST100且R/W訪問處理被再次執(zhí)行。
另一方面，當?shù)刂沸畔⑽幢蛔x取時，系統(tǒng)控制器18比較上述計時器數(shù)值和查找開始前的超時時間Tt(步驟ST108)。當計時器數(shù)值超過該上限時，程序回到步驟ST100，在這里R/W訪問處理被再次執(zhí)行。當計時器數(shù)值超過該上限值時，控制器在參考位置停止操作ST110步驟中確定在光盤20的參考位置的訪問是否可能。將參照圖5和圖6詳細說明參考位置停止操作ST110。
當在步驟ST104判斷查找操作是可能的時，系統(tǒng)控制器18開始查找操作(步驟ST112)。在查找操作中，系統(tǒng)控制器18沿光盤20的徑向移動發(fā)射激光光束的位置，同時，跳過信息軌道，以便使訪問地址跳至在包含R/W處理開始的目標地址的軌道之前的一個軌道(信息軌道的一周)。
直到查找操作結(jié)束，系統(tǒng)控制器18監(jiān)控上述計時器數(shù)值是否超過外部因素超時時間Ts(步驟ST114、ST118)。如果，例如，震動使得查找操作沒有結(jié)束，且計時器數(shù)值超過外部因素超時時間Ts，則系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問重試，并執(zhí)行與步驟ST102(步驟ST116)中的相同的錯誤處理。
當查找操作結(jié)束時，系統(tǒng)控制器18判斷其在查找操作中是否失敗(步驟ST120)。
當查找操作失敗時，系統(tǒng)控制器18判斷該失敗是否是因為小缺陷錯誤(步驟ST122)。這里，“小缺陷錯誤”是指由于光盤20的相對小范圍的缺陷而引起的訪問錯誤。當伺服控制器17內(nèi)的聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的丟失導致不再能夠讀取地址信息的嚴重情況時的情況也包含在該小缺陷錯誤中。
當訪問失敗的預定原因在光盤20上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，系統(tǒng)控制器18判斷在鄰近范圍內(nèi)出現(xiàn)光盤20的缺陷。進而，當該訪問失敗原因不是達到地址信息不再能夠被讀取的程度的嚴重失敗原因時，系統(tǒng)控制器18判斷小缺陷在光盤20上出現(xiàn)。當導致伺服控制器17內(nèi)聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的暫時丟失的錯誤、或在讀處理器11中導致時鐘信號重現(xiàn)處理的錯誤發(fā)生在光盤20的鄰近預定范圍內(nèi)時，系統(tǒng)控制器18判斷光盤20上的小缺陷已經(jīng)引起訪問失敗(在這個步驟，查找操作)。
當在查找操作中判斷光盤20上的小缺陷已經(jīng)引起失敗時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定錯誤處理(步驟ST124)。例如，系統(tǒng)控制器18將R/W訪問起始的目標地址改變至距失敗的初始訪問地址恰好預定地址寬度(第一地址寬度)的位置，并且再次執(zhí)行R/W訪問。
當在查找操作中判斷小缺陷已經(jīng)引起失敗時，系統(tǒng)控制器18判斷是否能夠從光盤20讀取地址信息(步驟ST126)。例如，伺服控制器17判斷引起伺服控制的鎖定完全丟失的錯誤是否產(chǎn)生。當這樣一個錯誤阻止了地址信息被讀出時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行下面將要進行說明的參考位置停止操作(步驟ST128)。
另一方面，當?shù)刂沸畔⒖梢员蛔x取時，假設錯誤是由振蕩引起，所以，系統(tǒng)控制器18返回步驟ST100并再次執(zhí)行R/W訪問處理。
當在步驟ST120判斷查找操作以正常方式結(jié)束時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行控制以將發(fā)射激光光束的位置從查找操作之后的位置提前至R/W訪問起始的目標地址。進而，系統(tǒng)控制器18監(jiān)控預定錯誤的發(fā)生，直至到達R/W訪問起始的目標地址。例如，系統(tǒng)控制器18監(jiān)控導致在伺服控制器17丟失對聚焦控制或跟蹤控制的鎖定的錯誤或?qū)е掳l(fā)射激光光束的位置從目標地址的起始之前的一個軌道偏離的錯誤(步驟ST130、ST132、ST134)。
當這樣的錯誤產(chǎn)生時，系統(tǒng)控制器18判斷錯誤是否由震動或其它外部因素引起(步驟ST136)。該判斷的詳細情況參照圖7作解釋。當判斷錯誤由震動或其它外部因素引起時，系統(tǒng)控制器18返回步驟ST100，在這里再次執(zhí)行R/W訪問處理。
另一方面，當判斷由光盤20的缺陷引起錯誤產(chǎn)生時，系統(tǒng)控制器18判斷在作出光盤20的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗的判斷時累積的次數(shù)(D-Retry)是否超過上述重試次數(shù)Nd的上限值(步驟ST138)。當該上限值沒有被超過時，系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)D-Retry上加1，然后返回至步驟ST100，并再次執(zhí)行R/W訪問處理。當累積次數(shù)D-Retry超過上限值時，系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問的重試操作，并執(zhí)行缺陷錯誤處理(見圖3)(步驟ST140)。
當在步驟ST134判斷發(fā)射激光光束的位置已經(jīng)到達R/W訪問起始的目標地址時，系統(tǒng)控制器18判斷R/W訪問能否被啟動(步驟ST142)。例如，系統(tǒng)控制器18確定在FIFO單元2中是否有足夠的空區(qū)域。
當判斷R/W訪問不能被啟動時，系統(tǒng)控制器18比較上述計時器數(shù)值和內(nèi)部因素超時時間Ti(步驟ST144)。當計時器數(shù)值沒有超過內(nèi)部因素超時時間Ti時，系統(tǒng)控制器18返回至步驟ST100，在這里再次執(zhí)行R/W訪問處理，而當計時器數(shù)值超過Ti時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定錯誤處理(步驟ST146)。例如，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以便通知外部設備FIFO單元2的內(nèi)部因素已經(jīng)在R/W訪問的開始中引起了失敗。
