專利名稱：信號(hào)處理裝置、信號(hào)處理方法及存儲(chǔ)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對(duì)記錄介質(zhì)的存取技術(shù)，特別涉及信號(hào)處理裝置、信號(hào)處理方法以及存儲(chǔ)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
近年來，在盤驅(qū)動(dòng)器的領(lǐng)域中，可提高記錄密度的垂直磁記錄方式的盤存儲(chǔ)裝置受到關(guān)注。在以往的縱向磁記錄方式的盤驅(qū)動(dòng)器中，在盤介質(zhì)的縱向上形成與二值的記錄數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的磁化。而在垂直磁記錄方式的盤驅(qū)動(dòng)器中，該磁化被形成在盤介質(zhì)的深度方向上。
一般在盤驅(qū)動(dòng)器中，數(shù)據(jù)通過NRZ(non return to zero)記錄編碼方法記錄在盤介質(zhì)上。從該盤介質(zhì)上通過磁頭讀出記錄數(shù)據(jù)的情況下，在縱向磁記錄方式中，該再現(xiàn)信號(hào)(讀信號(hào))成為雙脈沖信號(hào)串。另一方面，在垂直磁記錄方式中，該再現(xiàn)信號(hào)成為包含直流(DC)的低頻分量的脈沖信號(hào)串。
一般在盤驅(qū)動(dòng)器的讀通道系統(tǒng)(包含讀放大器的再現(xiàn)信號(hào)處理系統(tǒng))中，讀放大器或AC耦合等模擬前置電路具有低頻阻斷特性。這是由于從再現(xiàn)信號(hào)中除去不需要的低頻噪聲分量從而改善再現(xiàn)信號(hào)的SNR(信號(hào)/噪聲比)等理由。
在垂直磁記錄方式中，由于再現(xiàn)信號(hào)中包含低頻分量，因此通過具有低頻阻斷特性的模擬前置電路截?cái)嗟皖l噪聲分量時(shí)，確認(rèn)了再現(xiàn)信號(hào)的基線變動(dòng)的現(xiàn)象。引起這樣的再現(xiàn)信號(hào)的基線變動(dòng)時(shí)，從再現(xiàn)信號(hào)將記錄數(shù)據(jù)解碼時(shí)，產(chǎn)生差錯(cuò)率(解碼差錯(cuò)率)增高的問題。
為了改善該情況，考慮降低讀通道系統(tǒng)的低頻阻斷頻率。但是，如單純擴(kuò)寬通過頻帶，則不能截?cái)嗟皖l噪聲分量，因此引起再現(xiàn)信號(hào)的SNR劣化。此外，特別是由于讀放大器一般對(duì)1/f噪聲等低頻噪聲敏感，因此SNR進(jìn)一步劣化。從而，在垂直磁記錄方式中，在單純地降低讀通道系統(tǒng)的低頻阻斷頻率時(shí)，差錯(cuò)率反而升高。
作為處理以往的基線變動(dòng)的方法，提出了求基線的理想值，取與現(xiàn)實(shí)的基線的值的差分，將該值反饋到AD變換器之前來進(jìn)行校正的技術(shù)(例如，參照專利文獻(xiàn)1)。此外，提出了通過求基線的變動(dòng)分量的逆特性，并求與變動(dòng)了的基線的差分，從而得到?jīng)]有變動(dòng)的基線的技術(shù)(例如，參照專利文獻(xiàn)2)。此外，提出了檢測(cè)模擬信號(hào)的直流分量并使用該合計(jì)值來校正基線變動(dòng)的方法(例如，參照專利文獻(xiàn)3)。
特開2004-127409號(hào)公報(bào)[專利文獻(xiàn)2]特開平11-185209號(hào)公報(bào)[專利文獻(xiàn)3]特開平11-266185號(hào)公報(bào)本發(fā)明人在這樣的狀況下認(rèn)識(shí)到以下的課題。以往，由于計(jì)算對(duì)基線進(jìn)行校正的校正量并反饋到前級(jí)來進(jìn)行校正，因此進(jìn)行校正的時(shí)期延遲了校正量的計(jì)算的時(shí)間。近年的存儲(chǔ)裝置由于要求以超過1G bps的速度進(jìn)行讀寫的存取，因此該延遲可能成為致命性的。即，即使進(jìn)行了基線校正，該校正所使用的校正量也是基于過去的數(shù)據(jù)求出的校正量，所以不能進(jìn)行準(zhǔn)確的校正。從而，在要求更高速地進(jìn)行存取的情況下，該基線的變動(dòng)對(duì)糾錯(cuò)等后級(jí)的電路產(chǎn)生惡劣影響的方面成為課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明鑒于這樣的狀況而完成，其總的目的在于提供一種在要求高速地進(jìn)行存取的存儲(chǔ)裝置中，能夠高效率地校正基線的變動(dòng)的存儲(chǔ)裝置。
為了解決上述課題，本發(fā)明的一個(gè)方案的信號(hào)處理裝置具有第1基線變動(dòng)校正單元，設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正；以及第2基線變動(dòng)校正單元，設(shè)置在第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正，第1基線變動(dòng)校正單元具有基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；校正量微調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及變動(dòng)微校正單元，使用微調(diào)整過的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，第2基線變動(dòng)校正單元具有校正量粗調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正單元，使用通過校正量粗調(diào)整單元粗調(diào)整過的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
根據(jù)該方案，通過由第1基線變動(dòng)校正單元對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行微校正(fine correcting)，由第2基線變動(dòng)校正單元對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行粗校正(coarsecorrecting)，從而可以高效率地校正基線的變動(dòng)。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置是信號(hào)處理裝置，第1基線變動(dòng)校正單元通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正，第2基線變動(dòng)校正單元通過反饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正。
根據(jù)該方案，時(shí)間延遲成為問題的第1基線變動(dòng)校正單元通過前饋控制進(jìn)行校正，所以可以跟蹤瞬時(shí)變動(dòng)，對(duì)基線進(jìn)行校正。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置是信號(hào)處理裝置，還具有A/D變換器，設(shè)置在第2基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)；以及第3基線變動(dòng)校正單元，被設(shè)置在A/D變換器的前級(jí)，使用由校正量粗調(diào)整單元計(jì)算出的平均值，進(jìn)行模擬信號(hào)的基線變動(dòng)的校正。
根據(jù)該方案，通過即使在模擬端也對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行粗校正，從而可以進(jìn)行更精確的校正。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置是信號(hào)處理裝置，第1基線變動(dòng)校正單元還具有對(duì)是否許可校正進(jìn)行控制的校正許可控制單元，變動(dòng)微校正單元基于校正許可控制單元的控制，進(jìn)行信號(hào)的基線變動(dòng)的校正。
根據(jù)該方案，由于判斷是否許可校正后進(jìn)行校正，所以可以高效率地校正。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置在信號(hào)處理裝置中，校正許可控制單元在判定為不需要基線變動(dòng)的校正的情況下，禁止變動(dòng)微校正單元對(duì)基線的校正。
根據(jù)該方案，通過在不需要校正的情況下禁止對(duì)基線的校正，可以高效率地校正。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置在信號(hào)處理裝置中，校正許可控制單元在基線變動(dòng)量比規(guī)定的閾值小的情況下，判定為不需要基線變動(dòng)的校正。
根據(jù)該方案，由于通過閾值判定來判定是否許可校正，所以可以靈活地進(jìn)行校正控制。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置在信號(hào)處理裝置中，校正量微調(diào)整單元還具有用于計(jì)算第1區(qū)間的信號(hào)的平均值的第1平均單元，校正量粗調(diào)整單元還具有用于計(jì)算第2區(qū)間的信號(hào)的平均值的第2平均單元。第2區(qū)間比第1區(qū)間長(zhǎng)。
根據(jù)該方案，通過用平均值導(dǎo)出校正量，由微調(diào)整單元和粗調(diào)整單元改變平均區(qū)間的長(zhǎng)度，從而微調(diào)整單元可應(yīng)對(duì)瞬時(shí)變動(dòng)，而粗調(diào)整單元可應(yīng)對(duì)長(zhǎng)期變動(dòng)。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置在信號(hào)處理裝置中，基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元具有限幅器，進(jìn)行被實(shí)施了規(guī)定的處理的信號(hào)的硬判定處理；以及減法器，從被實(shí)施了規(guī)定的處理的信號(hào)中減去通過限幅器進(jìn)行了硬判定處理的信號(hào)。
