專利名稱：讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于讀取一光儲存媒體時，用于取代缺陷的裝置及方法(APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT REPLACEMENT WHEN ANOPTICAL STORAGE MEDIUM IS READ)。
背景技術(shù)：
當暴露在自由環(huán)境中，大多光儲存媒體可能因刮痕、灰塵或指紋，使得數(shù)據(jù)區(qū)域具有某些缺陷。為修正缺陷，光儲存媒體提供一種電子架構(gòu)以記錄有缺陷的地址(defective address)，即檢測到缺陷的地址，并記錄儲存替換數(shù)據(jù)的備用區(qū)域(spare area)。對一現(xiàn)有光儲存媒體而言，譬如一光盤(compactdisc，CD)，會有缺陷管理區(qū)域(defect management area，DMA)以儲存缺陷的替換。
圖1A為單層光盤的橫剖面圖。如圖1A所示，缺陷管理區(qū)域位于一內(nèi)備區(qū)域(inner spare area，ISA)101和一外備區(qū)域(outer spare area，OSA)103。內(nèi)備區(qū)域101分配于一有效數(shù)據(jù)區(qū)域105的一內(nèi)側(cè)，外備區(qū)域103則被分配至有效數(shù)據(jù)區(qū)域105的一外側(cè)。有效數(shù)據(jù)區(qū)域105還包含一使用者數(shù)據(jù)區(qū)域109，用以儲存數(shù)據(jù)。若使用者數(shù)據(jù)區(qū)域109中有任何缺陷，一相應(yīng)替換便會存入內(nèi)備區(qū)域101或外備區(qū)域103任一者。圖1B為雙層光盤的橫剖面圖。如圖1B所示，雙層光盤的各層包含了內(nèi)備區(qū)域101和外備區(qū)域103以儲存數(shù)據(jù)，前者如內(nèi)備區(qū)域101A或內(nèi)備區(qū)域101B，后者如外備區(qū)域103A或外備區(qū)域103B。
先前技術(shù)用于替換缺陷的一方法執(zhí)行一讀取操作時，如圖2所示。步驟201中，從使用者數(shù)據(jù)區(qū)域109讀取一組數(shù)據(jù)。步驟203中，現(xiàn)有技術(shù)的光存取裝置判斷該組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷。若無，則執(zhí)行步驟205，讀取另一組數(shù)據(jù)。若是，執(zhí)行步驟207以停止讀取。接著執(zhí)行步驟209，找出該缺陷的一相應(yīng)替換的一位置。之后執(zhí)行步驟211，尋軌至該位置以讀取該相應(yīng)替換。是故該缺陷便由該相應(yīng)替換取代，而該組數(shù)據(jù)便無缺陷。
先前技術(shù)的另一方法如圖3所示。當執(zhí)行步驟301時，一組數(shù)據(jù)從使用者數(shù)據(jù)區(qū)域109讀出，并存至光儲存媒體的一第一存儲器。一般而言，第一存儲器為一環(huán)緩沖區(qū)。步驟303中，先前技術(shù)的光存取裝置判斷該組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷。若否，執(zhí)行步驟305，讀取另一組數(shù)據(jù)。若是，執(zhí)行步驟307以記錄該盤片的一現(xiàn)行識別(current identification)IDstart。接著執(zhí)行步驟309，連續(xù)地從使用者數(shù)據(jù)區(qū)域109讀取更多組數(shù)據(jù)，并存于第一存儲器，直到第一存儲器存滿為止。然后在步驟311中記錄該盤片的一現(xiàn)行識別IDend。再執(zhí)行步驟313以尋軌IDstart至IDend間的所有缺陷和相應(yīng)替換的地址。步驟315中，將相應(yīng)替換存入光存取裝置的一第二存儲器。步驟317則把存在第二存儲器的相應(yīng)替換復(fù)制到第一存儲器。是故缺陷便由該相應(yīng)替換取代，而該組數(shù)據(jù)便無缺陷。