當在步驟ST142判斷R/W訪問能夠被啟動時，系統(tǒng)控制器18啟動R/W訪問(步驟ST148)。進而，如果訪問期間產(chǎn)生錯誤，系統(tǒng)控制器18結(jié)束R/W訪問處理。
另一方面，如果訪問期間產(chǎn)生錯誤，系統(tǒng)控制器18判斷錯誤是否由激光二極管7的不良發(fā)射或由功率控制器6的不良控制引起(步驟ST152)。
當判斷由于內(nèi)部因素而產(chǎn)生錯誤時，系統(tǒng)控制器18判斷在作出由于內(nèi)部因素而產(chǎn)生的錯誤已經(jīng)引起訪問失敗的判斷時累積的次數(shù)(I-Retry)是否超過上述重試次數(shù)Ni的上限值。當該上限值沒有被超過時，系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)I-Retry上加1，然后返回至步驟ST100，在這里再次執(zhí)行R/W訪問處理。當累積次數(shù)I-Retry超過上限值時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定內(nèi)部錯誤處理(步驟ST156)。例如，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以通知外部設備，激光二極管7的內(nèi)部因素已經(jīng)引起R/W訪問失敗。
當在步驟ST152判斷沒有由于激光二極管7的內(nèi)部因素而產(chǎn)生的錯誤時，系統(tǒng)控制器18判斷錯誤是否由光盤20的缺陷引起(步驟ST158)。
當在步驟ST158判斷沒有由光盤20的缺陷引起的錯誤時，系統(tǒng)控制器18返回至步驟ST100，并再次執(zhí)行R/W訪問處理。
另一方面，當判斷光盤20的缺陷已經(jīng)引起錯誤時，系統(tǒng)控制器18判斷缺陷判斷的累積次數(shù)D-Retry是否已經(jīng)超過上述重試次數(shù)Nd的上限值(步驟ST160)。當沒有超過該上限值時，系統(tǒng)控制器18在累積次數(shù)D-Retry上加1，然后返回至步驟ST100，并再次執(zhí)行R/W訪問處理。當累積次數(shù)D-Retry超過該上限值時，系統(tǒng)控制器18結(jié)束訪問的重試操作，并執(zhí)行缺陷錯誤處理(見圖4)(步驟ST162)。
上文中，解釋了如圖2至圖4所示的R/W訪問處理。
圖2的步驟ST100、ST128的參考位置停止操作的詳細情況解釋如下。
圖5和圖6是在執(zhí)行參考位置停止操作時的處理的流程圖。
首先，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行停止與R/W訪問相關(guān)的操作的處理(步驟ST200)，并確認來自激光二極管7的光發(fā)射已停止(步驟ST202)。
在確認與R/W訪問相關(guān)的操作已經(jīng)停止后，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以移動發(fā)射激光光束的位置并將其停止在光盤20的預定參考位置上(例如，在光盤20的最內(nèi)部的圓周的區(qū)域)(步驟ST204)。
圖6是步驟ST204的處理的流程圖。
系統(tǒng)控制器18執(zhí)行移動發(fā)射激光光束的位置至光盤20的預定參考位置的指令(步驟ST300)，然后，確認來自光拾取器的、通知系統(tǒng)控制器18移動已經(jīng)結(jié)束的響應(步驟ST302)。
在確認發(fā)射激光光束的位置移動中，系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置能否訪問光盤20(步驟ST206)。例如，系統(tǒng)控制器18確定地址信息在該參考位置能否被讀出。當在參考位置不能訪問光盤20時或當指示發(fā)射激光光束的位置移動失敗的信號從光拾取器5輸出時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定內(nèi)部錯誤處理(例如，通知外部設備內(nèi)部因素已經(jīng)引起參考位置停止操作失敗的處理)，并且，結(jié)束參考位置停止操作(步驟ST208)。
當?shù)刂沸畔⒃趨⒖嘉恢媚鼙蛔x出時，在調(diào)用(call up)參考位置停止操作之前，系統(tǒng)控制器18在錯誤產(chǎn)生的位置執(zhí)行查找操作(步驟ST210)。進而，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行處理以例如在查找位置讀取地址信息并判斷查找操作是否以正常方式結(jié)束(步驟ST212)。當確認結(jié)果是查找操作能夠以正常方式執(zhí)行時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行返回R/W訪問操作的處理，并結(jié)束參考位置停止操作(步驟ST214)。
當在步驟ST212判斷查找操作已經(jīng)再次失敗時，系統(tǒng)控制器18將激光光束位置移動至圖6所示的參考位置(步驟ST216)，并確定光盤20在參考位置能否被訪問(步驟ST218)。當光盤20在參考位置不能被訪問時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定內(nèi)部錯誤處理并結(jié)束參考位置停止操作(步驟ST222)。
另一方面，當?shù)刂沸畔⒃趨⒖嘉恢媚鼙蛔x出時，系統(tǒng)控制器18判斷在步驟ST212判斷查找操作失敗的位置上發(fā)生了大缺陷錯誤，并執(zhí)行預定錯誤處理(步驟ST220)。
大缺陷錯誤是指由于光盤20的相對寬范圍內(nèi)的缺陷而引起的訪問錯誤。例如，如果有大缺陷在圓周方向擴展，則出現(xiàn)在伺服控制器17中伺服控制的鎖定完全丟失的情況，或者時鐘信號不再能從讀處理器11中的擺動信號中重現(xiàn)的情況，并且地址信息不再能被讀取。這種情況被包含在大缺陷錯誤檢測中。
當判斷大缺陷已經(jīng)在光盤20上產(chǎn)生時，系統(tǒng)控制器18，例如，將R/W訪問起始的目標地址改變至距要訪問的初始失敗地址預定地址寬度(第二地址寬度)的位置，并且再次執(zhí)行R/W訪問。在這種情況下的第二地址寬度被設置成大于在小缺陷產(chǎn)生的情況下的第一地址寬度。即，根據(jù)預測缺陷的大小適當?shù)卦O置改變后的地址寬度。
對圖3的步驟ST136或圖4的步驟ST158中的錯誤原因的判斷處理作了解釋。
圖7是說明用于判斷訪問錯誤是否由光盤20的缺陷或由振蕩引起的錯誤判斷處理的流程圖。
首先，系統(tǒng)控制器18判斷，在訪問重試中，伺服控制器17的不良伺服控制(伺服控制的鎖定的暫時丟失)是否在光盤20的預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生(步驟ST400)。
