專利名稱：光拾取裝置及光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光拾取裝置以及光盤裝置。
背景技術(shù)：
作為本技術(shù)領(lǐng)域的背景技術(shù)例如有特開2006-344344號公報(專利文獻(xiàn)1)。該公報中有如下記載“從具有多個記錄層的光盤獲取所要的信號”。此外，例如也有特開 2006-344380號公報(專利文獻(xiàn)2)。該公報中有如下記載“在使用具有兩個信息記錄面的可記錄式光存儲介質(zhì)的情況下，檢測出偏移少的跟蹤誤差信號”。此外，例如非專利文獻(xiàn)1 中有如下記載“在沒有其它層雜光的區(qū)域中配置跟蹤用光電探測器”，關(guān)于其構(gòu)造也被記載在特開2004-281026中(專利文獻(xiàn)3)。專利文獻(xiàn)1日本特開2006-344344號公報(第沈頁，圖3、圖5)專利文獻(xiàn)2日本特開2006-344380號公報(第14頁，圖1)專利文獻(xiàn)3日本特開2004-281026(第71頁，圖22、圖M、圖25)非專利文獻(xiàn)1日本電子信息通信學(xué)會信學(xué)技報CPM2005-149 (2005-10)(第33頁， 圖4、圖5)

發(fā)明內(nèi)容
在專利文獻(xiàn)1中，采用以下這種構(gòu)造利用聚光透鏡聚集被光盤反射的光束，利用聚光透鏡聚集透過2片1/4波長板和偏振光學(xué)元件后擴(kuò)散的光線，并將其照射在光電探測器上。因此，存在檢測光學(xué)系統(tǒng)變得復(fù)雜，尺寸增加的擔(dān)心。特別是在專利文獻(xiàn)2中，在激光光源后配置用于生成3個光斑的衍射光柵，在光盤上照射1個主光斑和2個輔光斑，因此， 存在記錄所需的主光束的光利用率下降的擔(dān)心。在非專利文獻(xiàn)1(專利文獻(xiàn)幻中，采用一種在聚焦用光電探測器的周圍產(chǎn)生的聚焦用光束的來自其它層的雜光的外側(cè)配置跟蹤用光電探測器，而且使在全息元件的中央部衍射的光射向來自其它層的雜光的外側(cè)的構(gòu)造，因此，存在光電探測器的尺寸增大的擔(dān)心。本發(fā)明的目的在于提供一種在記錄再現(xiàn)具有多個信息記錄面的信息記錄介質(zhì)的情況下，能夠獲得穩(wěn)定的伺服信號的光拾取裝置以及搭載它的光盤裝置。作為一例，根據(jù)專利權(quán)利要求書中記載的發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)上述目的。本發(fā)明提供一種光拾取裝置，具備射出激光的半導(dǎo)體激光器、將從上述半導(dǎo)體激光器射出的光束照射在光盤上的物鏡、將從光盤反射的光束分支的衍射光柵、以及具有接受被上述衍射光柵分支的光束的多個受光面的光電探測器，其特征在于，上述衍射光柵具有區(qū)域A、區(qū)域B、區(qū)域C三個區(qū)域，在被上述光盤上的軌道衍射的光盤衍射光中，0級光盤衍射光入射到上述區(qū)域A中，0級、士 1級光盤衍射光入射到上述區(qū)域B中，在上述光電探測器中，從在上述衍射區(qū)域A、B、C中衍射的光柵衍射光中檢測再現(xiàn)信號，并且，檢測上述衍射光柵區(qū)域A的+1級光柵衍射光或者-1級光柵衍射光的2個以上的受光面在與上述光盤的半徑方向基本一致的方向大體在一條直線上排列，檢測上述衍射光柵區(qū)域B的+1級光柵衍射光或者-1級光柵衍射光的2個以上的受光面在與上述光盤的切線方向基本一致的方向排列。根據(jù)本發(fā)明，能夠提供一種在記錄再現(xiàn)具有多個信息記錄面的信息記錄介質(zhì)的情況下，能夠獲得穩(wěn)定的伺服信號的光拾取裝置以及搭載它的光盤裝置。