根據(jù)該方案，通過使用硬判定的結(jié)果，可以高速地求變動(dòng)量。
本發(fā)明的另一方案也是信號(hào)處理裝置。該裝置在信號(hào)處理裝置中，變動(dòng)量導(dǎo)出單元還具有選擇器，該選擇器將被實(shí)施了規(guī)定的處理的信號(hào)和基線的變動(dòng)量的平均值作為輸入，根據(jù)規(guī)定的選擇信號(hào)，將被實(shí)施了規(guī)定的處理的信號(hào)和基線的變動(dòng)量的平均值的其中一個(gè)信號(hào)輸出到限幅器。
根據(jù)該方案，通過選擇器，可以選擇作為計(jì)算變動(dòng)量的源的信號(hào)，所以可以進(jìn)行靈活的控制。此外，通過將作為計(jì)算變動(dòng)量的源的信號(hào)作為平均部分的輸出，從而可以導(dǎo)出更正確的變動(dòng)量。
本發(fā)明的另一方案是一種信號(hào)處理方法。該方法包括第1基線變動(dòng)的校正步驟，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正；以及第2基線變動(dòng)的校正步驟，對(duì)在第1基線變動(dòng)的校正步驟之前實(shí)施的基線的變動(dòng)進(jìn)行校正，第1基線變動(dòng)的校正步驟包括基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；微調(diào)整步驟，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及微校正步驟，使用微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，第2基線變動(dòng)的校正步驟包括粗調(diào)整步驟，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正步驟，使用粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
根據(jù)該方案，通過由第1基線變動(dòng)校正單元對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行微校正，由第2基線變動(dòng)校正單元對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行粗校正，從而可以高效率地校正基線的變動(dòng)。
本發(fā)明的另一方案是一種存儲(chǔ)系統(tǒng)。該存儲(chǔ)系統(tǒng)具有將數(shù)據(jù)寫入到存儲(chǔ)裝置的寫通道和將存儲(chǔ)于存儲(chǔ)裝置中的數(shù)據(jù)讀出的讀通道，寫通道具有第1編碼單元，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行行程編碼；第2編碼單元，將由第1編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)用低密度奇偶校驗(yàn)碼再次進(jìn)行編碼；以及寫入單元，將由第2編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)裝置，讀通道具有多個(gè)基線變動(dòng)校正單元，對(duì)從存儲(chǔ)裝置讀出的數(shù)據(jù)的基線變動(dòng)進(jìn)行校正；軟輸出檢測(cè)單元，計(jì)算由基線變動(dòng)校正單元校正過基線的數(shù)據(jù)的似然，從而輸出軟判定值；第2解碼單元，將從軟輸出檢測(cè)單元輸出的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于第2編碼單元；以及第1解碼單元，將由第2解碼單元解碼后的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于第1編碼單元，多個(gè)基線變動(dòng)校正單元包括設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正的第1基線變動(dòng)校正單元；以及設(shè)置在第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正，第1基線變動(dòng)校正單元具有基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；校正量微調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及微校正單元，使用微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，第2基線變動(dòng)校正單元具有校正量粗調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正單元，使用粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
根據(jù)該方案，由于可以高效率地校正基線變動(dòng)，所以可以降低對(duì)后級(jí)的解碼單元等的基線變動(dòng)造成的影響，可以更高速地對(duì)存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行存取。
本發(fā)明的另一方案是存儲(chǔ)系統(tǒng)。該存儲(chǔ)系統(tǒng)在存儲(chǔ)系統(tǒng)中，該存儲(chǔ)系統(tǒng)還具有存儲(chǔ)裝置，將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)；以及控制單元，對(duì)存儲(chǔ)裝置的數(shù)據(jù)的寫入和從存儲(chǔ)裝置的數(shù)據(jù)的讀出進(jìn)行控制，讀通道根據(jù)控制單元的指示，將存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)讀出，寫通道根據(jù)控制單元的指示，將規(guī)定的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)裝置。
根據(jù)該方案，由于可以高效率地校正基線變動(dòng)，所以可以降低對(duì)后級(jí)的解碼單元等的基線變動(dòng)造成的影響，可以更高速地對(duì)存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行存取。
本發(fā)明的另一方案是半導(dǎo)體集成電路。該半導(dǎo)體集成電路該裝置被一體集成在一個(gè)半導(dǎo)體基板上。具有將數(shù)據(jù)寫入到存儲(chǔ)裝置的寫通道和將存儲(chǔ)于存儲(chǔ)裝置中的數(shù)據(jù)讀出的讀通道，寫通道具有第1編碼單元，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行行程編碼；第2編碼單元，將由第1編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)用低密度奇偶校驗(yàn)碼再次進(jìn)行編碼；以及寫入單元，將由第2編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)裝置，讀通道具有多個(gè)基線變動(dòng)校正單元，對(duì)從存儲(chǔ)裝置讀出的數(shù)據(jù)的基線變動(dòng)進(jìn)行校正；軟輸出檢測(cè)單元，計(jì)算由基線變動(dòng)校正單元校正過基線的數(shù)據(jù)的似然，從而輸出軟判定值；第2解碼單元，將從軟輸出檢測(cè)單元輸出的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于第2編碼單元；以及第1解碼單元，將由第2解碼單元解碼后的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于第1編碼單元，多個(gè)基線變動(dòng)校正單元包括設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正的第1基線變動(dòng)校正單元；以及設(shè)置在第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正，第1基線變動(dòng)校正單元具有基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；校正量微調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及微校正單元，使用微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，第2基線變動(dòng)校正單元具有校正量粗調(diào)整單元，計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正單元，使用粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。此外，該半導(dǎo)體集成電路被一體集成在至少一個(gè)半導(dǎo)體基板上。
根據(jù)該方案，由于可以高效率地校正基線變動(dòng)，所以可以降低對(duì)后級(jí)的解碼單元等的基線變動(dòng)造成的影響，不需要裝載多余的硬件，所以可以實(shí)現(xiàn)低規(guī)模的半導(dǎo)體集成電路。
另外，將以上構(gòu)成要素的任意的組合或本發(fā)明的構(gòu)成要素或表現(xiàn)在方法、裝置、系統(tǒng)等之間相互地置換的結(jié)構(gòu)作為本發(fā)明的方式也有效。


圖1是表示本發(fā)明的第一實(shí)施方式的磁盤裝置的結(jié)構(gòu)的圖。