例如，系統(tǒng)控制器18判斷在先前的訪問錯誤中發(fā)生不良伺服控制的光盤20上的位置和在當前的訪問錯誤中發(fā)生不良伺服控制的光盤20上的位置之間的距離是否比預定距離更短。
當判斷鄰近范圍內(nèi)不良伺服控制重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷引起訪問錯誤的判斷，并且結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST412)。
當在步驟ST400判斷在附近范圍內(nèi)不良伺服控制沒有重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18在訪問失敗時判斷馬達控制器15對旋轉(zhuǎn)速度的不良控制是否發(fā)生(步驟ST402)。
旋轉(zhuǎn)速度的不良控制可能不是由于光盤20的缺陷而產(chǎn)生的，那么在訪問失敗時，如果馬達控制器15受到旋轉(zhuǎn)速度的不良控制，則系統(tǒng)控制器18判斷是振蕩引起訪問錯誤產(chǎn)生，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST414)。
當在步驟ST402判斷在訪問失敗時，旋轉(zhuǎn)速度的不良控制沒有發(fā)生，系統(tǒng)控制器18判斷，在訪問重試中，讀處理器11的不良時鐘信號重現(xiàn)處理(用于重現(xiàn)時鐘信號的PLL電路的鎖定丟失)在光盤20的預定鄰近范圍內(nèi)是否重復發(fā)生(步驟ST404)。
當判斷不良時鐘信號重現(xiàn)處理在預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷引起訪問錯誤的判斷，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST412)。
當在步驟ST404判斷不良時鐘信號重現(xiàn)處理沒有在預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18判斷在訪問失敗時，由偏斜檢測器12檢測的光盤20的偏斜是否超過預定閾值(步驟ST406)。
光盤20的傾斜可能不是由光盤20的缺陷引起的，所以在訪問失敗時，如果超過了閾值的偏斜被檢測到，那么系統(tǒng)控制器18作出振蕩引起訪問錯誤的判斷，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST414)。
當在步驟ST406判斷在訪問失敗時，超過閾值的偏斜沒有被檢測到，那么系統(tǒng)控制器18判斷在訪問重試期間，讀處理器11的不良地址信息重現(xiàn)處理在光盤20的預定鄰近范圍內(nèi)是否重復發(fā)生(步驟ST408)。
當判斷不良地址信息重現(xiàn)處理在預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷引起訪問錯誤的判斷，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST412)。
當在步驟ST408判斷不良地址信息重現(xiàn)處理沒有在預定鄰近范圍內(nèi)重復發(fā)生時，系統(tǒng)控制器18判斷在訪問失敗時，由振蕩檢測器13所檢測的振蕩是否超過了預定閾值(步驟ST410)。
振蕩也許不是因光盤20的缺陷而產(chǎn)生的，所以，在訪問失敗時，如果超過閾值的振蕩被檢測到，系統(tǒng)控制器18判斷振蕩引起訪問錯誤，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST414)。
另一方面，當在步驟ST410中判斷訪問失敗時超過閾值的振蕩沒有被檢測到時，系統(tǒng)控制器18作出光盤20的缺陷引起訪問錯誤的判斷，并結(jié)束錯誤判斷處理(步驟ST412)。
已對在圖3的步驟ST140和圖4的步驟ST162中的缺陷錯誤處理作了解釋。
圖8是當判斷在訪問中光盤20的缺陷引起失敗超過上限數(shù)目時執(zhí)行的缺陷錯誤處理的流程圖。
首先，系統(tǒng)控制器18判斷地址信息能否從光盤20讀取(步驟ST500)。例如，系統(tǒng)控制器18判斷錯誤是否已經(jīng)發(fā)生，例如伺服控制器17隨著伺服控制的鎖定的完全丟失而結(jié)束。當這種錯誤沒有發(fā)生而且地址信息能被讀出時，系統(tǒng)控制器18將訪問目的地改變至恰好相距第一地址寬度的地址，并決定再次執(zhí)行R/W訪問，并結(jié)束缺陷錯誤處理(步驟ST502)。這種情況下，系統(tǒng)控制器18將光盤20的缺陷看作是小缺陷，并設置地址改變的范圍。
當在步驟ST500判斷地址信息不能被讀出時，系統(tǒng)控制器18在從訪問失敗的地址開始的預定地址范圍內(nèi)搜索可讀地址(步驟ST504)。進而，如果在這個地址范圍內(nèi)有可讀地址，系統(tǒng)控制器18將訪問目的地改變至該地址，同時決定再次執(zhí)行R/W訪問，并結(jié)束缺陷錯誤處理(步驟ST506)。
當在步驟ST504判斷在預定地址范圍內(nèi)沒有可讀地址時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行移動發(fā)射激光光束的位置至參考位置的處理，以確定在光盤20的參考位置訪問是否可能(步驟ST508、ST510、ST512、和ST514)。該處理與已作解釋的處理步驟ST200、ST202、ST300、和ST302相同。
在確認發(fā)射激光光束位置的移動中，系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置，訪問光盤20是否可能(步驟ST516)。例如，系統(tǒng)控制器18確定在該參考位置，地址信息能否被讀取。當光盤20在參考位置不能被訪問，或指示發(fā)射激光光束的位置移動失敗的信號由光拾取器5輸出時，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行預定的內(nèi)部錯誤處理，并結(jié)束缺陷錯誤處理(步驟ST518)。
當在參考位置地址信息能被讀取時，系統(tǒng)控制器18決定改變訪問目的地至恰好相距第二地址寬度的地址，并再次執(zhí)行R/W訪問，并結(jié)束缺陷錯誤處理(步驟ST520)。這種情況下，系統(tǒng)控制器18估計光盤20的缺陷是上述的大缺陷，并設置地址改變的數(shù)量。
如上面所作的說明，根據(jù)按照本實施例的光盤設備，如果不良的伺服控制、不良的時鐘信號重現(xiàn)處理、或訪問失敗的其他預定原因在光盤20上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)，則系統(tǒng)控制器判斷是光盤20的缺陷引起訪問失敗。