圖1是用來說明實施例1中的光拾取裝置及光盤的配置的示意圖。圖2是用來說明實施例1的本發(fā)明的光學(xué)系統(tǒng)的示意圖。圖3表示實施例1的本發(fā)明的衍射光柵。圖4表示實施例1的本發(fā)明的受光面。圖5表示實施例1中的雙層光盤記錄/再現(xiàn)時雜光的形狀(檢測器上)。圖6是用來說明來自雙層光盤的另一層的雜光的行為的圖。圖7是用來說明來自雙層光盤的另一層的雜光的行為的圖。圖8表示實施例1的本發(fā)明的其它衍射光柵。圖9表示實施例2的本發(fā)明的受光面。圖10表示實施例2中的雙層光盤記錄/再現(xiàn)時雜光的形狀(衍射光柵上)。圖11表示實施例2中的雙層光盤記錄/再現(xiàn)時雜光的形狀(檢測器上)。圖12表示實施例2中的雙層光盤記錄/再現(xiàn)時物鏡發(fā)生了位移的狀態(tài)。圖13表示實施例3的本發(fā)明的受光面。圖14表示實施例3的本發(fā)明的衍射光柵。圖15表示實施例3中的雙層光盤記錄/再現(xiàn)時雜光的形狀(檢測器上)。圖16是用來說明實施例4中的光學(xué)再現(xiàn)裝置的示意圖。圖17是用來說明實施例5中的光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置的示意圖。符號說明1、光拾取裝置2、物鏡5、致動器7、驅(qū)動機(jī)構(gòu)10、光電探測器11、衍射光柵50、半導(dǎo)體激光器51、準(zhǔn)直透鏡52、分束鏡53、前監(jiān)視器M、擴(kuò)束鏡55、豎起鏡56、1/4波長板171、主軸電機(jī)驅(qū)動電路172、訪問控制電路173、致動器驅(qū)動電路174、伺服信號生成電路175、信息信號再現(xiàn)電路176、控制電路177、激光器點亮電路178、信息記錄電路179、球面像差補(bǔ)償元件驅(qū)動電路180、主軸電機(jī)Da Di 衍射光柵的區(qū)域Dil Di4、衍射光柵的區(qū)域al il、光電探測器上的受光面e2 h2、光電探測器上的受光面r v、si、s2、光電探測器上的受光面i、光電探測器上的受光面
具體實施例方式下面，使用實施例對本發(fā)明的光拾取裝置及光盤裝置進(jìn)行更加詳細(xì)的說明。(實施例1)
圖1表示本發(fā)明的第1實施例的光拾取裝置的一個例子。如圖1所示，光拾取裝置1能夠由驅(qū)動機(jī)構(gòu)7沿著光盤100的半徑方向(以下稱作Rad方向)驅(qū)動。在光拾取裝置上的致動器5上搭載有物鏡2，光從該物鏡2被照射在光盤上。從物鏡2射出的光在光盤10上形成光斑，在光盤100反射。通過檢測該反射光，生成聚焦誤差信號與跟蹤誤差信號。在上述這樣的光拾取裝置中，圖2表示光學(xué)系統(tǒng)。此處，將對BD進(jìn)行說明，當(dāng)然也可以是DVD和其它的記錄方式。波長大致為405nm的光束作為發(fā)散光從半導(dǎo)體激光器50中射出。從半導(dǎo)體激光器50中射出的光束在分束鏡52反射。部分光束透過分束鏡52射入前監(jiān)視器53中。一般情況下，在BD-RE、BD-R等的記錄式光盤中記錄信息的情況下，為了在光盤的記錄面照射規(guī)定的光量，必需高精度地控制半導(dǎo)體激光器的光量。因此，當(dāng)在記錄式光盤中記錄信號時， 前監(jiān)視器53檢測半導(dǎo)體激光器50的光量變化，并反饋到半導(dǎo)體激光器50的驅(qū)動電路(圖中未示)。這樣就能監(jiān)視光盤上的光量。在分束鏡52反射的光束被準(zhǔn)直透鏡51變換成大致平行的光束。透過準(zhǔn)直透鏡51 的光束射入擴(kuò)束鏡M中。擴(kuò)束鏡M被用于改變光束的發(fā)散、收斂狀態(tài)，以此來補(bǔ)償因光盤 100的覆蓋層的厚度誤差而產(chǎn)生的球面像差。從擴(kuò)束鏡M射出的光束在豎起鏡55反射，透過1/4波長板56后，被搭載在致動器5上的物鏡2聚光在光盤100上。在光盤100反射的光束透過物鏡2、1/4波長板56、豎起鏡55、擴(kuò)束鏡M、準(zhǔn)直透鏡51、分束鏡52并射入到衍射光柵11。光束被衍射光柵11分割成多個區(qū)域，并且按各個區(qū)域沿著相互各異的方向前進(jìn)，在光電探測器10上聚焦。