圖2是表示圖1的R/W通道的結(jié)構(gòu)的圖。
圖3是表示圖2的第一基線變動(dòng)校正單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖4是表示圖3的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖5是表示圖2的第一基線變動(dòng)校正單元的結(jié)構(gòu)的變形例的圖。
圖6是表示圖5的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖7是表示圖5的校正許可判定單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖8是表示本發(fā)明的第二實(shí)施方式的R/W通道的結(jié)構(gòu)的圖。
圖9是表示圖8的第二基線變動(dòng)量校正單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖10是表示圖9的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元的結(jié)構(gòu)的圖。
圖11是表示本發(fā)明的第三實(shí)施方式的R/W通道的結(jié)構(gòu)的圖。
圖12是表示圖11的第三基線變動(dòng)校正單元的結(jié)構(gòu)的圖。
具體實(shí)施例方式
下面將參照優(yōu)選實(shí)施例來說明本發(fā)明。這不是用來限制本發(fā)明的范圍而是對(duì)本發(fā)明進(jìn)行舉例。
以下，參照附圖來說明本發(fā)明的實(shí)施方式(以下稱作‘實(shí)施方式’)。
(第一實(shí)施方式)在具體說明本發(fā)明的第一實(shí)施方式之前，首先簡(jiǎn)單敘述實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置。本實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置具有硬盤控制器、磁盤裝置、包含讀通道和寫通道的讀寫通道。在讀通道中，通過前饋控制對(duì)從磁盤裝置讀出的數(shù)據(jù)校正所述基線變動(dòng)。通過采用這樣的結(jié)構(gòu)，即使在基線瞬時(shí)較大變動(dòng)的情況下，也可以高效率地校正基線變動(dòng)而不會(huì)收到校正時(shí)要求的延遲的影響。后面詳細(xì)敘述。
圖1是表示本發(fā)明的第一實(shí)施方式的磁盤裝置100的結(jié)構(gòu)的圖。圖1的磁盤裝置100大體包括硬盤控制器1(以下略記作‘HDC1’)、中央處理運(yùn)算裝置2(以下略記作‘CPU2’)、讀寫通道3(以下略記作‘R/W通道3’)、音圈(voice coil)電機(jī)/主軸電機(jī)控制單元4(以下略記作‘VCM/SPM控制單元4’)、以及盤箱(disk encloser)(以下略記作‘DE5’)。一般在同一基板上構(gòu)成HDC1、CPU2、R/W通道3以及VCM/SPM控制單元4。
HDC1包含控制HDC1整體的主控制單元11、數(shù)據(jù)格式控制單元12、糾錯(cuò)編碼控制單元13(以下略記作‘ECC控制單元13’)以及緩沖RAM14。HDC1通過未圖示的接口單元連接到主機(jī)系統(tǒng)。此外，通過R/W通道3與DE5連接，通過主控制單元11的控制進(jìn)行主機(jī)與DE5之間的數(shù)據(jù)傳送。由R/W通道3生成的讀基準(zhǔn)時(shí)鐘(RRCK)被輸入該HDC1。數(shù)據(jù)格式控制單元12將從主機(jī)傳送的數(shù)據(jù)變換為適于記錄在盤介質(zhì)50上的格式，反過來將從盤介質(zhì)50再現(xiàn)的數(shù)據(jù)變換為適于對(duì)主機(jī)傳送的格式。盤介質(zhì)50例如包含磁盤。ECC控制單元13為了糾正以及檢測(cè)從盤介質(zhì)50再現(xiàn)的數(shù)據(jù)中包含的差錯(cuò)，以進(jìn)行記錄的數(shù)據(jù)作為信息符號(hào)，并附加冗余符號(hào)(symbol)。此外，ECC控制單元13判斷再現(xiàn)的數(shù)據(jù)中是否產(chǎn)生了差錯(cuò)，在有差錯(cuò)的情況下進(jìn)行糾正或檢測(cè)。但能夠糾正差錯(cuò)的符號(hào)數(shù)有限，與冗余數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度有關(guān)。即，如附加很多的冗余數(shù)據(jù)則格式效率惡化，因此可糾錯(cuò)符號(hào)數(shù)成為權(quán)衡關(guān)系。在利用里德-所羅門(RS)碼作為ECC來進(jìn)行糾錯(cuò)的情況下，可以糾正直到(用于符號(hào)數(shù)/2)個(gè)為止的差錯(cuò)。緩沖RAM14臨時(shí)保存從主機(jī)傳送的數(shù)據(jù)，在適當(dāng)?shù)亩〞r(shí)傳送到R/W通道3。反之，臨時(shí)保存從R/W通道3傳送的讀數(shù)據(jù)，并在ECC解碼處理等結(jié)束后在適當(dāng)?shù)亩〞r(shí)傳送到主機(jī)。
CPU2包含閃速ROM21(以下略記作‘FROM21’)以及RAM22，與HDC1、R/W通道3、VCM/SPM控制單元4以及DE5連接。FROM21中保存有CPU2的動(dòng)作程序。
R/W通道3大致分為寫通道31和讀通道32，在與HDC1之間進(jìn)行要記錄的數(shù)據(jù)以及被再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的傳送。此外，R/W通道3與DE5連接，進(jìn)行記錄信號(hào)的發(fā)送、再現(xiàn)信號(hào)的接收。后面詳細(xì)敘述。
VCM/SPM控制單元4控制DE5中的音圈電機(jī)52(以下，略記作‘VCM52’)和主軸電機(jī)53(以下，略記作‘SPM53’)。
DE5與R/W通道3連接，進(jìn)行記錄信號(hào)的接收、再現(xiàn)信號(hào)的發(fā)送。此外，DE5與VCM/SPM控制單元4連接。DE5具有盤介質(zhì)50、磁頭51、VCM52、SPM53以及前置放大器54等。在圖1的磁盤裝置100中，假設(shè)了盤介質(zhì)50為一個(gè)，并且磁頭51僅被配置在盤介質(zhì)50的一個(gè)面?zhèn)鹊那闆r，但也可以是多個(gè)盤介質(zhì)50被層疊配置的結(jié)構(gòu)。此外，磁頭51一般與盤介質(zhì)50的各面對(duì)應(yīng)設(shè)置。由R/W通道3發(fā)送的記錄信號(hào)經(jīng)由DE5內(nèi)的前置放大器54被供給到磁頭51，由磁頭51記錄在盤介質(zhì)50中。反之，由磁頭51從盤介質(zhì)50再現(xiàn)的信號(hào)經(jīng)由前置放大器54被發(fā)送到R/W通道3。DE5內(nèi)的VCM52為了將磁頭51定位在盤介質(zhì)50上的目標(biāo)位置，將磁頭51在盤介質(zhì)50的半徑方向上移動(dòng)。此外，SPM53使盤介質(zhì)50旋轉(zhuǎn)。
這里，使用圖2說明R/W通道3。圖2是表示圖1的R/W通道3的結(jié)構(gòu)的圖。R/W通道3大體包括寫通道31和讀通道32。
寫通道31包含字節(jié)接口單元301、擾頻器302、行程控制編碼單元303(以下，略記作‘RLL編碼單元303’)、低密度奇偶校驗(yàn)編碼單元304(以下，略記作‘LDPC編碼單元304’)、寫入補(bǔ)償單元305(以下，略記作‘寫預(yù)補(bǔ)償單元305’)、驅(qū)動(dòng)器306。
在字節(jié)接口單元301中，從HDC1傳送的數(shù)據(jù)作為輸入數(shù)據(jù)被處理。寫入介質(zhì)上的數(shù)據(jù)以1扇區(qū)為單位被輸入HDC1。此時(shí)，不僅輸入1扇區(qū)的用戶數(shù)據(jù)(512字節(jié))，而且由HDC1附加的ECC字節(jié)也同時(shí)輸入。數(shù)據(jù)總線通常為1字節(jié)(8位)，由字節(jié)接口單元301作為輸入數(shù)據(jù)處理。擾頻器302將寫數(shù)據(jù)變?yōu)殡S機(jī)的序列。相同的模式(pattern)的數(shù)據(jù)的重復(fù)用于防止對(duì)讀時(shí)的檢測(cè)性能帶來影響并使差錯(cuò)率惡化。RLL編碼單元303用于限制0的最大連續(xù)長(zhǎng)度。通過限制0的最大連續(xù)長(zhǎng)度，而成為適于讀時(shí)的自動(dòng)增益控制單元317(以下，略記作‘AGC317’)等的數(shù)據(jù)序列。
LDPC編碼單元304具有將數(shù)據(jù)序列進(jìn)行LDPC編碼而生成包含作為冗余位的奇偶校驗(yàn)位的序列的作用。對(duì)被稱作生成矩陣的k×n的矩陣從左邊乘以長(zhǎng)度k的數(shù)據(jù)序列來進(jìn)行LDPC編碼。與該生成矩陣對(duì)應(yīng)的檢查矩陣H中包含的各要素為0或1，由于1的數(shù)比0的數(shù)少，因此被稱作低密度奇偶檢查碼(Low Density Parity Check Codes)。通過利用該1和0的配置，可以由后述的LDPC解碼單元322有效率地進(jìn)行差錯(cuò)的糾正。
寫預(yù)補(bǔ)償單元305是對(duì)介質(zhì)上的磁化轉(zhuǎn)移的連續(xù)引起的非線性失真進(jìn)行補(bǔ)償?shù)碾娐?。從寫?shù)據(jù)中檢測(cè)補(bǔ)償所需的模式，并預(yù)先調(diào)整寫電流波形，以便在正確的位置產(chǎn)生磁轉(zhuǎn)移。驅(qū)動(dòng)器306是輸出與模擬ECL電平對(duì)應(yīng)的信號(hào)的驅(qū)動(dòng)器。來自驅(qū)動(dòng)器306的輸出被傳送到未圖示的DE5，通過前置放大器54被傳送到磁頭51，寫數(shù)據(jù)被記錄在盤介質(zhì)50上。