所以，由光盤20的缺陷引起的訪問失敗能夠明顯地與由其它因素引起的訪問失敗辨別開來。由此，對于由光盤20的缺陷引起的訪問失敗，適當處理是可能的。
進而，在光盤設備中，訪問重試時，如果不良的伺服控制、不良的時鐘信號重現(xiàn)處理、或訪問失敗的另外原因在光盤20上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)，訪問失敗時，如果由振蕩檢測器13所檢測的振蕩超過預定閾值，可以判斷是振蕩引起訪問失敗，而如果檢測的振蕩沒有超過預定閾值，可以判斷是光盤20的缺陷引起訪問失敗。
因此，如果由光盤20的缺陷引起訪問失敗和如果由從外部源施加的振蕩引起訪問失敗，這些失敗能夠被清楚地區(qū)分。由此，對由于光盤20的缺陷引起的訪問失敗和由振蕩引起的訪問失敗的錯誤判斷較少出現(xiàn)，并且能夠分別針對失敗原因進行適當?shù)腻e誤處理。
進而，在光盤設備中，當光盤20的缺陷已引起訪問失敗的判斷被重復超過重試次數(shù)Nd的上限值時，訪問重試被終止，且缺陷錯誤處理被執(zhí)行。當振蕩引起訪問失敗的判斷被重復超過外部因素超時時間Ts時，訪問重試被終止，且對于外部因素的預定錯誤處理被執(zhí)行。
由此，對于光盤20的缺陷引起訪問失敗的情況和振蕩引起訪問失敗的情況，轉(zhuǎn)換錯誤處理的條件能夠被分別設定。
通常，當由于光盤20內(nèi)的缺陷引起訪問失敗產(chǎn)生時，即使重復重試訪問嘗試，被浪費的處理時間結(jié)束變長。與此相反，當由于振蕩引起訪問失敗產(chǎn)生時，有一個很好的機會，即在預定時間之后，訪問將變得可能，所以，設定大數(shù)目的重試次數(shù)是必要的。因此，有可能清楚地分辨由光盤20的缺陷引起的訪問失敗和由振蕩引起的訪問失敗，并且按照確定的失敗原因，適當?shù)卦O置訪問重試時間或重試次數(shù)。因此，按照失敗原因適當?shù)貓?zhí)行錯誤處理，同時抑制由于多次重試或嘗試而被浪費的處理時間是可能的。
進而，當由于光盤20上的指定地址而使光盤20的缺陷引起訪問失敗時，如果地址信息能從光盤20被讀取，則訪問目的地被改變至與訪問失敗的地址恰好距離第一地址寬度的地址。另一方面，如果地址信息不被讀取，則調(diào)查在光盤20的預定參考位置上訪問是否可能。進而，如果該確定顯示在參考位置的訪問是可能的，那么訪問目的地被改變至恰好距離訪問失敗的地址第二地址寬度的地址，該第二地址寬度大于第一地址寬度。
因此，當估計的缺陷等級相對大時，訪問目的地被改變至與當估計缺陷等級小時相比更遠的位置，以使訪問可以被完成，同時在跳過訪問時抑制被浪費的存儲區(qū)域的增加。
特別的，當寫數(shù)據(jù)被實時傳送至光盤20時，如果由于訪問失敗而使寫處理中的延遲被延長，則FIFO單元2可能溢出，所以，最好盡快重新啟動寫操作。在這一方面，按照跳至恰好距離預設的地址寬度的位置的上述方法，與無休止地尋找可訪問的地址的方法相比，能夠以更高的速度重新啟動寫操作，所以，能夠有效地避免FIFO單元2的溢出。
第三實施例對本發(fā)明的第三實施例作解釋。
第三實施例是有關(guān)跟蹤錯誤是否已經(jīng)變得比預定極限更大的判斷的實施例。
圖9是有關(guān)光盤20中的跟蹤錯誤的判斷部分的結(jié)構(gòu)示例。圖9和圖1中相同的參考數(shù)字表示同一元件。注意，光盤設備的結(jié)構(gòu)除了圖9中所示的有關(guān)跟蹤錯誤判斷的部分之外的其余部分與圖1所示的光盤設備相同。
在圖9的示例中，光敏元件9有光學檢測器91和92。RF信號處理器10有微分放大器101。伺服控制器16有判斷單元161、162和163。
包含判斷單元161、162和163的單元是跟蹤錯誤判斷單元的實施例。
光學檢測器91和92將從光盤20反射的光束轉(zhuǎn)換成電信號。光學檢測器91和92，例如，如圖9所示，被對稱地設置在一個平面上。當用激光光束在中心部分撞擊信息軌道時，光學檢測器91和92的輸出信號的電平變得基本上相等。
微分放大器101放大并輸出光學檢測器91和92的輸出信號電平的差值。微分放大器101的輸出信號TE對應于發(fā)射激光光束的位置相對于信息軌道的偏差(跟蹤錯誤)的檢測數(shù)值。
當微分放大器101的輸出信號TE的等級(即，由微分放大器101檢測的跟蹤錯誤的等級)在時間TA內(nèi)超過閾值THA時，判斷單元161判斷跟蹤錯誤的等級已經(jīng)達到第一錯誤判斷基準。
當由振蕩檢測器13所檢測的振蕩已經(jīng)變得比預定閾值更大，并且信號TE的等級在時間TB內(nèi)超過閾值THB時，判斷單元162判斷跟蹤錯誤的等級已經(jīng)達到第二錯誤判斷基準。然而，閾值THB大于閾值THA，并且時間TB比時間TA更短。
當在判斷單元161或162中，跟蹤錯誤的等級達到第一錯誤判斷基準或第二錯誤判斷基準時，判斷單元163輸出表示跟蹤錯誤已經(jīng)變得比某一極限更大(即，不良的跟蹤控制已經(jīng)產(chǎn)生)的信號ERR_T。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)，當由振蕩檢測器13所檢測的振蕩小于預定的閾值時，判斷是否已經(jīng)達到第一錯誤判斷基準，當由振蕩檢測器13所檢測的振蕩大于預定的閾值時，除該第一錯誤判斷基準之外，還判斷是否已經(jīng)達到第二錯誤判斷基準。
圖10是微分放大器101的輸出信號TE在各種情況下的波形示例。
圖10(A)示出了信號TE在光盤設備受到強烈震動的情況下的波形。在這種情況下，信號TE在相當短的時間內(nèi)產(chǎn)生了大的峰值。
圖10(B)示出了信號TE在光盤20有缺陷的情況下的波形。在這種情況下，信號TE有持續(xù)比受到震動的情況更長時間的較低的峰值。
圖10(C)示出了信號TE在光盤20有較小缺陷的情況下的波形。在這種情況下，信號TE有持續(xù)比受到震動的情況更短時間的較低的峰值。
在圖10(A)和圖10(B)中的波形示例所示的情況下，判斷跟蹤錯誤是否已超過某一極限很有必要。在圖10(C)的情況下，就是說，光盤20發(fā)生較小缺陷的情況下，即使進行連續(xù)訪問，也通常沒有問題發(fā)生，所以最好不去判斷跟蹤錯誤是否已經(jīng)超過預定極限。
然而，在傳統(tǒng)的光盤設備中，通常單個判斷標準被用于判斷跟蹤錯誤是否已經(jīng)發(fā)生，所以就出現(xiàn)一個問題，即不易于分辨施加強烈震動的情況和小缺陷發(fā)生的情況。例如，在圖10的波形示例中，如果僅僅依靠第一判斷標準(閾值THA，時間TA)來判斷，由于脈沖寬度t2和t4在圖10(A)和圖10(C)的情況下很接近，所以分辨兩者是很困難的。最近幾年中，隨著光盤20的速度更高，小缺陷的脈沖寬度變得更小并且已經(jīng)接近于強烈震動的脈沖寬度，所以分辨兩者已變得困難。