在光電探測器10上形成多個受光面，被衍射光柵11分割的光束被照射在各個受光面上。根據(jù)被照射在受光面上的光量， 從光電探測器10輸出電信號，對這些輸出進(jìn)行運(yùn)算，生成作為再現(xiàn)信號的RF信號、聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。圖3表示衍射光柵11的形狀。實線表示區(qū)域的分界線，兩點劃線表示激光光束的外形，陰影部表示被光盤的軌道衍射的0級衍射光與士1級衍射光的干涉區(qū)域(推挽圖案)。衍射光柵11由在光盤上的軌道上衍射的衍射光的僅O級衍射光入射的區(qū)域De、Df、 Dg、Dh (區(qū)域Α)、衍射光的0級衍射光和士 1級衍射光入射的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd (區(qū)域B)、 區(qū)域Di (區(qū)域C)形成。衍射光柵11的區(qū)域Di以外區(qū)域的分光比例如為0級光+1級光-1級光= 0:7: 3，區(qū)域Di中的比例為0級光+1級光-1級光=0 1 0。光電探測器10 采用如圖4所示的布圖。此處，在衍射光柵11的區(qū)域Da、Db、DC、Dd、De、Df、Dg、Dh、Di衍射的+1級光分別入射到圖4所示的光電探測器的受光面al、bl、Cl、dl、el、fl、gl、hl、il。另外，在區(qū)域Da、 Db、Dc、Dd衍射的-1級光入射到聚焦誤差信號檢測用受光面r、s、t、u、v，在區(qū)域De、Df、 Dg、Dh衍射的-1級光分別入射到受光面e2、f2、g2、h2。對從受光面&1、131、(；1、(11、61、打、81、111、11、1~、8、扒11、￥、62、€2、82、112獲得的 A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1、H1、II、R、S、Τ、U、V、E2、H2、F2、G2、H2 的信號進(jìn)行以下的運(yùn)算， 生成聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號、RF信號。(公式1)
FES = (R+T+V) - (S+U)TES= {(A1+B1+E1+F1) - (C1+D1+G1+H1)}-kt X {(E2+F2) - (G2+H2)}RF = A1+B1+C1+D1+E1+F1+G1+H1+I1+E2+F2+G2+H2kt是當(dāng)物鏡發(fā)生位移時使得不在跟蹤誤差信號中產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。此處，聚焦誤差檢測方式是刀口式，因本方式眾所周知，故省略其說明。圖5表示雙層光盤記錄/再現(xiàn)時的信號光以及來自另一層的雜光的關(guān)系。(a)表示LO記錄/再現(xiàn)時，(b)表示Ll記錄/再現(xiàn)時。由圖可知，在衍射光柵11的Di區(qū)域中衍射的光束以外的光束，在受光面上信號光與來自另一層的雜光不相互重疊。但是，從受光面 il檢測出來的信號Il并不用于檢測跟蹤誤差信號，而僅用于檢測再現(xiàn)信號，因此，即使存在雜光，在實際應(yīng)用上也不會有問題。在實際的信號檢測中，由于物鏡一邊追隨光盤上的軌道一邊記錄/再現(xiàn)，因此，物鏡沿著半徑方向(以下稱作Rad方向)位移。如果物鏡位移，那么在光電探測器上僅雜光成分發(fā)生位移。因此，如果是通常的光電探測器的受光面圖案，如果物鏡發(fā)生位移，那么來自其它層的雜光就有可能入射到受光面。與此不同，在本發(fā)明中，通過對于衍射光柵11的圖案優(yōu)化光電探測器10，能夠增大物鏡的位移容許量。此處，必須考慮的一點是在物鏡位移方向如何分離信號光與雜光。以下，將對此進(jìn)行說明。圖6表示在衍射光柵區(qū)域Dh發(fā)生衍射，并入射到受光面hi的光束。圖7表示在衍射光柵區(qū)域Dd發(fā)生衍射，并入射到受光面dl的光束。