讀通道32包括可變?cè)鲆娣糯笃?11(以下，略記作‘VGA311’)、低通濾波器312(以下，略記作‘LPF312’)、AGC317、模擬/數(shù)字變換器313(以下，略記作‘ADC313’)、頻率合成器314、濾波器315、軟輸出檢測(cè)單元320、LDPC解碼單元322、同步信號(hào)檢測(cè)單元321、行程控制解碼單元323(以下，略記作‘RLL解碼單元323’)、解擾器324、第一基線變動(dòng)校正單元(first baseline wander corrector)330。
VGA311以及AGC317進(jìn)行從未圖示的前置放大器54傳送的數(shù)據(jù)的讀波形的振幅的調(diào)整。AGC317比較理想的振幅和實(shí)際的振幅，決定應(yīng)對(duì)VGA311設(shè)定的增益。LPF312可以調(diào)整截止頻率和增量(boost)，負(fù)擔(dān)高頻噪聲的降低和向部分響應(yīng)(Partial Response。以下，略記作‘PR’)波形的均衡的一部分。由LPF312進(jìn)行向PR波形的均等化，但由于磁頭的上浮量變動(dòng)、介質(zhì)的不均勻性、電機(jī)的旋轉(zhuǎn)變動(dòng)等很多原因，難以進(jìn)行通過模擬的LPF的完全的均衡，所以使用配置在后級(jí)的更具靈活性的濾波器315，再次進(jìn)行向PR波形的均衡。濾波器315也可以具有適應(yīng)性地調(diào)整該分支(tap)系數(shù)的功能。頻率合成器314生成ADC313的采樣用時(shí)鐘。ADC313為通過AD變換直接得到同步采樣的結(jié)構(gòu)。另外，除了該結(jié)構(gòu)之外，也可以是通過AD變換而得到非同步采樣的結(jié)構(gòu)。在該情況下，進(jìn)一步將0相重啟(restart)單元、定時(shí)控制單元以及插補(bǔ)濾波器設(shè)置在ADC313的后級(jí)即可。需要從非同步采樣中得到同步采樣，這些塊負(fù)擔(dān)該作用。0相重啟單元是用于決定初始相位的塊，用于盡可能快地得到同步采樣。在決定了初始相位之后，在定時(shí)控制單元比較理想的采樣值和實(shí)際的采樣值，檢測(cè)相位的偏移。通過使用它決定插補(bǔ)濾波器的參數(shù)，從而可以得到同步采樣。
第一基線變動(dòng)校正單元330通過前饋控制來校正基線的變動(dòng)。后面詳細(xì)敘述。
軟輸出檢測(cè)單元320為了避免伴隨碼間干擾的解碼特性的劣化，使用作為維特比算法的一種的軟輸出維特比算法(Soft-Output Viterbi Algorithm。以下，略記作‘SOVA’)。即，為了解決隨著近年的磁盤裝置的記錄密度的上升，記錄的碼間干涉增大、解碼特性劣化等課題，作為克服它的方式，使用最似然解碼(Partial Response MaximumLikelihood。以下，略記作‘PRML’)方式，該方式利用了碼間干擾引起的部分響應(yīng)。PRML方式是求再現(xiàn)信號(hào)的部分響應(yīng)的似然最大的信號(hào)序列的方式。來自軟輸出檢測(cè)單元320的輸出可以作為L(zhǎng)DPC解碼單元322的軟值輸入來使用。例如，作為SOVA的輸出，假設(shè)輸出(0.71、0.18、0.45、0.45、0.9)的軟值。這些值用數(shù)值表示為0的可能性大還是為1的可能性大。例如，第一個(gè)的0.71表示為1的可能性大，第四個(gè)的0.45表示為0的可能性大但為1的可能性也不小。以往的維特比檢測(cè)器的輸出為硬值，用于對(duì)SOVA的輸出進(jìn)行硬判定。在上述例子的情況下，為(1、0、0、0、1)。硬值僅表示是0還是1，缺少哪一個(gè)的可能性高的信息。因此，對(duì)LDPC解碼單元322輸入軟值的解碼性能好。
LDPC解碼單元322具有從被LDPC編碼了的數(shù)據(jù)序列恢復(fù)為L(zhǎng)DPC編碼前的序列的作用。作為解碼的方法，主要有sum-product解碼法和min-sum解碼法，在解碼性能的方面，sum-product解碼法有利，但min-sum解碼法具有容易通過硬件實(shí)現(xiàn)的特征。在使用LDPC碼的實(shí)際的解碼操作中，通過在軟輸出檢測(cè)單元320和LDPC解碼單元322之間反復(fù)進(jìn)行解碼，可以得到非常好的解碼性能。因此，實(shí)際上需要將軟輸出檢測(cè)單元320和LDPC解碼單元322排列多段的結(jié)構(gòu)。一般，LDPC解碼求被稱作事前值和事后值的值，進(jìn)而通過數(shù)字似然檢測(cè)用均衡器(Digital Aided Equalizer。以下，略記作‘DAE’)再次計(jì)算事前值和事后值。在判斷為不包含規(guī)定的次數(shù)或差錯(cuò)的情況下，硬判定該時(shí)刻求出的似然，并輸出二值的解碼數(shù)據(jù)。這里，可以對(duì)包含冗余數(shù)據(jù)序列的解碼數(shù)據(jù)乘以檢查矩陣，通過該結(jié)果是否為0矩陣來判斷包含差錯(cuò)的情況。在該情況下，如果結(jié)果為0矩陣，則判斷為通過糾正而在解碼數(shù)據(jù)中不含有差錯(cuò)，此外，如果結(jié)果是0矩陣以外，則判斷為在解碼數(shù)據(jù)中包含有未糾正完的差錯(cuò)。作為其它判斷不包含差錯(cuò)的方法，對(duì)解碼對(duì)象的數(shù)據(jù)中除了冗余數(shù)據(jù)序列的數(shù)據(jù)序列乘以LDPC編碼時(shí)所使用的生成矩陣來求冗余位。接著，硬判定冗余位，與冗余數(shù)據(jù)序列進(jìn)行比較，根據(jù)是否一致來判斷差錯(cuò)是否被糾正。這里，硬判斷例如在大于規(guī)定的閾值的情況下判定為“1”，在小于的情況下判斷為“0”。
同步信號(hào)檢測(cè)單元321具有檢測(cè)在數(shù)據(jù)的前端附加的同步信號(hào)(SyncMark)，并識(shí)別數(shù)據(jù)的前端位置的作用。RLL解碼單元323對(duì)于從LDPC解碼單元322輸出的數(shù)據(jù)進(jìn)行寫通道31的RLL編碼單元303的逆操作，返回原來的數(shù)據(jù)序列。解擾器324進(jìn)行寫通道31的擾頻器302的逆操作，返回原來的數(shù)據(jù)序列。這里生成的數(shù)據(jù)被傳送到HDC1。
這里，說明第一基線變動(dòng)校正單元330。圖3是表示圖2的第一基線變動(dòng)校正單元330的結(jié)構(gòu)的圖。第一基線變動(dòng)校正單元330包含基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332、變動(dòng)量微調(diào)整單元334、變動(dòng)微校正單元(fine wander corrector)336。
圖4是表示圖3的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332的結(jié)構(gòu)的圖?；€變動(dòng)量導(dǎo)出單元332包含第一限幅器(slicer)348和第一微校正量計(jì)算單元350?；€變動(dòng)量導(dǎo)出單元332首先將從濾波器315輸出的信號(hào)作為第一限幅器348的輸入，進(jìn)行3值的硬判定，判定是正負(fù)0附近的值，還是正側(cè)的，或者是負(fù)側(cè)。接著，在第一微校正量計(jì)算單元350中，通過取從濾波器315輸出的信號(hào)和3值判定的值的差分，從而求與3值的其中一個(gè)值的距離。
3值例如是指在未圖示的ADC313的輸出中中間的值的0、對(duì)0加上了閾值α的值即0+α、從0減去了閾值α的值即0-α的三個(gè)值。例如，將α設(shè)為1時(shí)，成為(-1、0、+1)的3值。3值的硬判定例如是指在成為硬判定的對(duì)象的數(shù)據(jù)為‘ADC313的最小值的一半以下’的情況下為‘ADC313的最小值’，在‘ADC313的最大值的一半以上’的情況下為‘ADC313的最大值’，在除此以外的情況下，判定為‘±0’等。例如，ADC313的最大值為‘+1’，最小值為‘-1’的情況下的3值的硬判定在成為對(duì)象的數(shù)據(jù)為‘-0.5’以下的情況下判定為‘-1’，此外，在‘0.5’以上的情況下判定為‘+1’，此外，在大于‘-0.5’而小于‘0.5’的情況下，判定為‘±0’。
通過進(jìn)行如上述的硬判定，從而判定作為硬判定的對(duì)象的數(shù)據(jù)偏移到正和負(fù)的哪一個(gè)，然后通過第一微校正量計(jì)算單元350求與該值的距離。通過由后述的第一平均化單元340對(duì)該距離計(jì)算移動(dòng)平均，從而判斷信號(hào)偏差多大程度的傾向。一般在長(zhǎng)的區(qū)間觀測(cè)未圖示的ADC313的輸出信號(hào)序列的情況下，‘+1’和‘-1’的個(gè)數(shù)可以說大致上均等。于是，在長(zhǎng)的區(qū)間進(jìn)行了平均的情況下，該平均值理想上應(yīng)該為‘±0’。但是，由于在基線變動(dòng)時(shí)，產(chǎn)生ADC313中的‘±0’向正側(cè)或負(fù)側(cè)偏移的現(xiàn)象，所以即使取平均值也不是‘±0’。換言之，該平均值才可以說是基線的變動(dòng)量，通過使用該平均值來校正變動(dòng)量，可以校正基線變動(dòng)。