如果為了使小缺陷的產(chǎn)生不被判斷為錯誤而放寬錯誤判斷基準，當由于強烈震動而檢測到如圖10(A)所示的高速信號TE時，錯誤判斷中產(chǎn)生延遲，同時存儲內(nèi)容的重寫或其它問題可能發(fā)生。相反，如果錯誤判斷基準過于嚴格，即便在記錄和重現(xiàn)能夠被繼續(xù)的小缺陷情況下，操作可能被錯誤判斷所中斷。
與此相反，根據(jù)按照上述本實施例的光盤設備的判斷方法，當由振蕩檢測器13檢測的振蕩超過預定閾值或沒有超過預定閾值時，使用不同的判斷標準。
就是說，當振蕩檢測器13檢測到多于預定數(shù)量的振蕩時，第一判斷標準(閾值THA，時間TA)和第二判斷標準(閾值THB，時間TB)都變得有效，所以除了由光盤20的缺陷引起的錯誤(圖10(B))之外，可靠地判斷由于強烈震動引起的錯誤(圖10(A))變得可能。
另一方面，當振蕩檢測器13沒有檢測到多于預定數(shù)量的振蕩時，只有第一判斷標準(閾值THA，時間TA)變得有效，所以，當微小缺陷發(fā)生(圖10(C))時，避免錯誤判斷是可能的。
因此，根據(jù)按照上述實施例的光盤設備，通過合理地設定判斷標準，如果由于從外部源給出的振蕩而導致的光盤20信息軌道上光束的發(fā)射位置的偏移超過預定極限，則提高判斷的精度是可能的。由此，可靠地確定由強烈震動引起的錯誤是可能的。進而，光盤20上小缺陷的發(fā)生被錯誤判斷為錯誤的情況被減少，由于錯誤的判斷而導致的記錄和重現(xiàn)的無效中斷和不用的存儲區(qū)域較少。因此，減少存儲區(qū)域內(nèi)浪費的信息是可能的。
第四實施例對本發(fā)明的第四實施例作解釋。
第四實施例是關(guān)于光盤20的旋轉(zhuǎn)速度的控制的實施例。
按照第四實施例的光盤設備，例如，有與圖1所示的光盤設備類似的結(jié)構(gòu)。然而，對于光盤20的旋轉(zhuǎn)速度的控制，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行如下面所說明的控制。
當光拾取器5的發(fā)射激光光束的位置是在從光盤20的中心到預定軌道之間的區(qū)域時，系統(tǒng)控制器18指令馬達控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使光盤20的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)楹愣?。另一方面，當發(fā)射激光光束的位置是在預定軌道至光盤20的周邊之間時，系統(tǒng)控制器18指令馬達控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使發(fā)射激光光束的位置以恒定的速度在光盤20的信息軌道上移動。
由此，當從光盤20的盤心至發(fā)射激光光束的位置之間的距離小于預定距離時，以恒定的旋轉(zhuǎn)速度驅(qū)動光盤20。另一方面，當距離盤心的距離大于預定距離時，驅(qū)動光盤20旋轉(zhuǎn)以使發(fā)射激光光束的位置在信息軌道上的移動速度變?yōu)楹愣ā?br> 圖11示出了距光盤20的中心的距離與光盤20的旋轉(zhuǎn)速度之間關(guān)系。
如圖11所示，當發(fā)射激光光束的位置是在與光盤20的中心相距距離R的范圍內(nèi)時，通過保持旋轉(zhuǎn)速度恒定，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行以CAV模式訪問光盤20的處理。進而，通過在發(fā)射激光光束的位置與光盤20的中心相距R的位置上保持發(fā)射激光光束的位置在信息軌道上的移動速度(線速度)恒定，系統(tǒng)控制器18執(zhí)行以CLV模式訪問光盤20的處理。
進而，當執(zhí)行上面的操作以便在CAV模式和CLV模式之間轉(zhuǎn)換時，系統(tǒng)控制器18以CAV模式控制旋轉(zhuǎn)速度或以CLV模式控制線速度。
就是說，當在用于將光盤20的旋轉(zhuǎn)速度控制為恒定的CAV模式下進行操作時，系統(tǒng)控制器18指令馬達控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使主軸馬達16的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)樵谥鬏S馬達16中的旋轉(zhuǎn)速度的預定上限。
當在用于將線速度控制為恒定的CLV模式下進行操作時，系統(tǒng)控制器18指令馬達控制器15的旋轉(zhuǎn)速度以使光拾取器5的輸出信號的頻率變?yōu)樵赗F信號處理器10中處理的頻率的預定上限。
通常，與CAV模式相比，當沿著信息軌道訪問連續(xù)區(qū)域時，CLV模式更快。因此，當高速訪問連續(xù)區(qū)域時，CLV模式更加有利。然而，傳統(tǒng)的光盤設備或以CLV模式操作，或以CAV模式操作，所以，主軸馬達的旋轉(zhuǎn)速度的性能極限要求犧牲訪問速度。
就是說，在CLV模式下，越靠近光盤的內(nèi)側(cè)，就需要光盤的旋轉(zhuǎn)速度越高，所以，主軸馬達的旋轉(zhuǎn)速度的性能極限導致線速度受限。當以受限的線速度從光拾取器拾取的RF信號的頻率低于RF信號處理電路中可以處理的頻率的上限時，不能充分顯示原始的訪問速度性能。
另一方面，根據(jù)按照本實施例的上述光盤設備，在主軸馬達的旋轉(zhuǎn)速度到達其極限的光盤20的內(nèi)部區(qū)域中，CAV模式用于訪問，同時在RF信號處理器10的頻帶達到其極限的光盤20的外部區(qū)域中，CLV模式用于訪問。由此，在主軸馬達16和RF信號處理器10的性能極限的范圍之內(nèi)，實現(xiàn)盡可能高的訪問速度是可能的。
進而，因為可以從主軸馬達16和RF信號處理器10中抽取最高性能，所以能夠大大提高CAV模式的訪問速度和CLV模式的數(shù)據(jù)傳遞速度。
第五實施例對本發(fā)明的第五實施例作說明。
第五實施例是有關(guān)查找速度的提高的實施例。
按照本實施例的光盤設備有著與例如圖1所示的光盤設備相似的結(jié)構(gòu)，并且如下面所說明的訪問光盤。
就是說，本實施例中將要被訪問的光盤有以螺旋形結(jié)構(gòu)形成的信息軌道。該信息軌道被分割成多個扇區(qū)且為其每一個都分配了地址。在每個扇區(qū)中，沿著信息軌道連續(xù)記錄重現(xiàn)指定的地址所需的信息。
例如，光盤的這種結(jié)構(gòu)對應于基于被稱為“Blu-ray”的標準的光盤。
Blu-ray光盤的信息軌道被分割成被稱作“RUB”的64K字節(jié)的扇區(qū)。一個RUB進一步被分割成三個扇區(qū)。在這三個扇區(qū)中，一個地址信息被記錄。
