專利名稱：光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種缺陷區(qū)塊判定裝置及方法，尤其是關(guān)于光驅(qū)在可重復(fù)燒錄光盤片 燒錄數(shù)據(jù)時(shí)，驗(yàn)證燒錄數(shù)據(jù)是否錯(cuò)誤，以判定缺陷區(qū)塊的裝置及方法。
背景技術(shù)：
光盤片經(jīng)常受到灰塵、污漬、刮傷、制造質(zhì)量、材料劣化或燒錄質(zhì)量等因素，導(dǎo)致部 分區(qū)域的數(shù)據(jù)記號(hào)受損，形成缺陷區(qū)塊。數(shù)據(jù)如燒錄至缺陷區(qū)塊，將無法正常讀取。光盤片 提供缺陷管理機(jī)制，登錄缺陷區(qū)塊的地址及備份，以免造成儲(chǔ)存數(shù)據(jù)的損毀。如圖1所示，為中國臺(tái)灣公告第1302300號(hào)專利案先前技術(shù)，揭露光盤片缺陷區(qū)塊 判定方法的流程。首先在步驟P1，讀取燒錄在光盤片的數(shù)據(jù)記號(hào)。進(jìn)入步驟P2，利用錯(cuò)誤 校正碼(Error Correct Code，簡稱ECC校正碼)，進(jìn)行數(shù)據(jù)記號(hào)解碼。再進(jìn)入步驟P3，檢查 是否有解碼錯(cuò)誤產(chǎn)生？假如未產(chǎn)生解碼錯(cuò)誤，則進(jìn)入步驟P4，直接判定為非缺陷區(qū)塊。假如 產(chǎn)生解碼錯(cuò)誤，則進(jìn)入步驟P5，利用ECC校正碼進(jìn)行解碼錯(cuò)誤的校正。接著進(jìn)入步驟P6，檢 查是否解碼錯(cuò)誤校正成功？假如校正成功，則進(jìn)入步驟P4，判定為非缺陷區(qū)塊，假如解碼錯(cuò) 誤未校正成功，則進(jìn)入步驟P7，判定為缺陷區(qū)塊，由缺陷管理機(jī)制登錄缺陷區(qū)塊的地址，并 燒錄備份。前述先前技術(shù)通過預(yù)先判定出缺陷區(qū)塊的所在，雖可避免數(shù)據(jù)燒錄在缺陷區(qū)塊。 但不管光盤片各區(qū)域受損的程度，先前技術(shù)對(duì)所有產(chǎn)生解碼錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)區(qū)塊，一律進(jìn)行校 正，以判定出缺陷區(qū)塊。由于解碼錯(cuò)誤的校正需耗費(fèi)不少時(shí)間，將嚴(yán)重降低光驅(qū)執(zhí)行效能。 另有中國臺(tái)灣公開第200638413號(hào)專利案的先前技術(shù)，揭露根據(jù)ECC校正碼解碼的錯(cuò)誤量， 判定缺陷區(qū)塊的方法。利用設(shè)定錯(cuò)誤量的臨限值，將解碼錯(cuò)誤量低于臨限值，直接判定為非 缺陷區(qū)塊。而將解碼錯(cuò)誤量高于臨限值，直接判定為缺陷區(qū)塊，節(jié)省校正時(shí)間，以提高光驅(qū) 效能。然而，該判定方式的解碼錯(cuò)誤量臨限值，難以精確設(shè)定。臨限值設(shè)太低則造成許多 缺陷區(qū)塊，不僅減少光盤片有效的儲(chǔ)存容量，且需重新燒錄數(shù)據(jù)，增長燒錄時(shí)間。臨限值設(shè) 太高則容易將數(shù)據(jù)燒錄在缺陷區(qū)塊，而無法讀取儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)。此外，前述先前技術(shù)讀取數(shù)據(jù) 區(qū)塊亦需經(jīng)ECC校正碼解碼，才能根據(jù)解碼錯(cuò)誤量判定缺陷區(qū)塊，不僅同樣會(huì)增加燒錄時(shí) 間，且ECC校正碼解碼的錯(cuò)誤量，可能是解碼格式的錯(cuò)誤，并非數(shù)據(jù)記號(hào)讀取的錯(cuò)誤，無法 直接代表缺陷程度。因此，已知光盤片缺陷區(qū)塊判定方法在判定的過程上，仍有問題亟待解 決。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，通過比較單元直接比對(duì)再 生調(diào)制量位信號(hào)與燒錄前原調(diào)制量位信號(hào)，產(chǎn)生的錯(cuò)誤量，作為判定缺陷區(qū)塊的基準(zhǔn)，以提 高燒錄效能。本發(fā)明的另一目的在于提供一種光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，利用未經(jīng)解碼燒錄前后調(diào)制量位信號(hào)的比對(duì)，直接獲得數(shù)據(jù)區(qū)塊缺陷狀況，以加速判定缺陷區(qū)塊。