這里，基線的變動(dòng)是指基線即ADC313中的‘±0’的值向正側(cè)還是負(fù)側(cè)的哪個(gè)偏移。例如，在向正方向偏移了‘+1’的情況下，本來取‘-1’的值的數(shù)據(jù)D1被判定為‘0’，取‘0’的數(shù)據(jù)D2被判定為‘+1’。換言之，應(yīng)該是‘-1’的數(shù)據(jù)D1由于基線變動(dòng)而成為‘0’，從而被輸入未圖示的后級(jí)的軟輸出檢測(cè)單元320的‘0’在軟輸出檢測(cè)單元320中的處理中引發(fā)誤差，進(jìn)而在后級(jí)的LDPC解碼單元322等中難以判定是‘1’還是‘-1’。同樣，應(yīng)該是不能確定是‘+1’還是‘-1’的‘0’的數(shù)據(jù)D2只能被判定為‘+1’。這樣，后級(jí)的LDPC解碼單元322等中的結(jié)果中，數(shù)據(jù)D1被作為‘-1’或‘1’的其中一個(gè)值而輸出，而且數(shù)據(jù)D2被判定為‘+1’。在沒有基線的變動(dòng)的情況下，與數(shù)據(jù)D1一定被判定為‘-1’，而且數(shù)據(jù)D2被判定為‘+1’或‘-1’的其中一個(gè)值的情況相比，在輸出的結(jié)果中產(chǎn)生不一致的情況。于是，LDPC解碼單元322中的解碼能力降低，而且產(chǎn)生重復(fù)次數(shù)的增加等延遲，結(jié)果，數(shù)據(jù)讀出速度大幅度地降低。因此，采用即使在通過如前所述的反饋控制，基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)了的情況下，也可以追隨進(jìn)行校正的結(jié)構(gòu)，提高軟輸出檢測(cè)單元320、LDPC解碼單元322以及搭載了它們的存儲(chǔ)裝置的性能。
接著，說明變動(dòng)量微調(diào)整單元334。變動(dòng)量微調(diào)整單元334包含第一平均化單元340、第一加權(quán)單元342。第一平均化單元340求預(yù)定的區(qū)間中的平均值。本實(shí)施方式中的基線的校正目的在于追隨瞬時(shí)變動(dòng)，所以第一平均化單元340中的平均處理使用移動(dòng)平均而不是區(qū)間平均。此外，第一加權(quán)單元342進(jìn)行從第一平均化單元340輸出的平均值和預(yù)定的加權(quán)系數(shù)的乘法處理來求微校正量。另外，第一基線變動(dòng)校正單元330由于是通過前饋控制的校正，所以該加權(quán)系數(shù)最好為1以下。
接著，說明變動(dòng)微校正單元336。變動(dòng)微校正單元336通過進(jìn)行從濾波器315的輸出減去由變動(dòng)量微調(diào)整單元334求出的微校正量的處理來對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行微校正。
另外，第一平均化單元340中的平均區(qū)間可以從外部提供也可以動(dòng)態(tài)地變更。此外，第一加權(quán)單元342中的加權(quán)系數(shù)可以從外部提供也可以動(dòng)態(tài)地變更。
這里，說明第一基線變動(dòng)校正單元330的變形例。圖5是表示圖2的第一基線變動(dòng)校正單元330的結(jié)構(gòu)的變形例的圖。另外，對(duì)于與圖3共同的部分賦予同一符號(hào)并省略說明。與圖3的不同點(diǎn)在于第一基線變動(dòng)校正單元330還包含第一校正許可控制單元338和校正許可判定單元344。還在于基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332將第一平均化單元340的輸出結(jié)果作為輸入之一。
圖6是表示圖5的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332的結(jié)構(gòu)的圖?；€變動(dòng)量導(dǎo)出單元332包含第一選擇器346、第一限幅器348、第一微校正量計(jì)算單元350、第二微校正量計(jì)算單元351。圖6的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332首先將來自濾波器315的輸出信號(hào)和作為圖5中圖示的第一平均化單元340的輸出的平均值作為第一選擇器346的輸入。第一選擇器346根據(jù)從外部輸入的控制信號(hào)，將從濾波器315輸出的信號(hào)和校正該濾波器315的輸出信號(hào)后的值的其中一個(gè)值輸出到第一限幅器348。這里的校正通過第二微校正量計(jì)算單元351從濾波器315的輸出中減去圖5中圖示的第一平均化單元340的輸出來進(jìn)行。關(guān)于第一限幅器348以及第一微校正量計(jì)算單元350，由于與前述的相同，所以省略說明。
這樣，通過對(duì)微校正量的計(jì)算使用將濾波器315的輸出信號(hào)由第一平均化單元340輸出的平均值校正后的值而不是來自濾波器315的輸出信號(hào)本身，可以計(jì)算更高精度的微校正量。采用這樣的結(jié)構(gòu)的理由如下。是因?yàn)闉V波器315的輸出信號(hào)在該階段還包含基線變動(dòng)，可以說不是準(zhǔn)確的值。代替濾波器315的輸出信號(hào)，使用被平均化并校正了基線變動(dòng)的值通過第一限幅器348和第一微校正量計(jì)算單元350求微校正量得到對(duì)微校正量進(jìn)行校正的效果。這樣，求出精度更高的微校正量，可以進(jìn)行準(zhǔn)確的基線變動(dòng)校正。
圖7是表示圖5的校正許可判定單元344的結(jié)構(gòu)的圖。校正許可判定單元344是判定是否進(jìn)行基線變動(dòng)的校正的電路，包含第二選擇器352、第二限幅器354、移動(dòng)平均單元356、判定單元358、第三微校正量計(jì)算單元353。首先，在第二選擇器352中，根據(jù)從外部輸入的控制信號(hào)，將從濾波器315輸出的信號(hào)和校正該濾波器315的輸出信號(hào)后的值的其中一個(gè)值輸出到第二選擇器352。這里的校正通過第三微校正量計(jì)算單元353從濾波器315的輸出信號(hào)中減去第一平均化單元340的輸出信號(hào)來進(jìn)行。在第二選擇器352中，與所述第一選擇器346的情況同樣，可以選擇第一平均化單元340的輸出信號(hào)。接著，與所述第一限幅器348同樣，第二限幅器354對(duì)從第二選擇器352輸出的信號(hào)進(jìn)行硬判定。移動(dòng)平均單元356求進(jìn)行了硬判定的信號(hào)的移動(dòng)平均。判定單元358對(duì)移動(dòng)平均后的值和預(yù)定的閾值進(jìn)行比較，輸出表示是否應(yīng)該進(jìn)行基線變動(dòng)的校正的信號(hào)。
具體來說，在第二選擇器352中的硬判定是至(-1、0、+1)的3值中的其中一個(gè)值的判定的情況，即硬判定結(jié)果為‘0’以外的情況，作為有基線的變動(dòng)，輸出許可校正的意思的信號(hào)。此外，在為‘0’的情況下，作為沒有基線變動(dòng)，輸出表示不許可校正的意思的信號(hào)。這樣，在基線中可以說沒有變動(dòng)的情況下進(jìn)行校正時(shí)，反而容易成為發(fā)生基線的變動(dòng)的主要原因。因此，在硬判定結(jié)果為‘0’的情況下，不許可校正。但是，由于噪聲等的影響，由圖5的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332計(jì)算出的微校正量成為‘0’的情況稀少。從而，使用某一閾值‘α’，在移動(dòng)平均單元356的輸出值為‘0±α’的情況下，輸出表示不許可校正的意思的信號(hào)。另一方面，在不是這樣的情況下，輸出許可校正的意思的信號(hào)。另外，使用兩個(gè)閾值α和β，如果大于‘0-β’而小于‘0+α’，則也可以作為沒有基線的變動(dòng)而進(jìn)行校正許可的判定。此外，可以預(yù)先決定這些閾值，而且也可以從外部指示，或者也可以動(dòng)態(tài)地變化。在任何情況下都可以得到同樣的效果。
第一校正許可控制單元338根據(jù)校正許可判定單元344的判定結(jié)果選擇對(duì)變動(dòng)微校正單元336輸出的信號(hào)。具體來說，校正許可判定單元344的判定結(jié)果為許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，將變動(dòng)量微調(diào)整單元334的輸出結(jié)果原樣輸出到變動(dòng)微校正單元336。此外，在是不許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，對(duì)變動(dòng)微校正單元336輸出‘0’。變動(dòng)微校正單元336通過從濾波器315的輸出信號(hào)中減去第一校正許可控制單元338的輸出信號(hào)從而進(jìn)行基線變動(dòng)的微校正。
根據(jù)本實(shí)施方式，即使在基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)的情況下，也可以高效率地校正基線變動(dòng)而不受到校正時(shí)所需的延遲的影響。此外，通過使用根據(jù)來自外部的選擇信號(hào)而選擇的平均值來校正變動(dòng)量，使用校正后的變動(dòng)量來校正基線變動(dòng)，可以計(jì)算精度更好的微校正量。此外，通過高精度地校正基線變動(dòng)，可以提高糾錯(cuò)的效果。此外，通過提高糾錯(cuò)的效果，可以高速地進(jìn)行對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫控制。
在本實(shí)施方式中，在圖5中，說明了將第一平均化單元340的輸出信號(hào)輸入基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332的一個(gè)輸入以及校正許可判定單元344的一個(gè)輸入。但不限于此，也可以基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332對(duì)校正許可判定單元344輸入第一加權(quán)單元342的輸出信號(hào)。在該情況下也可以得到同樣的效果。此外，在圖6中，說明了將由第一平均化單元340的輸出信號(hào)對(duì)濾波器315的輸出信號(hào)進(jìn)行了校正之后的信號(hào)輸入第一選擇器346的一個(gè)輸入。但是不限于此，也可以將由第一加權(quán)單元342的輸出信號(hào)對(duì)濾波器315的輸出信號(hào)進(jìn)行了校正之后的信號(hào)輸入第一選擇器346的一個(gè)輸入。該情況下也可以得到同樣的效果。此外，在圖7中，說明了將由第一平均化單元340的輸出信號(hào)對(duì)濾波器315的輸出信號(hào)進(jìn)行了校正之后的信號(hào)輸入第二選擇器352的一個(gè)輸入。但是不限于此，也可以將由第一加權(quán)單元342的輸出信號(hào)對(duì)濾波器315的輸出信號(hào)進(jìn)行了校正之后的信號(hào)輸入第二選擇器352的一個(gè)輸入。該情況下也可以得到同樣的結(jié)果。
