專利名稱：一種可更換式內(nèi)存測(cè)試座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種內(nèi)存測(cè)試座，具體是一種可實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)內(nèi)存測(cè)試的可更 換式內(nèi)存測(cè)試座。
背景技術(shù)：
閃存(FLASH)是一種廣泛用于U盤、移動(dòng)硬盤、SD卡、TF卡、GPS、數(shù)碼相機(jī)、DV等 各種日常數(shù)碼必備品的重要的元器件，其封裝有多種方式，比較典型的有TSOP，BGA, LGA等 類型。在生產(chǎn)過程中內(nèi)存都需要經(jīng)過檢測(cè)后才可以投入市場，但是現(xiàn)有的檢測(cè)量產(chǎn)設(shè)備結(jié) 構(gòu)單一，需要針對(duì)各種不同類型的內(nèi)存，以及各種內(nèi)存不同的測(cè)試方案分別獨(dú)立制造測(cè)試 座進(jìn)行測(cè)試，不但測(cè)試效率低下，而且制造多套測(cè)試設(shè)備造價(jià)高，浪費(fèi)大量生產(chǎn)成本。

實(shí)用新型內(nèi)容針對(duì)現(xiàn)有內(nèi)存測(cè)試設(shè)備的不足，本實(shí)用新型提供一種可更換式內(nèi)存測(cè)試座，其可 實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多種不同內(nèi)存，不同測(cè)試方案進(jìn)行檢測(cè)，大大提高檢測(cè)效率，降低了生產(chǎn)檢測(cè)成 本。為實(shí)現(xiàn)該目的，本實(shí)用采取的技術(shù)方案是一種可更換式內(nèi)存測(cè)試座，包括PCB 板、PCB板上固定的測(cè)試座以及連接至電腦的USB接口，所述測(cè)試座為兩個(gè)或兩個(gè)以上，所 述各測(cè)試座分別連接至USB座，USB座上連接測(cè)試方案，所述USB座通過集線器與所述USB 接口連接。實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型目的的技術(shù)方案還進(jìn)一步包括，所述測(cè)試座與USB座位于PCB板 的異側(cè)。并且，所述各測(cè)試座分別對(duì)應(yīng)設(shè)有狀態(tài)指示燈及控制開關(guān)。本實(shí)用新型在同一 PCB板上同時(shí)集成多種不同的內(nèi)存測(cè)試座，并且采用插接的方 式連接各種不同的測(cè)試方案，從而可實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多種不同的內(nèi)存，單種或多種內(nèi)存不同的 測(cè)試方案同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的目的，不但大大提高檢測(cè)效率，而且無需制造多個(gè)測(cè)試設(shè)備，降低 了企業(yè)生產(chǎn)檢測(cè)成本。

圖1為本實(shí)用新型主視圖。圖2為本實(shí)用新型后視圖。圖3為本實(shí)用新型與電腦連接示意圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)及工作原理進(jìn)行詳細(xì)說明。如圖1、圖2所示，本實(shí)用新型所述測(cè)試座包括PCB板1、PCB板上固定的測(cè)試座3 以及連接至電腦的USB接口 2。所述測(cè)試座3包括針對(duì)以TSOP，BGA, LGA等多種方式封裝的內(nèi)存的測(cè)試座，實(shí)現(xiàn)了在同一測(cè)試板上測(cè)試多種內(nèi)存的目的，且所述測(cè)試座3為兩個(gè)或 兩個(gè)以上，由于各測(cè)試方案商提供的檢測(cè)量產(chǎn)程序最佳量產(chǎn)對(duì)象個(gè)數(shù)為16，因此，本實(shí)用新 型以16個(gè)測(cè)試座為實(shí)施例，測(cè)試座為四個(gè)，八個(gè)，三十二個(gè)，六十四個(gè)等數(shù)目時(shí)，其結(jié)構(gòu)原 理與本實(shí)用新型完全相同，只需對(duì)PCB線路進(jìn)行簡單的重復(fù)即可。各測(cè)試座3分別對(duì)應(yīng)設(shè) 有控制開關(guān)4，用于實(shí)現(xiàn)批量或者單獨(dú)控制此測(cè)試對(duì)象的工作，并同時(shí)設(shè)狀態(tài)指示燈5，顯 示該測(cè)試座的工作狀態(tài)。所述各測(cè)試座3分別連接至USB座6，本實(shí)用新型優(yōu)選將USB座6設(shè)于PCB板1的 異側(cè)。各USB座6通過集線器8與所述USB接口 2連接，USB座6上可分別連接各種測(cè)試 方案7。測(cè)試時(shí)，將本實(shí)用新型USB接口 2通過USB連接線9連接至電腦10，如圖3，在各 測(cè)試座上分別插裝待測(cè)試的內(nèi)存，并在USB座上插接待測(cè)試內(nèi)存的測(cè)試方案，即可實(shí)現(xiàn)同 時(shí)對(duì)多種不同的內(nèi)存，單種或多種內(nèi)存不同的測(cè)試方案同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的目的，大大提高了 檢測(cè)效率。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能 認(rèn)定本實(shí)用新型的具體實(shí)施只局限于這些說明。對(duì)于本實(shí)用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù) 人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視 為屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種可更換式內(nèi)存測(cè)試座，包括PCB板、PCB板上固定的測(cè)試座以及連接至電腦的 USB接口，其特征在于，所述測(cè)試座C3)為兩個(gè)或兩個(gè)以上，所述各測(cè)試座C3)分別連接至 USB座(6)，USB座(6)上連接測(cè)試方案(7)，所述USB座(6)通過集線器(8)與所述USB接 口 O)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可更換式內(nèi)存測(cè)試座，其特征在于，所述測(cè)試座C3)與USB座 (6)位于PCB板(1)的異側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可更換式內(nèi)存測(cè)試座，其特征在于，所述各測(cè)試座C3)分別對(duì) 應(yīng)設(shè)有控制開關(guān)(4)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可更換式內(nèi)存測(cè)試座，其特征在于，所述各測(cè)試座C3)分別對(duì) 應(yīng)設(shè)有狀態(tài)指示燈(5)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種內(nèi)存測(cè)試座，具體是一種可實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多個(gè)內(nèi)存測(cè)試的可更換式內(nèi)存測(cè)試座。該測(cè)試座，包括PCB板、PCB板上固定的測(cè)試座以及連接至電腦的USB接口，所述測(cè)試座為兩個(gè)或兩個(gè)以上，所述各測(cè)試座分別連接至USB座，USB座上連接測(cè)試方案，所述USB座通過集線器與所述USB接口連接，所述各測(cè)試座分別對(duì)應(yīng)設(shè)有狀態(tài)指示燈及控制開關(guān)。本實(shí)用新型在同一PCB板上同時(shí)集成多種不同的內(nèi)存測(cè)試座，并且采用插接的方式連接各種不同的測(cè)試方案，從而可實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多種不同的內(nèi)存，單種或多種內(nèi)存不同的測(cè)試方案同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的目的，不但大大提高檢測(cè)效率，而且無需制造多個(gè)測(cè)試設(shè)備，降低了企業(yè)生產(chǎn)檢測(cè)成本。
文檔編號(hào)G11C29/56GK201927361SQ20112000571
公開日2011年8月10日 申請(qǐng)日期2011年1月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月10日
發(fā)明者彭玉元 申請(qǐng)人:彭玉元