(a)、(b)、(c)根據(jù)光盤上的光斑狀態(tài)區(qū)分，(b)表示在光盤上聚焦的狀態(tài)，(a)、(c)表示散焦了的狀態(tài)。但是，(a)、(b)、(c) 的關(guān)系幾乎并不依存于受光面的位置。此處，對散焦進(jìn)行說明的原因在于，雙層光盤的雜光可以解釋為在非聚焦位置所反射的散焦光。比較圖6與圖7可知，因散焦而移動的方向各異。在圖6的Dh中衍射的光束因散焦在光盤的軌道方向(以下稱作Tan方向)移動。與此不同，在圖7的Dd中衍射的光束在 Rad方向移動。這是由于，相對于衍射光柵上的光束中心15呈點對稱地發(fā)生模糊，因此散焦產(chǎn)生的移動方向各異。因此，避開雜光的方法也要根據(jù)區(qū)域來區(qū)別，這一點很重要。在衍射光柵的區(qū)域在Tan方向離開光束中心15 (Dh、De、Df、Dg (區(qū)域A))的情況下，最好在Tan方向避開雜光。通過這樣地避開雜光，即使物鏡沿著Rad方向位移，也不會入射光導(dǎo)電探測器中。因此，沿著Rad方向排列用來檢測在衍射光柵的區(qū)域Dh、De、Df、Dg中衍射的光束的受光面，這樣就能最大限度地減少在其它區(qū)域中衍射的雜光的影響。在衍射光柵的區(qū)域在Rad方向離開光束中心15 (Da、Db、Dc、Dd(區(qū)域B))的情況下，最好在Rad方向避開雜光。因此，沿著Tan方向排列用來檢測在區(qū)域Da、Db、Dc、Dd中衍射的光束的受光面，這樣就能最大限度地減少雜光的影響，同時，能夠?qū)崿F(xiàn)光電探測器的小型化。假如沿著Rad方向排列在區(qū)域Da、Db、Dc、Dd中衍射的光束，那么在物鏡在Rad方向位移的情況下，就會發(fā)生雜光入射受光面中這樣的問題。如上所述，光電探測器10采用圖4所示的光電探測器，這樣就能夠有效地分離信號光和雜光，并且能夠?qū)崿F(xiàn)光電探測器的小型化。當(dāng)然，衍射光柵11是圖8(a)、(b)所示的圖案也能獲得同樣的效果。而且，在本實施例中，在透過分束鏡后的位置配置衍射光柵，當(dāng)然，即使將衍射光柵11作成偏振衍射光柵，在透過分束鏡前的位置配置衍射光柵，也能獲得同樣的效果。此處，采用雙層光盤進(jìn)行了說明，但是當(dāng)然2層以上的光盤也能夠獲得同樣的效果。關(guān)于球面像差補(bǔ)償，當(dāng)然并不限于此。(實施例2)圖9表示本發(fā)明的第2實施例中光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的光電探測器。與實施例 1的不同之處在于，圖2的物鏡與衍射光柵11間的距離增大，其余與實施例1相同。如果物鏡與衍射光柵11間的距離增大，那么，雜光的影響因記錄再現(xiàn)層不同而不相同。這是因為，雜光在LO記錄/再現(xiàn)時為匯聚光，在Ll記錄/再現(xiàn)時為發(fā)散光，因此衍射光柵11上的雜光光束直徑大幅變化而產(chǎn)生影響。例如，衍射光柵11上的信號光以及雜光的光束直徑如圖10所示。(a)表示LO記錄/再現(xiàn)時，(b)表示Ll記錄/再現(xiàn)時。此外，在各個附圖中用兩點劃線表示信號光，用一點劃線46表示雜光。圖11表示此情況下的雜光。圖11 (a)表示LO記錄/再現(xiàn)時，(b)表示Ll記錄/再現(xiàn)時。由圖中可知，對于在衍射光柵11的Di區(qū)域衍射的光束以外的光束， 在受光面上信號光不與來自另一層的雜光相互重疊。但是，從受光面il檢測出來的信號Il 并不用于檢測跟蹤誤差信號，而是僅用于檢測再現(xiàn)信號，因此，即使存在雜光，在實際應(yīng)用上也不會有問題。在檢測聚焦誤差信號的受光面r、s上有雜光入射，但是在伺服信號檢測方面不成為問題。在這樣的結(jié)構(gòu)中，如圖9所示，受光面&1、131、(；1、(11沿著Tan方向，el、fl、gl、hl 以及e2、f2、g2、h2沿著Rad方向配置在一直線上，這樣不僅能夠分離雜光，并且能夠?qū)崿F(xiàn)光電探測器的小型化。