本發(fā)明的再一目的在于提供一種光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，通過將數(shù)據(jù)區(qū)塊的錯(cuò) 誤量分成高、中、低三類，對(duì)高錯(cuò)誤量，直接判定缺陷區(qū)塊，低錯(cuò)誤量則直接判定為非缺陷區(qū) 塊，而對(duì)于中錯(cuò)誤量再進(jìn)行解碼校正，并根據(jù)其實(shí)際解碼的結(jié)果作為判定，提高判定精確 性。為了達(dá)到前述發(fā)明的目的，本發(fā)明的光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，由處理器接收燒 錄數(shù)據(jù)及命令，將燒錄數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器。將燒錄數(shù)據(jù)經(jīng)ECC校正碼形成編碼數(shù)字信號(hào)，再 經(jīng)調(diào)制裝置形成原調(diào)制量位信號(hào)，存回存儲(chǔ)器。處理器控制讀取頭燒錄或讀取調(diào)制量位信 號(hào)，利用比較單元比對(duì)出錯(cuò)誤量，根據(jù)錯(cuò)誤量判定缺陷區(qū)塊。本發(fā)明的一種光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，首先讀取燒錄的數(shù)據(jù)區(qū)塊，形成再生調(diào) 制量位信號(hào)；比對(duì)再生調(diào)制量位信號(hào)與燒錄前原調(diào)制量位信號(hào)，以不符者計(jì)算錯(cuò)誤量；檢 查錯(cuò)誤量為低錯(cuò)誤量、中錯(cuò)誤量或高錯(cuò)誤量，低錯(cuò)誤量直接判定為非缺陷區(qū)塊，高錯(cuò)誤量直 接判定為缺陷區(qū)塊，對(duì)于中錯(cuò)誤量則執(zhí)行解碼，解碼成功判定為非缺陷區(qū)塊，解碼失敗則判 定為缺陷區(qū)塊。


圖1為先前技術(shù)光盤片缺陷區(qū)塊判定方法的流程圖。圖2為本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置的方塊圖。圖3為本發(fā)明第一實(shí)施例光盤片缺陷區(qū)塊判定方法的流程圖。圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例光盤片缺陷區(qū)塊判定方法的流程圖。[主要元件標(biāo)號(hào)說明]10 光驅(qū)11處理器12存儲(chǔ)器13ECC 校正碼14調(diào)制裝置15讀取頭16比較單元17編碼數(shù)字信號(hào)18調(diào)制量位信號(hào)19光盤片
具體實(shí)施例方式有關(guān)本發(fā)明為達(dá)成上述目的，所采用的技術(shù)手段及其功效，茲舉較佳實(shí)施例，并配 合圖式加以說明如下。請(qǐng)參考圖2，為運(yùn)用本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置的光驅(qū)10方塊圖。光驅(qū)10 包含處理器11、存儲(chǔ)器12、ECC校正碼13、調(diào)制裝置14、讀取頭15及比較單元16。主要 由處理器11接收主機(jī)的燒錄數(shù)據(jù)及命令，將燒錄數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器12中。再利用ECC校 正碼13，將燒錄數(shù)據(jù)編碼形成ECC校正碼13特定格式的編碼數(shù)字信號(hào)17，暫存在存儲(chǔ)器12中。接著利用調(diào)制裝置14，例如DVD光盤片所用的8-14碼調(diào)制裝置(Eight-Fourteen Modulation，簡稱EFM)，將暫存的編碼數(shù)字信號(hào)17混插特定碼形成較長單位的調(diào)制量位信 號(hào)18，再存回存儲(chǔ)器12作為燒錄前的原調(diào)制量位信號(hào)18。然后讀取頭15將存儲(chǔ)器12中 的原調(diào)制量位信號(hào)18讀出，并利用3T — 11T不同單位時(shí)間長度的數(shù)據(jù)記號(hào)，形成多個(gè)單位 數(shù)據(jù)區(qū)塊(Sector)，燒錄在光盤片19上。驗(yàn)證燒錄是否正確讀取數(shù)據(jù)時(shí)，由處理器11控制讀取頭15讀取光盤片的數(shù)據(jù)記 號(hào)，形成再生的調(diào)制量位信號(hào)18，暫存在存儲(chǔ)器12。本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，在再 生調(diào)制量位信號(hào)18未經(jīng)ECC校正碼13解碼前，利用比較單元16，以數(shù)據(jù)區(qū)塊為單位，直接 將再生調(diào)制量位信號(hào)18與原存于回存儲(chǔ)器12的原調(diào)制量位信號(hào)18相比對(duì)。