雖然在從光儲存媒體中讀取數(shù)據(jù)時，尋軌操作十分常見，但因替換缺陷而執(zhí)行的尋軌操作過于頻繁。由于替換存在于有效數(shù)據(jù)區(qū)域105的內(nèi)側(cè)或外側(cè)，故尋軌操作需要很多時間，使得讀取速度減緩?；谏鲜鋈秉c，此產(chǎn)業(yè)界便亟需一種有效執(zhí)行替換缺陷的方法，特別是針對藍光激光光盤(blu-raydisc)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一目的，即在于提供一種讀取一光儲存媒體時，用于取代缺陷的裝置。此裝置包含一讀取頭、一缺陷檢測器、一處理器以及一接口。讀取頭用以從光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)。缺陷檢測器用以檢測該組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷。若缺陷檢測器檢測該組數(shù)據(jù)中有一缺陷，則處理器判斷該組數(shù)據(jù)中是否有缺陷的一相應(yīng)替換。若處理器判斷該組數(shù)據(jù)中有相應(yīng)替換，則接口從該組數(shù)據(jù)中傳送相應(yīng)替換。
本發(fā)明的另一目的，即在于提供一種讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的方法，包含下列步驟從光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)；檢測該組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷；若該組數(shù)據(jù)有一缺陷，則判斷該組數(shù)據(jù)中是否有缺陷的一相應(yīng)替換；以及若判斷該組數(shù)據(jù)中有相應(yīng)替換，則從該組數(shù)據(jù)中傳送相應(yīng)替換。
本發(fā)明的另一目的，即在于提供一種讀取一光儲存媒體時，用于取代缺陷的裝置。此裝置包含一緩沖器、一缺陷檢測器、一比較器以及一讀取頭。緩沖器用以暫時儲存從光儲存媒體擷取的數(shù)據(jù)。缺陷檢測器用以檢測數(shù)據(jù)中是否有一組缺陷。若數(shù)據(jù)中有一組缺陷，則比較器用以比較該組缺陷的一長度與一缺陷閥值長度。若長度短于缺陷閥值長度，則讀取頭從光儲存媒體連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)直到緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值，若長度長于缺陷閥值長度，則讀取頭直接地讀取該組缺陷的一組相應(yīng)替換。
本發(fā)明的又一目的，即在于提供一種讀取一光儲存媒體時，用于取代缺陷的方法，包含設(shè)定一缺陷閥值長度；檢測是否有一組缺陷；若有一組缺陷，則比較該組缺陷的一長度與一缺陷閥值長度；若長度短于缺陷閥值長度，則從光儲存媒體連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)直到用以暫時儲存數(shù)據(jù)的一緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值；以及若長度長于缺陷閥值長度，則直接地讀取該組缺陷的一組相應(yīng)替換。
本發(fā)明具有節(jié)省操作取代缺陷的裝置的時間及能源的優(yōu)點。
在參閱附圖及隨后描述的實施方式后，技術(shù)領(lǐng)域具有通常知識者當可輕易了解本發(fā)明的基本精神及其它發(fā)明目的，以及本發(fā)明所采用的技術(shù)手段與較佳實施方式。


圖1A為先前技術(shù)的單層光盤的橫剖面圖；
圖1B為先前技術(shù)的雙層光盤的橫剖面圖；圖2為先前技術(shù)的替換缺陷的流程圖；圖3為先前技術(shù)的另一替換缺陷的流程圖；圖4為本發(fā)明的第一實施例的方塊圖；圖5為本發(fā)明的第二實施例的流程圖；圖6為本發(fā)明的第三實施例的方塊圖；以及圖7為本發(fā)明的第四實施例的流程圖。
主要組件符號說明101、101A、101B內(nèi)備區(qū)域103、103A、103B外備區(qū)域105有效數(shù)據(jù)區(qū)域109使用者數(shù)據(jù)區(qū)域4光存取裝置401讀取頭402一組數(shù)據(jù)403缺陷檢測器405處理器406一組正確數(shù)據(jù)407接口409存儲器411光儲存媒體6光存取裝置601緩沖器602數(shù)據(jù)603缺陷檢測器604缺陷閥值長度
605比較器607讀取頭609光儲存媒體具體實施方式
對藍光光盤而言，有一些修正缺陷的方法，諸如邏輯重寫(logicaloverwrite，LOW)和連續(xù)重分配缺陷(contiguous re-allocated，CRD)。這些方法的配置迥異于前述圖1A和圖1B所示的缺陷管理方法。對邏輯重寫而言，一缺陷和此缺陷的一相應(yīng)替換存于一相鄰扇區(qū)(sector)，故如有一缺陷，此缺陷的相應(yīng)替換便可很快地在相鄰扇區(qū)中找到，因此降低了替換缺陷的時間。對連續(xù)重分配缺陷而言，缺陷連續(xù)地分布，并可用一起始地址和一終止地址定義。由于這些缺陷為連續(xù)地儲存著，尋軌的時間便可縮短。