此處，對沿著Rad方向排列的受光面與沿著Tan方向排列的受光面并非線對稱的原因進(jìn)行說明。如圖10(b)所示，在光束入射了的情況下，因物鏡的位移，就會入射到其它的衍射光柵區(qū)域(Da、Db、Dc、Dd)。實際上，即使在物鏡位移的狀態(tài)下，也應(yīng)避開來自其它層的雜光。此處，如果使物鏡位移，那么，在衍射光柵區(qū)域Db衍射的來自其它層的雜光就會入射到受光面el中。對于這種情況，只要簡單地將沿著Rad方向排列的受光面的位置沿著Tan 方向配置也能應(yīng)對此情況，但是，從光電探測器的小型化的觀點來看，最好在Tad方向上偏移。這樣，即使物鏡位移也能獲得穩(wěn)定的伺服信號，并且能夠?qū)崿F(xiàn)光電探測器的小型化。根據(jù)上述理由，沿著Rad方向排列的受光面與沿著Tan方向排列的受光面并非線對稱。如上所述，即使物鏡與衍射光柵11之間的距離增大，光電探測器10做成圖9所示的那樣能夠有效地分離信號光與雜光。此處，關(guān)于信號檢測可以根據(jù)與實施例1同樣的運(yùn)算來獲得。此外，當(dāng)然，衍射光柵11采用圖8(a)、(b)所示的類型也能獲得同樣的效果。而且，在本實施例中衍射光柵配置在透過分束鏡后的位置，但是，當(dāng)然將衍射光柵11做成偏振衍射光柵，并將其配置在透過分束鏡前的位置，也能獲得同樣的效果。此處，對雙層光盤進(jìn)行了說明，但是當(dāng)然2層以上的光盤也能獲得同樣的效果。此外，關(guān)于球面像差補(bǔ)償，當(dāng)然并不限于此。(實施例3)圖13表示本發(fā)明的第3實施例的光拾取裝置的光學(xué)系統(tǒng)的光電探測器。與實施例1的不同之處在于衍射光柵11的特性以及光電探測器10，其余與實施例1相同。衍射光柵采用圖14的方式。實線表示區(qū)域的分界線，兩點劃線表示激光的光束外形，陰影部表示被光盤的軌道衍射的0級衍射光與士 1級衍射光的干涉區(qū)域(推挽圖案)。衍射光柵11由在光盤上的軌道衍射的衍射光的僅0級衍射光入射的區(qū)域De、Df、Dg、 Dh (區(qū)域A)、衍射光的0級衍射光與士 1級衍射光入射的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd (區(qū)域B)、以及區(qū)域Di (區(qū)域C)形成。此處，衍射光柵11的分光比例如為0級光+1級光-1級光= 7:3:0。在衍射光柵11的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh衍射的+1級光(或者_(dá)1級光)分別入射到圖14所示的光電探測器的受光面al、bl、cl、dl、el、Π、gl、hi、il，在區(qū)域Dil、Di2、Di3、Di4衍射的+1級光(或者_(dá)1級光)入射到檢測聚焦誤差信號的受光面 r、sl、s2、t。檢測聚焦誤差信號的受光面上的光斑il、i2、i3、i4分別是在衍射光柵的區(qū)域 Dil、Di2、Di3、Di4衍射的光斑。整個衍射光柵區(qū)域的0級光入射到受光面i。對從受光面al、bl、cl、dl、el、Π、gl、hi、r、si、s2、t、i 獲得的 Al、Bi、Cl、Dl、 E1、F1、G1、H1、R、S1、S2、T、I信號進(jìn)行以下的計算，生成聚焦誤差信號、跟蹤信號、RF信號。(公式2)FES = (R+T)-(S1+S2)TES= {(A1+B1+E1+F1) - (C1+D1+G1+H1)}-kt X {(E2+F2) - (G2+H2)}RF = IKt是當(dāng)物鏡發(fā)生位移時使得不在跟蹤誤差信號中產(chǎn)生DC成分的系數(shù)。此處，聚焦誤差檢測方式是刀口方式，因本方式眾所周知，故省略其說明。圖15表示雙層光盤記錄/再現(xiàn)時的信號光以及來自另一層的雜光的關(guān)系。(a)表示LO記錄/再現(xiàn)時，(b)表示Ll記錄/再現(xiàn)時。