通過根據(jù)地址信息來調(diào)制擺動的周期性形狀的方法，在一個扇區(qū)中的地址信息沿著信息軌道被連續(xù)地記錄。因此，跟蹤1個RUB的1/3扇區(qū)對于重現(xiàn)一個地址信息很有必要。
當在這樣一個光盤的圓周方向上移動激光光束的發(fā)射位置時，普通的光盤設備沿著信息軌道在一預定方向上移動發(fā)射位置。例如，在訪問期間，可能使激光光束的發(fā)射位置不在相反方向上移動。
圖12是在普通光盤設備中的查找操作示例。
在圖12中，符號‘T(n-1)’、‘T(n)’，...表示信息軌道，而符號‘S(i)’，‘S(i+1)’，...表示劃分信息軌道的扇區(qū)。進而，符號‘A1’至‘A3’表示信息軌道上的地址。
光盤設備按照軌道T(n-1)、T(n)、T(n+1)，...的順序，沿著一個方向移動激光光束的發(fā)射位置，在圖12(A)的示例中，地址A2在查找操作前位于軌道T(n-1)上，要被訪問的地址A1位于軌道T(n+1)上。如果執(zhí)行查找操作，激光光束的發(fā)射位置被移至軌道T(n)的地址A3，T(n)是要被訪問的地址A1所在軌道T(n+1)之前的一個軌道。
在普通的光盤設備中，使地址跳至訪問地址所在的軌道之前的一個軌道，例如，如圖12(B)所示，有時跳至的地址A3被包含在包括訪問地址A1的扇區(qū)S(i+1)之前的一個扇區(qū)S(i)中。正如上面所說明的，要重現(xiàn)一個地址信息，跟蹤一個扇區(qū)很有必要，所以在這種情況下，當沿著從地址A3至地址A1的方向進行跟蹤時，首先被重現(xiàn)的地址信息變?yōu)樯葏^(qū)S(i+1)的地址信息。在獲得扇區(qū)S(i+1)的地址信息時，光盤設備能夠作出判斷以確定查找操作是否已經(jīng)被正確執(zhí)行，但是此時，激光光束的發(fā)射位置已經(jīng)過了已訪問的地址A1。因此，從這個位置沿著相反的方向跟蹤是不可能的，所以在這種情況下，光盤設備就返回至軌道T(n)，然后再次跟蹤信息軌道以嘗試訪問地址A1。
就是說，在普通的光盤設備中，當執(zhí)行跟蹤操作以獲得一個扇區(qū)的地址信息時，有時查找目標地址在被通過時結(jié)束。這種情況下有一個問題，即查找操作和跟蹤操作將被不必要地重復。
相反，在本實施例的光盤設備的系統(tǒng)控制器18中，當沿著光盤20的徑向朝著訪問地址移動激光光束的發(fā)射位置來執(zhí)行查找操作時，沿徑向跳的信息軌道的圈數(shù)(軌道數(shù)目)被確定，以便當沿上面的一個方向前進時，查找操作之后激光光束的發(fā)射位置被包含在距訪問扇區(qū)至少兩扇區(qū)的扇區(qū)中。
例如，如圖13所示，查找后的地址A3被包含在含有訪問地址A1的扇區(qū)S(i+1)之前兩扇區(qū)的扇區(qū)S(i-1)中。因此，當從查找后的位置執(zhí)行跟蹤操作時，第一個被重現(xiàn)的地址信息變?yōu)樯葏^(qū)S(i)的地址信息。這個地址信息能夠在激光光束的發(fā)射位置到達訪問地址A1之前被得到。因此，系統(tǒng)控制器18確認查找操作基于所獲得的地址信息以正常的方式被執(zhí)行，并且能夠在沒有返回的情況下訪問地址A1。
注意，系統(tǒng)控制器18也可以在查找操作之后，執(zhí)行檢測地址信息的讀取錯誤的處理。就是說，在查找操作結(jié)束之后，可以執(zhí)行跟蹤操作，以從讀處理器11獲得信息軌道上兩個相鄰扇區(qū)的地址信息，并且根據(jù)所獲得的兩個地址檢測地址信息的讀取錯誤。例如，通過確定所獲得的兩個地址信息顯示的地址是否是連續(xù)的，來檢測讀取錯誤。
當檢測該地址信息的讀取錯誤時，有必要將查找操作之后的激光光束的發(fā)射位置設置到一個比圖13(圖14)所示的情況前方更遠的扇區(qū)上。
就是說，當系統(tǒng)控制器18執(zhí)行一個查找操作時，沿徑向所跳的軌道數(shù)目被確定，以便在查找操作之后激光光束的發(fā)射位置被包含在距訪問扇區(qū)至少三個扇區(qū)的扇區(qū)中。根據(jù)該結(jié)果，激光光束的發(fā)射位置被移動，然后系統(tǒng)控制器18執(zhí)行檢測上述地址信息的讀取錯誤的處理。
例如，如圖14所示，查找后的地址A3被包含在含有訪問地址A1的扇區(qū)S(i+1)之前三扇區(qū)的扇區(qū)S(i-2)中。如果從查找后的地址A3開始執(zhí)行跟蹤操作，扇區(qū)S(i-1)和S(i)的地址信息能被獲得，從而達到地址A1的扇區(qū)S(i+1)。因此，系統(tǒng)控制器18基于所獲得的兩個地址信息，確認查找操作已經(jīng)以正常方式被執(zhí)行，或地址信息的讀取錯誤已經(jīng)或沒有發(fā)生，從而能夠在不返回的情況下訪問地址A1。
這樣，根據(jù)按照本實施例的光盤設備，在查找操作之后讀取地址信息避免了激光光束的發(fā)射位置在通過訪問地址時結(jié)束的問題，從而，消除查找操作的無用重復和加速查找操作是可能的。
第六實施例對本發(fā)明的第六實施例作說明。
圖15是按照本發(fā)明第六實施例的圖像拾取設備的結(jié)構(gòu)方框圖。
圖15所示的圖像拾取設備有圖像拾取器100、圖像數(shù)據(jù)處理器200、顯示器300、和光盤設備400。
圖像拾取器100拾取移動圖像或靜止圖像并產(chǎn)生圖像數(shù)據(jù)。
圖像數(shù)據(jù)處理器200通過編碼、濾波、像素數(shù)量變換、或其它預定的圖像處理來處理從圖像拾取器100輸出的圖像數(shù)據(jù)，并在光盤設備400中記錄結(jié)果。
進而，從光盤設備400讀取的圖像數(shù)據(jù)經(jīng)過譯碼、濾波、像素數(shù)量變換、或其它預定的圖像處理被處理，以產(chǎn)生提供給顯示器300的圖像信號。
顯示器300顯示由圖像數(shù)據(jù)處理器200提供的圖像信號。
光盤設備400是第一至第五實施例中的任何一個的光盤設備，并依據(jù)圖像數(shù)據(jù)處理器200的命令記錄或重現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)。
根據(jù)上述結(jié)構(gòu)的圖像拾取設備，在光盤設備400中，由于光盤缺陷而引起的訪問失敗和由于外部源施加的振蕩而引起的訪問失敗能夠被清楚地分辨，并且能夠根據(jù)失敗原因執(zhí)行適當?shù)腻e誤處理。因此，能夠提高圖像數(shù)據(jù)的記錄操作的可靠性。
進而，即使當振蕩引起訪問失敗時，也可以很快地返回記錄操作，所以能夠有效地防止實時產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)的丟失。
因為由強烈振蕩引起的不良跟蹤控制能夠被可靠地檢測，所以在這點上，圖像數(shù)據(jù)的丟失也同樣能被阻止。