本發(fā)明的第一實施例為一光存取裝置，譬如一藍光激光光盤驅(qū)動器，于圖4所示。替換缺陷光存取裝置4包含一讀取頭401、一缺陷檢測器403、一處理器405、一接口407以及一存儲器409以于邏輯重寫模式中進行替換缺陷。當光存取裝置4執(zhí)行一讀取操作時，讀取頭401便從光儲存媒體411擷取一組數(shù)據(jù)402，此光儲存媒體411可為一藍光激光光盤。該組數(shù)據(jù)402便暫時地存入存儲器409，此存儲器409通常為一動態(tài)隨機存取存儲器(dynamic random access memory，DRAM)。缺陷檢測器403從存儲器409擷取該組數(shù)據(jù)402，以檢測該組數(shù)據(jù)402中是否有一缺陷。若無缺陷，一組正確數(shù)據(jù)406便經(jīng)由處理器405直接傳送到接口407。若缺陷檢測器403檢測到該組數(shù)據(jù)402中有一缺陷，挾帶該缺陷的信息的一信號便被傳送到處理器405，處理器405根據(jù)該信號判斷該組數(shù)據(jù)402中是否有缺陷的一相應(yīng)替換。若是，則處理器405以此相應(yīng)替換取代缺陷，并把該組正確數(shù)據(jù)406存入存儲器409，以便接下來將該組正確數(shù)據(jù)406傳送到接口407。若該缺陷的相應(yīng)替換位于該組數(shù)據(jù)402，處理器405也可當接口407傳送該相應(yīng)替換時，以此相應(yīng)替換取代缺陷。
若處理器405判斷該缺陷的相應(yīng)替換既不在該組數(shù)據(jù)402，也不在存儲器409，處理器405還判斷是否將要從光儲存媒體411擷取該相應(yīng)替換。于此實施例中，當讀取頭401準備要在接下來的數(shù)個軌中擷取相應(yīng)替換，處理器405便視為將要擷取該相應(yīng)替換。若是，讀取頭401僅需執(zhí)行一軌隨從(track following)，從光儲存媒體411擷取該相應(yīng)替換和其它數(shù)據(jù)，無需特別先進行尋軌以擷取相應(yīng)替換，之后返回擷取其它數(shù)據(jù)。若尚未要擷取該相應(yīng)替換，讀取頭401執(zhí)行一短尋軌(short seek)或一長尋軌(long seek)，以從光儲存媒體411擷取該相應(yīng)替換。其中，執(zhí)行短尋軌或長尋軌取決于尋軌距離。擷取相應(yīng)替換并存入存儲器409后，處理器405以該相應(yīng)替換取代該缺陷，并將取代后的該組數(shù)據(jù)，即該組正確數(shù)據(jù)，儲存于存儲器409。接著接口407傳送包含相應(yīng)替換的該組正確數(shù)據(jù)406，而不會將缺陷傳送出去。
本發(fā)明的第二實施例為于邏輯重寫模式中，一種讀取一光儲存媒體時用于替換缺陷的方法。此方法用于一光存取裝置，譬如前面所述的裝置4。圖5為第二實施例的一流程圖。步驟501中，一讀取頭從光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)。此光儲存媒體411可為一藍光激光光盤；該組數(shù)據(jù)暫時地存入一存儲器，此存儲器通常為一動態(tài)隨機存取存儲器。步驟503，一缺陷檢測器從存儲器擷取該組數(shù)據(jù)，以檢測該組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷。若是，則執(zhí)行步驟505，處理器判斷該缺陷的相應(yīng)替換是否在該組數(shù)據(jù)中。若是，則執(zhí)行步驟507，接口傳送一組包含相應(yīng)替換的正確數(shù)據(jù)，而不會將缺陷傳送出去。處理器更以此相應(yīng)替換取代缺陷，并把該組正確數(shù)據(jù)存入存儲器，以便接著將該組正確數(shù)據(jù)傳送到接口。處理器也可當接口傳送該相應(yīng)替換時，以此相應(yīng)替換取代缺陷。
若步驟505的結(jié)果為否，本方法還包含一步驟以從光儲存媒體擷取并傳送該組相應(yīng)替換。接著更執(zhí)行步驟509，處理器判斷是否將要擷取該相應(yīng)替換。若是，則執(zhí)行步驟511，讀取頭執(zhí)行一軌隨從，從光儲存媒體擷取該相應(yīng)替換。若否，則執(zhí)行步驟513，讀取頭執(zhí)行一短尋軌或一長尋軌，以從光儲存媒體擷取該相應(yīng)替換。執(zhí)行步驟511或步驟513之后，接著執(zhí)行步驟507以該相應(yīng)替換取代該缺陷。尋軌相應(yīng)替換的頻率便可因此減少。