(第二實(shí)施方式)在具體說明本發(fā)明的第二實(shí)施方式之前，首先簡(jiǎn)單敘述本實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置。本實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置具有硬盤控制器、磁盤裝置、包含讀通道和寫通道的讀寫通道。在讀通道中，對(duì)于從磁盤裝置讀出的數(shù)據(jù)，通過反饋控制來校正所述基線變動(dòng)，同時(shí)在AD變換器的后級(jí)也進(jìn)行通過前饋控制的基線變動(dòng)校正。通過采用這樣的結(jié)構(gòu)，不僅在基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)的情況，而且在長(zhǎng)時(shí)間緩慢地變動(dòng)的情況下，也可以高效率地校正基線變動(dòng)而不受到校正時(shí)所需的延遲的影響。后面詳細(xì)敘述。
圖8是表示第二實(shí)施方式的R/W通道3的結(jié)構(gòu)的圖。R/W通道3大體包括寫通道31和讀通道32。讀通道32包括VGA311、LPF312、AGC317、ADC313、頻率合成器314、濾波器315、軟輸出檢測(cè)單元320、LDPC解碼單元322、同步信號(hào)檢測(cè)單元321、行程控制解碼單元323、解擾器324、第一基線變動(dòng)校正單元330、第二基線變動(dòng)校正單元400。另外，對(duì)除了第二基線變動(dòng)校正單元400的與圖2共同的部分賦予同一符號(hào)并省略說明。
圖9是表示圖8的第二基線變動(dòng)校正單元400的結(jié)構(gòu)的圖。第二基線變動(dòng)校正單元400包含數(shù)字端變動(dòng)量粗調(diào)整單元402、數(shù)字端變動(dòng)粗校正單元(digital coarse wander corrector)408以及第二校正許可控制單元410。此外，數(shù)字端變動(dòng)量粗調(diào)整單元402包含第二平均化單元404、第二加權(quán)單元406。
數(shù)字端變動(dòng)量粗調(diào)整單元402包含第二平均化單元404、第二加權(quán)單元406。第二平均化單元404將后述的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332的粗校正量計(jì)算單元418的輸出信號(hào)作為輸入，求預(yù)定的長(zhǎng)度的區(qū)間中的平均值。該平均值也可以通過移動(dòng)平均來求解。此外，第二加權(quán)單元406進(jìn)行從第二平均化單元404輸出的平均值和預(yù)定的加權(quán)系數(shù)的乘法處理來求數(shù)字端粗校正量。另外，第二平均化單元404中的平均區(qū)間長(zhǎng)度最好是比第一平均化單元340中的平均區(qū)間大。此外，該平均區(qū)間長(zhǎng)度可以從外部提供，也可以動(dòng)態(tài)地變化。此外，第二加權(quán)單元406中的加權(quán)系數(shù)最好為1以下，并且，最好是比第一加權(quán)單元342中的加權(quán)系數(shù)小。
使第二平均化單元404的平均區(qū)間比第一平均化單元340的平均區(qū)間長(zhǎng)，并且使第二加權(quán)單元406中的加權(quán)系數(shù)比第一加權(quán)單元342中的加權(quán)系數(shù)小的理由如下。這是由于包含第一平均化單元340的第一基線變動(dòng)校正單元330和包含第二平均化單元404的第二基線變動(dòng)校正單元400中各自的作用不同。即，在第一基線變動(dòng)校正單元330中目的在于應(yīng)對(duì)瞬時(shí)變動(dòng)，而在第二基線變動(dòng)校正單元400中目的在于進(jìn)行校正，以便追隨于比第一基線變動(dòng)校正單元330長(zhǎng)期的基線的變動(dòng)，為了求該長(zhǎng)期的基線的變動(dòng)量，第二平均化單元404需要進(jìn)行長(zhǎng)區(qū)間的平均處理。這里，‘進(jìn)行校正以追隨于長(zhǎng)期的基線的變動(dòng)’是指從過去的基線的變動(dòng)傾向預(yù)測(cè)將來的變動(dòng)傾向，從而緩慢地校正變動(dòng)。但是，即使使用過去的變動(dòng)傾向也不能應(yīng)對(duì)實(shí)時(shí)變動(dòng)，而且過去的變動(dòng)傾向不一定總是沿著將來的變動(dòng)傾向。從而，使第二加權(quán)單元406中的加權(quán)系數(shù)為1以下，并且是比用于追隨瞬時(shí)變動(dòng)的第一加權(quán)單元342中的加權(quán)系數(shù)小的值。這樣，由第一基線變動(dòng)校正單元330和第二基線變動(dòng)校正單元400明確地分擔(dān)作用，從而可以追隨瞬時(shí)變動(dòng)并且追隨長(zhǎng)期的變動(dòng)來校正基線的變動(dòng)。
接著，說明第二校正許可控制單元410。第二校正許可控制單元410選擇對(duì)數(shù)字端變動(dòng)粗校正單元408輸出的信號(hào)。具體來說，在預(yù)定的或從外部輸入的與是否同意校正有關(guān)的控制信號(hào)為許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，將數(shù)字端變動(dòng)量粗調(diào)整單元402的輸出結(jié)果原樣輸出到數(shù)字端變動(dòng)粗校正單元408。此外，在是不許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，對(duì)數(shù)字端變動(dòng)粗校正單元408輸出‘0’。數(shù)字端變動(dòng)粗校正單元408通過從ADC313的輸出信號(hào)中減去第二校正許可控制單元410的輸出信號(hào)，從而進(jìn)行基線變動(dòng)的粗校正。
這里，說明生成第二平均化單元404的平均處理的輸入信號(hào)的圖9的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332。圖10是表示圖9的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332的結(jié)構(gòu)的圖。圖10的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332包含第一選擇器346、第一限幅器348、第一微校正量計(jì)算單元350、第二微校正量計(jì)算單元351、第三選擇器414、第三限幅器416以及粗校正量計(jì)算單元418。另外，對(duì)于與圖6的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332共同的部分賦予同一符號(hào)并省略說明。
首先，將來自數(shù)字濾波器315的輸出信號(hào)和作為圖5中圖示的第一平均化單元340的輸出的平均值作為第三選擇器414的輸入。第三選擇器414根據(jù)從外部輸入的控制信號(hào)，將從濾波器315輸出的信號(hào)和校正該濾波器315的輸出信號(hào)后的信號(hào)的其中一個(gè)值輸出到第三限幅器416。這里的校正通過第二微校正量計(jì)算單元351從濾波器315的輸出信號(hào)中減去圖5中圖示的第一平均化單元340的輸出來進(jìn)行。關(guān)于第三限幅器416以及粗校正量計(jì)算單元418，由于分別與第一限幅器348、第一微校正量計(jì)算單元350同樣，所以省略說明。此外，在第三選擇器414中，可以選擇濾波器315輸出的信號(hào)和校正該濾波器315的輸出信號(hào)后的值的其中一個(gè)的理由與第一選擇器346中說明的理由同樣，所以省略說明。通過采用這樣的結(jié)構(gòu)，可以計(jì)算精度更高的粗校正量。
根據(jù)本實(shí)施方式，即使在基線瞬時(shí)較大變動(dòng)的情況下，也可以高效率地校正基線變動(dòng)而不受校正時(shí)所需的延遲的影響。此外，通過分擔(dān)兩個(gè)基線變動(dòng)校正單元的作用，從而可以追隨瞬時(shí)變動(dòng)并且也追隨長(zhǎng)期的變動(dòng)，進(jìn)而高效率且準(zhǔn)確地校正基線變動(dòng)而不受校正時(shí)所需的延遲的影響。此外，通過使用根據(jù)來自外部的選擇信號(hào)而選擇的平均值來校正變動(dòng)量，并使用校正后的變動(dòng)量來校正基線變動(dòng)，從而可以計(jì)算出精度更高的微校正量。此外，在第二基線變動(dòng)校正單元400中，不具有獨(dú)自計(jì)算基線變動(dòng)量的電路，通過挪用由第一基線變動(dòng)校正單元330的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332計(jì)算出的基線變動(dòng)量，從而降低硬件規(guī)模。此外，通過高精度地校正基線變動(dòng)，可以提高糾錯(cuò)的效果。此外，通過提高糾錯(cuò)的效果，可以高速地進(jìn)行對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫控制。