由于在光盤設備400中，光盤的旋轉(zhuǎn)控制模式被適當?shù)剞D(zhuǎn)換，所以圖像數(shù)據(jù)的高速記錄或重現(xiàn)變得可能。
由于在光盤設備400中，不再有查找操作或跟蹤操作的無用重復，所以圖像數(shù)據(jù)的高速記錄或重現(xiàn)變得可能。
以上，本發(fā)明的幾個實施例已作解釋，但是本發(fā)明不局限于這些實施例，各種更改皆有可能。
例如，在上述實施例中的處理至少可以通過電腦和程序部分地實現(xiàn)。例如，伺服控制器或系統(tǒng)控制器可以通過專用電腦來實現(xiàn)或通過相同的電腦來實現(xiàn)。
權(quán)利要求
1.一種光盤設備，包括旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，用于驅(qū)動光盤的旋轉(zhuǎn)；和控制器，用于控制所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，使得在訪問從所述光盤的中心到在所述光盤的該中心和周圍之間的第一軌道的區(qū)域時，以恒定的角速度來驅(qū)動所述光盤的旋轉(zhuǎn)，而在訪問從所述第一軌道到所述光盤的外圍軌道之間的區(qū)域時，以恒定的線速度來驅(qū)動所述光盤的旋轉(zhuǎn)。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤設備，其中所述第一軌道是由所述光盤的旋轉(zhuǎn)性能、所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分和數(shù)據(jù)讀取速度確定的。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤設備，其中當確定訪問失敗時，所述控制器對所述光盤重試失敗的訪問嘗試，并且所述控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗，并且所述控制器進一步判斷所述訪問失敗的預定原因在所述光盤的預定鄰近范圍內(nèi)是否重復出現(xiàn)。
4.如權(quán)利要求3所述的光盤設備，其中所述光盤包括振蕩檢測器，用于檢測在該光盤中出現(xiàn)的振蕩，和當在所述訪問嘗試的重試中訪問失敗的原因在所述預定鄰近范圍內(nèi)沒有重復出現(xiàn)且由所述振蕩檢測器檢測的振蕩超過訪問失敗時的預定閾值時，所述控制器判斷是否是振蕩引起訪問失敗，而當所述振蕩沒有超過該預定閾值時，所述控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗。
5.如權(quán)利要求3所述的光盤設備，其中當所述控制器判斷在訪問該光盤上的指定地址時所述光盤的缺陷引起訪問失敗時，如果從所述光盤讀取了有關(guān)地址的信息，則所述控制器將訪問目的地改變至距離引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第一地址寬度的地址，同時該控制器確定在所述光盤的預定參考位置訪問是否可能和有關(guān)地址的信息是否可讀，并且如果在所述參考位置訪問是可能的，則該控制器將該訪問目的地改變至距離引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第二地址寬度的地址，該第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
6.如權(quán)利要求1所述的光盤設備，其中(i)當發(fā)射光束的位置是在從所述光盤的中心至該第一軌道的區(qū)域內(nèi)時，所述光盤的旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)楹愣?，?ii)當所述發(fā)射光束的位置是在從所述第一軌道至所述光盤的外圍邊緣的區(qū)域內(nèi)時，所述發(fā)射光束的位置以恒定的速度在信息軌道上移動。
7.如權(quán)利要求6所述的光盤設備，其中所述光盤進一步包括光拾取器，用來輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號的發(fā)射光束；信號處理器，用來處理所述光拾取器的輸出信號，其中，(i)當所述光盤的旋轉(zhuǎn)速度是恒定的時，所述旋轉(zhuǎn)速度變?yōu)槟軌虮凰鲂D(zhuǎn)驅(qū)動部分驅(qū)動的旋轉(zhuǎn)速度的預定上限，和(ii)所述發(fā)射光束在所述信息軌道上的位置的移動速度控制所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動部分，以便所述光拾取器的輸出信號的頻率變?yōu)槟軌蛟谒鲂盘柼幚砥魈幚淼念l率的預定上限。
8.一種用于控制光盤的旋轉(zhuǎn)的方法，該方法包括步驟當訪問從所述光盤的中心到在所述光盤的該中心和所述光盤的外圍之間的第一軌道的區(qū)域時，以恒定的角速度驅(qū)動所述光盤的旋轉(zhuǎn)；和當訪問從所述第一軌道至所述光盤的外圍邊緣的區(qū)域時，以恒定的線速度驅(qū)動所述光盤的旋轉(zhuǎn)。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，進一步包括基于所述光盤的旋轉(zhuǎn)性能、所述旋轉(zhuǎn)驅(qū)動和數(shù)據(jù)讀取速度預先確定所述第一軌道的步驟。
10.一種用于重試失敗的訪問嘗試的光盤設備，所述光盤設備包括控制器，用于判斷當訪問失敗的預定原因在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗。
11.如權(quán)利要求10所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括振蕩檢測器，用來檢測在該光盤中出現(xiàn)的振蕩，和當在所述訪問嘗試的重試中訪問失敗的原因在所述預定鄰近范圍內(nèi)沒有重復出現(xiàn)且由所述振蕩檢測器檢測的振蕩超過訪問失敗時的預定閾值時，所述控制器判斷是否是振蕩引起訪問失敗，而當所述振蕩沒有超過該預定閾值時，所述控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗。
12.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中當判斷所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗時，重復訪問嘗試超過第一時間或第一次數(shù)，并且所述控制器結(jié)束所述訪問嘗試的重試并執(zhí)行第一錯誤處理，而當判斷震動引起訪問失敗時，重復訪問嘗試超過第二時間或第二次數(shù)，并且所述控制器結(jié)束所述訪問嘗試的重試并執(zhí)行第二錯誤處理。