在步驟511中，讀取頭也可直接執(zhí)行短尋軌或長尋軌，以從光儲存媒體擷取該相應(yīng)替換。
若步驟503并無檢測到有缺陷在該組數(shù)據(jù)中，代表此時毋需執(zhí)行替換缺陷，故執(zhí)行步驟515，讀取頭繼續(xù)從光儲存媒體擷取另一組數(shù)據(jù)。
除了圖5所示的步驟，第二實施例更可完成第一實施例描述的所有操作或功能。
本發(fā)明的第三實施例為一種光存取裝置，譬如一藍光激光光盤驅(qū)動器，于圖6所示。替換缺陷此裝置6包含一緩沖器601、一缺陷檢測器603、一比較器605以及一讀取頭607以于連續(xù)重分配缺陷模式進行替換缺陷。讀取頭607從一光儲存媒體609擷取數(shù)據(jù)602。緩沖器601，通常為一動態(tài)隨機存取存儲器，用以暫時儲存讀取頭607從光儲存媒體609擷取的數(shù)據(jù)602。缺陷檢測器603用以檢測數(shù)據(jù)602中是否有一組缺陷。若數(shù)據(jù)602中有一組缺陷，則比較器605接收該組數(shù)據(jù)602，并比較該組缺陷的一長度與一缺陷閥值長度604，其中缺陷閥值長度604可根據(jù)試驗或計算預(yù)先設(shè)定。若長度短于缺陷閥值長度604，則讀取頭607從光儲存媒體609連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)，直到緩沖器601的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值。缺陷長度短于缺陷閥值長度604代表該組缺陷太短，因此即刻進行替換操作會浪費時間和能源。因此，讀取頭607毋需為此組缺陷擷取一組相應(yīng)替換，直到緩沖器601的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值，即接近存滿的值。若缺陷長度長于缺陷閥值長度604，則讀取頭607直接地讀取該組缺陷的一組相應(yīng)替換。該組缺陷的長度長于缺陷閥值長度604代表該組缺陷夠長，可即刻進行替換操作。由此尋軌相應(yīng)替換的頻率便能減少。
本發(fā)明的第四實施例為于連續(xù)重分配缺陷模式中，一種讀取一光儲存媒體時用于替換缺陷的方法。此方法用于一光存取裝置，譬如前面所述的裝置6。圖7為第四實施例的一流程圖。步驟701中，根據(jù)試驗或計算設(shè)定一缺陷閥值長度。步驟703為檢測從光儲存媒體擷取的數(shù)據(jù)中是否有一組缺陷。若是，則執(zhí)行步驟705，比較該組缺陷的一長度與一缺陷閥值長度。接著執(zhí)行步驟707，判斷長度是否長于缺陷閥值長度。若否，則進行步驟709，連續(xù)地從光儲存媒體讀取更多數(shù)據(jù)，直到用以暫時儲存數(shù)據(jù)的一緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值。一旦緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值，便讀取該組缺陷的一組相應(yīng)替換。若是，則進行步驟711，直接地讀取該組缺陷的該組相應(yīng)替換。藉此尋軌相應(yīng)替換的頻率便能減少。
若步驟703中并無檢測到缺陷，代表著毋需進行替換缺陷，是故執(zhí)行步驟713以繼續(xù)從光儲存媒體擷取更多數(shù)據(jù)。
除了圖7所示的步驟，第四實施例更可完成第三實施例描述的所有操作或功能。
本發(fā)明藉由減少替換缺陷時的尋軌操作，節(jié)省了時間及能源。尤其對藍光激光光盤驅(qū)動器而言，本發(fā)明于邏輯重寫模式或連續(xù)重分配缺陷模式時具有極佳效率。
上述的實施例僅用來例舉本發(fā)明的實施方式，以及闡釋本發(fā)明的技術(shù)特征，并非用來限制本發(fā)明的范疇。任何熟悉此技術(shù)特征者可輕易完成的改變或均等性的安排均屬本發(fā)明所主張的范圍，本發(fā)明的權(quán)利范圍應(yīng)以權(quán)利要求范圍為準。
權(quán)利要求
1.一種讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的裝置，其特征在于，所述裝置包含一讀取頭，其用以從所述光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)；一缺陷檢測器，其用以檢測所述組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷；一處理器，若所述組數(shù)據(jù)中有所述缺陷，則所述處理器判斷所述組數(shù)據(jù)中是否有所述缺陷的一相應(yīng)替換；以及一接口，若所述組數(shù)據(jù)中有所述相應(yīng)替換，則所述接口從所述組數(shù)據(jù)中傳送所述相應(yīng)替換。