在本實(shí)施方式的圖10中，說明了由第一平均化單元340的輸出信號(hào)將濾波器315的輸出信號(hào)校正后的信號(hào)被輸入第一選擇器346的一個(gè)輸入。但不限于此，也可以將由第一加權(quán)單元342的輸出信號(hào)將濾波器315的輸出信號(hào)校正后的信號(hào)被輸入第一選擇器346的一個(gè)輸入。在該情況下，也可以得到同樣的效果。此外，說明了由第一平均化單元340的輸出信號(hào)將濾波器315的輸出信號(hào)校正后的信號(hào)被輸入第三選擇器414的一個(gè)輸入。但不限于此，也可以將由第一加權(quán)單元342的輸出信號(hào)將濾波器315的輸出信號(hào)校正后的信號(hào)被輸入第一選擇器346的一個(gè)輸入。在該情況下，也可以得到同樣的效果。
(第三實(shí)施方式)在具體說明本發(fā)明的第三實(shí)施方式之前，首先簡(jiǎn)單敘述本實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置。本實(shí)施方式的存儲(chǔ)裝置具有硬盤控制器、磁盤裝置、包含讀通道和寫通道的讀寫通道。在讀通道中，對(duì)于從磁盤裝置讀出的數(shù)據(jù)，通過前饋控制來校正所述基線變動(dòng)。進(jìn)而，在AD變換器的前級(jí)以及后級(jí)的2級(jí)中校正基線變動(dòng)。通過采用這樣的結(jié)構(gòu)，不受到校正時(shí)所需的延遲的影響，不僅在基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)的情況，在長(zhǎng)時(shí)間緩慢地變動(dòng)的情況下，也可以高效率且準(zhǔn)確地校正基線變動(dòng)。進(jìn)而，由于對(duì)長(zhǎng)期的變動(dòng)在AD變換器的前后的2級(jí)中進(jìn)行校正，因此可以進(jìn)行更加細(xì)致的校正。后面詳細(xì)敘述。
圖11是表示第三實(shí)施方式的R/W通道3的結(jié)構(gòu)的圖。R/W通道3大體包括寫通道31和讀通道32。讀通道32包括VGA311、LPF312、AGC317、ADC313、頻率合成器314、濾波器315、軟輸出檢測(cè)單元320、LDPC解碼單元322、同步信號(hào)檢測(cè)單元321、行程控制解碼單元323、解擾器324、第一基線變動(dòng)校正單元330、第二基線變動(dòng)校正單元400、第三基線變動(dòng)校正單元500。另外，對(duì)與圖8共同的部分賦予同一符號(hào)并省略說明。
圖12是表示圖11的第三基線變動(dòng)校正單元500的結(jié)構(gòu)的圖。第三基線變動(dòng)校正單元500包含模擬端變動(dòng)量粗調(diào)整單元502、模擬端變動(dòng)粗校正單元(analog coarse wander corrector)508以及第三校正許可控制單元510。此外，模擬端變動(dòng)量粗調(diào)整單元502包含第三加權(quán)單元506。
模擬端變動(dòng)量粗調(diào)整單元502包含第三加權(quán)單元506。第三加權(quán)單元506將所述第二平均化單元404的輸出信號(hào)作為輸入，進(jìn)行與預(yù)定的加權(quán)系數(shù)的乘法處理來求模擬端粗校正量。另外，第三加權(quán)單元506中的加權(quán)系數(shù)最好為1以下，并且，最好比未圖示的第一加權(quán)單元342以及第二校正許可控制單元410中的加權(quán)系數(shù)小。
使第三加權(quán)單元506中的加權(quán)系數(shù)比第一加權(quán)單元342以及第二加權(quán)單元406中的加權(quán)系數(shù)小的理由是由于各自的作用分擔(dān)有不同。即，在包含第一加權(quán)單元342的第一基線變動(dòng)校正單元330中目的在于應(yīng)對(duì)瞬時(shí)變動(dòng)，而在包含第三加權(quán)單元506的第三基線變動(dòng)校正單元500中目的在于追隨于比第一基線變動(dòng)校正單元330長(zhǎng)期的基線的變動(dòng)。此外，包含406的第二基線變動(dòng)校正單元400的目的與第三基線變動(dòng)校正單元500的目的同樣是成為長(zhǎng)期的基線變動(dòng)的追隨，因此互相使用不同的加權(quán)系數(shù)。這是各自配置的位置引起的，配置在更前級(jí)的第三基線變動(dòng)校正單元500處理更將來的信號(hào)。如前所述，由于越是將來的信號(hào)則該基線的變動(dòng)越不能從過去的變動(dòng)傾向來預(yù)測(cè)，因此可以是第三加權(quán)單元506的加權(quán)系數(shù)比第二加權(quán)單元406的加權(quán)系數(shù)小，并緩慢地進(jìn)行校正。這樣，分別在第一基線變動(dòng)校正單元330、第二基線變動(dòng)校正單元400以及第三基線變動(dòng)校正單元500中，明確地分擔(dān)作用，從而可以追隨瞬時(shí)變動(dòng)并且追隨長(zhǎng)期的變動(dòng)來校正基線的變動(dòng)。
接著，說明第三校正許可控制單元510。第三校正許可控制單元510選擇對(duì)模擬端變動(dòng)粗校正單元508輸出的信號(hào)。具體來說，在預(yù)定的或從外部輸入的與是否同意校正有關(guān)的控制信號(hào)為許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，將模擬端變動(dòng)量粗調(diào)整單元502的輸出結(jié)果原樣輸出到模擬端變動(dòng)粗校正單元508。此外，在是不許可校正的意思的信號(hào)時(shí)，對(duì)模擬端變動(dòng)粗校正單元508輸出‘0’。模擬端變動(dòng)粗校正單元508通過從VGA311的輸出信號(hào)中減去第三校正許可控制單元510的輸出信號(hào)，從而進(jìn)行基線變動(dòng)的粗校正。
根據(jù)本實(shí)施方式，即使在基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)的情況下，也可以高效率地校正基線變動(dòng)而不受校正時(shí)所需的延遲的影響。此外，通過在AD變換器的前級(jí)以及后級(jí)的2級(jí)中長(zhǎng)期地校正基線變動(dòng)，不受到校正時(shí)所需的延遲的影響，不僅在基線瞬時(shí)較大地變動(dòng)的情況，在長(zhǎng)時(shí)間緩慢地變動(dòng)的情況下，也可以高效率且準(zhǔn)確精密地校正基線變動(dòng)。此外，在第三基線變動(dòng)校正單元500中，不具有獨(dú)自計(jì)算基線變動(dòng)量的電路，通過挪用由第一基線變動(dòng)校正單元330的基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元332計(jì)算出的基線變動(dòng)量，從而降低硬件規(guī)模。此外，通過使用根據(jù)來自外部的選擇信號(hào)而選擇的平均值來校正變動(dòng)量，并使用校正后的變動(dòng)量來校正基線變動(dòng)，從而可以計(jì)算出精度更高的微校正量。此外，通過高精度地校正基線變動(dòng)，可以提高糾錯(cuò)的效果。此外，通過提高糾錯(cuò)的效果，可以高速地進(jìn)行對(duì)存儲(chǔ)裝置的讀寫控制。
在本實(shí)施方式中，說明了將第三基線變動(dòng)校正單元500配置在VGA311和LPF312之間。但是不限于此，可以將第三基線變動(dòng)校正單元500配置在VGA311的前級(jí)或配置在LPF312的后級(jí)。
以上，基于實(shí)施方式說明了本發(fā)明。該實(shí)施方式為例示，實(shí)施方式互相的組合或這些各構(gòu)成要素或各處理過程的組合可以有各種變形例，而且這樣的變形例也屬于本發(fā)明的范圍，這是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該理解的。
權(quán)利要求
1.一種信號(hào)處理裝置，其特征在于，具有第1基線變動(dòng)校正單元，設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正；以及第2基線變動(dòng)校正單元，設(shè)置在所述第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正，所述第1基線變動(dòng)校正單元具有基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；校正量微調(diào)整單元，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及變動(dòng)微校正單元，使用所述微調(diào)整過的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，所述第2基線變動(dòng)校正單元具有校正量粗調(diào)整單元，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正單元，使用通過所述校正量粗調(diào)整單元粗調(diào)整過的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
2.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述第1基線變動(dòng)校正單元通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正，所述第2基線變動(dòng)校正單元通過反饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正。
3.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，還具有A/D變換器，設(shè)置在所述第2基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)；以及第3基線變動(dòng)校正單元，被設(shè)置在所述A/D變換器的前級(jí)，使用由所述校正量粗調(diào)整單元計(jì)算出的平均值，進(jìn)行模擬信號(hào)的基線變動(dòng)的校正。