13.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括光拾取器，用來利用光學系統(tǒng)在所述光盤上發(fā)射光束，并輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號的光束；光拾取器驅(qū)動器，用來相對于所述光盤的信息軌道和所述光學系統(tǒng)的焦點位置移動所述光拾取器的發(fā)射光束的位置；和伺服控制器，用來根據(jù)所述光拾取器的輸出信號控制所述光拾取器驅(qū)動器，以便在所述光學系統(tǒng)聚焦在所述信息軌道上的指定位置的狀態(tài)下發(fā)射光束，和當所述伺服控制器的不良伺服控制在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，所述控制器判斷在所述訪問嘗試的重試中所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗。
14.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括光拾取器，用來利用光學系統(tǒng)在所述光盤上發(fā)射光束，并輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號的光束；和信號處理器，用來基于所述光拾取器的輸出信號重現(xiàn)時鐘信號，其中，當所述信號處理器的不良時鐘信號重現(xiàn)處理在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，所述控制器判斷在所述訪問嘗試的重試中所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗。
15.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括光拾取器，用來利用光學系統(tǒng)在所述光盤上發(fā)射光束，并輸出從所述光盤反射的并被轉(zhuǎn)換成電信號的光束；和信號處理器，用來基于所述光拾取器的輸出信號重現(xiàn)所述光盤上的地址信息，其中，當所述信號處理器的不良地址信號重現(xiàn)處理在所述光盤上的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，所述控制器判斷在所述訪問嘗試的重試中所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗。
16.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括旋轉(zhuǎn)控制器，用于將所述光盤的旋轉(zhuǎn)速度維持在指定速度上，其中，當訪問失敗的原因在所述鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)時，所述控制器判斷在所述訪問嘗試的重試中所述旋轉(zhuǎn)控制器對旋轉(zhuǎn)速度的不良控制已經(jīng)引起訪問失敗。
17.如權(quán)利要求11所述的光盤設備，其中所述光盤設備進一步包括偏斜檢測器，用來檢測所述光盤的光接收表面相對于發(fā)射光束的偏斜，其中，當訪問失敗的原因在所述鄰近范圍內(nèi)沒有重復出現(xiàn)且在訪問失敗時由所述偏斜檢測器檢測的偏斜超過預定閾值時，所述控制器判斷在所述訪問嘗試的重試中震動已經(jīng)引起訪問失敗。
18.一種用于訪問光盤上的指定地址的光盤設備，所述光盤設備包括控制器，當所述控制器判斷是所述光盤的缺陷引起訪問失敗，當訪問光盤上一指定位置時，所述控制器精確地將訪問目的地改變至距離引起失敗訪問嘗試的地址一個第一地址寬度的地址，如果有關(guān)地址的信息從所述光盤上被讀取，同時，控制器決定在所述光盤的預定參考位置訪問是否可能和有關(guān)地址的信息是否可讀，并且，如果在所述參考位置訪問可能，那么控制器精確地將訪問目的地改變至距離引起失敗訪問嘗試的地址一個第二地址寬度的地址，第二地址的寬度大于所述第一地址寬度。其在判斷在訪問該光盤上的指定地址時所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗時，如果從所述光盤讀取了有關(guān)地址的信息，則所述控制器將訪問目的地改變至距離引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第一地址寬度的地址，同時該控制器確定在所述光盤的預定參考位置訪問是否可能和有關(guān)地址的信息是否被讀取，并且如果在所述參考位置訪問是可能的，則該控制器將該訪問目的地改變至距離引起失敗的訪問嘗試的地址恰好第二地址寬度的地址，該第二地址寬度大于所述第一地址寬度。
19.如權(quán)利要求18所述的光盤設備，其中，如果有關(guān)地址的信息未被讀取，則在確定所述預定參考位置之前，所述控制器在從所述未被訪問的地址開始的預定地址范圍內(nèi)搜索可讀地址，并且如果所述范圍有可讀地址，則該控制器將訪問目的地改變至所述地址，而如果所述范圍沒有可讀地址，則該控制器確定所述參考位置。
20.如權(quán)利要求18所述的光盤設備，其中，如果訪問失敗的預定原因在所述光盤的預定鄰近范圍內(nèi)重復出現(xiàn)，則所述控制器在判斷在所述訪問嘗試的重試中所述光盤的缺陷已經(jīng)引起訪問失敗時，執(zhí)行重試失敗的訪問嘗試的處理，而當重復該判斷超過預定時間或預定次數(shù)時，所述控制器執(zhí)行訪問目的地改變處理。
21.如權(quán)利要求20所述的光盤設備，所述光盤進一步包括振蕩檢測器，用來檢測在該光盤中出現(xiàn)的振蕩，其中，當在所述訪問嘗試的重試中訪問失敗的原因在所述預定鄰近范圍內(nèi)沒有重復出現(xiàn)且由所述振蕩檢測器檢測的振蕩超過訪問失敗時的預定閾值時，所述控制器判斷是否是振蕩引起訪問失敗，而當所述振蕩沒有超過該預定閾值時，所述控制器判斷是否是所述光盤的缺陷引起訪問失敗。
全文摘要
提供了一種能夠提高訪問速度的光盤設備和一種具有這樣的光盤設備的圖像拾取設備。在主軸馬達的旋轉(zhuǎn)速度達到其極限的光盤的內(nèi)部區(qū)域中，將CAV模式用于訪問，而在RF信號處理器的頻帶達到其極限的光盤的外部區(qū)域中，將CLV模式用于訪問。實現(xiàn)了在主軸馬達和RF信號處理器的性能極限范圍內(nèi)的最大程度的高速訪問。
文檔編號G11B7/085GK1691147SQ20051006778
公開日2005年11月2日 申請日期2005年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年2月24日
發(fā)明者田中則夫, 永友孝志, 寺田明生, 鈴木雄一 申請人:索尼株式會社