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述組數(shù)據(jù)從所述光儲存媒體被擷取出后，將所述組數(shù)據(jù)存入一存儲器，且所述缺陷檢測器從所述存儲器擷取所述組數(shù)據(jù)。
3.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，當所述接口傳送所述相應(yīng)替換時，所述處理器以所述相應(yīng)替換取代所述缺陷。
4.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述處理器以所述相應(yīng)替換取代所述缺陷，并將替換后的所述組數(shù)據(jù)存入一存儲器，且所述接口擷取并傳送替換后的所述組數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，若所述組數(shù)據(jù)中無所述相應(yīng)替換，則所述讀取頭從所述光儲存媒體擷取所述相應(yīng)替換，且所述接口傳送從所述光儲存媒體所擷取得的所述相應(yīng)替換。
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，若所述處理器判斷所述組數(shù)據(jù)中無所述相應(yīng)替換，則所述處理器更判斷所述讀取頭是否將要擷取所述光儲存媒體中的所述相應(yīng)替換，且若所述處理器判斷將要擷取所述相應(yīng)替換時，所述讀取頭執(zhí)行一軌隨從以擷取所述相應(yīng)替換。
7.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，若所述處理器判斷所述讀取頭尚未要擷取所述光儲存媒體中的所述相應(yīng)替換，則所述讀取頭執(zhí)行一短尋軌以擷取所述相應(yīng)替換。
8.如權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，若所述處理器判斷所述讀取頭尚未要擷取所述光儲存媒體中的所述相應(yīng)替換，則所述讀取頭執(zhí)行一長尋軌以擷取所述相應(yīng)替換。
9.如權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，若所述處理器判斷所述組數(shù)據(jù)中無所述相應(yīng)替換，則所述處理器更判斷是否將要擷取所述光儲存媒體中的所述相應(yīng)替換，且若所述處理器判斷將要擷取所述相應(yīng)替換時，所述讀取頭執(zhí)行所述短尋軌與所述長尋軌其中之一以擷取所述相應(yīng)替換。
10.一種讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的方法，其特征在于，所述方法包含下列步驟從所述光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)；檢測所述組數(shù)據(jù)中是否有一缺陷；若所述組數(shù)據(jù)中有所述缺陷，則判斷所述組數(shù)據(jù)中是否有所述缺陷的一相應(yīng)替換；以及若所述組數(shù)據(jù)中有所述相應(yīng)替換，則從所述組數(shù)據(jù)中傳送所述相應(yīng)替換。
11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法還包含下列步驟將所述組數(shù)據(jù)存入一存儲器；其中所述檢測步驟從所述存儲器擷取所述組數(shù)據(jù)。
12.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述傳送步驟包含以所述相應(yīng)替換取代所述缺陷。
13.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法還包含下列步驟以所述相應(yīng)替換取代所述缺陷；以及將所述組替換后數(shù)據(jù)存入一存儲器；其中所述傳送步驟擷取并傳送所述組替換后數(shù)據(jù)。
14.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法還包含下列步驟若所述組數(shù)據(jù)中無所述相應(yīng)替換，則擷取并傳送從所述光儲存媒體擷取的所述相應(yīng)替換。