以原調(diào)制量位 信號(hào)18為準(zhǔn)，比對(duì)再生調(diào)制量位信號(hào)18的數(shù)據(jù)記號(hào)信號(hào)不符者為一錯(cuò)誤，并累計(jì)錯(cuò)誤量， 以快速獲得每一數(shù)據(jù)區(qū)塊再生調(diào)制量位信號(hào)18的錯(cuò)誤量。由于該錯(cuò)誤量直接代表燒錄失 敗的狀況，每一數(shù)據(jù)區(qū)塊錯(cuò)誤量的多寡，如同代表光盤片19所在數(shù)據(jù)區(qū)塊的質(zhì)量。因此，本 發(fā)明處理器11將燒錄前后調(diào)制量位信號(hào)18比對(duì)的錯(cuò)誤量，作為評(píng)估數(shù)據(jù)區(qū)塊是否為缺陷 的指標(biāo)。因此，本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，即可通過比較單元，直接將讀取數(shù)據(jù)記號(hào) 的再生調(diào)制量位信號(hào)，與燒錄前儲(chǔ)存的原調(diào)制量位信號(hào)相比對(duì)，不需經(jīng)由ECC校正碼，快速 獲得比對(duì)不符的錯(cuò)誤量，作為判定缺陷區(qū)塊，以提高光驅(qū)燒錄效能。本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，是將讀取數(shù)據(jù)區(qū)塊的再生調(diào)制量位信號(hào)18，比 對(duì)原調(diào)制量位信號(hào)，所產(chǎn)生的錯(cuò)誤量分成高中低三類，分別代表數(shù)據(jù)區(qū)塊的損壞為嚴(yán)重、中 等或輕微程度。對(duì)于高錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊，也就是數(shù)據(jù)記號(hào)損壞較嚴(yán)重的區(qū)塊，因錯(cuò)誤量 多，一般經(jīng)由ECC校正碼的會(huì)造成解碼失敗，無法完成讀取數(shù)據(jù)，或耗費(fèi)過多解碼校正時(shí) 間，列為不必再執(zhí)行ECC校正碼的數(shù)據(jù)區(qū)塊，直接判定為缺陷區(qū)塊。而對(duì)于低錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù) 區(qū)塊，也就是數(shù)據(jù)記號(hào)損壞較輕微的區(qū)塊，因錯(cuò)誤量少，經(jīng)ECC校正碼均能成功解碼完成讀 取數(shù)據(jù)，亦列為不必再執(zhí)行ECC校正碼的數(shù)據(jù)區(qū)塊，直接判定為非缺陷區(qū)塊。由于中錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊，多為參雜可經(jīng)ECC校正碼解碼成功或解碼失敗的數(shù)據(jù) 區(qū)塊，如全列為缺陷區(qū)塊，將降低光盤片的儲(chǔ)存容量，而如全列為非缺陷區(qū)塊，將造成事后 無法讀取數(shù)據(jù)。本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，是將中錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊經(jīng)由執(zhí)行ECC 校正碼，再根據(jù)實(shí)際解碼成功或失敗的結(jié)果，判定數(shù)據(jù)區(qū)塊是否為缺陷區(qū)塊，即可避免中錯(cuò) 誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊被錯(cuò)誤判定。如圖3所示，為本發(fā)明第一實(shí)施例光盤片缺陷區(qū)塊判定方法的流程。本發(fā)明判定 燒錄數(shù)據(jù)區(qū)塊是否為光盤片缺陷區(qū)塊的詳細(xì)步驟說明如下首先在步驟R1，開始進(jìn)行判定 缺陷區(qū)塊。進(jìn)入步驟R2，讀取光盤片上燒錄的數(shù)據(jù)區(qū)塊，形成再生調(diào)制量位信號(hào)。再進(jìn)入步 驟R3，將再生調(diào)制量位信號(hào)與燒錄前原調(diào)制量位信號(hào)比對(duì)。在步驟R4，以原調(diào)制量位信號(hào) 為準(zhǔn)，核對(duì)再生調(diào)制量位信號(hào)不符者，形成錯(cuò)誤信號(hào)并計(jì)算錯(cuò)誤量。接著進(jìn)入步驟R5，根據(jù) 錯(cuò)誤量的多寡，將錯(cuò)誤量分類在低錯(cuò)誤量、中錯(cuò)誤量或高錯(cuò)誤量。對(duì)輕微損壞的數(shù)據(jù)區(qū)塊，進(jìn)入步驟R6，分類為低錯(cuò)誤量。再進(jìn)入步驟R7，直接判定 數(shù)據(jù)區(qū)塊為非缺陷區(qū)塊，不執(zhí)行ECC校正碼。對(duì)嚴(yán)重?fù)p壞的數(shù)據(jù)區(qū)塊，進(jìn)入步驟R8，分類為 高錯(cuò)誤量。再進(jìn)入步驟R9，直接判定數(shù)據(jù)區(qū)塊為缺陷區(qū)塊，不執(zhí)行ECC校正碼。對(duì)中等損壞 的數(shù)據(jù)區(qū)塊，進(jìn)入步驟R10，分類為中錯(cuò)誤量。再進(jìn)入步驟R11，直接執(zhí)行ECC校正碼，根據(jù)