由圖可知，除了在衍射光柵11的Di區(qū)域衍射的光束之外，在受光面上信號光不與來自另一層的雜光相互重疊。但是，從受光面il 檢測出來的信號I并不用于檢測跟蹤誤差信號，而是僅用于檢測再現(xiàn)信號，因此，即便存在雜光，在實際應(yīng)用上也不會有問題。此處，沿著Rad方向排列用來檢測在衍射光柵的區(qū)域Dh、De、Df、Dg衍射的光束的受光面，沿著Tan方向排列用來檢測在區(qū)域Da、Db、Dc、Dd衍射的光束的受光面，這樣就能最大限度地抑制雜光的影響。另外，在本實施例中，受光面al與bl、以及cl與dl相互分開配置，但是，當(dāng)然，將al、bl、cl、dl沿著Tan方向排成一列，也能獲得同樣的效果。通過采用這樣的受光面的配置方法，能夠?qū)τ诙鄬庸獗P檢測出穩(wěn)定的伺服信號。 另外，對于利用相同的一個光束進(jìn)行檢測的專利文獻(xiàn)3，通過在檢測器上聚光，則能夠縮小受光面間隔。因此，能夠?qū)崿F(xiàn)光電探測器的小型化。此處，刀口的受光面并非局限于圖13的位置，當(dāng)然，在其它位置配置也能夠獲得同樣的效果。在本發(fā)明中，對于檢測聚焦誤差信號，當(dāng)然使用衍射光柵上的任何區(qū)域都能獲得同樣的效果，例如，使用衍射光柵區(qū)域Da Dh、Dil Di2的一個或者多個衍射光柵區(qū)域的-1級光來檢測聚焦誤差信號，當(dāng)然也能獲得同樣的效果。此外，衍射光柵11采用圖8(a)、(b)的方式，對衍射光柵區(qū)域Di進(jìn)行分割，當(dāng)然也能獲得同樣的效果。而且，在本實施例中，在透過分束鏡后的位置配置衍射光柵，但是，把衍射光柵11做成偏振衍射光柵，在透過分束鏡前的位置配置衍射光柵，當(dāng)然也能獲得同樣的效果。此處，雖然對雙層光盤進(jìn)行了說明，但是，當(dāng)然雙層以上的光盤也能獲得同樣的效果。 關(guān)于球面像差補(bǔ)償，當(dāng)然并不限于此。(實施例4)在實施例4中，將對搭載了光拾取裝置1的光學(xué)再現(xiàn)裝置進(jìn)行說明。圖16是光學(xué)再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)概圖。光拾取裝置1設(shè)置有能夠沿著光盤100的Rad方向驅(qū)動的機(jī)構(gòu)，并且根據(jù)來自訪問控制電路172的訪問控制信號被進(jìn)行位置控制。規(guī)定的激光驅(qū)動電流從激光器點亮電路177被供給到光拾取裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器，激光按照規(guī)定的光量根據(jù)再現(xiàn)從半導(dǎo)體激光器中射出。激光器點亮電路177也可以組裝在光拾取裝置1內(nèi)。從光學(xué)裝置1內(nèi)的光電探測器10輸出的信號被發(fā)送至伺服信號生成電路174以及信息信號再現(xiàn)電路175。在伺服信號生成電路174中，根據(jù)來自前述光電探測器10的信號生成聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號以及傾斜控制信號等伺服信號，據(jù)此，經(jīng)過致動器驅(qū)動電路173來驅(qū)動光拾取裝置1內(nèi)的致動器，進(jìn)行物鏡的位置控制。在前述信息信號再現(xiàn)電路175中，根據(jù)來自前述光電探測器10的信號，再現(xiàn)被記錄在光盤100中的信息信號。在前述伺服信號生成電路174以及信息信號再現(xiàn)電路175中獲得的一部分信號被傳送至控制電路176。在該控制電路176上連接主軸電機(jī)驅(qū)動電路171、訪問驅(qū)動電路172、 伺服信號生成電路174、激光器點亮電路177、球面像差補(bǔ)償元件驅(qū)動電路179等，控制用來使光盤100旋轉(zhuǎn)的主軸電機(jī)180的旋轉(zhuǎn)、控制訪問方向以及訪問位置、伺服控制物鏡、控制光拾取裝置1內(nèi)的半導(dǎo)體激光器發(fā)光光量、以及補(bǔ)償因光盤基板厚度產(chǎn)生的球面像差等。