15.如權(quán)利要求14所述的方法，其特征在于，所述擷取并傳送所述相應(yīng)替換的步驟還包含判斷是否將要擷取所述光儲存媒體中的所述相應(yīng)替換；以及若判斷將要擷取所述相應(yīng)替換，執(zhí)行一軌隨從以擷取所述相應(yīng)替換。
16.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述擷取并傳送從所述相應(yīng)替換的步驟還包含若判斷尚未要擷取所述相應(yīng)替換，則執(zhí)行一短尋軌以擷取所述相應(yīng)替換。
17.如權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述擷取并傳送從所述相應(yīng)替換的步驟還包含若判斷尚未要擷取所述相應(yīng)替換，則執(zhí)行一長尋軌以擷取所述相應(yīng)替換。
18.如權(quán)利要求14所述的方法，其特征在于，所述擷取并傳送從所述相應(yīng)替換的步驟還包含判斷是否將要擷取所述相應(yīng)替換；以及若判斷將要擷取所述相應(yīng)替換，則執(zhí)行一尋軌以擷取所述相應(yīng)替換；其中所述尋軌為一短尋軌和一長尋軌其中之一。
19.一種讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的裝置，其特征在于，所述裝置包含一緩沖器，其用以暫時儲存從所述光儲存媒體擷取的數(shù)據(jù)；一缺陷檢測器，其用以檢測所述數(shù)據(jù)中是否有一組缺陷；一比較器，若所述數(shù)據(jù)中有一組缺陷，則所述比較器用以比較所述組缺陷的一長度與一缺陷閥值長度；以及一讀取頭，若所述長度短于所述缺陷閥值長度，則所述讀取頭從所述光儲存媒體連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)直到所述緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值，若所述長度長于所述缺陷閥值長度，則所述讀取頭直接地讀取所述組缺陷的一組相應(yīng)替換。
20.如權(quán)利要求19所述的裝置，其特征在于，當所述緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達所述預(yù)定緩沖閥值時，所述讀取頭讀取所述組相應(yīng)替換。
21.一種讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的方法，其特征在于，所述方法包含以下步驟設(shè)定一缺陷閥值長度；檢測是否有一組缺陷；若有所述組缺陷，則比較所述組缺陷的一長度與所述缺陷閥值長度；若所述長度短于所述缺陷閥值長度，則從所述光儲存媒體連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)直到用以暫時儲存所述數(shù)據(jù)的一緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達一預(yù)定緩沖閥值；以及若所述長度長于所述缺陷閥值長度，則直接地讀取所述組缺陷的一組相應(yīng)替換。
22.如權(quán)利要求21所述的方法，其特征在于，所述方法還包含下列步驟當所述緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達所述預(yù)定緩沖閥值時，讀取所述組相應(yīng)替換。
全文摘要
本發(fā)明是讀取一光儲存媒體時用于取代缺陷的裝置及方法。當缺陷管理為邏輯重寫模式時，讀取頭從光儲存媒體擷取一組數(shù)據(jù)；缺陷檢測器檢測該組數(shù)據(jù)中是否有缺陷；若是，則處理器判斷該組數(shù)據(jù)中是否有缺陷的相應(yīng)替換；若是，則接口從該組數(shù)據(jù)中傳送相應(yīng)替換。當缺陷管理為連續(xù)重分配缺陷模式時，緩沖器暫時儲存從光儲存媒體擷取的數(shù)據(jù)；缺陷檢測器檢測數(shù)據(jù)中是否有組缺陷；若是，則比較器比較該組缺陷的長度與缺陷閥值長度；若長度短于缺陷閥值長度，則讀取頭從光儲存媒體連續(xù)地讀取更多數(shù)據(jù)，直到緩沖器的暫存數(shù)據(jù)到達預(yù)定緩沖閥值；若長度長于缺陷閥值長度，則讀取頭直接地讀取該組缺陷的一組相應(yīng)替換。本發(fā)明能節(jié)省操作取代缺陷裝置的時間及能源。
文檔編號G11B20/10GK101083107SQ20071010484
公開日2007年12月5日 申請日期2007年5月22日 優(yōu)先權(quán)日2006年5月30日
發(fā)明者薛景文, 陳世新 申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司