5解碼成功或失敗的結(jié)果判定缺陷區(qū)塊狀態(tài)。在步驟R7、步驟R9及步驟Rll判定完成后，最 后進(jìn)入步驟R12，結(jié)束判定。如圖4所示，為本發(fā)明第二實(shí)施例光盤片缺陷區(qū)塊判定方法的流程。本實(shí)施例為 本發(fā)明實(shí)際運(yùn)用于驗(yàn)證燒錄數(shù)據(jù)區(qū)塊是否燒錄正確的過程，詳細(xì)步驟說明如下首先在步 驟Si，光驅(qū)接收主機(jī)命令驗(yàn)證所燒錄數(shù)據(jù)是否燒錄正確。進(jìn)入步驟S2，讀取驗(yàn)證所要求的 燒錄數(shù)據(jù)區(qū)塊，形成再生調(diào)制量位信號(hào)。再進(jìn)入步驟S3，將再生調(diào)制量位信號(hào)與燒錄前原調(diào) 制量位信號(hào)比對(duì)。在步驟S4,以原調(diào)制量位信號(hào)為準(zhǔn)，核對(duì)再生調(diào)制量位信號(hào)不符者，形成 錯(cuò)誤信號(hào)并計(jì)算錯(cuò)誤量。接著進(jìn)入步驟S5，根據(jù)錯(cuò)誤量的多寡，分類成低錯(cuò)誤量、中錯(cuò)誤量 及高錯(cuò)誤量等三類數(shù)據(jù)區(qū)塊。接著，進(jìn)入步驟S6檢查步驟S5中的分類是否為中錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊？假如非中 錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊，則進(jìn)入步驟S7，不執(zhí)行ECC校正碼解碼，直接根據(jù)錯(cuò)誤量分類的高低， 依設(shè)定判定缺陷區(qū)塊狀態(tài)，即低錯(cuò)誤量直接判定為非缺陷區(qū)塊，高錯(cuò)誤量直接判定為缺陷 區(qū)塊。假如分類為中錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊，則進(jìn)入步驟S8，將中錯(cuò)誤量的數(shù)據(jù)區(qū)塊執(zhí)行ECC校 正碼解碼，再進(jìn)入步驟S9檢查解碼是否成功？根據(jù)解碼的結(jié)果，假如解碼成功，就進(jìn)入步 驟SlO判定為非缺陷區(qū)塊，假如解碼失敗，就進(jìn)入步驟Sll判定為缺陷區(qū)塊。在步驟S7、步 驟SlO或步驟Sll判定完成后，進(jìn)入步驟S12檢查驗(yàn)證所要求的燒錄數(shù)據(jù)是否讀取完成？ 假如尚未讀取完成，回至步驟S2繼續(xù)讀取燒錄數(shù)據(jù)，假如讀取完成，則進(jìn)入步驟S13，結(jié)束 燒錄驗(yàn)證。因此，本發(fā)明光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，就可利用燒錄前后未經(jīng)解碼的調(diào)制量位 信號(hào)，進(jìn)行比對(duì)，直接獲得數(shù)據(jù)區(qū)塊錯(cuò)誤量所顯示缺陷程度，加速判定缺陷區(qū)塊。并通過將 數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤量分成三類，對(duì)高錯(cuò)誤量，直接判定缺陷區(qū)塊，低錯(cuò)誤量則直接判定為非缺陷區(qū) 塊，而對(duì)于中錯(cuò)誤量再進(jìn)行較花時(shí)間的解碼校正，根據(jù)實(shí)際解碼成功或失敗的結(jié)果，正確判 定缺陷區(qū)塊，達(dá)到提高判定精確性的目的。以上所述者，僅用以方便說明本發(fā)明的較佳實(shí)施例，本發(fā)明的范圍不限于該等較 佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明所做的任何變更，于不脫離本發(fā)明的精神下，皆屬本發(fā)明權(quán)利要求的 范圍。
權(quán)利要求