(實施例5)在實施例5中，將對搭載了光拾取裝置1的光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置進(jìn)行說明。圖17是光學(xué)記錄再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)概圖。在該裝置中，與前述圖16中說明的光學(xué)信息記錄再現(xiàn)裝置的不同點在于，在控制電路176與激光器點亮電路177之間設(shè)置信息信號記錄電路178，根據(jù)來自信息信號記錄電路175的記錄控制信號來控制激光器點亮電路177的點亮，增加了在光盤100中寫入預(yù)期信息的功能。以上，對本發(fā)明的光拾取裝置以及光盤裝置的實施例進(jìn)行了說明，但是，本發(fā)明并非局限于此，它可以包括各種變形和改良，在能夠應(yīng)用的范圍內(nèi)，可以組合上述實施例中表示的構(gòu)成部件。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，具備射出激光的半導(dǎo)體激光器、將從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束照射在光盤上的物鏡、將從光盤反射的光束分支的具有多個區(qū)域的光學(xué)元件、具有用來接受被所述光學(xué)元件分支的光束的多個受光面的光電探測器，其特征在于，在所述多個受光面中，在與所述光盤的半徑方向基本一致的方向大體在一條直線上排列的受光面，在記錄或者再現(xiàn)由多個層構(gòu)成的光盤的情況下，在與所述光盤切線方向基本一致的方向避開來自記錄或者再現(xiàn)層以外的層的反射光。
2.一種光拾取裝置，具備射出激光的半導(dǎo)體激光器、將從所述半導(dǎo)體激光器射出的光束照射在光盤上的物鏡、具有將從光盤反射的光束分支的多個區(qū)域的光學(xué)元件、具有用來接受被所述光學(xué)元件分支的光束的多個受光面的光電探測器，其特征在于，在所述多個受光面中，在與所述光盤的切線方向基本一致的方向大體在一條直線上排列的受光面，在記錄或者再現(xiàn)由多個層構(gòu)成的光盤的情況下，在與所述光盤的半徑方向基本一致的方向避開來自記錄或者再現(xiàn)層以外的層的反射光。
3.—種光盤裝置，其特征在于，包括，權(quán)利要求1或2所述的光拾取裝置、用來驅(qū)動所述光拾取裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光器點亮電路、利用從所述光拾取裝置內(nèi)的所述光電探測器檢測出來的信號生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的伺服信號生成電路、以及再現(xiàn)被記錄在光盤中的信息信號的信息信號再現(xiàn)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光拾取裝置和光盤裝置，在多層光盤的記錄再現(xiàn)中，聚焦誤差信號與跟蹤誤差信號均不會受到來自其它層的雜光的影響，從而能夠獲得穩(wěn)定的伺服信號。為此，將來自多層光盤的反射光分割成多個區(qū)域，被分割的光束在光電探測器上的不同位置聚焦，并且利用多個被分割的光束采用刀口法檢測聚焦誤差信號，利用多個被分割的光束檢測跟蹤誤差信號。此外，配置光束的分割區(qū)域與受光面，使得當(dāng)對焦在目的層上時，來自其它層的雜光不射入到光電探測器的伺服信號用的受光面中。
文檔編號G11B7/1356GK102394069SQ201110346280
公開日2012年3月28日 申請日期2009年2月26日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月5日
發(fā)明者北田保夫, 山崎和良 申請人:日立視聽媒體股份有限公司