4.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述第1基線變動(dòng)校正單元還具有對(duì)是否許可校正進(jìn)行控制的校正許可控制單元，所述變動(dòng)微校正單元基于所述校正許可控制單元的控制，進(jìn)行所述信號(hào)的基線變動(dòng)的校正。
5.如權(quán)利要求4所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述校正許可控制單元在判定為不需要基線變動(dòng)的校正的情況下，禁止所述變動(dòng)微校正單元對(duì)基線的校正。
6.如權(quán)利要求5所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述校正許可控制單元在基線變動(dòng)量比規(guī)定的閾值小的情況下，判定為不需要基線變動(dòng)的校正。
7.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述校正量微調(diào)整單元還具有用于計(jì)算第1區(qū)間的信號(hào)的平均值的第1平均單元，所述校正量粗調(diào)整單元還具有用于計(jì)算第2區(qū)間的信號(hào)的平均值的第2平均單元，所述第2區(qū)間比所述第1區(qū)間長(zhǎng)。
8.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述校正量微調(diào)整單元還具有將所述平均值乘以第1加權(quán)系數(shù)而生成與所述平均值對(duì)應(yīng)的值的第1加權(quán)單元，所述校正量粗調(diào)整單元還具有將所述平均值乘以第2加權(quán)系數(shù)而生成與所述平均值對(duì)應(yīng)的值的第2加權(quán)單元，所述第2加權(quán)系數(shù)比所述第1加權(quán)系數(shù)大。
9.如權(quán)利要求3所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述校正量微調(diào)整單元還具有將所述平均值乘以第1加權(quán)系數(shù)而生成與所述平均值對(duì)應(yīng)的值的第1加權(quán)單元，所述校正量粗調(diào)整單元還具有將所述平均值乘以第2加權(quán)系數(shù)而生成與所述平均值對(duì)應(yīng)的值的第2加權(quán)單元，所述第3基線變動(dòng)校正單元具有將所述平均值乘以第3加權(quán)系數(shù)的第3加權(quán)單元，所述第3加權(quán)系數(shù)比所述第1加權(quán)系數(shù)和所述第2加權(quán)系數(shù)兩者都小。
10.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元具有限幅器，進(jìn)行被實(shí)施了所述規(guī)定的處理的信號(hào)的硬判定處理；以及減法器，從被實(shí)施了所述規(guī)定的處理的信號(hào)中減去通過所述限幅器進(jìn)行了硬判定處理的信號(hào)。
11.如權(quán)利要求10所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，所述變動(dòng)量導(dǎo)出單元還具有選擇器，該選擇器將被實(shí)施了所述規(guī)定的處理的信號(hào)和所述基線的變動(dòng)量的平均值作為輸入，根據(jù)規(guī)定的選擇信號(hào)，將被實(shí)施了所述規(guī)定的處理的信號(hào)和所述基線的變動(dòng)量的平均值的其中一個(gè)信號(hào)輸出到所述限幅器。
12.如權(quán)利要求1所述的信號(hào)處理裝置，其特征在于，該裝置被一體集成在一個(gè)半導(dǎo)體基板上。
13.一種信號(hào)處理方法，其特征在于，該方法包括第1基線變動(dòng)的校正步驟，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正；以及第2基線變動(dòng)的校正步驟，對(duì)在所述第1基線變動(dòng)的校正步驟之前實(shí)施的基線的變動(dòng)進(jìn)行校正，所述第1基線變動(dòng)的校正步驟包括基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；微調(diào)整步驟，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及微校正步驟，使用所述微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，所述第2基線變動(dòng)的校正步驟包括粗調(diào)整步驟，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出步驟導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正步驟，使用所述粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
14.一種存儲(chǔ)系統(tǒng)，具有寫通道和讀通道，其特征在于，所述寫通道具有第1編碼單元，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行行程編碼；第2編碼單元，將由所述第1編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)用低密度奇偶校驗(yàn)碼再次進(jìn)行編碼；以及寫入單元，將由所述第2編碼單元編碼后的數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)裝置，所述讀通道具有多個(gè)基線變動(dòng)校正單元，對(duì)從所述存儲(chǔ)裝置讀出的數(shù)據(jù)的基線變動(dòng)進(jìn)行校正；軟輸出檢測(cè)單元，計(jì)算由所述基線變動(dòng)校正單元校正過基線的數(shù)據(jù)的似然，從而輸出軟判定值；第2解碼單元，將從所述軟輸出檢測(cè)單元輸出的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于所述第2編碼單元；以及第1解碼單元，將由所述第2解碼單元解碼后的數(shù)據(jù)解碼，對(duì)應(yīng)于所述第1編碼單元，所述多個(gè)基線變動(dòng)校正單元包括設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正的第1基線變動(dòng)校正單元；以及第2基線變動(dòng)校正單元，設(shè)置在所述第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正，所述第1基線變動(dòng)校正單元具有基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元，將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出；校正量微調(diào)整單元，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整；以及微校正單元，使用所述微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正，所述第2基線變動(dòng)校正單元具有校正量粗調(diào)整單元，計(jì)算與通過所述基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整；以及粗校正單元，使用所述粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。
15.如權(quán)利要求14所述的存儲(chǔ)系統(tǒng)，其特征在于，該存儲(chǔ)系統(tǒng)還具有存儲(chǔ)裝置，將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)；以及控制單元，對(duì)存儲(chǔ)裝置的數(shù)據(jù)的寫入和從存儲(chǔ)裝置的數(shù)據(jù)的讀出進(jìn)行控制，所述讀通道根據(jù)所述控制單元的指示，將所述存儲(chǔ)裝置中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)讀出，所述寫通道根據(jù)所述控制單元的指示，將所述規(guī)定的數(shù)據(jù)寫入所述存儲(chǔ)裝置。
全文摘要
信號(hào)處理裝置具有設(shè)置在對(duì)輸入信號(hào)實(shí)施規(guī)定的處理的處理路徑中，通過前饋控制，對(duì)基線的變動(dòng)進(jìn)行校正的第1基線變動(dòng)校正單元；以及設(shè)置在第1基線變動(dòng)校正單元的前級(jí)，通過反饋控制進(jìn)行校正的第2基線變動(dòng)校正單元。第1基線變動(dòng)校正單元將基線的變動(dòng)量導(dǎo)出，計(jì)算與導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，從而對(duì)基線的校正量進(jìn)行微調(diào)整，使用微調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。第2基線變動(dòng)校正單元計(jì)算與通過基線變動(dòng)量導(dǎo)出單元導(dǎo)出的基線的變動(dòng)量的平均值對(duì)應(yīng)的值，對(duì)基線的校正量進(jìn)行粗調(diào)整，并使用粗調(diào)整后的基線的校正量，對(duì)基線變動(dòng)進(jìn)行校正。通過該方式，可以高效率地校正基線的變動(dòng)。
文檔編號(hào)G11B20/10GK1941136SQ20061015431
公開日2007年4月4日 申請(qǐng)日期2006年9月20日 優(yōu)先權(quán)日2005年9月22日
發(fā)明者江角淳, 李凱, 水野秀導(dǎo) 申請(qǐng)人:羅姆股份有限公司