一種光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，包含處理器，接收燒錄數(shù)據(jù)及命令；存儲(chǔ)器，儲(chǔ)存該燒錄數(shù)據(jù)；ECC校正碼，將存儲(chǔ)器中該燒錄數(shù)據(jù)編碼形成特定格式的編碼數(shù)字信號(hào)；調(diào)制裝置，將該編碼數(shù)字信號(hào)形成原調(diào)制量位信號(hào)，并儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器；讀取頭，受處理器控制，燒錄該原調(diào)制量位信號(hào)成單位數(shù)據(jù)區(qū)塊的數(shù)據(jù)記號(hào)，或讀取該數(shù)據(jù)記號(hào)成再生調(diào)制量位信號(hào)；以及比較單元，比對(duì)該數(shù)據(jù)區(qū)塊的該再生調(diào)制量位信號(hào)與該原調(diào)制量位信號(hào)，產(chǎn)生錯(cuò)誤量；其中，該處理器根據(jù)該比較單元比對(duì)的錯(cuò)誤量，判定該數(shù)據(jù)區(qū)塊是否為缺陷區(qū)塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，其中該編碼數(shù)字信號(hào)暫存在該存 儲(chǔ)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，其中該讀取的再生調(diào)制量位信號(hào) 暫存在該存儲(chǔ)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置，其中該調(diào)制裝置為8-14碼調(diào)制裝置。
5.一種光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，其步驟包含(1)讀取燒錄的數(shù)據(jù)區(qū)塊，形成再生調(diào)制量位信號(hào)；(2)比對(duì)再生調(diào)制量位信號(hào)與燒錄前原調(diào)制量位信號(hào)，以不符者計(jì)算錯(cuò)誤量；(3)檢查錯(cuò)誤量為低錯(cuò)誤量、中錯(cuò)誤量或高錯(cuò)誤量，假如為高及低錯(cuò)誤量則直接依設(shè)定 判定缺陷區(qū)塊狀態(tài)，假如為中錯(cuò)誤量則執(zhí)行解碼，根據(jù)解碼成功或失敗的結(jié)果判定缺陷區(qū) 塊狀態(tài)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，其中該步驟(3)假如錯(cuò)誤量為低 錯(cuò)誤量則直接判定該數(shù)據(jù)區(qū)塊為非缺陷區(qū)塊，假如錯(cuò)誤量為高錯(cuò)誤量則直接判定該數(shù)據(jù)區(qū) 塊為缺陷區(qū)塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，其中該步驟(3)中錯(cuò)誤量執(zhí)行解 碼后，檢查是否解碼成功，假如解碼成功，判定數(shù)據(jù)區(qū)塊為非缺陷區(qū)塊，假如解碼失敗則判 定數(shù)據(jù)區(qū)塊為缺陷區(qū)塊。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，其中該步驟(4)執(zhí)行的解碼為 ECC校正碼。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光盤片缺陷區(qū)塊判定方法，其中該判定方法為驗(yàn)證燒錄數(shù)據(jù) 區(qū)塊是否燒錄正確。 >
全文摘要
一種光盤片缺陷區(qū)塊判定裝置及方法，由處理器接收燒錄數(shù)據(jù)及命令，將燒錄數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在存儲(chǔ)器。將燒錄數(shù)據(jù)經(jīng)ECC校正碼形成編碼數(shù)字信號(hào)，再經(jīng)調(diào)制裝置形成調(diào)制量位信號(hào)，存回存儲(chǔ)器。處理器控制讀取頭燒錄或讀取調(diào)制量位信號(hào)，利用比較單元比對(duì)燒錄前后調(diào)制量位信號(hào)的錯(cuò)誤量，對(duì)高或低錯(cuò)誤量直接判定缺陷區(qū)塊狀態(tài)，而中錯(cuò)誤量則執(zhí)行解碼，并根據(jù)解碼結(jié)果判定缺陷區(qū)塊狀態(tài)。
文檔編號(hào)G11B20/18GK101872636SQ20091013213
公開日2010年10月27日 申請(qǐng)日期2009年4月21日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月21日
發(fā)明者朱修明, 許錦發(fā), 陳世國 申請(qǐng)人:廣明光電股份有限公司